TWI453431B - Circuit test vibration device - Google Patents

Description

電路測試震動裝置

本發明係為一種電路測試裝置，尤指一種用於測試電子元件之訊號線路是否有短、斷路之測試裝置。

目前在電子裝置中已廣泛地採行多種模組的組合來實現各種功能的應用，而各個模組之間則是藉由各種訊號線路與主機板連接，以達到各種資料訊號的相互傳遞，而訊號線路包括了有軟性電路板、排線或纜線等等。

鑑於訊號線路的品質在電子裝置的使用中佔有極為重要的角色，電子裝置中各電子元件及功能模組皆需要靠各種的訊號線路來維持訊號的傳遞及接收，當訊號線路因品管不良而有斷路或短路的情形時，則將造成電子裝置的功能部分或全部失效，因此為了確保訊號線路的功能運作正常，訊號線路皆會事先經由電性測試，以確保其訊號傳遞的品質為良好。

現有對於訊號線路的測試方式，則是設計藉由一組測試治具來進行測試，測試治具一般而言具有一組或多組連接介面，用以連接待測物，即訊號線路的至少一端，而由其中一組連接介面輸入電流後，使電流經由待測物後再回至另一連接介面或某一零件上，如IC或LED燈，藉此量測待測物的電阻值的變化，如量測結果有異常時，即表示待測物具有短、斷路等異常情形而必需被判定不良品，因而達到檢測的目的。

然而，目前的檢測方式僅僅是以固定的方式，固定待測物的兩端進行檢測，由於待測物同時亦具有多個傳輸導線，尤其是不良品易於在彎折的過程中造成傳輸導 線的斷裂而造成訊號線路有短、斷路的情形，現有的測試裝置並無法檢測待測物於彎折或形變的情況下，是否仍保持正常的通路狀態，從而有積極改進的必要。

因此為了能夠有效克服前述所提到的缺點，本發明提供一種可對待測物產生間歇性的施力或震動，使該待測物產生間歇性的往復震動或形變彎折的電路測試震動裝置。

本發明的另一目的是提供一種可對待測物進行動態的電性測試，以檢測出待測物在動態時的電性測試。

本發明的另一目的是提供一種可對待測物進行靜態及動態的雙重測試，進而能提供更有效而全面性的檢測方式。

本發明揭露一種測試震動裝置，為簡化說明，僅以最常使用的兩個電連接端做為說明。其包括至少一連接模組，設有連接端，該第一連接端具有複數連接端子；一測試裝置藉由導線與該連接模組電連接，用以執行待測物之電路值之量測及判別線路是否有斷路或短路。一撥動裝置設置於該連接模組的一側邊鄰近位置處，對連接於該連接模組的待測物產生間歇性的施力，使該待測物產生間歇性的往復震動，或形變彎折。

本發明所能增進之功效為：透過本發明的電路測試震動裝置，可對待測物進行動態的電性測試，如此可以達 到待測物的電路在一般習用靜態測試無法發現到的瑕疵。本發明也可以對待測物進行靜態及動態的雙重測試，進而能提供更有效而全面性的檢測方式。

請參閱第1圖所示，為本發明第一實施例的立體圖。如圖所示，本發明的電路測試震動裝置包括有一第一連接模組10、一第二連接模組20、一測試裝置30及一撥動裝置40，其中第一連接模組10可具有至少一電路板12，並在電路板12上設有一第一連接端14，第一連接端14則具有複數連接端子(圖未示)。同樣地，第二連接模組20可具有至少一電路板22，電路板22上亦設有一第二連接端24，第二連接端24具有複數連接端子(圖未示)，使得一待測物可以電連接於第一連接端14及第二連接端24之間以進行電性檢測。

測試裝置30分別藉由一第一導線32及一第二導線34與第一連接模組10及第二連接模組20電連接，用以執行待測物之電路值之量測及判別線路是否有斷路或短路，第一導線32及第二導線34則分別具有複數訊號線路(圖未示)，且與第一連接端14及第二連接端24的複數端子相互對應連接。

撥動裝置40設置於第一連接模組10及第二連接模組20之間的一側邊處，用於對連接於第一連接模組10及第二連接模組20之間的待測物產生一間歇性的撥動 力，使待測物產生間歇性的往復震動彎折或形變。撥動裝置40包括有一震動產生器42(如馬達)、一軸座44及一桿體46，其中震動產生器42具有一轉軸422，軸座44的一端係套設轉軸422上，軸座44的另一端則延伸有設置桿體46，使得桿體46保持水平延伸於第一連接模組10及第二連接模組20之間。

另請同時參閱第2圖及第3圖所示，為本發明第一實施例進行檢測時的立體圖及側視圖。第一連接端14及第二連接端24之間是用以連接一待測物50，以便於對待測物50的電路進行電性的測試，其中待測物50具有複數導電線路，可以分別與第一連接端14及第二連接端24的連接端子逐一對應的呈一電連接。待測物50可選擇為一薄膜印刷電子排線、軟性扁平排線(FFC)、軟性印刷電路板(FPC)、電子線、鐵氟龍線、同軸電纜線、混合型線材、或其中兩種以上之組合線材之一。

測試裝置30則是由第一導線32輸入電流，使得電流經由第一連接模組10、待測物50及第二連接模組20後，再透由第二導線34回至測試裝置30進行量測，測試裝置30則可藉此測量待測物50上每一條導電線路的電路值的變化，用以判別待測物50的線路是否有斷路或短路，由於該量測方式屬習知技術，於此不再細述。

本發明的特點在於第一連接模組10及第二連接模組20之間的待測物50的一側邊鄰近位置處設有撥動裝置40，可用於對連接於第一連接模組10及第二連接模 組20之間的待測物50產生一間歇性的撥動力，使待測物50可以產生間歇性的往復彎折或形變，如第3圖所示，如此可達到使待測物50的導電線路在經由間歇性的往復彎折或形變的情況下進行檢測，便於待測物50在經由彎折或形變的情況下，可以更為確實地檢測出待測物50是否具有斷路或短路的情形。

請同時參閱第4圖及第5圖所示，分別為本發明第二實施例的立體圖及進行檢測時的側視圖。如圖所示，相較於第一實施例，本發明的第二實施例中的相異點在於撥動裝置60的結構，第二實施例的撥動裝置60包括有一供氣源62及一導氣管64，其中供氣源62是可用於提供一高壓氣體之高壓氣體容器，導氣管64的一端連接於供氣源62，並延伸於第一連接模組10及第二連接模組20之間，並在導氣管64的另一端具有一噴氣口642朝向待測物50，又導氣管64上可另設置有一閥門66，可經由閥門66控制導氣管64內氣體流量，藉由上述的結構，當待測物50進行檢測時，撥動裝置60可藉由閥門66的控制，使得噴氣口642產生間歇性的高壓氣體朝向待測物50噴射，藉由高壓氣體直接噴射的壓力使得待測物50可以受力而產生往復性的震動彎曲或形變而達到檢測的效果。

第6圖為本發明第三實施例進行檢測時的側視圖。在此一實施例中，其包括有一承載平台70以及一平台震動機構72。當待測物50連結於第一連接模組10及 第二連接模組20之間之後，會置於承載平台70上。平台震動機構72可對承載平台70施加一水平震動方向I2或垂直震動方向I1的震動力，進而使待測物50產生間歇性的往復彎折或形變，再由測試裝置30對待測物50進行檢測。在本實施例之另一組立型態中，亦可將測試裝置30承置在該承載平台70上。

在應用方面，本發明可用於執行軟性電路板、軟排標準線、電路板、電子線材模組等待測物之電路值之量測，而該電路值係可包括有電阻值、電壓值、電流值、高頻TDR阻抗值、反射值之一，也可以用於判定待測物之電路是否斷路或短路，亦可判別待測物上之零件接觸是否良好。電路值之量測可為電阻值並用以判別電路是否有缺失，如斷路式短路，亦可判別待測物上之零件(如LED燈)是否正常。

由前述說明可知，本發明經由撥動裝置的設置提供了下列的優點：

1.藉由撥動裝置對待測物施以間歇性的往復震動彎折或形變的外力，可測試待測物的電路在其它靜態測試無法發現到的瑕疵。

2.可對待測物進行靜態或動態的雙重測試，進而能提供更有效而全面性的檢測方式。

綜上所陳，僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限定本發明；凡其他未脫離本發明所揭示之精神下而完成的等效修飾或置換，均應包含於後述申請專利範圍 內。

10‧‧‧第一連接模組

12‧‧‧電路板

14‧‧‧第一連接端

20‧‧‧第二連接模組

22‧‧‧電路板

24‧‧‧第二連接端

30‧‧‧測試裝置

32‧‧‧第一導線

34‧‧‧第二導線

40‧‧‧撥動裝置

42‧‧‧震動產生器

422‧‧‧轉軸

44‧‧‧軸座

46‧‧‧桿體

50‧‧‧待測物

60‧‧‧撥動裝置

62‧‧‧供氣源

64‧‧‧導氣管

642‧‧‧噴氣孔

66‧‧‧閥門

70‧‧‧承載平台

72‧‧‧平台震動機構

I1‧‧‧水平震動方向

I2‧‧‧垂直震動方向

第1圖為本發明第一實施例的立體圖。

第2圖為本發明第一實施例進行檢測時的立體圖。

第3圖為本發明第一實施例進行檢測時的側視圖。

第4圖為本發明第二實施例的立體圖。

第5圖為本發明第二實施例進行檢測時的側視圖。

第6圖為本發明第三實施例進行檢測時的側視圖。

10‧‧‧第一連接模組

12‧‧‧電路板

14‧‧‧第一連接端

20‧‧‧第二連接模組

22‧‧‧電路板

24‧‧‧第二連接端

30‧‧‧測試裝置

32‧‧‧第一導線

34‧‧‧第二導線

40‧‧‧撥動裝置

42‧‧‧震動產生器

422‧‧‧轉軸

44‧‧‧軸座

46‧‧‧桿體

50‧‧‧待測物

Claims (11)

1. 一種電路測試震動裝置，其包括：一第一連接模組，具有一第一連接端；一第二連接模組，具有一第二連接端，一待測物電連接於該第一連接模組的該第一連接端與該第二連接模組的該第二連接端之間；一測試裝置，連接於該第一連接模組與該第二連接模組，用以執行該待測物之電路值之量測；以及一撥動裝置，對連接於該第一連接模組與該第二連接模組之間的該待測物產生間歇性的施力，使該待測物產生間歇性的往復震動或形變彎折。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電路測試震動裝置，其中在該撥動裝置包括有一震動產生器及一結合於該震動產生器的桿體，該桿體延伸於該待測物。
3. 如申請專利範圍第2項所述之電路測試震動裝置，其中在該震動產生器經由一軸座結合於該桿體。
4. 如申請專利範圍第1項所述之電路測試震動裝置，其中在該撥動裝置包括一供氣源及一導氣管，該供氣源用於提供一高壓氣體，該導氣管的一端連接於該供氣源，並在該導氣管的另一端具有一噴氣口朝向該待測物。
5. 如申請專利範圍第4項所述之電路測試震動裝置，其中該導氣管上設置有一閥門，經由該閥門控制該導氣管內氣體流量，使得該噴氣口產生間歇性的高壓氣體噴出。
6. 如申請專利範圍第1項所述之電路測試震動裝置，其中 該待測物係指薄膜印刷電子排線、軟性扁平排線(FFC)、軟性印刷電路板(FPC)、電子線、鐵氟龍線、同軸電纜線、混合型線材、或其中兩種以上之組合線材之一。
7. 如申請專利範圍第1項所述之電路測試震動裝置，其中該電路值包括有電阻值、電壓值、電流值、高頻TDR阻抗值、反射值之一。
8. 一種電路測試震動裝置，其包括：一承載平台；一第一連接模組，具有一第一連接端；一第二連接模組，具有一第二連接端，一待測物電連接於該第一連接模組的該第一連接端與該第二連接模組的該第二連接端之間，並置於該承載平台上；一測試裝置，連接於該第一連接模組與該第二連接模組，用以執行該待測物之電路值之量測；一平台震動機構，連結於該承載平台，用以對該承載平台施加一震動力，使該待測物產生間歇性的往復震動或形變彎折。
9. 如申請專利範圍第8項所述之電路測試震動裝置，其中該測試裝置亦承置在該承載平台上。
10. 如申請專利範圍第8項所述之電路測試震動裝置，其中該待測物係指薄膜印刷電子排線、軟性扁平排線(FFC)、軟性印刷電路板(FPC)、電子線、鐵氟龍線、同軸電纜線、混合型線材、或其中兩種以上之組合線材之一。
11. 如申請專利範圍第8項所述之電路測試震動裝置，其中 該電路值包括有電阻值、電壓值、電流值、高頻TDR阻抗值、反射值之一。