TWI426424B - 具有觸控螢幕之手寫輸入裝置及其方法 - Google Patents
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Description
本發明係關於一種手寫輸入裝置與手寫輸入方法,特別是一種具有觸控螢幕之手寫輸入裝置及其方法。
隨著技術發展,各種方便民眾生活之電子裝置日益出現。特別是近來,出現了許多具有觸控螢幕之小尺寸電子裝置。
觸控螢幕被應用至電子裝置,其優點在於可以省略使用者操縱電子裝置之功能時所需要的按鈕,另一優點在於例如手寫輸入以及現有的簡單選項單選擇輸入等各種資訊輸入方法均可使用。
觸控螢幕之代表性例子有壓感式觸控螢幕(pressure-sensitive touch screen)與靜電式觸控螢幕(electrostatic touch screen),其中壓感式觸控螢幕感測觸控螢幕上物件所施加的壓力,以測量物件之位置,靜電式觸控螢幕透過邊緣部放置的感測器感測觸控螢幕之表面上電荷流動之變化,以偵測物件之位置。此外,還有超音波觸控螢幕、光學成像觸控螢幕等。其中,壓感式觸控螢幕之應用最為廣泛。
然而,現有的觸控螢幕中,手寫與使用者之意圖相悖期間手寫壓力不足的情況下,則無法辨識觸控螢幕上的手寫內容。此外,快速手寫期間,物件可能從觸控螢幕之表面脫離,因此這種情況下手寫筆劃可能斷開。
「第1圖」所示係為使用現有觸控螢幕之手寫輸入之例子。當使用者在觸控螢幕上手寫字"ON"時,透過從位置101處開始筆劃並且在位置104處結束筆劃,使用者嘗試輸入字母"O"。這種情況下,字母O由單個筆劃構成。然而,如「第1圖」所示,如果手寫期間物件從觸控表面脫離,或者如果手寫期間手寫壓力不足,則觸控螢幕上可能出現無法辨識之片段(位置102-位置103)。在使用者完成快速手寫輸入的情況下,則頻繁出現這種無法辨識之片段。
因此,在使用者完成快速手寫輸入的情況下,現有的觸控螢幕表現出品質劣化之手寫輸入。此外,如果使用具有劣化品質之手寫輸入完成字元辨識,則無法辨識字元。
本發明提供一種手寫輸入方法,透過補償與使用者意圖不符之斷開之手寫筆劃,能夠完成高品質的平滑手寫輸入。本發明還提供一種使用此手寫輸入方法之手寫輸入裝置。
依照本發明之一方面,一種具有觸控螢幕之手寫輸入裝置包含:位置偵測單元,用以測量物件之複數個坐標,其中使用者使用此物件接觸觸控螢幕以完成觸控螢幕上的手寫輸入;緩衝單元,用以接收依照預定時間週期取樣之坐標並且儲存坐標;以及補償單元,根據緩衝單元中儲存的坐標產生緩衝單元中未儲存坐標的複數個坐標未儲存取樣時間點之複數個補償坐標,並且儲存補償坐標。
在本發明之以上方面中,根據坐標未儲存取樣時間點之前的取樣時間點之坐標,補償單元計算坐標未儲存取樣時間點前方緊鄰的兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度以及手寫方向改變角,並且補償單元根據手寫速度與手寫方向改變角產生補償坐標。
此外,根據坐標未儲存取樣時間點之後的取樣時間點之坐標,補償單元計算坐標未儲存取樣時間點其後緊鄰的兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且補償單元根據手寫速度與手寫方向改變角產生補償坐標。
另外,補償單元確定坐標未儲存取樣時間點之間的未測量片段,依照從未測量片段中第一取樣時間點與最後一個取樣點向未測量片段之內部中取樣時間點之順序,順序地產生未測量片段之補償坐標。
另外,補償單元可以根據第一取樣時間點之前的取樣時間點之坐標計算第一取樣時間點前方緊鄰之取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生第一取樣時間點之補償坐標;以及,補償單元可以根據最後一個取樣時間點之後的取樣時間點之坐標計算最後一個取樣時間點其後緊鄰之取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生最後一個取樣時間點之補償坐標。
此外,根據計算的手寫速度與手寫方向改變角,補償單元產生未測量片段內部中取樣時間點之補償坐標。
此外,根據中央取樣片段之取樣時間點之補償坐標,補償單元計算未測量片段之中央取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角;以及,中央取樣片段之手寫速度和手寫方向改變角與用以產生補償坐標之手寫速度和手寫方向改變角之間的複數個誤差超出容許誤差的情況下,依照誤差透過調整手寫速度與手寫方向改變角,此補償單元校正補償坐標,並且儲存經過校正之補償坐標於緩衝單元中。
此外,僅僅在未測量片段中複數個取樣時間點之數目等於或小於預定數目的情況下,補償單元判定未測量片段係為單條手寫筆劃之斷開部,並且產生補償坐標。
另外,未測量片段中複數個坐標未儲存取樣時間點之數目大於預定數目的情況下或者未測量片段之長度等於或長於預定距離的情況下,補償單元判定手寫筆劃結束,並且根據結束手寫筆劃中最後一個取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角產生手寫筆劃之延長線之複數個補償坐標。
依照本發明之一方面,一種手寫輸入方法使用具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,此方法包含:(a)測量使用者接觸觸控螢幕所用物件之複數個坐標,以完成觸控螢幕上的手寫輸入;(b)依照預定時間週期取樣坐標,並且儲存與複數個取樣時間點對應之坐標;(c)根據儲存坐標產生未儲存坐標之複數個坐標未儲存取樣時間點之複數個補償坐標,並且儲存補償坐標;以及(d)向使用者顯示儲存坐標。
此外,在步驟(c)中,根據坐標未儲存取樣時間點之前的取樣時間點之坐標,計算坐標未儲存取樣時間點前方緊鄰之兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生補償坐標。
此外,在步驟(c)中,根據坐標未儲存取樣時間點之後的複數個取樣時間點之複數個坐標,計算坐標未儲存取樣時間點其後緊鄰之兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生補償坐標。
此外,在步驟(c)中,確定坐標未儲存取樣時間點之間的未測量片段,並且依照未測量片段中第一取樣時間點與最後一個取樣時間點至未測量片段內部之取樣時間點之順序,順序地產生未測量片段之補償坐標。
此外,在步驟(c)中,根據第一取樣時間點之前的取樣時間點之坐標,計算第一取樣時間點前方緊鄰的兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生第一取樣時間點之補償坐標;以及在步驟(c)中,根據最後一個取樣時間點之後的取樣時間點之坐標,計算最後一個取樣時間點其後緊鄰的兩個取樣時間點之間的取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,並且根據手寫速度與手寫方向改變角產生最後一個取樣時間點之補償坐標。
此外,在步驟(c)中,根據計算的手寫速度與手寫方向改變角,產生未測量片段之內部之取樣時間點之補償坐標。
此外,在步驟(c)中,根據中央取樣片段中取樣時間點之補償坐標,計算未測量片段中中央取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角;以及,中央取樣片段之手寫速度和手寫方向改變角與用以產生補償坐標之手寫速度和手寫方向改變角之間的複數個誤差超出容許誤差的情況下,依照誤差透過調整手寫速度及手寫方向改變角,從而校正補償坐標,經過校正的補償坐標被儲存於緩衝單元中。
此外,僅僅在未測量片段中複數個取樣時間點之數目等於或小於預定數目的情況下,在步驟(c)中,判定未測量片段為單個手寫筆劃之斷開部,並且產生補償坐標。
此外,未測量片段中複數個坐標未儲存取樣時間點之數目大於預定數目的情況下或者未測量片段之長度等於或長於預定距離的情況下,在步驟(c)中,可以判定手寫筆劃結束,並且根據結束手寫筆劃中最後取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,產生手寫筆劃之延長線之複數個補償坐標。
依照本發明,觸控螢幕上手寫筆劃之坐標被儲存,在手寫筆劃被斷開的情況下,判定此斷開的手寫筆劃係依照使用者意圖出現或者此斷開的手寫筆劃係由於快速手寫輸入而違背使用者意圖出現,並且如果手寫筆劃係違背使用者意圖被斷開,則使用前一手寫筆劃之手寫速度與手寫方向改變角補償斷開的手寫筆劃,從而可實現具有高品質輸入之更加平滑之手寫輸入。
在本發明中,判定斷開之手寫筆劃為有意斷開之手寫筆劃或者無意斷開之手寫筆劃,然後補償無意斷開之手寫筆劃之斷開片段。
以下將結合附圖描述本發明之代表性實施例。
「第2圖」所示係為本發明實施例之手寫輸入方法之概念解釋之示意圖。現在參考「第2圖」描述本發明之手寫輸入方法,其中手寫透過補償「第1圖」所示例子之手寫筆劃斷開片段(位置102-位置103)被輸入。
當使用者用手指、觸控筆、尖筆或其他(以下均被稱為〞物件〞)接觸觸控螢幕時,接觸位置被辨識,並且產生此位置的坐標。因此,在坐標之對應位置處可顯示手寫內容。
觸控螢幕上位置之坐標依照恆定的時間週期(例如,1/100秒)被取樣。坐標表示為(x,y),其中x與y分別對應水平軸與垂直軸之值。坐標以及對應的取樣時間點被儲存。如「第2圖」所示,手寫資訊係透過連接這些坐標被輸入與顯示。下文中,其坐標被儲存之取樣片段有時被稱為〞測量片段〞。
另一方面,手寫筆劃斷開片段,即其坐標未被儲存之片段有時被稱為〞未測量片段〞。結合手寫筆劃斷開片段,表示坐標與取樣時間點未被產生之資訊(例如,數字0或者坐標(0,0))被儲存。「第2圖」所示例子中被取樣與儲存之取樣時間點與對應坐標被列表於以下表格1中。
請參考表格1,可以理解的是手寫筆劃斷開片段為(H-I)、(I-J)與(J-K)。本發明中,手寫筆劃斷開片段被分類為有意斷開片段與無意斷開片段,其中有意斷開片段係由使用者有意地斷開手寫筆劃而產生,而無意斷開片段係由於快速手寫與使用者意圖相悖而產生的。在無意斷開片段的情況下,需要完成手寫筆劃補償。
可透過多種方法判定手寫筆劃是否需要被補償。在本發明實施例中,此判定係基於手寫筆劃斷開片段中取樣時間點的數目而完成。在「第2圖」所示例子中取樣時間週期為1/100秒的情況下,在0.03秒產生新的筆劃。在這種情況下,存在手寫筆劃斷開片段。然而,實際上使用者無法透過區分0.03秒之筆劃以有意地手寫新的筆劃。因此,可合理地判定新的筆劃為前一筆劃之繼續。所以,此手寫筆劃斷開片段被判定為無意斷開片段,係為與使用者意圖相悖而被斷開。因此,在手寫筆劃斷開片段小於具有預定數目之取樣時間點之片段的情況下,手寫筆劃需要被補償。相反地,手寫筆劃斷開片段等於或大於具有預定數之取樣時間點之片段的情況下,手寫筆劃斷開片段被判定為有意斷開的片段,這樣手寫筆劃無須補償即被輸入與顯示。
現在描述手寫筆劃之補償方法。首先,坐標被儲存之取樣時間點之坐標被連接,計算每一取樣片段之手寫速度。根據未測量片段前方緊鄰之取樣片段(以下有時稱為〞前方緊鄰片段(just-before section)〞)之手寫速度,計算手寫筆劃被斷開之取樣片段(稱為〞未測量片段〞)之手寫速度。通常,非常短取樣時間週期中的手寫速度不會大幅度增加或降低。因此,未測量片段前方緊鄰的取樣片段之手寫速度可足以被使用。
接下來,根據未測量片段前方緊鄰的取樣片段之手寫方向改變角,計算未測量片段之手寫方向。現在結合「第3圖」描述未測量片段之手寫方向之計算方法。首先,計算從未測量片段(H-I)前方兩個片段之取樣片段(F-G)之兩端坐標之連接線段與未測量片段(H-I)前方緊鄰之取樣片段(G-H)之兩端坐標之連接線段之間的角度TH1。根據角度TH1計算未測量片段之手寫方向改變角。
在一般手寫之許多實例中,使用者用恆定的手寫方向改變角划出線條或圓弧。因此,假設取樣片段(G-H)與未測量片段(H-I)之間的手寫方向改變角與取樣片段(F-G)與取樣片段(G-H)之間的手寫方向改變角相同。
關於未測量片段(H-I),在時間點H處划出與計算手寫速度對應長度之延長線,並且與線段GH之延長線成手寫方向改變角。產生此延長線之結束位置之坐標(x,y),以作為取樣時間點I之補償坐標。
此外,關於未測量片段(I-J),採用與未測量片段(H-I)相同的方法,可產生補償坐標。換言之,在取樣時間點I處,用與未測量片段(H-I)相同的手寫方向改變角划出與未測量片段(H-I)相同長度之延長線(就是說,與計算的手寫速度對應)。延長線之結束位置之坐標被判定為取樣時間點J之補償坐標。
接下來,當取樣時間點J之補償坐標與預先儲存之取樣時間點K之坐標彼此連接時,則完成手寫筆劃之補償。
在「第3圖」所示之例子中,從取樣時間點I向取樣時間點K的方向順序地完成補償。或者,首先從未測量片段之兩個端點位置向其中央部位完成補償,在未測量片段之中央部彼此連接補償坐標。
請參考「第4圖」,首先完成未測量片段即片段(H-I)與片段(J-K)之兩個結束部之補償,這樣產生取樣時間點I與J之補償坐標。接下來,彼此連接取樣時間點I與J之補償坐標,從而實現手寫筆劃之補償。
取樣時間點I之補償坐標之產生方法與「第3圖」所示之方法相同。在取樣時間點J之補償坐標之產生方法中,反向完成「第3圖」所示之方法步驟。
更特別地,計算取樣時間點K和L之連接線段之延長線與取樣時間點L和M之連接線段之間的手寫方向改變角(TH2)。與「第3圖」所示之例子類似,假設依照相同的手寫方向改變角TH2從未測量片段(J-K)向取樣片段(K-L)完成手寫。相對取樣片段(K-L)之線段成手寫方向改變角TH2,通過坐標K之直線被延長為取樣片段(K-L)之長度(手寫速度),從而產生取樣時間點J之補償坐標。
接下來,彼此連接取樣時間點I與J之補償坐標,從而實現手寫筆劃之補償。
或者,還可以使用「第3圖」與「第4圖」所示方法以外的其他補償坐標之產生方法。例如,雖然「第3圖」中從取樣時間點H向取樣時間點K之方向完成補償,但是習知技術領域中普通技術人員可以理解的是,也可依照「第3圖」或「第4圖」所示例子之相同方法,從取樣時間點K向取樣時間點H之方向完成補償。
此外,在前述例子中,為了便於描述,未測量片段之手寫速度與手寫方向改變角被設定為與未測量片段前方緊鄰以及其後緊鄰之取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角相同。然而,應該注意到,考慮手寫速度之改變速率與手寫方向改變角之改變速率,可判定手寫速度與手寫方向改變角,其中改變速率係從複數個測量片段中測量的手寫速度與手寫方向改變角中得到。
另一方面,在上述補償坐標之產生方法中,如果未測量片段之取樣時間點數目較大,則補償坐標中會出現大的誤差,從而補償的手寫筆劃可能不適合。例如,「第5圖」所示之例子中,使用測量片段(F-G)與(G-H)產生取樣時間點I之補償坐標,使用測量片段(K-L)與(L-M)產生取樣時間點J之補償坐標。然而,可看出補償坐標I與J之間的手寫速度(即,距離)比其他片段小很多。
在補償坐標之間的手寫速度(距離)比其他片段的小或大從而誤差超出容許誤差的情況下,補償坐標之間的手寫速度(距離)被校正,這樣補償坐標之間的手寫速度(距離)可與其他片段的相同。可應用多種校正方法。舉一個簡單例子,計算出補償取樣片段之距離之平均數,此後校正補償坐標。重複上述過程,直到校正坐標滿足以上條件為止。
另外,如「第6圖」之例子所示,從未測量片段之兩個端部向中央部方向完成補償,此後彼此連接中央部之補償坐標。此實例中,手寫方向改變角可能快速改變。
與手寫速度快速變化之實例類似,此實例中,可使用多種校正方法校正補償坐標。舉一個簡單例子,計算補償取樣片段之快速方向改變角之平均數,此後校正補償坐標。重複上述過程,直到校正坐標滿足以上條件為止。
「第7圖」所示係為本發明實施例之使用觸控螢幕之手寫輸入裝置之配置方塊圖。請參考「第7圖」,實施例之手寫輸入裝置包含位置偵測單元710、緩衝單元720、補償單元730、手寫輸入單元740以及顯示單元750。補償單元730包含手寫速度計算單元732、手寫方向改變角計算單元736以及補償控制單元734。實際上,手寫輸入裝置可透過選擇性地組合方塊圖之元件而被實施。
首先,位置偵測單元710測量觸控螢幕上使用者接觸物件之位置,並且輸出此位置之坐標至緩衝單元720。
緩衝單元720依照預定時間週期對位置偵測單元710輸入的坐標取樣,並且如表格1所示儲存彼此對應的取樣時間點與坐標。此外,緩衝單元720還儲存補償單元730產生的補償坐標。緩衝單元720可用多種儲存媒體被實施,例如為移位暫存器,僅僅儲存具有預定大小之資料。
如「第3圖」所示,透過連接為測量片段中第一坐標未儲存取樣時間點前方緊鄰之時間點(H)之坐標與從第一坐標未儲存取樣時間點向前兩個時間點之時間點(G)之坐標,計算出一長度,根據此長度補償單元730之手寫速度計算單元732計算手寫速度。
如「第4圖」所示,補償單元730之手寫方向改變角計算單元736用以計算之未測量片段前方緊鄰片段之手寫方向改變角。
透過搜索緩衝單元720中儲存的坐標,補償控制單元734辨識手寫筆劃斷開片段。如果片段中取樣時間點之數目等於或小於取樣時間點之預定數目,則根據接收的手寫速度以及手寫方向改變角,補償控制單元734控制手寫速度計算單元732以及手寫方向改變角計算單元736以產生補償坐標,並且儲存補償坐標於緩衝單元720中。
手寫輸入單元740提供緩衝單元720中儲存的取樣時間點與坐標作為輸入值至其韌體程式、電子裝置之應用程式等,電子裝置例如為電腦、行動電話或個人數位助理,其中本發明之手寫輸入裝置被安裝於這些電子裝置上。
顯示單元750顯示手寫輸入單元740所輸入的坐標至使用者。
「第8圖」所示係為本發明另一實施例之手寫輸入方法之流程圖。請參考「第8圖」,當使用者在手寫期間用物件接觸此觸控螢幕時,位置偵測單元710輸出此接觸位置之坐標至緩衝單元720,緩衝單元720依照恆定的取樣時間週期對坐標取樣,以儲存取樣時間點與坐標(S810)。
透過搜索緩衝單元720中儲存的資料(例如,坐標),補償單元730之補償控制單元734判定是否存在手寫筆劃斷開片段(S820)。可使用多種方法以判定手寫筆劃斷開片段。如上所述,在本發明實施例中,此判定係基於手寫筆劃斷開片段之取樣時間點之數目被完成。
如果判定單個筆劃之手寫筆劃需要被補償,則手寫速度計算單元732計算手寫速度(S830)。也可使用多種方法計算手寫速度。在本發明實施例中,如以上參考「第3圖」所述,第一取樣片段中將產生補償坐標,此第一取樣片段前方緊鄰之取樣片段之手寫速度(距離)被用作全部補償片段之手寫速度。此外,如以上參考「第4圖」所述,透過使用未測量片段之第一取樣時間點前方緊鄰之測量片段之手寫速度,可計算未測量片段之第一取樣片段之手寫速度,並且透過使用未測量片段之最後一個取樣時間點其後緊鄰之測量片段之手寫速度,可計算未測量片段之最後一個取樣片段之手寫速度。
接下來,計算未測量片段之手寫方向改變角(S840)。可使用多種方法計算未測量片段之手寫方向改變角。因為已經參考「第3圖」與「第4圖」描述過實施例之未測量片段之手寫方向改變角之計算方法之例子,現在省略其詳細解釋。
如以上參考「第3圖」與「第4圖」所述,在計算手寫速度以及方向改變角以後,產生未測量片段中坐標未儲存取樣時間點之補償坐標(S850)。重複步驟S830至步驟S850,直到產生坐標未儲存取樣時間點之全部補償坐標為止(S860)。
當坐標未儲存取樣時間點之全部補償坐標被產生時,補償控制單元734判定這些補償坐標是否如「第5圖」與「第6圖」所示需要被校正(S870)。如果需要校正,則校正這些補償坐標,此過程返回步驟870。重複完成校正,直到不需要校正為止,就是說,直到全部補償坐標滿足預定條件為止(S880)。
當補償坐標之產生被完成時,產生的補償坐標被儲存於緩衝單元720中。緩衝單元720中儲存的坐標被輸出至手寫輸入單元740,以作為應用程式之輸入值被提供。此外,緩衝單元720中儲存的坐標還被輸出至顯示單元750,以作為寫入內容被顯示給使用者(S890)。
以上描述了本發明實施例之使用觸控螢幕之手寫輸入方法以及手寫輸入裝置。
本發明之特徵在於提供一種無意斷開手寫筆劃之補償方法,其中無意斷開手寫筆劃係為與使用者意圖相悖從單個手寫筆劃中斷開連接。在以上實施例中,為了便於描述,在手寫筆劃斷開片段被補償以後,補償坐標作為輸入值被提供至應用程式並且顯示給使用者。然而,在不脫離本發明之保護範圍的情況下,還可提供各種修正。
「第9圖」所示係為本發明修正實施例之手寫輸入裝置之配置方塊圖。在修正實施例中,位置偵測單元910所測量的坐標即時地顯示於顯示單元950上。此外,此坐標被輸出至手寫輸入單元940,以作為應用程式之輸入值被提供。如上所述,緩衝單元920依照恆定的時間週期對坐標取樣並且儲存坐標。補償單元930根據緩衝單元920中儲存的資料(坐標)補償斷開的手寫筆劃。當補償被完成時,經過補償的手寫筆劃上的資訊被輸出至顯示單元950與手寫輸入單元940。因此,經過補償的手寫筆劃可被顯示給使用者,並且經過補償的手寫筆劃的資訊可被輸入應用程式。
另一方面,本發明可適用於在手寫筆劃之結束位置處精緻地顯示手寫筆劃之手寫筆劃之補償以及上述之無意斷開之手寫筆劃之補償。
例如,「第1圖」所示之例子中使用者寫了一個字"ON",使用者可能在位置105處完成手寫輸入,而位置105並非為"ON"之結束位置。在本發明之手寫輸入裝置中,計算位置105前面位置的手寫速度與手寫方向改變角。手寫筆劃之未寫出部,即虛線所表示的片段(從位置105至位置106)被補償,從而可更加精緻地輸入與顯示手寫筆劃。
請參考「第7圖」與「第9圖」,本發明之手寫輸入裝置透過使用上述方法補償手寫筆劃斷開片段。在手寫筆劃斷開片段(即,未測量片段)之取樣時間點之數目等於或小於預定數目的情況下,補償單元730或930根據緩衝單元720或920中儲存的坐標判定單個手寫筆劃中出現手寫筆劃斷開片段。因此,依照上述方法完成手寫筆劃斷開片段之補償。在未測量片段之取樣時間點之數目大於預定數目的情況下,或者在未測量片段之長度等於或長於預定長度的情況下,補償單元730或930判定單個手寫筆劃結束,產生手寫筆劃之延長。
此外,補償單元730、930可以判定僅僅在手寫筆劃之結束位置前方緊鄰的取樣片段之手寫速度比預定手寫速度高的情況下才產生手寫筆劃之延長。使用者可以有意地在手寫筆劃之結束位置處降低手寫速度,從而不必延長手寫筆劃。在這種情況下,如果產生手寫筆劃之延長,則手寫筆劃之延長之產生則違背使用者的意圖。
判定將產生手寫筆劃之延長的情況下,根據上述計算得到的手寫筆劃結束處前方緊鄰之取樣片段之手寫速度與手寫方向改變角,產生與未測量片段之取樣時間點之數目對應的補償坐標。補償坐標被儲存於緩衝單元720或920中。經過補償的手寫片段被輸出至顯示單元750或950以及手寫輸入單元740與940,從而產生手寫筆劃之延長。
本發明還可被具體化為電腦可讀記錄媒體上的電腦可讀代碼。電腦可讀記錄媒體係為可儲存資料之任意資料儲存裝置,此資料以後可被電腦系統讀取。電腦可讀記錄媒體之例子包含唯讀記憶體(read-only memory;ROM)、隨機存取記憶體(random-access memory;RAM)、光碟唯讀記憶體、磁帶、軟碟片、光資料儲存裝置以及載波(例如,透過網際網路傳輸資料)。電腦可讀記錄媒體還可被分散於網路耦合電腦系統上,從而依照分散方式儲存與執行電腦可讀代碼。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
101、102、103、104、105、106‧‧‧位置
710‧‧‧位置偵測單元
720‧‧‧緩衝單元
730‧‧‧補償單元
732‧‧‧手寫速度計算單元
734‧‧‧補償控制單元
736‧‧‧手寫方向改變角計算單元
740‧‧‧手寫輸入單元
750‧‧‧顯示單元
910‧‧‧位置偵測單元
920‧‧‧緩衝單元
930‧‧‧補償單元
940‧‧‧手寫輸入單元
950‧‧‧顯示單元
第1圖所示係為使用觸控螢幕之手寫輸入之例子;第2圖所示係為所示係為本發明實施例之手寫輸入方法之概念解釋之示意圖;第3圖至第6圖所示係為本發明實施例之斷開之手寫筆劃之補償製程之示意圖;第7圖所示係為本發明實施例之使用觸控螢幕之手寫輸入裝置之配置方塊圖;第8圖所示係為本發明另一實施例之手寫輸入方法之流程圖;以及第9圖所示係為本發明修正實施例之手寫輸入裝置之配置方塊圖。
710...位置偵測單元
720...緩衝單元
730...補償單元
732...手寫速度計算單元
734...補償控制單元
736...手寫方向改變角計算單元
740...手寫輸入單元
750...顯示單元
Claims (18)
- 一種具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,包含:一位置偵測單元,用以測量一物件之複數個坐標,其中一使用者使用該物件接觸該觸控螢幕以完成該觸控螢幕上的一手寫輸入;一緩衝單元,用以接收依照一預定時間週期取樣之該等坐標並且儲存該等坐標;以及一補償單元,根據該緩衝單元中儲存的該等坐標產生該緩衝單元中未儲存坐標的複數個坐標未儲存取樣時間點之複數個補償坐標,並且儲存該等補償坐標。
- 如請求項第1項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該補償單元計算該坐標未儲存取樣時間點前方緊鄰的兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度以及一手寫方向改變角,此計算係基於該坐標未儲存取樣時間點之前的該等取樣時間點之該等坐標,並且該補償單元根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該等補償坐標。
- 如請求項第1項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該補償單元計算該坐標未儲存取樣時間點其後緊鄰的兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度與一手寫方向改變角,此計算係基於該坐標未儲存取樣時間點之後的該等取樣時間點之該等坐標,並且該補償單元根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該等補償坐標。
- 如請求項第1項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該補償單元確定該等坐標未儲存取樣時間點之間的一未測量片段,依照從該未測量片段中該第一取樣時間點與該最後一個取樣點向該未測量片段之內部中該等取樣時間點之順序,順序地產生該未測量片段之該等補償坐標。
- 如請求項第4項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該補償單元根據該第一取樣時間點之前的該等取樣時間點之該等坐標計算該第一取樣時間點前方緊鄰之一取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該第一取樣時間點之該等補償坐標;以及其中該補償單元根據該最後一個取樣時間點之後的該等取樣時間點之該等坐標計算該最後一個取樣時間點其後緊鄰之一取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該最後一個取樣時間點之該等補償坐標。
- 如請求項第5項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中根據計算的手寫速度與手寫方向改變角,該補償單元產生該未測量片段內部中該等取樣時間點之該等補償坐標。
- 如請求項第6項所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該補償單元計算該未測量片段中一中央取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,此計算係基於該中央取樣片段之該等取樣時間點之該等補償坐標;以及其中該中央取樣片段之該手寫速度和手寫方向改變角與用以產生該等補償坐標之該手寫速度和手寫方向改變角之間的複數個誤差超出容許誤差的情況下,依照該等誤差透過調整該手寫速度與手寫方向改變角,該補償單元校正該等補償坐標,並且儲存該校正補償坐標於該緩衝單元中。
- 如請求項第4項至第7項任意其一所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中僅僅在該未測量片段中複數個取樣時間點之數目等於或小於一預定數目的情況下,該補償單元判定該未測量片段係為單條手寫筆劃之一斷開部,並且產生該等補償坐標。
- 如請求項第1項至第7項任意其一所述之具有觸控螢幕之手寫輸入裝置,其中該未測量片段中複數個坐標未儲存取樣時間點之數目大於一預定數目的情況下或者該未測量片段之長度等於或長於一預定距離的情況下,該補償單元判定該手寫筆劃結束,並且根據該結束手寫筆劃中該最後一個取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角產生該手寫筆劃之一延長線之複數個補償坐標。
- 一種手寫輸入方法,使用具有一觸控螢幕之一手寫輸入裝置,該方法包含:(a)測量一使用者接觸該觸控螢幕所用一物件之複數個坐標,以完成該觸控螢幕上的一手寫輸入;(b)依照一預定時間週期取樣該等坐標,並且儲存與複數個取樣時間點對應之該等坐標;(c)根據該等儲存坐標產生未儲存坐標之複數個坐標未儲存取樣時間點之複數個補償坐標,並且儲存該等補償坐標;以及(d)向該使用者顯示該等儲存坐標。
- 如請求項第10項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,計算該坐標未儲存取樣時間點前方緊鄰之兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,此計算係基於該坐標未儲存取樣時間點之前的該等取樣時間點之該等坐標,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該等補償坐標。
- 如請求項第10項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,計算該坐標未儲存取樣時間點其後緊鄰之兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,此計算係基於該坐標未儲存取樣時間點之後的複數個取樣時間點之複數個坐標,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該等補償坐標。
- 如請求項第10項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,確定該等坐標未儲存取樣時間點之間的一未測量片段,並且依照該未測量片段中該第一取樣時間點與該最後一個取樣時間點至該未測量片段內部之該等取樣時間點之順序,順序地產生該未測量片段之該等補償坐標。
- 如請求項第13項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,根據該第一取樣時間點之前的該等取樣時間點之該等坐標,計算該第一取樣時間點前方緊鄰的兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度與一手寫方向改變角,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該第一取樣時間點之該補償坐標;以及其中在步驟(c)中,根據該最後一個取樣時間點之後的該等取樣時間點之該等坐標,計算該最後一個取樣時間點其後緊鄰的兩個取樣時間點之間的一取樣片段之一手寫速度與一手寫方向改變角,並且根據該手寫速度與該手寫方向改變角產生該最後一個取樣時間點之該補償坐標。
- 如請求項第14項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,根據該計算的手寫速度與手寫方向改變角,產生該未測量片段之一內部之該等取樣時間點之該等補償坐標。
- 如請求項第15項所述之手寫輸入方法,其中在步驟(c)中,根據該中央取樣片段中該等取樣時間點之該等補償坐標,計算該未測量片段中一中央取樣片段之該手寫速度與手寫方向改變角;以及其中該中央取樣片段之該手寫速度和手寫方向改變角與用以產生該等補償坐標之該手寫速度和手寫方向改變角之間的複數個誤差超出容許誤差的情況下,依照該等誤差透過調整該手寫速度及手寫方向改變角,從而校正該等補償坐標,該等校正補償坐標被儲存於該緩衝單元中。
- 如請求項第13項至第16項任意其一所述之手寫輸入方法,其中僅僅在該未測量片段中複數個取樣時間點之數目等於或小於一預定數目的情況下,在步驟(c)中,判定該未測量片段為單個手寫筆劃之一斷開部,並且產生該等補償坐標。
- 如請求項第10項至第16項任意其一所述之手寫輸入方法,其中該未測量片段中複數個坐標未儲存取樣時間點之數目大於一預定數目的情況下或者該未測量片段之長度等於或長於一預定距離的情況下,在步驟(c)中,判定該手寫筆劃結束,並且根據該結束手寫筆劃中該最後取樣片段之一手寫速度與手寫方向改變角,產生該手寫筆劃之一延長線之複數個補償坐標。
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