TWI443358B - 發光二極體光源測試裝置 - Google Patents

Description

發光二極體光源測試裝置

本發明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種發光二極體光源測試裝置。

發光二極體(Light Emitting Diode，LED)係一種可將電流轉換成特定波長範圍的光的半導體元件。發光二極體以其亮度高、工作電壓低、功耗小、易與積體電路匹配、驅動簡單、壽命長等優點，從而可作為光源而廣泛應用於照明領域。

在發光二極體光源生產過程中，需要對發光二極體光源的電氣特性及光學特性進行測試，上述電氣特性及光學特性的測試一般在不同的測試機台下進行，導致測試時間過長，且由於電氣特性及光學特性分別在不同的測試機台下測試，導致很難得到電氣特性及光學特性之間的對應關係，例如，電流與發光亮度的關係等。

有鑒於此，有必要提供一種能夠同時對發光二極體光源的電氣特性及光學特性進行測試的發光二極體光源測試裝置。

一種發光二極體光源測試裝置，其包括一個承載台及一個測試系統。所述承載台用於承載待測試發光二極體光源。所述測試系統具有一個光感測器、一個電連接頭及一個測試模組。所述光感測器和電連接頭分別與所述測試模組電連接。所述光感測器用於感 測發光二極體光源發出的光線。所述電連接頭用於與待測發光二極體光源電連接。所述測試模組用於測試發光二極體光源的電學特性，並同時能夠跟據光感測器感測到的發光二極體光源發出的光線，得到發光二極體光源的光學特性。

所述發光二極體光源測試裝置中的測試系統能夠同時測試發光二極體光源的電氣特性及光學特性，一方面能夠縮短發光二極體光源的測試時間，另一方面，能夠得到發光二極體光源的電氣特性和光學特性之間的對應關係。

10‧‧‧殼體

11‧‧‧容置腔

12‧‧‧底壁

13‧‧‧頂壁

14‧‧‧側壁

20‧‧‧承載台

30‧‧‧測試系統

31‧‧‧光感測器

32‧‧‧電連接頭

33‧‧‧測試模組

40‧‧‧恒溫系統

41‧‧‧供氣裝置

42‧‧‧導氣管

100‧‧‧發光二極體光源測試裝置

121‧‧‧開口

141‧‧‧通氣口

200‧‧‧發光二極體光源

201‧‧‧電極

圖1係本發明實施方式提供的一種發光二極體光源測試裝置示意圖。

圖2係圖1中的發光二極體光源測試裝置中的承載台立體示意圖。

以下將結合附圖對本發明作進一步的詳細說明。

請參閱圖1，本發明實施方式提供的一種發光二極體光源測試裝置100包括殼體10、承載台20、測試系統30及恒溫系統40。

所述殼體10具有一個容置腔11，該容置腔11能夠收容所述承載台20。本實施方式中，所述殼體10包括底壁12、頂壁13以及連接所述底壁12和頂壁13的側壁14。所述底壁12上具有一個開口121，所述承載台20可通過該開口121伸入到所述殼體10中。優選地，所述殼體10採用透明材料製成。

所述承載台20用於承載待測試發光二極體光源200。所述發光二極體光源200可以為點光源、線光源或面光源等。請進一步參閱 圖2，本實施方式中，所述發光二極體光源200為發光二極體燈條。發光二極體燈條係指一種將發光二極體呈線性排列的發光裝置，由於製作容易、成本低，目前其已被廣泛應用來作為光源。所述承載台20能夠在殼體10內沿平行於頂壁13及垂直於頂壁13的方向移動。所述承載台20上承載有多個發光二極體光源200，每個發光二極體光源200具有兩個電極201，通過該兩個電極201可為發光二極體光源200供電。

所述測試系統30包括光感測器31、電連接頭32及測試模組33。所述光感測器31和電連接頭32分別與所述測試模組33電連接。

所述光感測器31用於感測發光二極體光源200發出的光線。本實施方式中，所述光感測器31固定於殼體10的頂壁13的內表面。可以理解，在其他實施方式中，該光感測器31也可以固定於殼體10的側壁14的內表面上，只要光感測器31能夠接收到發光二極體光源200發出的光線即可。

所述電連接頭32能夠與發光二極體光源200上的兩個電極201電連接，用於實現測試模組33與發光二極體光源200的電連接。通過移動所述承載台20，可以讓電連接頭32分別與每個發光二極體光源200進行電連接，從而能夠對每個發光二極體光源200進行測試。本實施方式中，所述電連接頭32為探針，其固定於殼體10的側壁14的內表面上。可以理解，在其他實施方式中，所述電連接頭32也可以固定於殼體10的頂壁13的內表面上，只要電連接頭32能夠與發光二極體光源200進行電連接即可。

所述測試模組33用於測試發光二極體光源200的電學特性，並同時能夠跟據光感測器31感測到的發光二極體光源200發出的光線 ，得到發光二極體光源200的發光亮度、顏色等光學特性，從而進一步得到發光二極體光源200的電學特性與光學特性的關係，例如，發光二極體光源200的電流與發光亮度的對應關係等。本實施方式中，所述測試模組33位於殼體10外。

所述恒溫系統40包括供氣裝置41及導氣管42。所述供氣裝置41用於提供恒溫氣體，而導氣管42則用於輸送該恒溫氣體。對應所述導氣管42，所述殼體10上開設有至少一個通氣口141。本實施方式中，該通氣口141開設在殼體10的側壁14上，且該通氣口141開設於電連接頭32與殼體10的底壁12之間。通過供氣裝置41向殼體10內通入恒溫氣體，能夠保持容置腔11內的溫度穩定，從而避免外在因素，如溫度等，影響測試結果。

本發明實施方式提供的發光二極體光源測試裝置中的測試系統能夠同時測試發光二極體光源的電氣特性及光學特性，一方面能夠縮短發光二極體光源的測試時間，另一方面，能夠得到發光二極體光源的電氣特性和光學特性之間的對應關係。

另外，本領域技術人員還可在本發明精神內做其他變化，當然，這些依據本發明精神所做之變化，都應包含在本發明所要求保護之範圍之內。

10‧‧‧殼體

11‧‧‧容置腔

12‧‧‧底壁

13‧‧‧頂壁

14‧‧‧側壁

20‧‧‧承載台

30‧‧‧測試系統

31‧‧‧光感測器

32‧‧‧電連接頭

33‧‧‧測試模組

40‧‧‧恒溫系統

41‧‧‧供氣裝置

42‧‧‧導氣管

100‧‧‧發光二極體光源測試裝置

121‧‧‧開口

141‧‧‧通氣口

200‧‧‧發光二極體光源

Claims (8)

1. 一種發光二極體光源測試裝置，其包括一個承載台及一個測試系統，所述承載台用於承載待測試發光二極體光源，其改進在於：所述測試系統具有一個光感測器、一個電連接頭及一個測試模組，所述光感測器和電連接頭分別與所述測試模組電連接，所述光感測器用於感測發光二極體光源發出的光線，所述電連接頭用於與待測發光二極體光源電連接，所述測試模組用於測試發光二極體光源的電學特性，並同時能夠跟據光感測器感測到的發光二極體光源發出的光線，得到發光二極體光源的光學特性，其中，所述發光二極體光源測試裝置還包括一個殼體以及一恒溫系統，該殼體具有一個容置腔，所述承載台收容在該容置腔中且與殼體內壁間隔設置，所述光感測器件及電連接頭設置在所述殼體的內壁上，所述殼體上開設有至少一個通氣口，所述恒溫系統設置在殼體的外部，其包括一個供氣裝置，所述供氣裝置用於通過所述通氣口向殼體內通入恒溫氣體。
2. 如申請專利範圍第1項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述殼體具有底壁、頂壁以及連接所述底壁和頂壁的側壁，所述底壁上形成有一個能夠讓承載台通過的開口。
3. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述承載台能夠在殼體內沿平行於頂壁及垂直於頂壁的方向移動。
4. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述殼體採用透明材料製成。
5. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述光感測器固定於所述殼體的頂壁的內表面。
6. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述電連接頭固定於所述殼體的側壁的內表面。
7. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述通氣口開設於所述殼體的側壁上，且該通氣口位於電連接頭與殼體的底壁之間。
8. 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體光源測試裝置，其中：所述電連接頭固定於所述殼體的側壁的內表面。