TWI453343B - 風扇模組測試方法 - Google Patents

Description

風扇模組測試方法

本發明係關於一種自動測試方法，尤指一種用於檢測電子裝置中之風扇模組之測試方法。

隨著電子資訊產業之發展，用戶對電子產品之性能要求越來越高，有效地解決電子產品之散熱問題亦成為提升電子產品品質之一個重要條件。通常，於電子產品出廠前，風扇模組之性能必須得到有效之檢測才能確保電子產品之品質。尤其係針對伺服器產品，由於伺服器產品之存儲及運算量較高，相應地，對其散熱系統之要求亦較高。習知之用於伺服器風扇模組之檢測方法通常需要架設一台檢測器及一套裝設於伺服器中之存儲設備，待檢測之風扇模組與存儲設備相連。檢測時，需要先啟動伺服器使風扇模組處於工作狀態，將風扇模組調節至不同之工作狀態並進行檢測。然，此種測試方法必須架設伺服器及存儲設備，測試成本較高。並且由於需要啟動伺服器，測試過程所需之時間較長，浪費人力資源，且影響產品之出貨進度。

鑒於以上內容，有必要提供一種測試成本低，且能夠簡化測試過程，縮短測試時間之風扇模組測試方法。

一種風扇模組測試方法，包括：測試電腦向測試板發送測試指令 ；測試板回應該測試指令，控制該風扇模組依次進入不同之轉速模式，讀取不同轉速模式下之風扇轉速並回饋給測試電腦；測試電腦對不同模式下之風扇轉速進行分析並判斷風扇模組是否通過測試；及顯示測試結果。

本發明為用戶提供了一種風扇模組測試方法，藉由該測試方法，僅需將風扇模組插設至測試板上，再啟動測試電腦發出測試指令，即可得出風扇模組之基本資訊及風扇轉速等測試參數，並根據測試電腦設定之值判斷測試結果，無需像習知技術那樣先將風扇模組安置於伺服器中，再啟動伺服器才能對風扇模組進行測試，從而簡化測試過程並節省測試時間。

10‧‧‧測試電腦

11‧‧‧第一串列介面

13‧‧‧顯視器

15‧‧‧測試分析模組

20‧‧‧串列介面線

30‧‧‧測試板

31‧‧‧第二串列介面

33‧‧‧微程式控制器

331‧‧‧指令接收模組

332‧‧‧指令轉換模組

35‧‧‧電源介面

37‧‧‧插槽

50‧‧‧風扇模組

51‧‧‧控制晶片

53‧‧‧電可擦除唯讀記憶體

圖1係實現本發明風扇測試方法之硬體結構方框圖。

圖2係本發明風扇測試方法較佳實施方式之測試流程圖。

圖3(a)-(b)係本發明風扇測試方法另一較佳實施方式之測試流程圖。

本發明提供一種測試風扇模組之方法，請參閱圖1，實現本發明風扇模組測試方法之硬體系統包括一台測試電腦10，一與該測試電腦10相連之測試板30，及一插設於該測試板30上之風扇模組50。

該測試電腦10包括一第一串列介面11及一顯示器13。該測試電腦10中還設定有可對測試板30回饋之測試結果進行分析之測試分析模組15。該顯示器13用以對測試結果進行顯示。

該測試板30包括一與該測試電腦上對應之第二串列介面31，一微程式控制器(Microprogrammed Control Unit，MCU)33，一電源介面35，及一插槽37。一串列介面線20連接至該測試電腦10之第一串列介面11及該測試板30之第二串列介面31，從而實現測試板30與測試電腦之間之資料通訊。該微程式控制器33中設定有指令接收模組331及指令轉換模組332。該指令接收模組331用以於測試板30與測試電腦10通訊之過程中接受測試電腦10發出之指令，該指令轉換模組332用以將接收到之指令進行轉化再發送給風扇模組50。該風扇模組50插設於該插槽37上從而與該測試板30之微程式控制器33實現通訊。該電源介面35用以給該微程式控制器33及風扇模組50供電。

該風扇模組50包括一控制晶片51及一電可擦除唯讀記憶體(EEPROM)53。該控制晶片51中存儲有風扇模組50之基本資訊(如風扇數量，控制晶片之生產廠商及型號等)，並可根據該測試板30上之微程式控制器33發出之指令對風扇之轉速模式進行設定。測試過程中，該測試板30之微程式控制器33需要對該EEPROM中之數值進行讀取，並根據讀取之結果來判斷該EEPROM是否正常。

測試時，首先將該測試板30與測試電腦10藉由平行串列埠線20相連，並將該風扇模組50插設至測試板30之插槽37上。請參閱圖2，該風扇模組測試方法包括：測試電腦10向測試板30發送掃描指令。

測試板30響應該掃描指令，該測試板30之微程式控制器33從風扇模組50之控制晶片51中讀取風扇模組50之基本資訊並將該基本資訊回傳給測試電腦10並顯示於顯示器13上。

掃描完成後，該測試電腦10再向測試板30發送測試指令。

測試板30回應該測試指令，該微程式控制器33藉由該風扇模組50之控制晶片51控制風扇模組50依次進入不同之轉速模式，並從風扇模組50之控制晶片51中讀取不同轉速模式下之風扇轉速回饋給測試電腦10。於本實施方式中，該轉速模式可設定為內定轉速模式，全速模式，半速模式，以及靜止模式。

測試電腦10之測試分析模組對不同模式下之風扇轉速進行分析比較，並判斷風扇模組是否通過測試。

將測試結果顯示於測試電腦10之顯示器13上。

請參閱圖3(a)-(b)，另一較佳實施方式中，該風扇模組測試方法之測試流程如下所述：測試電腦10判斷其操作介面上之掃描指令是否被觸發。

如果掃描指令未觸發，則測試電腦10繼續等待。

如果掃描指令被觸發，則測試電腦10打開第一串列介面發送掃描指令給測試板30並開始計時。

測試電腦10監測測試板30於設定之時間內是否回應該掃描指令。

如果測試板30未響應該掃描指令，則測試電腦10判定該測試系統未連接好，並隨即關閉第一串列介面11將錯誤資訊顯示於顯示器13上，測試過程結束，測試電腦10等待下次測試。

如果測試板30於設定之時間內回應該掃描指令，則微程式控制器33從風扇模組50之控制晶片51中讀取風扇模組50之基本資訊並回饋給測試電腦10，測試電腦10將該基本資訊顯示於顯示器13上。

測試電腦10判斷其操作介面上之測試指令是否被觸發。

如果測試指令未被觸發，則測試電腦關閉第一串列介面11。

如果測試指令被觸發，則測試電腦10發送測試指令給測試板30並藉由測試板30控制風扇模組50依次進入不同之轉速模式。

測試電腦10監測測試板30是否有回饋測試資訊給測試電腦10。

如果測試板30有回體測試資訊給測試電腦10，則測試電腦10判斷該測試資訊之來源。

如果該測試資訊係由測試板30讀取風扇模組50之電可擦除唯讀記憶體53之數值回饋給測試電腦10則直接將測試板30讀取到之電可擦除唯讀記憶體53之數值顯示於測試電腦10之顯示器13上。

如果該測試資訊係由測試板30讀取該風扇模組50之控制晶片51獲得之不同轉速模式下之風扇轉速值，則依次將轉速模式下之風扇轉速給測試電腦10，測試電腦10之測試分析模組對該轉速模式下之風扇轉速進行分析比較，並判定該轉速模式下之風扇轉速是否通過測試，將對應之測試結果顯示於顯示器13上。

本實施方式中，測試電腦10藉由以下方式來判斷風扇模組是否通過測試：如果其中任意一種轉速模式下之風扇轉速未通過測試，則測試電腦10判定風扇模組50測試失敗；如果所有轉速模式下之風扇轉速均通過測試，則判定風扇模組50測試成功。

Claims (9)

1. 一種風扇模組測試方法，包括如下步驟：測試板偵測風扇模組是否已插設至測試板上；測試電腦在風扇模組已插設至測試板后向測試板發送測試指令；測試板回應該測試指令，控制該風扇模組依次進入不同之轉速模式，讀取不同轉速模式下之風扇轉速並回饋給測試電腦；測試電腦對不同模式下之風扇轉速進行分析並判斷風扇模組是否通過測試；及顯示測試結果。
2. 如申請專利範圍第1項所述之風扇模組測試方法，其中該測試方法還包括於該測試電腦於發送測試指令前向測試板發送掃描指令，該測試板響應該掃描指令對該待測風扇模組之基本資訊進行讀取。
3. 如申請專利範圍第2項所述之風扇模組測試方法，其中該測試板藉由一微程式控制器對該風扇模組之基本資訊進行讀取。
4. 如申請專利範圍第2項所述之風扇模組測試方法，其中該測試電腦具有第一串列介面，於該測試板響應該掃描指令之前，該測試電腦打開該第一串列介面向該測試板發送指令。
5. 如申請專利範圍第4項所述之風扇模組測試方法，其中該測試方法還包括該測試電腦於打開第一串列介面時開始計時，如果於設定之時間內，測試電腦沒有收到測試板回傳之資訊，則測試電腦判定風扇模組及測試板連接有誤，並關閉該第一串列介面。
6. 如申請專利範圍第1項所述之風扇模組測試方法，其中該風扇模組之轉速模式包括內定轉速模式、全速模式、半速模式及風扇靜止模式中之至少 兩種。
7. 如申請專利範圍第1項所述之風扇模組測試方法，其中測試電腦判斷風扇模組是否通過測試之步驟包括：如果其中一個模式下之風扇轉速與測試電腦中設定之值不符，測試電腦顯示風扇模組測試失敗之資訊；如果所有模式下之風扇轉速均與設定值相符，測試電腦顯示風扇模組測試通過。
8. 如申請專利範圍第1項所述之風扇模組測試方法，其中該風扇模組包括一控制晶片及一電可擦除唯讀記憶體，測試板從該控制晶片中讀取風扇轉速回饋給測試電腦顯示，並從該電可擦除唯讀記憶體中讀取數值回饋給測試電腦進行顯示。
9. 如申請專利範圍第1項所述之風扇模組測試方法，其中該測試板藉由一微程式控制器控制該風扇模組依次進入不同之轉速模式，並從該風扇模組中讀取風扇轉速。