CN111487522B - 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置 - Google Patents

用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111487522B
CN111487522B CN202010355911.1A CN202010355911A CN111487522B CN 111487522 B CN111487522 B CN 111487522B CN 202010355911 A CN202010355911 A CN 202010355911A CN 111487522 B CN111487522 B CN 111487522B
Authority
CN
China
Prior art keywords
tester
magnetic field
sensor
detection mechanism
test seat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010355911.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111487522A (zh
Inventor
齐和峰
赵键
陈元钊
施明明
孔令丰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangsu Seven Dimensional Test Technology Co ltd
Original Assignee
Jiangsu Seven Dimensional Test Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiangsu Seven Dimensional Test Technology Co ltd filed Critical Jiangsu Seven Dimensional Test Technology Co ltd
Priority to CN202010355911.1A priority Critical patent/CN111487522B/zh
Publication of CN111487522A publication Critical patent/CN111487522A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111487522B publication Critical patent/CN111487522B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829Testing of circuits in sensor or actuator systems

Abstract

本发明公开了一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,涉及数字电路测试装置,旨在解决目前的IC测试仪不能测试霍尔传感器,其技术方案要点是:一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,包括基座,在基座上安装有用于产生固定磁场的磁场机构,所述基座上还设置有用于安置待测产品的传感器检测机构,所述传感器检测机构连接有驱动装置用于驱动待测产品进出磁场机构,所述磁场机构、传感器检测机构以及驱动装置均设置有用于连接到IC测试仪的线圈接头。本发明的一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置能够搭载在IC测试仪上对霍尔传感器进行检测,实现相关的测试。

Description

用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置
技术领域
本发明涉及数字电路测试装置,更具体地说,它涉及一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置。
背景技术
集成电路产业飞速发展,集成电路种类越来越多,而数字集成电路在其中占据了很大的份额,数字集成电路功能繁多,速度千差万别,数字集成电离产业的发展为我们追求的数字化生活奠定了坚实的基础,大量的芯片被生产出来,由于芯片在设计制造封装使用过程中都有可能出现故障,因此需要对其进行测试,数字集成电路测试包含功能测试、直流参数测试和交流参数测试,其传统的数字集成电路测试仪包含测量矢量存储器、读测试矢量模块、格式化编码模块、输入电平转换模块、程控电源模块、输出电平转换模块,采集测试结果与判断模块、写结果矢量模块以及结果存储器。
但是,目前的IC测试仪不具备测试霍尔传感器测试的能力,而霍尔传感器测试通常是采用手动控制磁铁的远近来控制被测产品处的磁场分布,自动化程度不高,测试效率低。
因此需要提出一种新的方案来解决这个问题。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,可以方便搭载在IC测试仪上对霍尔传感器进行测试,方便安装,测试效率高。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,包括基座,在基座上安装有用于产生固定磁场的磁场机构,所述基座上还设置有用于安置待测产品的传感器检测机构,所述传感器检测机构连接有驱动装置用于驱动待测产品进出磁场机构,所述磁场机构、传感器检测机构以及驱动装置均设置有用于连接到IC测试仪的线圈接头。
本发明进一步设置为:所述磁场机构设置为亥姆霍兹线圈。
本发明进一步设置为:所述基座上设置有滑轨,所述传感器检测机构安装在滑轨上。
本发明进一步设置为:所述滑轨上安装有用于限制传感器检测机构行程的限位机构。
本发明进一步设置为:所述驱动装置包括步进电机,所述步进电机用于驱动传感器检测机构沿滑轨前后移动。
本发明进一步设置为:所述传感器检测机构包括滑块,所述滑块滑移连接于滑轨,所述滑块上固定有测试座安装板,所述测试座安装板的一端设置有传感器测试座用于安装待测产品,所述测试座安装板用于沿着滑轨滑动而使得传感器测试座进出磁场机构。
本发明进一步设置为:所述测试座安装板以及传感器测试座均由树脂材料制成。
本发明进一步设置为:所述限位装置包括设置在滑轨上的前、后限位凸起,所述传感器检测机构于前、后限位凸起之间。
本发明进一步设置为:所述滑块上固定安装有支架,所述测试座安装板可滑动连接于支架上。
本发明进一步设置为:所述测试座安装板呈三角形设置。
综上所述,本发明具有以下有益效果:
①、通过将磁场机构、传感器测试座以及驱动装置通过线圈接头搭载到IC测试仪上,从而将检测数据可以通过IC测试仪进行测试以及显示;
②、用亥姆霍兹线圈代替永磁铁感应激励的方式,避免了磁力衰减带来的影响;
③、亥姆霍兹线圈可以提供小范围的均匀磁场,可以更好地保证测试数据的稳定性与准确性,避免夹具定位误差带来的影响;
④、轨道前后加装了限位装置,可以更准确的定位待测产品在线圈中的位置;
⑤、传感器测试座和测试座安装板都采用了树脂材料,以减小对磁场的影响;
⑥、可以通过改变接口方式,灵活搭载到不同的IC测试仪上;
⑦、测试座安装板是可滑动调节高度的,并且测试座安装板呈三角形设置用于方便自动定位,将待测产品运送至磁场机构的中心位置,测试数据更为准确
⑧、测试装置造价低,原理简单,易于实现,维修方便
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图中:1、磁场机构;2、基座;3、螺栓;4、线圈控制接头;5、连接线接头;6、前限位凸起;7、滑轨;8、步进电机;9、传感器测试座;10、测试座安装板;11、支架;12、滑块;13、后限位凸起。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明进行详细描述。
一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,如图1所示,包括有一基座2,基座2为一长方体平面板,在基座2上设置有磁场机构1,磁场机构1的作用主要是用于产生恒定的磁场,优选采用亥姆霍兹线圈,即将亥姆霍兹线圈通过螺栓固定在基座1上,并且在基座1上还固定安装有滑轨7,滑轨7的截面呈T型设置,在滑轨7上安装有传感器检测机构。
传感器检测机构包括滑块12,滑块12安装在滑轨7上可以沿着滑轨7进行滑动,在滑块12上安装有支架11,支架11设置垂直于基座2,将支架11通过固定螺栓3固定到滑块12上,将测试座安装板10固定到支架11上,将传感器测试座9通过粘合的方式固定到测试座安装板10的另一端,传感器测试座9用于安装待测产品进行检测作用,其中传感器测试座9以及测试座安装板10优先采用树脂材料制成,用于避免对检测环境造成干扰。
在基座2上还安装有步进电机8,步进电机8通过固定螺栓3固定到基座上,步进电机8的输出端用于与滑块12传动连接,通过步进电机8的驱动,从而使滑块12能够沿着滑轨7实现往复的运动,并且为了进一步限制滑块的滑动幅度,因此在基座上还设置有前限位凸起和后限位凸起,将前限位凸起6、后限位凸起13直接安装到滑轨7上,其中用线圈接头将线圈控制接头4、传感器测试座9及步进电机8连接到IC测试仪的测试接口上,这样就完成了安装。
进一步的,为了提高检测的准确性和检测的效率,将测试座安装板10滑动连接于支架11上,这样可以通过调整测试座安装板10的高度,从而调整待测产品位于亥姆霍兹线圈的位置,并且为了确保每次检测都能够在亥姆霍兹线圈的中心位置,因此将测试座安装板10设置为三角形,图中示出为长条形,当测试座安装板10上的待测产品进入到亥姆霍兹线圈中时,三角形的测试座安装板10的一条边就会逐渐触碰到线圈,随着步进电机8的驱动靠近亥姆霍兹线圈,测试座安装板10就会逐渐受力,从而实现其高度的被动调节,因此当步进电机8恰好将待测产品送至亥姆霍兹线圈的中间位置时,其高度也能够恰好位于中心位置,从而实现其高度自动化调节,确保检测的准确程度。
该发明的工作原理为:
1、用已检定过的磁场强度测试仪对传感器测试座9在亥姆霍兹线圈中固定位置的磁场强度H与线圈输入电流I的关系进行标定;
2、将标定好的数组输入到IC测试仪中;
3、用IC测试仪控制步进电机8,步进电机8控制滑块12离开初始位置向前滑动,从而控制传感器测试座9进入亥姆霍兹线圈中的固定位置;
4、当传感器测试座9进入到亥姆霍兹线圈中的固定位置后,IC测试仪开始对亥姆霍兹线圈施加电流I,进而控制磁场强度H;
5、IC测试仪在控制磁场强度H的同时,通过连接线接头5对安装在传感器测试座9上的器件进行测试;
6、测试完成后用IC测试仪控制步进电机8,步进电机8控制滑块12向后滑动,从而控制传感器测试座9离开亥姆霍兹线圈中的固定位置,回到初始位置。
以上就能够完成一次测试,需要检测更多产品则重复这样的过程即可,这样设置能够配合不同类型的IC测试仪,并且结构简单,操作方便,检测效率高。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,其特征在于:包括基座(2),在基座(2)上安装有用于产生固定磁场的磁场机构(1),所述基座(2)上还设置有用于安置待测产品的传感器检测机构,所述传感器检测机构连接有驱动装置用于驱动待测产品进出磁场机构(1),所述磁场机构(1)、传感器检测机构以及驱动装置均设置有用于连接到IC测试仪的线圈接头;
所述基座(2)上设置有滑轨(7),所述传感器检测机构安装在滑轨(7)上;
所述滑轨(7)上安装有用于限制传感器检测机构行程的限位机构;
所述传感器检测机构包括滑块(12),所述滑块(12)滑移连接于滑轨(7),所述滑块(12)上固定有测试座安装板(10),所述测试座安装板(10)的一端设置有传感器测试座(9)用于安装待测产品,所述测试座安装板(10)用于沿着滑轨(7)滑动而使得传感器测试座(9)进出磁场机构(1);
所述滑块(12)上固定安装有支架(11),所述测试座安装板(10)可滑动连接于支架(11)上;
所述测试座安装板(10)呈三角形设置;
所述限位机构包括设置在滑轨(7)上的前、后限位凸起(6、13),所述传感器检测机构位于前、后限位凸起(6、13)之间。
2.根据权利要求1所述的用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,其特征在于:所述磁场机构(1)设置为亥姆霍兹线圈。
3.根据权利要求1所述的用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,其特征在于:所述驱动装置包括步进电机(8),所述步进电机(8)用于驱动传感器检测机构沿滑轨(7)前后移动。
4.根据权利要求1所述的用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置,其特征在于:所述测试座安装板(10)以及传感器测试座(9)均由树脂材料制成。
CN202010355911.1A 2020-04-29 2020-04-29 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置 Active CN111487522B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010355911.1A CN111487522B (zh) 2020-04-29 2020-04-29 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010355911.1A CN111487522B (zh) 2020-04-29 2020-04-29 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111487522A CN111487522A (zh) 2020-08-04
CN111487522B true CN111487522B (zh) 2021-02-05

Family

ID=71792008

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010355911.1A Active CN111487522B (zh) 2020-04-29 2020-04-29 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111487522B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114705235A (zh) * 2022-05-05 2022-07-05 佛山市川东磁电股份有限公司 一种传感器测试装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201017506Y (zh) * 2007-02-09 2008-02-06 杭州大华仪器制造有限公司 三维亥姆霍兹线圈磁场实验仪
CN201387681Y (zh) * 2008-12-11 2010-01-20 浙江天煌科技实业有限公司 一种亥姆霍兹线圈磁场测定实验装置
CN105182267A (zh) * 2015-10-13 2015-12-23 三峡大学 一种基于Labview控制磁传感器标定系统
CN104730142B (zh) * 2014-11-20 2017-11-17 北京航空航天大学 一种基于霍尔传感器的平面磁场扫描成像系统
CN108761370A (zh) * 2018-08-01 2018-11-06 合肥中科离子医学技术装备有限公司 一种回旋加速器磁测霍尔探头校准装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102798827B (zh) * 2012-08-01 2015-07-01 安泰科技股份有限公司 一种磁体测量装置和磁体测量方法
TWI522628B (zh) * 2013-12-13 2016-02-21 Mpi Corp Electrical detection device
CN206563797U (zh) * 2017-02-22 2017-10-17 东莞市腾茂电子有限公司 一种用于测试霍尔传感器的测试仪
CN107797080B (zh) * 2017-12-12 2023-06-06 合肥中科离子医学技术装备有限公司 采用nmr设备实现霍尔传感器校准标定的设备
CN208060688U (zh) * 2018-04-16 2018-11-06 徐靖宇 一种可精确读数的亥姆霍兹线圈磁场测定装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201017506Y (zh) * 2007-02-09 2008-02-06 杭州大华仪器制造有限公司 三维亥姆霍兹线圈磁场实验仪
CN201387681Y (zh) * 2008-12-11 2010-01-20 浙江天煌科技实业有限公司 一种亥姆霍兹线圈磁场测定实验装置
CN104730142B (zh) * 2014-11-20 2017-11-17 北京航空航天大学 一种基于霍尔传感器的平面磁场扫描成像系统
CN105182267A (zh) * 2015-10-13 2015-12-23 三峡大学 一种基于Labview控制磁传感器标定系统
CN108761370A (zh) * 2018-08-01 2018-11-06 合肥中科离子医学技术装备有限公司 一种回旋加速器磁测霍尔探头校准装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN111487522A (zh) 2020-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111487523B (zh) 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试方法
CN104267330B (zh) 一种多功能电源板测试生产线
CN1816751A (zh) 用于电机测试和确认探针板的设备和方法
CN105513990A (zh) 一种探针台图像定位装置及视觉对准方法
CN111487522B (zh) 用于搭载ic测试仪的霍尔传感器测试装置
CN207798993U (zh) Usb插拔测试治具
CN211236133U (zh) 一种电路板测试治具
CN2872379Y (zh) 可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机
CN203178431U (zh) 一种电路板全自动测试系统
CN106226679A (zh) 用于检测嵌入式pos支付终端主板的工装及其测试方法
CN209117739U (zh) 手机led驱动测试探针卡
CN202854326U (zh) 智能电能表接线端子自动定位压接装置
CN204044282U (zh) 一种pcb板的测试装置
CN105652188B (zh) 非接卡射频性能自动测试系统及其测试方法
CN209248512U (zh) 多通道flash芯片测试装置
CN208224437U (zh) 一种适应多种pcba的自动化ict测试治具
CN110568393A (zh) 一种电能表元器件功能检测机构及方法
CN106526327A (zh) Dcr微电阻自动量测机
CN206618399U (zh) 自动测工件高度仪
CN209215534U (zh) Pcba测试装置
CN214097026U (zh) 一种基于绝对法落锤式弯沉仪的校准装置
CN208224470U (zh) 一种旋转电磁铁扭矩测试工装
CN216144938U (zh) 一种卡托插口检测机构
CN207557424U (zh) Fct测试器
CN204989228U (zh) 机芯板可调整万能测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant