TWI437439B - 用來以動態門檻進行區塊管理之方法及記憶裝置及控制器 - Google Patents

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TWI437439B
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Description

用來以動態門檻進行區塊管理之方法及記憶裝置及控制器
本發明係有關於快閃記憶體(Flash Memory)之存取(Access),尤指一種用來進行區塊管理之方法以及相關之記憶裝置及其控制器。
近年來由於快閃記憶體的技術不斷地發展,各種可攜式記憶裝置(例如:符合SD/MMC、CF、MS、XD標準之記憶卡)或具備快閃記憶體之固態硬碟(Solid State Drive,SSD)被廣泛地實施於諸多應用中。因此,這些記憶裝置中之快閃記憶體的存取控制遂成為相當熱門的議題。
以常用的NAND型快閃記憶體而言,其主要可區分為單階細胞(Single Level Cell,SLC)與多階細胞(Multiple Level Cell,MLC)兩大類之快閃記憶體。單階細胞快閃記憶體中之每個被當作記憶單元的電晶體只有兩種電荷值,分別用來表示邏輯值0與邏輯值1。另外,多階細胞快閃記憶體中之每個被當作記憶單元的電晶體的儲存能力則被充分利用,係採用較高的電壓來驅動,以透過不同級別的電壓在一個電晶體中記錄兩組(或以上)位元資訊(00、01、11、10);理論上,多階細胞快閃記憶體的記錄密度可以達到單階細胞快閃記憶體的記錄密度之兩倍,這對於曾經在發展過程中遇到瓶頸的NAND型快閃記憶體之相關產業而言,是非常好的消息。
相較於單階細胞快閃記憶體,由於多階細胞快閃記憶體之價格較便宜,並且在有限的空間裡可提供較大的容量,故多階細胞快閃記憶體很快地成為市面上之可攜式記憶裝置競相採用的主流。然而,多階細胞快閃記憶體的不穩定性所導致的問題也一一浮現。為了確保記憶裝置對快閃記憶體之存取控制能符合相關規範,快閃記憶體的控制器通常備有某些管理機制以妥善地管理資料之存取。
依據相關技術,有了這些管理機制的記憶裝置還是有不足之處。例如:在該記憶裝置被設計成具有較高儲存容量及/或較高彈性的狀況下,該些管理機制可能變得非常複雜,這可能會導致硬體資源的晶片面積以及相關成本增加。因此,需要一種新穎的方法來進行區塊管理,以增進具備快閃記憶體的記憶裝置之存取效能。
因此本發明之目的之一在於提供一種用來進行區塊管理之方法以及相關之記憶裝置及其控制器,以解決上述問題。
本發明之另一目的在於提供一種用來進行區塊管理之方法以及相關之記憶裝置及其控制器,以增進該記憶裝置之存取效能並且控制該記憶裝置以適應性的方式來運作。
本發明之較佳實施例中提供一種用來進行區塊管理之方法,該方法係應用於一快閃記憶體(Flash Memory)之控制器,該快閃記憶體包含複數個區塊,該方法包含有:依據至少一條件調整一動態門檻;以及比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效/無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
本發明於提供上述方法之同時,亦對應地提供一種記憶裝置,其包含有:一快閃記憶體,該快閃記憶體包含複數個區塊;以及一控制器,用來存取(Access)該快閃記憶體以及管理該複數個區塊。另外,該控制器依據至少一條件調整一動態門檻。此外,該控制器比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效/無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
本發明於提供上述方法之同時,亦對應地提供一種記憶裝置之控制器,該控制器係用來存取一快閃記憶體,該快閃記憶體包含複數個區塊,該控制器包含有:一唯讀記憶體(Read Only Memory,ROM),用來儲存一程式碼;以及一微處理器,用來執行該程式碼以控制對該快閃記憶體之存取以及管理該複數個區塊。另外,在該微處理器之控制下,該控制器依據至少一條件調整一動態門檻,並且比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效/無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
本發明的好處之一是,藉由調整該動態門檻,本發明可妥善地進行區塊管理,增進該記憶裝置之效能。於是,透過調整該動態門檻,該記憶裝置能以適應性的方式來運作。
請參考第1圖,第1圖為依據本發明一第一實施例之一種記憶裝置100的示意圖,其中本實施例之記憶裝置100尤其可為可攜式記憶裝置,例如:符合SD/MMC、CF、MS、XD標準之記憶卡,或通用序列匯流排快閃碟(Universal Serial Bus Flash Drive,USB Flash Drive,亦稱為USB Flash Disk),即所謂的隨身碟,但不以此為限。記憶裝置100包含有:一快閃記憶體(Flash Memory)120;以及一控制器,用來存取(Access)快閃記憶體120,其中該控制器例如一記憶體控制器110。依據本實施例,記憶體控制器110包含一微處理器112、一唯讀記憶體(Read Only Memory,ROM)112M、一控制邏輯114、至少一緩衝記憶體116、與一介面邏輯118。另外,本實施例之唯讀記憶體112M係用來儲存一程式碼112C,而微處理器112則用來執行程式碼112C以控制對快閃記憶體120之存取。請注意到,程式碼112C亦得儲存在緩衝記憶體116或任何形式之記憶體內。請注意,在此係以可攜式記憶裝置為例;這只是為了說明的目的而已,並非對本發明之限制。依據本實施例之一變化例,記憶裝置100可為固態硬碟(Solid State Drive,SSD)。
於本實施例中,唯讀記憶體112M係用來儲存一程式碼112C,而微處理器112則用來執行程式碼112C以控制對快閃記憶體120之存取(Access)。於典型狀況下,快閃記憶體120包含複數個區塊(Block),而該控制器(例如:透過微處理器112執行程式碼112C之記憶體控制器110)對快閃記憶體120進行抹除資料之運作係以區塊為單位來進行抹除。例如:於本實施例或其某些變化例中,該控制器能藉由以區塊為單位及/或以超區塊(Meta-block)為單位進行抹除,來對快閃記憶體120進行抹除資料之運作,其中每一超區塊可具有一預定數量之區塊。另外,一區塊可記錄特定數量的頁(Page),尤其是實體頁(Physical Page),其中上述之控制器對快閃記憶體120進行寫入資料之運作係以頁為單位來進行寫入。例如:該控制器能藉由以頁為單位及/或以一數量的頁為單位進行寫入,來對快閃記憶體120進行寫入資料之運作,其中一實體頁可包含複數個區段(Sector),諸如8個區段。
實作上,透過微處理器112執行程式碼112C之記憶體控制器110可利用其本身內部之元件來進行諸多控制運作,例如:利用控制邏輯114來控制快閃記憶體120之存取運作(尤其是對至少一區塊或至少一頁之存取運作)、利用緩衝記憶體116進行所需之緩衝處理、以及利用介面邏輯118來與一主裝置(Host Device;未顯示於第1圖)溝通。記憶體控制器110可依據該主裝置所發出之存取指令來控制快閃記憶體120。依據本實施例,除了能存取快閃記憶體120,記憶體控制器110還能妥善地管理該複數個區塊。請參考第2圖,該控制器所進行之區塊管理之相關細節進一步說明如下。
第2圖為依據本發明一實施例之一種用來進行區塊管理之方法910的流程圖。該方法可應用於第1圖所示之記憶裝置100,尤其是上述之控制器(例如:透過微處理器112執行程式碼112C之記憶體控制器110)。另外,該方法可藉由利用第1圖所示之記憶裝置100來實施,尤其是藉由利用上述之控制器來實施。該方法說明如下:
於步驟912中,該控制器依據至少一條件(例如:一個或多個條件)調整一動態門檻DT。尤其是,動態門檻DT是可用來判斷是否抹除該些區塊中之一區塊的可調門檻。例如:該控制器可依據該複數個區塊當中空白/已使用的區塊之數量來調整動態門檻DT。這只是為了說明的目的而已,並非對本發明之限制。依據本實施例之一變化例,該控制器可依據空白/已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率來調整動態門檻DT。
於步驟914中,該控制器利用比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效/無效頁數以及動態門檻DT,以判斷是否抹除該特定區塊。該有效/無效頁數代表該特定區塊中之有效/無效頁的數量,其中一有效頁代表儲存有用的資料(或有效資料)之一實體頁,而一無效頁代表沒有儲存有用的資料之一實體頁。實作上,由於每一完全寫入(Fully Programmed)區塊包含一預定數量的頁(例如:在某些實施例可為128頁),同一個完全寫入區塊之有效頁數與無效頁數是彼此互補的。
請注意,該控制器諸如記憶體控制器110可從記憶裝置100中之一有效/無效頁數表讀取該有效/無效頁數,其中該有效/無效頁數表是用來儲存該複數個區塊各自的有效/無效頁數。例如:記憶體控制器110可將該有效/無效頁數表儲存於快閃記憶體120中。當需要時,記憶體控制器110從快閃記憶體120載入該有效/無效頁數表之至少一部分(例如:一部分或全部),並且暫時地將該有效/無效頁數表之上述至少一部分儲存於緩衝記憶體116中,以更新該有效/無效頁數表。之後,記憶體控制器110可進一步將該有效/無效頁數表之更新版本儲存於快閃記憶體120中。
記憶體控制器110可依據關於記憶體控制器110及/或快閃記憶體120之一偵測值DV 來調整動態門檻DT。例如:偵測值DV 可包含(但不限於)上述該複數個區塊當中空白/已使用的區塊之數量,以及上述空白/已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率。尤其是,記憶體控制器110可依據偵測值DV 是否落入複數個範圍R(k)當中之一特定範圍(或值)來調整動態門檻DT,其中k=0、1、...、或K,且K可為一正整數。如此,該複數個範圍包含(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)。針對步驟912當中進行之調整,不同的範圍的調整量,諸如該(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)中之一部分或全部之各自的調整量,可視為偵測值DV 之一函數,且因此可合稱為調整量DTA (DV )。相仿地,不同的範圍的動態門檻DT,諸如該(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)中之一部分或全部之各自的動態門檻DT,可視為動態門檻DT之一函數,且因此可合稱為動態門檻DT(DV )。例如:在上述之特定範圍代表該(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)中之一範圍R(k1 )並且對應於範圍R(k1 )之調整量{DTA (DV )|DV R(k1 )}為正(尤其是一正值)之狀況下,記憶體控制器110增加動態門檻DT。又例如:在上述之特定範圍代表該(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)中之一範圍R(k2 )並且對應於範圍R(k2 )之調整量{DTA (DV )|DV R(k2 )}為負(尤其是一負值)之狀況下,記憶體控制器110減少動態門檻DT。又例如:在上述之特定範圍代表該(K+1)個範圍R(0)、R(1)、...、與R(K)中之一範圍R(k3 )並且對應於範圍R(k3 )之調整量{DTA (DV )|DV R(k3 )}是零的狀況下,記憶體控制器110將零調整量{DTA (DV )|DV R(k3 )}施加於動態門檻DT,且因此就不會調整到動態門檻DT。
依據上面實施例之一變化例,記憶體控制器110可依據記憶體控制器110之一忙碌/閒置等級來調整動態門檻DT,且因此,偵測值DV 可為記憶體控制器110之該忙碌/閒置等級。例如:當該忙碌/閒置等級指出記憶體控制器110正在忙碌中(例如:該忙碌/閒置等級諸如一忙碌等級達到一預定等級),記憶體控制器110可調整動態門檻DT以減少一抹除運作之發生機率,使得工作負荷得以被減少。如此,於步驟914中,記憶體控制器110更傾向於判斷不要抹除該特定區塊。又例如:當該忙碌/閒置等級指出記憶體控制器110並非忙碌中(例如:該忙碌/閒置等級諸如一忙碌等級小於一預定等級),記憶體控制器110可調整動態門檻DT以增加一抹除運作之發生機率,使得其硬體資源得以被充分利用。如此,於步驟914中,記憶體控制器110更傾向於判斷要抹除該特定區塊。
依據本發明之某些實施例,諸如以上揭露的實施例/變化例中之一部分或全部,記憶體控制器110可立即進行一抹除運作以確保整體效能。例如:在上述之有效/無效頁數代表一有效頁數的狀況下,當偵測到該特定區塊之有效頁數等於零時,記憶體控制器110立即抹除該特定區塊。又例如:在上述之有效/無效頁數代表一無效頁數的狀況下,當偵測到該特定區塊之無效頁數達到其可能之最大值(例如一完全寫入區塊中之頁數)時,記憶體控制器110立即抹除該特定區塊。
依據本發明之某些實施例,諸如以上揭露的實施例/變化例中之一部分或全部,上述之至少一條件包含:「一事件是否發生」之條件。如此,當記憶體控制器110被該事件觸發時,記憶體控制器110可調整動態門檻DT。
第3A圖至第3C圖為第2圖所示之方法於某些實施例中的實施細節。在這些實施例中,上述之至少一條件可包含用來判斷調整量DTA (DV )及/或用來判斷是否調整動態門檻DT之一個或多個條件。
請參考第3A圖。在K=2的狀況下,上述之該(K+1)個範圍包含三個範圍R(0)、R(1)、與R(2)。調整量DTA (DV )係繪示為一函數(於第3A圖係標示為「DTA 」)之某些曲線,尤其是第3A圖所示之粗線。於本實施例中,上述之至少一條件包含「偵測值DV 是否達到一預定門檻(諸如預定門檻TH11 )」之一第一條件,且另包含「偵測值DV 是否低於另一預定門檻(諸如預定門檻TH10 )」之一第二條件,其中該第一條件與該第二條件中之至少一部分(例如:一部分或全部)可於步驟912中被記憶體控制器110所檢查。於是,透過將這個函數應用於步驟912之運作,記憶體控制器110可於偵測值DV 達到預定門檻TH11 時增加動態門檻DT,或於偵測值DV 低於預定門檻TH10 時減少動態門檻DT。尤其是,本實施例之偵測值DV 可為該複數個區塊當中空白區塊之數量。
請參考第3B圖。在K=1的狀況下,上述之該(K+1)個範圍包含兩個範圍R(0)與R(1)。調整量DTA (DV )係繪示為一函數(於第3B圖係標示為「DTA 」)之某些曲線,尤其是第3B圖所示之粗線。於本實施例中,上述之至少一條件包含「偵測值DV 是否達到一預定門檻(諸如預定門檻TH21 )」之該第一條件,其中該第一條件於步驟912中被記憶體控制器110所檢查。於是,透過將這個函數應用於步驟912之運作,記憶體控制器110可於偵測值DV 達到預定門檻TH21 時增加動態門檻DT,或於偵測值DV 未達到預定門檻TH21 時減少動態門檻DT。尤其是,本實施例之偵測值DV 可為該複數個區塊當中空白區塊之數量。
請參考第3C圖。在K=6的狀況下,上述之該(K+1)個範圍包含七個範圍R(0)、R(1)、...、與R(6)。調整量DTA (DV )係繪示為一函數(於第3C圖係標示為「DTA 」)之某些曲線,尤其是第3C圖所示之粗線。於本實施例中,上述之至少一條件包含複數個條件,諸如該第一條件與該第二條件之某些組合/變化。由於第3C圖所示之預定門檻TH30 、TH31 、TH32 、TH33 、TH34 、與TH35 分別定義了範圍R(0)、R(1)、R(2)、R(3)、R(4)、R(5)、與R(6),預定門檻TH30 、TH31 、TH32 、TH33 、TH34 、與TH35 可分別用來判斷偵測值DV 是否落於範圍R(0)、R(1)、...、與R(6)中之任一者。相仿地,該複數個條件中之至少一部分(例如:一部分或全部)可於步驟912中被記憶體控制器110所檢查。於是,透過將這個函數應用於步驟912之運作,記憶體控制器110可於偵測值DV 達到預定門檻TH33 、TH34 、與TH35 中之任一者時增加動態門檻DT,或於偵測值DV 低於預定門檻TH32 、TH31 、與TH30 中之任一者時減少動態門檻DT。更明確而言,在上述之特定範圍代表範圍R(0)、R(1)、...、與R(6)中之一範圍R(k4 ),記憶體控制器110將對應於範圍R(k4 )之調整量{DTA (DV )|DV R(k4 )}施加於動態門檻DT,且因此以調整量{DTA (DV )|DV R(k4 )}調整動態門檻DT。尤其是,本實施例之偵測值DV 可為該複數個區塊當中空白區塊之數量。
本發明的好處之一是,藉由妥善地設計用來調整動態門檻DT之一函數,諸如第3A圖至第3C圖所示之實施例中所揭露之各個函數之任一者,本發明可妥善地進行區塊管理,增進該記憶裝置之效能。於是,透過調整該動態門檻,該記憶裝置能以適應性的方式來運作。例如:當該記憶裝置剛被使用且具有許多空白區塊時,該動態門檻可被決定為一高值;因此,一抹除運作之發生機率得以減少,且該記憶裝置之耐用度可被增強。又例如:當該記憶裝置被使用許久且僅具有少許空白區塊時,該動態門檻可被決定為一低值;因此,一抹除運作之發生機率得以增加,且該記憶裝置可提供更多的空白區塊以供用來儲存傳送自該主裝置之資料。另外,依據以上各個實施例/變化例來實施並不會增加許多額外的成本,甚至比相關技術更能節省成本。因此,基於以上揭露的內容,相關技術的問題已被解決,且整體成本不會增加太多。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
100...記憶裝置
110...記憶體控制器
112...微處理器
112C...程式碼
112M...唯讀記憶體
114...控制邏輯
116...緩衝記憶體
118...介面邏輯
120...快閃記憶體
910...用來進行區塊管理之方法
912,914...步驟
DV ...偵測值
DTA ...調整量
R(0),R(1),R(2),R(3),R(4),R(5),R(6)...範圍
TH10 ,TH11 ,TH21 ,TH30 ,TH31 ,TH32 ,TH33 ,TH34 ,TH35 ...預定門檻
第1圖為依據本發明一第一實施例之一種記憶裝置的示意圖。
第2圖為依據本發明一實施例之一種用來進行區塊管理之方法的流程圖。
第3A圖至第3C圖為第2圖所示之方法於某些實施例中的實施細節。
910...用來進行區塊管理之方法
912,914...步驟

Claims (20)

  1. 一種用來進行區塊管理之方法,該方法係應用於一快閃記憶體(Flash Memory)之控制器,該快閃記憶體包含複數個區塊,該方法包含有:依據至少一條件調整一動態門檻;以及比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效或無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:依據該複數個區塊當中空白或已使用的區塊之數量調整該動態門檻。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之方法,其中依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:依據該些空白或已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率來調整該動態門檻。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:依據關於該快閃記憶體之一偵測值是否落入複數個範圍當中之一特定範圍來調整該動態門檻。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之方法,其中該偵測值代表該複數個區塊當中空白的區塊之數量,或代表該複數個區塊當中已使用的區塊之數量,或代表該些空白的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率,或代表該些已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之方法,其中該偵測值代表該控制器之一忙碌或閒置等級。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之方法,其中該至少一條件包含該偵測值是否達到一預定門檻之一第一條件;以及依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:於該偵測值達到該預定門檻時,增加該動態門檻。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之方法,其中依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:於該偵測值未達到該預定門檻時,減少該動態門檻。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之方法,其中該至少一條件包含該偵測值是否低於另一預定門檻之一第二條件;以及依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:於該偵測值低於該另一預定門檻時,減少該動態門檻。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之方法,其中該偵測值代表該複數個區塊當中空白區塊之數量。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之方法,其中該至少一條件包含一事件是否發生之一條件;以及依據該至少一條件調整該動態門檻之步驟另包含:當被該事件觸發時,調整該動態門檻。
  12. 一種記憶裝置,其包含有:一快閃記憶體(Flash Memory),該快閃記憶體包含複數個區塊;以及一控制器,用來存取(Access)該快閃記憶體以及管理該複數個區塊,其中該控制器依據至少一條件調整一動態門檻,並且比較該複數個區塊中之一特定區塊之一有效或無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之記憶裝置,其中該控制器依據該複數個區塊當中空白或已使用的區塊之數量調整該動態門檻。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之記憶裝置,其中該控制器依據該些空白或已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率來調整該動態門檻。
  15. 如申請專利範圍第12項所述之記憶裝置,其中該控制器依據關於該快閃記憶體之一偵測值是否落入複數個範圍當中之一特定範圍來調整該動態門檻。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之記憶裝置,其中該偵測值代表該複數個區塊當中空白的區塊之數量,或代表該複數個區塊當中已使用的區塊之數量,或代表該些空白的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率,或代表該些已使用的區塊之數量對該複數個區塊之數量的比率。
  17. 如申請專利範圍第12項所述之記憶裝置,其中該至少一條件包含一事件是否發生之一條件;以及當該控制器被該事件觸發時,該控制器調整該動態門檻。
  18. 一種記憶裝置之控制器,該控制器係用來存取(Access)一快閃記憶體(Flash Memory),該快閃記憶體包含複數個區塊,該控制器包含有:一唯讀記憶體(Read Only Memory,ROM),用來儲存一程式碼;以及一微處理器,用來執行該程式碼以控制對該快閃記憶體之存取以及管理該複數個區塊,其中在該微處理器之控制下,該控制器依據至少一條件調整一動態門檻,並且比較該複數 個區塊中之一特定區塊之一有效或無效頁數以及該動態門檻,以判斷是否抹除該特定區塊。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之控制器,其中該控制器依據關於該控制器之一偵測值是否落入複數個範圍當中之一特定範圍來調整該動態門檻。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之控制器,其中該控制器依據該複數個區塊當中空白或已使用的區塊之數量調整該動態門檻。
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