TWI474873B - 測試轉臺 - Google Patents

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TWI474873B
TWI474873B TW101125961A TW101125961A TWI474873B TW I474873 B TWI474873 B TW I474873B TW 101125961 A TW101125961 A TW 101125961A TW 101125961 A TW101125961 A TW 101125961A TW I474873 B TWI474873 B TW I474873B
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations

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Description

測試轉臺
本發明涉及一種測試轉臺。
電磁相容(EMC)測試時，要求待測物轉動360度，以找到待測物之最大輻射之發射位置。通用做法是把待測物及其測試桌放於一個大之轉臺上，轉臺可帶動待測物及其測試桌轉動360度。但使用一段時間後，轉臺之轉動軌道就會積聚灰塵及其它污垢。如此，轉臺轉動時就會產生雜訊，影響正常之測試，故需拆開轉臺，人工去抹除該污垢，費時費力，又不方便，也增加實驗室維護之成本。
有鑒於此，有必要提供一種不會遺失跳帽的測試轉臺。
一種測試轉臺，包括一環形之軌道、轉動裝設於該軌道上方之一承載部及複數呈環形固定於該承載部之底部之滾動件，每一滾動件之一側設有一清潔件，每一滾動件之底端設有能夠沿該軌道滾動之一滾輪，每一清潔件之底端設有一清潔部，該等滾輪沿該軌道滾動並帶動承載部轉動，使該等清潔部沿著軌道滑動並清掃軌道。
相較習知技術，該測試轉臺裝設有清潔件，測試時可即時清潔軌道，非常方便。
10‧‧‧承載部
20‧‧‧軌道
30‧‧‧滾動件
40‧‧‧清潔件
32‧‧‧支持臂
36‧‧‧滾輪
42‧‧‧裝設部
44‧‧‧固定孔
46‧‧‧清潔部
圖1為本發明測試轉臺之較佳實施方式之立體圖。
請參照圖1，本發明測試轉臺用來承載一待測物(圖未示)並可360度轉動。該測試轉臺包括承載待測物之一圓盤狀之承載部10、位於該承載部10之下方之一環形之軌道20及複數呈環形固定於承載部10之底部之滾動件30。該測試轉臺於每一滾動件30之一側設置有一清潔件40。
每一滾動件30包括自該承載部10之底面鄰近邊緣處垂直向下延伸形成之兩夾持臂32及可轉動地裝設於該兩夾持臂32之末端之一滾輪36。該滾輪36抵接該軌道20，並可沿著該軌道20滾動帶動該承載部10轉動。
每一清潔件40包括一方框形之裝設部42及一菱形之清潔部46。該裝設部42之頂端固定於該承載部10之底面並位於一滾動件30之後側。該裝設部42之底端開設有一固定孔44，供一鎖固件將該清潔部46之中部可拆卸地固定於裝設部42之底面。該清潔部46之一對角線之兩端分別朝向該軌道20之內側及外側。該對角線之長度等於或大於該軌道之寬度。本實施方式中，該清潔部46為一泡棉。
使用時，滾輪36沿軌道20滾動帶動該承載部10旋轉，從而使該等清潔件40之清潔部46沿軌道20滑動。此時，因為清潔部46呈菱形，可以將灰塵雜物沿著清潔部46之邊緣推出軌道20。同時，因為該清潔部46呈菱形，反向轉動該轉臺時，清潔部46亦可以對軌道20進行清潔。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申 請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10‧‧‧承載部
20‧‧‧軌道
30‧‧‧滾動件
40‧‧‧清潔件
32‧‧‧支持臂
36‧‧‧滾輪
42‧‧‧裝設部
44‧‧‧固定孔
46‧‧‧清潔部

Claims (5)

  1. 一種測試轉臺，包括一環形之軌道、轉動裝設於該軌道上方之一承載部及複數呈環形固定於該承載部之底部之滾動件，每一滾動件之一側設有一清潔件，每一滾動件之底端設有能夠沿該軌道滾動之一滾輪，每一清潔件之底端設有一清潔部，該等滾輪沿該軌道滾動並帶動承載部轉動，使該等清潔部沿著軌道滑動並清掃軌道，每一清潔部呈菱形，每一清潔部之其中一對角線之兩端分別朝向該軌道之內側及外側，該對角線之長度等於或大於該軌道之寬度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試轉臺，其中每一清潔部為一泡棉。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試轉臺，其中每一滾動件包括自該承載部向下垂直延伸形成之兩夾持臂，每一滾動件之滾輪可轉動地裝設於該滾動件之兩夾持臂之間。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試轉臺，其中每一清潔件還包括一頂端固定於承載部之裝設部，該裝設部於底端開設一固定孔，一鎖固件穿過該固定孔將對應之清潔部固定於該裝設部之底面。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試轉臺，其中每一裝設部呈方框形。
TW101125961A 2012-07-17 2012-07-19 測試轉臺 TWI474873B (zh)

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