TWI490465B - 具有振動測試功能之電子裝置及用以建立振動測試演算法之方法 - Google Patents

Description

具有振動測試功能之電子裝置及用以建立振動測試演算法之方法

本發明關於一種具有振動測試功能之電子裝置及用以建立振動測試演算法之方法，尤指一種具有振動測試功能之電子裝置，其可用來測試電子裝置本身之振動力或其它電子裝置之振動力。

許多電子裝置，例如行動電話、個人數位助理、平板電腦等，皆具備振動功能。目前，電子裝置的振動測試無論是在生產檢驗時或是終端用戶使用時，均存在很多不足之處。舉例而言，在生產檢驗時，主要還是依賴專門的振動測試儀器來測試電子裝置之振動力是否正常。由於利用專門的振動測試儀器來測試需要花費龐大的儀器購置成本以及操作時間(一台振動測試儀器通常只能同時測試二至四台電子裝置)，導致無法對大量的電子裝置進行百分之百的檢驗，進而無法篩選出所有的不良品。此外，在終端用戶使用時，由於往往是靠使用者主觀感覺振動力的大小，在缺少客觀的判斷機制下，使用者比較難察覺振動功能是否正常。

因此，本發明的目的之一在於提供一種具有振動測試功能之電子裝置及用以建立振動測試演算法之方法，以解決上述問題。

根據一實施例，本發明之具有振動測試功能之電子裝置包含一記憶單元、一振動感測單元、一顯示單元以及一處理單元，其中該處理單元電連接於該記憶單元、該振動感測單元與該顯示單元。該記憶單元用以儲存一振動測試演算法。該振動感測單元用以感測一振動力。該處理單元用以根據該振動測試演算法計算對應該振動力之一補償值，將該振動力與該補償值相加以產生一補償後振動力，並且將該補償後振動力顯示於該顯示單元上。

根據另一實施例，本發明之用以建立一振動測試演算法之方法包含：(a)以一預設振動力使一電子裝置產生振動；(b)利用一振動測試儀器感測關於該電子裝置之一第一振動力；(c)利用內建於該電子裝置中之一振動感測單元感測關於該電子裝置之一第二振動力；(d)判斷該第二振動力是否等於該第一振動力；(e)若該第二振動力不等於該第一振動力，計算該第一振動力與該第二振動力之一差值，以該差值修正該振動感測單元之感測演算法，並且回到步驟(a)；(f)若該第二振動力等於該第一振動力，重複步驟(a)至(d)，以複數個不同的預設振動力使該電子裝置產生振動，以計算複數個第一振動力與複數個第二振動力之複數個差值；以及(g)根據該等第二振動力與該等差值之對應關係，建立該振動測試演算法。

綜上所述，本發明係提供用以建立振動測試演算法之方法，並且將此振動測試演算法安裝於電子裝置中，以使電子裝置具有振動測試功能。藉此，於生產大量的電子裝置時，即可利用每一台電子裝置之振動測試功能自動測試電子裝置本身的振動力大小，以對大量的電子裝置進行百分之百的檢驗。此外，使用者可利用電子裝置之振動測試功能來獲取電子裝置所產生之振動力數據，以了解所使用之電子裝置的實際振動強度。使用者亦可根據獲取的振動力數據與對應的使用感受來設定所需的振動強度。再者，使用者還可利用電子裝置之振動測試功能來測試其它電子裝置的振動強度。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請參閱第1圖，第1圖為根據本發明一實施例之具有振動測試功能之電子裝置1的功能方塊圖。如第1圖所示，電子裝置1包含一記憶單元10、一振動感測單元12、一顯示單元14以及一處理單元16以及一振動單元18，其中處理單元16電連接於記憶單元10、振動感測單元12、顯示單元14與振動單元18。記憶單元10用以儲存振動測試演算法100以及其它必要的程式或資料。振動感測單元12用以感測一振動力。處理單元16用以根據振動測試演算法100計算對應振動感測單元12所感測的振動力之一補償值，將振動力與補償值相加以產生一補償後振動力，並且將補償後振動力顯示於顯示單元14上。振動單元18用以產生振動力。

於實際應用中，電子裝置1可為行動電話、個人數位助理、平板電腦或其它電子裝置，記憶單元10可為非揮發性記憶體或其它資料儲存裝置，振動感測單元12可為三軸加速度感測器或其它振動感測器，顯示單元14可為液晶顯示器或其它顯示器，處理單元16可為具有資料運算處理功能之處理器或控制器，且振動單元18可為振動馬達或其它振動體。

請參閱第2圖，第2圖為根據本發明一實施例之用以建立振動測試演算法100之方法的流程圖。首先，執行步驟S10，以一預設振動力使電子裝置1產生振動。若電子裝置1本身不具有振動功能(亦即，電子裝置1中無設置振動單元18)，則將電子裝置1設置於一振動平台(未顯示)上，並且利用振動平台以預設振動力使電子裝置1產生振動。另一方面，若電子裝置1本身具有振動功能(亦即，電子裝置1中有設置振動單元18)，則利用內建於電子裝置1中之振動單元18(例如，振動馬達)以預設振動力使電子裝置1產生振動，其中預設振動力可藉由施加於振動單元18之工作電壓或電流來設定。

接著，執行步驟S12，利用一振動測試儀器(未顯示)感測關於電子裝置1之一第一振動力。同時，執行步驟S14，利用內建於電子裝置1中之振動感測單元12感測關於電子裝置1之一第二振動力。於實際應用中，振動感測單元12可為三軸加速度感測器，用來感測電子裝置於X、Y、Z三軸向上的加速度變化，通過放大和濾除雜訊後，再將類比數據轉換為數位數據，之後再輸出至電子裝置1之處理單元16，處理單元16即可根據牛頓第二運動定律(f=ma，其中f表示力，m表示振動體質量，a表示振動加速度)計算出上述之第二振動力。

接著，執行步驟S16，判斷第二振動力是否等於第一振動力。於實際應用中，可利用電腦、電子裝置本身或人工進行判斷，視實際應用而定。若第二振動力不等於第一振動力，則執行步驟S18，計算第一振動力與第二振動力之一差值，以此差值修正振動感測單元12之感測演算法，並且回到步驟S10。舉例而言，若振動測試儀器感測關於電子裝置1之第一振動力為10N，且振動感測單元12感測關於電子裝置1之第二振動力為8N，則第一振動力與第二振動力之差值即為2N。換言之，由於振動測試儀器感測關於電子裝置1之第一振動力係為電子裝置1之實際振動力，因此振動感測單元12之感測演算法所算出之第二振動力需再加上2N，才會符合電子裝置1之實際振動力。需說明的是，若第二振動力等於第一振動力，則可以第一振動力與第二振動力之差值等於0修正振動感測單元12之感測演算法，或不修正振動感測單元12之感測演算法，視實際應用而定。

若第二振動力等於第一振動力，則執行步驟S20，重複步驟S10至S16，以複數個不同的預設振動力使電子裝置1產生振動，以計算複數個第一振動力與複數個第二振動力之複數個差值。最後，執行步驟S22，根據第二振動力與差值之對應關係，建立振動測試演算法100。

請參閱第3圖，第3圖為振動力與工作電流之對應關係圖。如第3圖所示，在橫軸設定用以使電子裝置1產生預設振動力之五個工作電流I1-I5(其中，I5是電子裝置1能正常振動的最大工作電流)，振動測試儀器感測關於電子裝置1對應此五個工作電流I1-I5之第一振動力為fe1-fe5，且振動感測單元12感測關於電子裝置1對應此五個工作電流I1-I5之第二振動力為fz1-fz5(以Z軸向之振動力為例，X、Y軸向之振動力可以此類推)，則fe1-fe5和fz1-fz5的差值就是fd1-fd5。需說明的是，工作電流I1-I5可施加於電子裝置1之振動單元18，以使電子裝置1本身產生振動，或者工作電流I1-I5可施加於上述之振動平台，以帶動電子裝置1產生振動。

工作電流為I3時，若振動測試儀器感測到的第一振動力fe3為19N，且振動感測單元12感測到的第二振動力fz3為18.4N，則兩者的差值fd3即為0.6N。因此，若電子裝置1之振動感測單元12感測到18.4N的振動力，電子裝置1之處理單元16即會根據振動測試演算法100計算對應振動力18.4N之補償值0.6N，將振動力18.4N與補償值0.6N相加以產生補償後振動力19N，並且將補償後振動力19N顯示於顯示單元14上。工作電流為I4時，若振動測試儀器感測到的第一振動力fe4為22N，且振動感測單元12感測到的第二振動力fz4為21.7N，則兩者的差值fd4即為0.3N。此時，電子裝置1之處理單元16即會根據振動測試演算法100計算對應振動力21.7N之補償值0.3N，將振動力21.7N與補償值0.3N相加以產生補償後振動力22N，並且將補償後振動力22N顯示於顯示單元14上。

換言之，第一振動力fe1-fe5與第二振動力fz1-fz5之差值fd1-fd5即為本發明之振動測試演算法100用以補償電子裝置1之振動感測單元12所感測到的振動力之補償值。需說明的是，若電子裝置1之振動感測單元12所感測到的振動力介於fz3與fz4之間，則可根據內差法計算介於fd3與fd4之間的補償值。此外，在所需的工作電流範圍內測試越多組第一振動力與第二振動力(例如，可在第3圖中的工作電流0-I5範圍內選取十個工作電流來測試)，則所獲得的補償值就越精確。

相較於先前技術，本發明係提供用以建立振動測試演算法之方法，並且將此振動測試演算法安裝於電子裝置中，以使電子裝置具有振動測試功能。藉此，於生產大量的電子裝置時，即可利用每一台電子裝置之振動測試功能自動測試電子裝置本身的振動力大小，以對大量的電子裝置進行百分之百的檢驗。舉例而言，在生產大量的本發明之電子裝置時，可事先在每一台電子裝置之測試介面下設定振動力規格(例如，10N? N)。接著，開啟電子裝置之振動單元產生振動，處理單元即會根據上述作用原理計算出對應的振動力，若計算出的振動力落在事先設定的振動力規格範圍內，則處理單元可控制顯示單元顯示合格，反之，則控制顯示單元顯示不合格，表示此電子裝置之振動單元品質有問題或電子裝置沒有組裝好，以使作業人員可據以找出原因。

此外，使用者可利用電子裝置之振動測試功能來獲取電子裝置所產生之振動力數據，以了解所使用之電子裝置的實際振動強度。使用者亦可根據獲取的振動力數據與對應的使用感受來設定所需的振動強度。

再者，使用者還可利用電子裝置之振動測試功能來測試其它電子裝置的振動強度。舉例而言，使用者可將本發明之電子裝置以及另一具有振動功能之電子裝置鄰近放置於同一平面上(例如，桌面)，在具有振動功能之電子裝置開啟振動後，本發明之電子裝置即可測試出此電子裝置之振動力(相對值而非絕對值)，例如5N。同理，使用者可利用本發明之電子裝置測試出另一具有振動功能之電子裝置之振動力，例如8N。此時，使用者即可比對此兩電子裝置之振動力的強弱關係。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

1．．．電子裝置

10．．．記憶單元

12．．．振動感測單元

14．．．顯示單元

16．．．處理單元

18．．．振動單元

100．．．振動測試演算法

S10-S22．．．步驟

I1-I5．．．工作電流

fe1-fe5．．．第一振動力

fz1-fz5．．．第二振動力

fd1-fd5．．．差值

第1圖為根據本發明一實施例之具有振動測試功能之電子裝置的功能方塊圖。

第2圖為根據本發明一實施例之用以建立振動測試演算法之方法的流程圖。

第3圖為振動力與工作電流之對應關係圖。

1．．．電子裝置

10．．．記憶單元

12．．．振動感測單元

14．．．顯示單元

16．．．處理單元

18．．．振動單元

100．．．振動測試演算法

Claims (3)

1. 一種用以建立一振動測試演算法之方法，包含：(a)以一預設振動力使一電子裝置產生振動；(b)利用一振動測試儀器感測關於該電子裝置之一第一振動力；(c)利用內建於該電子裝置中之一振動感測單元感測關於該電子裝置之一第二振動力；(d)判斷該第二振動力是否等於該第一振動力；(e)若該第二振動力不等於該第一振動力，計算該第一振動力與該第二振動力之一差值，以該差值修正該振動感測單元之感測演算法，並且回到步驟(a)；(f)若該第二振動力等於該第一振動力，重複步驟(a)至(d)，以複數個不同的預設振動力使該電子裝置產生振動，以計算複數個第一振動力與複數個第二振動力之複數個差值；以及(g)根據該等第二振動力與該等差值之對應關係，建立該振動測試演算法。
2. 如請求項1所述之方法，其中步驟(a)另包含：將該電子裝置設置於一振動平台上；以及利用該振動平台以該預設振動力使該電子裝置產生振動。
3. 如請求項1所述之方法，其中步驟(a)另包含： 利用內建於該電子裝置中之一振動單元以該預設振動力使該電子裝置產生振動。