TWI460114B - 面板暫存卡匣 - Google Patents

面板暫存卡匣 Download PDF

Info

Publication number
TWI460114B
TWI460114B TW099146928A TW99146928A TWI460114B TW I460114 B TWI460114 B TW I460114B TW 099146928 A TW099146928 A TW 099146928A TW 99146928 A TW99146928 A TW 99146928A TW I460114 B TWI460114 B TW I460114B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
panel
space
support frame
temporary storage
storage cassette
Prior art date
Application number
TW099146928A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201226291A (en
Inventor
Shih Chia Tsai
Chao An Chen
Chia Lin Chang
Original Assignee
Au Optronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Au Optronics Corp filed Critical Au Optronics Corp
Priority to TW099146928A priority Critical patent/TWI460114B/zh
Priority to CN2011100499463A priority patent/CN102122091A/zh
Publication of TW201226291A publication Critical patent/TW201226291A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI460114B publication Critical patent/TWI460114B/zh

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Description

面板暫存卡匣
本發明是有關於一種面板暫存卡匣,且特別是一種包括檢測設備的面板暫存卡匣。
現有的液晶顯示面板的製作流程是由多個處理製程與檢測製程所組成,為了達到製程的便利性,通常會將多個液晶顯示面板收納於一暫存卡匣中。
以檢測製程為例,檢測製程主要藉由影像方式以檢測液晶顯示面板是否存在缺陷。在此生產流程中,通常會先將前一工站的液晶顯示面板預先儲放於暫存卡匣中,再以傳送元件逐一地將液晶顯示面板從暫存卡匣中取出並運送至檢測工站的作業平台上以進行檢測。惟此作業平台每次僅能設置一個液晶顯示面板,因而使前一工站的液晶顯示面板會逐漸累積在暫存卡匣中,進而導致整個生產線的流程阻塞在檢測工站,造成液晶顯示面板的生產效率不彰。
本發明提供一種面板暫存卡匣,其包含面板檢測裝置而具有較佳的生產效率。
本發明的一實施例提出一種面板暫存卡匣,其包括一支撐架、多個支撐桿、一面板傳送元件以及一檢測設備。支撐桿與支撐架組裝以將支撐架之內部空間區分為多層容納空間以及一位於容納空間下方之檢測空間。各容納空間分別容納一面板。面板傳送元件適於將存放於各容納空間內的面板傳送至檢測空間內。檢測設備設置於支撐架上以檢測被傳送至檢測空間內之面板。
在本發明之一實施例中,上述之支撐架包括多個彼此連接之條狀支撐體,且支撐架具有一面板取放口。
在本發明之一實施例中,上述之面板傳送元件包括一機械手臂,且此機械手臂適於在一操作範圍內運動,而容納空間與檢測空間位於機械手臂的操作範圍內。
在本發明之一實施例中,上述之檢測空間的高度大於各容納空間的高度。
在本發明之一實施例中,上述之檢測空間的高度為各容納空間的高度的9倍至10倍。
在本發明之一實施例中,上述之檢測設備包括一面板承載裝置、一可動式載具、一影像擷取裝置、一訊號檢測器以及一背光源。面板承載裝置設置於支撐架上以承載待檢測之面板。可動式載具設置於支撐架上。影像擷取裝置設置於可動式載具上以擷取待檢測之面板的影像。訊號檢測器與待檢測之面板電性連接。背光源設置於支撐架上,其中背光源位於待檢測之面板的下方。
在本發明之一實施例中,上述之可動式載具包括一第一軸向移動模組與一第二軸向移動模組。第一軸向移動模組適於帶動影像擷取裝置沿著一第一軸向移動。第二軸向移動模組可移動地被置於第一軸向移動模組,其中第一軸向移動模組適於沿著一第二軸向移動。
在本發明之一實施例中,上述之訊號檢測器包括多個移動式電極模組。
基於上述,在本發明的上述實施例中,藉由將面板暫存卡匣區分為容納空間與檢測空間,並將檢測設備配置於檢測空間中,以讓面板暫存卡匣除了使其容納空間用以暫存面板之外,尚能將面板移至位於同一支撐架的檢測空間以進行檢測。如此一來,面板暫存卡匣得以有效地整合習知工藝中分屬不同工站的相關工藝,因而使面板的生產工藝具有較高的生產效率。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是依照本發明一實施例的一種面板暫存卡匣的示意圖。圖2是圖1的面板暫存卡匣的前視圖。圖3是圖1的面板暫存卡匣的側視圖。請同時參考圖1至圖3,在本實施例中,面板暫存卡匣100包括一支撐架110、多個支撐桿120、一面板傳送元件130以及一檢測設備140。支撐架110具有一內部空間S1,支撐桿120組裝在支撐架110內並將此內部空間S1區分為多層容納空間S2以及一位於容納空間S2下方之檢測空間S3,其中各個容納空間S2用以分別容納一面板200。面板傳送元件130適於將存放於各個容納空間S2內的面板200傳送至位在容納空間S2下方的檢測空間S3內。接著,藉由設置在支撐架110上的檢測設備140而對每一個被傳送至檢測空間S3的面板200進行檢測。
在本實施例中,檢測空間S3的高度約為120公分,而各容納空間S2的高度約為11公分,即實質上檢測空間S3的高度為各容納空間S2的高度的9倍至10倍,藉以作為面板暫存卡匣100之內部空間S1的分隔規劃。惟在本發明中並未對此設限,容納空間S2與檢測空間S3的大小可依據所需容納之面板200及檢測設備140而定。
詳細而言,支撐架110包括多個彼此連接之條狀支撐體112,且此支撐架110具有一面板取放口114。面板傳送元件130包括一機械手臂132,此機械手臂132適於在一操作範圍內運動,而支撐架110內的各層容納空間S2與其下方的檢測空間S3則位於機械手臂132的操作範圍內。換句話說,機械手臂132會經由面板取放口114而從容納空間S2中取出面板200,再將面板200經由面板取放口114傳送至容納空間S2下方的檢測空間S3以供檢測設備140進行檢測。如此一來,面板暫存卡匣100便藉由面板傳送元件130而完成在容納空間S2與檢測空間S3之間的傳送動作。值得注意的是,由於容納空間S2與檢測空間S3皆位在面板暫存卡匣100的內部空間S1中,亦即相較於習知技術,機械手臂132的操作範圍能夠大幅地縮小,而得以有效地縮短面板200在生產流程中的傳送距離,進而提升了面板200的生產效率。
此外,檢測設備140包括一面板承載裝置141、一可動式載具143、一影像擷取裝置145、一訊號檢測器147以及一背光源149。面板承載裝置141設置於支撐架110上以承載待檢測之面板200。可動式載具143設置於支撐架110上。影像擷取裝置145設置於該可動式載具143上,以讓影像擷取裝置145能藉由可動式載具143而擷取待檢測之面板200之不同位置上的影像。訊號檢測器147用以與待檢測之面板200電性連接,以提供電壓訊號至面板200。背光源149設置於支撐架110上並位於待檢測之面板200的下方,用以作為檢測面板200的光源。
圖4繪示圖1的面板暫存卡匣中可動式載具與背光源的示意圖。請同時參考圖1及圖4,在本實施例中,可動式載具143包括一第一軸向移動模組143a與一第二軸向移動模組143b,其中影像擷取裝置145配置在第二軸向移動模組143b上,而第二軸向移動模組143b可移動地被置於第一軸向移動模組143a上。據此,影像擷取裝置145會藉由第二軸向移動模組143b而沿一第二軸向A2移動,且第二軸向移動模組143b會藉由第一軸向移動模組143a而沿一第一軸向A1移動。如此一來,影像擷取裝置145便能在檢測空間S3的面板200上方,且在以第一軸向A1與第二軸向A2所構成的二維平面上進行移動另外,圖5是圖1的面板暫存卡匣的局部放大圖。請同時參考圖1及圖5,在本實施例中,訊號檢測器147包括多個移動式電極模組147a,其位於待檢測之面板200的下方且朝向面板200延伸。一般而言,面板200在製作時,除了本身之主要線路區210上的元件外,通常為了進行電性測試而會在非元件區220製作測試鍵230(Test Key),而這些測試鍵230是與主要線路區210的元件同時形成。據此,當面板200被置於檢測空間S3後,移動式電極模組147a便會朝向面板200移動並電性連接至面板200上的測試鍵230,進而將測試訊號傳送至面板200。在本實施例中,移動式電極模組147a提供電壓訊號至面板200以使其中的液晶單元進行旋轉,並同時搭配位在面板200下方的背光源149朝向面板200發光,如此便能藉由面板200上方的影像擷取裝置145進行面板200的影像擷取的目的。
圖6是圖1的面板暫存卡匣的操作流程圖。請同時參考圖1及圖6,首先在步驟S410中,確認容納空間S2內是否存放有面板200。當容納空間S2內並無面板200時,於步驟S420與步驟S430中,面板傳送元件130便會從上一工站傳送一面板200至檢測空間S3的面板承載裝置141上,且面板承載裝置141會對其上的面板200進行對位。相反地,當容納空間S2內存放有面板200時,則在步驟S415與步驟S430中,面板傳送元件130便會將一面板200從容納空間S2傳送至檢測空間S3,以使板承載裝置141會對其上的面板200進行對位。接著,於步驟S440中,訊號檢測器147的移動式電極模組147a上升而連接至面板200上的測試鍵230(繪示於圖5)。
接著,於步驟S450與步驟S460中,移動式電極模組147a便提供電壓訊號至面板200,並比對影像擷取裝置145之影像是否與系統內建之標準影像一致。一旦比對結果為是,則於步驟470中,藉由可動式載具143移動影像擷取裝置145以進行下一個位置的影像擷取及比對,以最終使影像擷取裝置145能夠完成對面板200的各個不同位置的檢測。完成檢測後,在步驟S480與步驟S490中會降下移動式電極模組147a,並以面板傳送元件130將位在檢測空間S3的面板200傳送回容納空間S2或傳送至下一工站,而面板暫存卡匣100則再自步驟S410重複動作以繼續進行下一循環的檢測動作。
另一方面,當於步驟S460中的影像比對結果為否時,則會於步驟S462中以人員確認是否有缺陷。當再確認結果為是時,則面板會直皆以步驟S490進行至下一工站,而一旦再確認之結果仍為否時,則此面板則會於步驟S464中進行報廢。
綜上所述,在本發明的上述實施例中,藉由將面板暫存卡匣區分為容納空間與檢測空間,並將檢測設備配置於檢測空間中,以讓面板暫存卡匣除了使其容納空間用以暫存面板之外,尚能將面板移至位於同一支撐架的檢測空間以進行檢測。如此一來,面板暫存卡匣得以有效地整合習知工藝中分屬不同工站的相關工藝,因而使面板的生產工藝具有較高的生產效率。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100...面板暫存卡匣
110...支撐架
112...條狀支撐體
114...面板取放口
120...支撐桿
130...面板傳送元件
132...機械手臂
140...檢測設備
141...面板承載裝置
143...可動式載具
143a‧‧‧第一軸向移動模組
143b‧‧‧第二軸向移動模組
145‧‧‧影像擷取裝置
147‧‧‧訊號檢測器
147a‧‧‧移動式電極模組
149‧‧‧背光源
200‧‧‧面板
210‧‧‧主要線路區
220‧‧‧非元件區
230‧‧‧測試鍵
A1‧‧‧第一軸向
A2‧‧‧第二軸向
S1‧‧‧內部空間
S2‧‧‧容納空間
S3‧‧‧檢測空間
圖1是依照本發明一實施例的一種面板暫存卡匣的示意圖。
圖2是圖1的面板暫存卡匣的前視圖。
圖3是圖1的面板暫存卡匣的側視圖。
圖4繪示圖1的面板暫存卡匣中可動式載具與背光源的示意圖。
圖5是圖1的面板暫存卡匣的局部放大圖。
圖6是圖1的面板暫存卡匣的操作流程圖。
100...面板暫存卡匣
110...支撐架
112...條狀支撐體
114...面板取放口
120...支撐桿
130...面板傳送元件
132...機械手臂
141...面板承載裝置
200...面板

Claims (7)

  1. 一面板暫存卡匣,包括:一支撐架;多個支撐桿,與該支撐架組裝以將該支撐架之內部空間區分為多層容納空間以及一位於該些容納空間下方之檢測空間,各該容納空間分別容納一面板;一面板傳送元件,適於將存放於各該容納空間內的面板傳送至該檢測空間內;一檢測設備,設置於該支撐架上且位於該檢測空間以檢測被傳送至該檢測空間內之面板,該檢測設備包括:一面板承載裝置,設置於該支撐架位於該檢測空間的局部上以承載待檢測之該面板;一可動式載具,設置於該支撐架位於該檢測空間的局部上;一影像擷取裝置,設置於該可動式載具上以擷取待檢測之該面板的影像;一訊號檢測器,與待檢測之該面板電性連接;以及一背光源,設置於該支撐架位於該檢測空間的局部上,其中該背光源位於待檢測之該面板下方。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之面板暫存卡匣,其中該支撐架包括多個彼此連接之條狀支撐體,且該支撐架具有一面板取放口。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之面板暫存卡匣,其中該面板傳送元件包括一機械手臂,該機械手臂適於在一操 作範圍內運動,而該些容納空間與該檢測空間位於該操作範圍內。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之面板暫存卡匣,其中該檢測空間的高度大於各該容納空間的高度。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之面板暫存卡匣,其中該檢測空間的高度為各該容納空間的高度的9倍至10倍。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之面板暫存卡匣,其中該可動式載具包括:一第一軸向移動模組,適於帶動該影像擷取裝置沿著一第一軸向移動;以及一第二軸向移動模組,可移動地被置於該第一軸向移動模組,其中該第一軸向移動模組適於沿著一第二軸向移動。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之面板暫存卡匣,其中該訊號檢測器包括多個移動式電極模組。
TW099146928A 2010-12-30 2010-12-30 面板暫存卡匣 TWI460114B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW099146928A TWI460114B (zh) 2010-12-30 2010-12-30 面板暫存卡匣
CN2011100499463A CN102122091A (zh) 2010-12-30 2011-03-02 面板暂存卡匣

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW099146928A TWI460114B (zh) 2010-12-30 2010-12-30 面板暫存卡匣

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201226291A TW201226291A (en) 2012-07-01
TWI460114B true TWI460114B (zh) 2014-11-11

Family

ID=44250671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW099146928A TWI460114B (zh) 2010-12-30 2010-12-30 面板暫存卡匣

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102122091A (zh)
TW (1) TWI460114B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109387961B (zh) * 2018-11-07 2020-11-24 惠科股份有限公司 一种显示面板的检测方法和检测设备
CN110208286B (zh) * 2019-06-21 2020-08-28 上海精测半导体技术有限公司 一种检测设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030218456A1 (en) * 2002-05-23 2003-11-27 Applied Materials, Inc. Large substrate test system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030218456A1 (en) * 2002-05-23 2003-11-27 Applied Materials, Inc. Large substrate test system

Also Published As

Publication number Publication date
TW201226291A (en) 2012-07-01
CN102122091A (zh) 2011-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101219782B1 (ko) 모바일 카메라 렌즈 이물 검사시스템
KR100989561B1 (ko) Led 및 웨이퍼 검사장치 및 이를 이용한 검사방법
CN109188161B (zh) 电容器检测设备及其检测方法
KR101146722B1 (ko) 디스플레이용 패널의 검사장치
CN104101606A (zh) 一种用于对液晶面板正反板面进行检测的检测装置
CN109622396A (zh) 一种透镜外径和中心厚双参数自动检测装置
US20140184784A1 (en) Defect inspection device and defect inspection method
WO2023029801A1 (zh) 一种检测产品正反面方法
KR101167096B1 (ko) 팩 외관 검사 장치 및 방법
CN105466946B (zh) 基于机器视觉的在线检测系统及其检测方法
TWI460114B (zh) 面板暫存卡匣
CN111530779A (zh) 一种泛用型机器视觉检测设备及其产品表面缺陷检测方法
CN203981603U (zh) 一种用于对液晶面板正反板面进行检测的检测装置
KR20110083988A (ko) 렌즈 검사 시스템 및 이를 이용한 렌즈 검사 방법
JP5832909B2 (ja) 赤外カメラを具備する配線欠陥検出装置、および当該赤外カメラの異常を検知する異常検知方法
CN204855735U (zh) 电路板自动检测设备
KR20210111189A (ko) 복수 경로 구조의 엑스레이 검사 장치
CN204143118U (zh) 液晶屏检测对位系统
TWI595247B (zh) Electronic parts conveying apparatus and electronic parts inspection apparatus
CN206177368U (zh) 手机尺寸综合测试仪
CN114783924B (zh) 晶圆搬运设备、晶圆搬运控制方法、电气设备及存储介质
KR20120049826A (ko) 위치 정렬 장치, 위치 정렬 방법 및 위치 정렬 프로그램을 기록한 컴퓨터가 판독 가능한 기록 매체
CN205263258U (zh) 电路板检测装置
JPH1196981A (ja) 電池の外観検査法および検査装置
CN208572295U (zh) 一种摄像头模组马达焊点的检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees