TWI522628B - Electrical detection device - Google Patents

Description

電性檢測裝置

本發明係與電性檢測有關；特別是指一種電性檢測裝置。

按，隨著電子產品發展日漸蓬勃，為確保電子產品出廠時的品質，製造、組裝及出廠前，通常都會透過檢測系統檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實。

但習用之電性檢測裝置一次僅能對單一量測規格之產品進行檢測，而無法適用於多種量測規格之檢測上。另外，習用檢測設備欲檢測不同規格之產品時，則必須重新以人工方式拆卸替換對應規格之探針組，不僅耗時且費力。

有鑑於此，本發明之目的用於提供一種電性檢測裝置，可適用於不同規格之待測部位的電性檢測。

緣以達成上述目的，本發明所提供電性檢測裝置用以對一待測物進行電性檢測，且包含一機台、一承台、一支架、至少一檢測臂、至少一轉盤、複數個安置座以及複數個探針組。其中，該機台具有相平行之二第一導軌；該承台設於該機台上，且用以供該待測物置放者：該支架設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台移 動，並具有一第二導軌；該檢測臂設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動；該轉盤設於該檢測臂上，且可相對該檢測臂轉動或移動；該等安置座設於該轉盤上，且可被該轉盤帶動而相而與該轉盤同步轉動，且可相對該轉盤轉動或移動；該等探針組分別設於該安置座上，並可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測者。

藉此，透過上述之設計，便可使該電性檢測裝置適用於不同規格之檢測。

10‧‧‧電性檢測裝置

11‧‧‧機台

111‧‧‧第一導軌

112‧‧‧開口

113‧‧‧升降裝置

12‧‧‧承台

13‧‧‧支架

131‧‧‧第二導軌

14‧‧‧檢測臂

15‧‧‧轉盤

151‧‧‧圓孔

16‧‧‧感測器

17‧‧‧被感測件

18‧‧‧安置座

20‧‧‧探針組

21‧‧‧接地針

22‧‧‧訊號針

23‧‧‧外殼

100‧‧‧待測物

圖1係本發明較佳實施例之電性檢測裝置的立體圖。

圖2係本發明較佳實施例於檢測臂處之結構立體圖。

圖3係本發明較佳實施例之探針組立體圖。

為能更清楚地說明本發明，茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1所示，本發明一較佳實施例之電性檢測裝置10用以對一待測物100進行電性檢測，且該待測物上具有複數個不同量測間距之待測部位(圖未示)。該電性檢測裝置包含一機台11、一承台12、一支架13、二檢測臂14、二轉盤15、四感測器16、二被感測件17、複數個安置座18以及複數個探針組20。其中：該機台11上具有相平行之二第一導軌111，且該二第一導軌111之間的中央或趨近中央處具有一開口 112，且該開口112中具有一升降裝置113。

該承台12用以供該待測物100置放於其上，且設於該機台11之升降裝置113上，並可被該升降裝置113帶動而於該開口112處上升或下降。

該支架13略呈ㄇ字型，且其底端分別設於該二第一導軌111上，使該支架13可被驅動而沿該二第一導軌111相對該機台11與該承台12移動。另外，該支架13的頂端具有一第二導軌131，且該第二導軌131提供之移動軌跡垂直於該二第一導軌111提供之移動軌跡。

該二檢測臂14設於該第二導軌131上，而分別位於該支架13相反之兩側，並同時位於該承台12上方。另外，該二檢測臂14可同時被該支架13帶動而與該支架13同步移動，且可分別沿該第二導軌131相對該支架13移動。

請參閱圖2，各該轉盤15係呈圓形，且該二轉盤15分別設於該二檢測臂14上，並可被分別驅動而相對對應之各該檢測臂14轉動或移動，且為有效地達到輕量化與方便線材連接之目的，在不影響物理強度之條件下，各該轉盤15上等距地設有複數個圓孔151。

該等感測器16分別位於該二檢測臂14相反之兩側上。於本實施例中，各該感測器16為光遮斷器，用以感測其感測區中之光線使否被遮斷。

該二被感測件17分別位於該二轉盤15上，且可被該轉盤15帶動而於對應之檢測臂14上該二感測器17之間，與該轉盤15同步轉動。於本實施例中，該被感測件17為一向上延伸至該感測器16感測區之金屬條，且其高度不高於該感測器的高度，而可避免各該轉盤15帶動該被感測件17轉動時，該被感測件17與該感測器16之間發生碰 撞之情事，且當該被感測件17位於該感測器16之感測區時，該被感測件17將阻斷感測區中之光線。藉此，透過上述之設計，則可利用該感測器16感測光線使否被阻斷而知悉該轉盤之15轉動角度是否大於180度，而可限制該轉盤15正、逆轉的最大角度為180度，進而避免轉盤15過度轉動造成線材纏繞之情形發生。

該等安置座18係以四個為一組，分別等距地設於該二轉盤15上，且可被該轉盤15帶動而與該轉盤15同步轉動，且各該安置座18可被驅動而相對該轉盤15轉動或移動。

該等探針組20係分別鎖設於該等安置座18上，並可與該安置座18同步移動另外，請參閱圖4，各該探針組20具有三根探針21、22，以及一容設該等探針21、22之外殼23。該外殼23用以供與該安置座18連接，且該等探針21、22之針尖伸出至該外殼23外，且該等探針21、22依據測試時的訊號走向分別被區分成為二接地針21以及一訊號針22，且該訊號針22位於該二接地針21之間。另外，值得一提的是，各該探針組20之該訊號針22與各該接地針21間之間距不同於其他該探針組20之訊號針22與各該接地針21間之間距，而使得該電性檢測裝置10具有較大之適用量測範圍。

藉此，當檢測人員欲進行電性檢測時，則可依據待測部位之位置與量測間距，控制該電性檢測裝置10的支架13、檢測臂14、轉盤15、以及安置座18移動或轉動，使對應量測間距之探針組20位於進行檢測之待測部位上方後，再操控對應之安置座18帶動其上之探針組20下移，而使該探針組20之接地針21以及訊號針22接抵該待測物之待測部位上，以進行後續電性檢測。

如此一來，透過上述多探針組20之設計，便可使得該電性檢測裝置10具有較大的適用範圍，且透過可移動或轉動支架13、檢測臂14、轉盤15或安置座18之結構設計，更可使得各探針組20可移動至不同角度的位置上，而可適用於任何設置角度的待測部位量測。

另外，以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已，舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化，理應包含在本發明之專利範圍內。

10‧‧‧電性檢測裝置

11‧‧‧機台

111‧‧‧第一導軌

112‧‧‧開口

113‧‧‧升降裝置

12‧‧‧承台

13‧‧‧支架

131‧‧‧第二導軌

14‧‧‧檢測臂

15‧‧‧轉盤

151‧‧‧圓孔

18‧‧‧安置座

20‧‧‧探針組

100‧‧‧待測物

Claims (8)

1. 一種電性檢測裝置，用以對一待測物進行電性檢測，且包括：一機台，具有相平行之二第一導軌；一承台，設於該機台上，且用以供該待測物置放者；一支架，設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台移動，並具有一第二導軌；至少一檢測臂，設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動；至少一轉盤，設於該檢測臂上，且可相對該檢測臂轉動或移動；複數個安置座，設於該轉盤上，且可被該轉盤帶動而相而與該轉盤同步轉動，且可相對該轉盤轉動或移動；以及複數個探針組，分別設於該安置座上，並可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測者。
2. 如請求項1所述電性檢測裝置，其中該機台更具有一開口位於該二第一導軌之間，且該承台位於該開口處。
3. 如請求項2所述電性檢測裝置，其中該機台更具有一升降裝置，位於該開口之中，且該承台係設置於該升降裝置上，而可被該升降裝置帶動而於該開口處上升或下降。
4. 如請求項1所述電性檢測裝置，更包含有二感測器以及一被感測件，該二感測器分別位於該檢測臂相反之兩側上，而該被感測件則設於該轉盤上，且可被該轉盤帶動而於該二感測器之間與該轉盤同步轉動。
5. 如請求項1所述電性檢測裝置，其中該等第一軌道提供之移動軌跡係垂直於該第二軌道提供之移動軌跡。
6. 如請求項1所述電性檢測裝置，其中該轉盤係呈圓形，且該等安置座係等距地環繞該轉盤設置。
7. 如請求項1所述電性檢測裝置，其中該至少一檢測臂為二檢測臂，且該至少一轉盤為二轉盤；該二檢測臂分別位於該支架相反兩側，且該二轉盤分別與該二檢測臂連接。
8. 如請求項1所述電性檢測裝置，其中各該探針組具有至少二探針，且該二探針間之間距不同於其他該探針組之二探針間之間距。