TWI467201B - 電磁干擾測試用之電磁產生裝置 - Google Patents

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TWI467201B TW100106111A TW100106111A TWI467201B TW I467201 B TWI467201 B TW I467201B TW 100106111 A TW100106111 A TW 100106111A TW 100106111 A TW100106111 A TW 100106111A TW I467201 B TWI467201 B TW I467201B
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Description

電磁干擾測試用之電磁產生裝置
本發明涉及電子裝置測試領域，尤其涉及一種電磁干擾測試用之電磁產生裝置。
電磁相容(Electro-Magnetic Compatibility，EMC)係指電子裝置在各種電磁環境中仍能協調、有效地進行工作之能力。EMC設計之目的係使電子裝置能抑制各種外來之干擾，使電子裝置在特定之電磁環境中能夠正常工作。因此，對電子裝置進行抗電磁干擾測試顯得尤為重要。現有之電磁干擾測試方法係將待測試之電子裝置放置於一磁場強度之磁場下，對整個待測試之電子裝置之抗電磁干擾能力進行測試，一旦會產生干擾就需對整個電子裝置之電磁相容性重新設計。因此，如何能快速地查找出電子裝置內易受電磁干擾之小零件已成為業界研究之重要課題。
鑒於以上內容，有必要提供一種可單獨對電子裝置內之各電子元件進行電磁干擾測試之電磁干擾測試用之電磁產生裝置。
一種電磁干擾測試用之電磁產生裝置，用於測試電子裝置內之各電子元件之電磁干擾。該裝置包括一電源供應器及一探測器。電源供應器包括一電源輸出端及一置地端。探測器包括一第一導磁 部、一第二導磁部、一線圈。第一導磁部包括一第一連接端及一與第一連接端相對之第二連接端。第二導磁部焊接在第二連接端上。線圈繞設在第二導磁部上。該線圈包括一輸入接頭及一輸出接頭。輸入接頭與電源輸出端相連接。輸出接頭與置地端相連接。
相對於先前技術，本發明之電磁干擾測試用之電磁產生裝置可將電源供應器輸出之電流藉由探測器內之線圈轉化為磁場，並藉由探測器內之第二導磁部及第一導磁部傳導至待測試之電子裝置內之各電子元件，因此，可實現單獨測試各電子元件之電磁干擾。如此，一旦該電子裝置受到電磁干擾，只需對該電子裝置內產生電磁干擾之電子元件之位置進行重新設計，以滿足電磁相容性之設計要求，而無需對整個電子裝置之電磁相容性進行重新設計。
100‧‧‧電磁干擾測試用之電磁產生裝置
10‧‧‧探測器
20‧‧‧電源供應器
11‧‧‧第一導磁部
12‧‧‧第二導磁部
13‧‧‧線圈
14‧‧‧絕緣部
111‧‧‧第一連接端
112‧‧‧第二連接端
121‧‧‧第三連接端
122‧‧‧第四連接端
131‧‧‧輸入接頭
132‧‧‧輸出接頭
140‧‧‧收容部
142‧‧‧開口
21‧‧‧機箱
22‧‧‧電源輸入線
23‧‧‧電壓調節按鈕
24‧‧‧電源輸出端
25‧‧‧置地端
26‧‧‧電壓轉換電路
200‧‧‧電子元件
圖1係本發明電磁干擾測試用之電磁產生裝置之示意圖；圖2係圖1中之電磁干擾測試用之電磁產生裝置之探測器之結構示意圖；圖3係本發明電磁干擾測試用之電磁產生裝置之使用狀態圖。
以下將結合附圖對本發明作進一步之詳細說明。
請一併參閱圖1與圖2，本發明實施方式提供之電磁干擾測試用之電磁產生裝置100，其用於測試電子裝置內之電子元件之電磁干擾。該電磁干擾測試用之電磁產生裝置100包括一探測器10及一電源供應器20。本實施方式中，所述待測試之電子裝置為電腦。
所述探測器10為圓珠筆狀，包括一第一導磁部11、一第二導磁部12、一線圈13、及一絕緣部14。
所述第一導磁部11由磁場係數接近4000之非導電性之導磁材料製成，如錳(Mn)、鋅(Zn)、鉚螺2號鋼(ML2)中之至少一種。所述第一導磁部11包括一第一連接端111及一與所述第一連接端111相對之第二連接端112。所述第一連接端111為一錐狀。
所述第二導磁部12為一純鐵棒，其磁場係數為4000。該第二導磁部12包括一第三連接端121及一與所述第三連接端121相對之第四連接端122。所述第三連接端121藉由焊接之方式與所述第一導磁部11之第二連接端112相固接。
所述線圈13繞設在所述第二導磁部12上且靠近所述第四連接端122。所述線圈13包括一輸入接頭131及一輸出接頭132。
所述絕緣部14為一內空柱狀結構，包括一收容部140。所述絕緣部14之頂端開設有一與所述收容部140相連通之開口142。所述絕緣部14套設在所述第二導磁部12上且所述收容部140收容所述線圈13。所述線圈13之輸入接頭131及輸出接頭132均藉由所述開口142露出於所述絕緣部14外。
所述電源供應器20包括一機箱21、一電源輸入線22、四個電壓調節按鈕23、一電源輸出端24、一置地端25及一電壓轉換電路26。所述電源輸入線22、四個電壓調節按鈕23、電源輸出端24、置地端25均設置在所述機箱21上。所述電壓轉換電路26設置在所述機箱21內且分別與所述電源輸入線22、電源輸出端24及電壓調節按鈕23相電性連接。所述電源輸入線22用於接市電。所述電源輸出 端24與所述線圈13之輸入接頭131相連接。所述置地端25與所述線圈13之輸出接頭132相連接。所述四個電壓調節按鈕23用於調節所述電源輸出端24輸出不同之電壓。本實施方式中，四個電壓調節按鈕23用於使電源輸出端24分別輸出3V、5V、10V、12V電壓。具體地，當按壓輸出電壓為5V之電壓調節按鈕23時，所述電壓轉換電路26將市電轉化為5V並經所述電源輸出端24輸出至所述探測器10。
可以理解之係，所述電源供應器20可以根據需求設置更多之電壓調節按鈕23，並不限於本實施方式。
請一併參閱圖3，使用時，當需單獨對電子元件，如電腦內之待測試之電子元件200，進行電磁干擾測試時，首先，打開電腦，所述探測器10之第一導磁部11之第一連接端111對正所述待測試之電子元件200，按壓所述電壓調節按鈕23，使電源供應器20輸出5V電壓至所述線圈13。根據安培定律：載流導線所載有之電流會產生磁場。因此，環繞所述第二導磁部12之通電線圈13會產生一磁場強度之磁場，並藉由所述第二導磁部12及第一導磁部11之第一連接端111傳導至所述待測試之電子元件200上。然後，觀聽所述電腦有無發出“哧哧哧”之聲響，或者觀看電腦螢幕有無顯示雪花點等異常現象。當有異常現象發生時，則證明該待測試之電子元件200之電磁耐受度差，需對該電子元件200之位置進行重新設計，以滿足電磁相容性之設計要求。
本發明之電磁干擾測試用之電磁產生裝置可將電源供應器輸出之電流藉由探測器內之線圈轉化為磁場，並藉由探測器內之第二導磁部及第一導磁部傳導至待測試之電子裝置內之各電子元件，因 此，可實現單獨測試各電子元件之電磁干擾。如此，一旦該電子裝置受到電磁干擾，只需對該電子裝置內產生電磁干擾之電子元件之位置進行重新設計，以滿足電磁相容性之設計要求，而無需對整個電子裝置之電磁相容性進行重新設計。
另外，本領域技術人員還可在本發明精神內做其他變化，當然，這些依據本發明精神所做之變化，都應包括在本發明所要求保護之範圍之內。
100‧‧‧電磁干擾測試用之電磁產生裝置
10‧‧‧探測器
20‧‧‧電源供應器
131‧‧‧輸入接頭
132‧‧‧輸出接頭
21‧‧‧機箱
22‧‧‧電源輸入線
23‧‧‧電壓調節按鈕
24‧‧‧電源輸出端
25‧‧‧置地端
26‧‧‧電壓轉換電路

Claims (9)

  1. 一種電磁干擾測試用之電磁產生裝置，用於測試電子裝置內之各電子元件之電磁干擾，該電磁干擾測試用之電磁產生裝置包括電源供應器，該電源供應器包括一電源輸出端及一置地端，其改進在於：所述電磁干擾測試用之電磁產生裝置進一步包括一探測器，所述探測器包括一第一導磁部、一第二導磁部、一線圈，所述第一導磁部包括一第一連接端及一與所述第一連接端相對之第二連接端，所述第二導磁部焊接在所述第二連接端上，所述線圈繞設在所述第二導磁部上，該線圈包括一輸入接頭及一輸出接頭，所述輸入接頭與所述電源輸出端相連接，所述輸出接頭與所述置地端相連接，通電後所述線圈會產生一磁場強度之磁場，並藉由所述第二導磁部及所述第一導磁部之所述第一連接端傳導至待測試之電子元件上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中，所述第一導磁部由磁場係數接近4000之非導電性之導磁材料製成。
  3. 如權利要求2所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所述第一導磁部為錳、鋅、鉚螺2號鋼中之至少一種材料製成。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所述第二導磁部為純鐵棒。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：該第二導磁部包括一第三連接端及一與所述第三連接端相對之第四連接端，所述第三連接端藉由焊接之方式與所述第一導磁部之第二連接端相固接，所述線圈繞設在所述第二導磁部上且靠近所述第四連接端。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所 述第一導磁部之第一連接端為錐狀結構。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所述探測器進一步包括一絕緣部，所述絕緣部為一內空柱狀結構，所述絕緣部包括一收容部，所述絕緣部之頂端開設有一與所述收容部相連通之開口，所述絕緣部套設在所述第二導磁部上且所述收容部收容所述線圈，所述線圈之輸入接頭及輸出接頭均藉由所述開口露出於所述絕緣部外。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所述電源供應器進一步包括一機箱、一電源輸入線，所述電源輸入線、電源輸出端、置地端均設置在所述機箱上，所述電源輸入線用於接市電。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之電磁干擾測試用之電磁產生裝置，其中：所述電源供應器進一步包括多個電壓調節按鈕及一電壓轉換電路，所述電壓轉換電路設置在所述機箱內且分別與所述電源輸入線、電源輸出端及多個電壓調節按鈕相電性連接，所述多個電壓調節按鈕用於調節所述電源輸出端輸出不同之電壓，所述電壓轉換電路用於將市電轉化為所述探測器所需之測試電壓並經所述電源輸出端輸出至所述探測器。。
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