TWI420071B - 測量系統 - Google Patents

Description

測量系統

本發明涉及一種測量技術，尤其涉及一種測量磁性件之測量系統。

目前，音圈馬達(Voice Coil Motor,VCM)被廣泛應用於電子產品如數碼相機、手機、數碼攝像機等中作為驅動裝置(請參見Design of a voice coil motor used in the focusing system of a digital video camera，Magnetics,IEEE Transactions on Volume 41,Issue 10,Oct.2005 Page(s)：3979-3981)。音圈馬達包括一四側為磁性件之固定架，磁性件通常藉由膠合之方式與固定架固緊。膠合時由於人工作業容易造成磁性件與固定架之間之配合移位元元，磁性件之安裝位置難以達到設計要求。一般使用距離計測量磁性件與固定架之間之安裝位置是否符合設計要求。

惟，由於距離計測量距離會接觸磁性件及固定架，從而容易對磁性件及固定架造成損壞，同時每次使用距離計測量時需要對距離計之測量位置進行校準，費工費時。

有鑒於此，有必要提供一種測量時避免接觸磁性件及固定架且減 少工時之測量系統。

一種測量系統，其用於測量複數磁性件設置於一固定架上之位置是否正確。所述測量系統包括一馬達、一定位架、一磁阻感測元件、一比較單元及一驅動單元。所述馬達具有一轉軸。所述定位架固設於所述轉軸上，所述固定架套設於所述定位架。所述驅動單元內預設一驅動方向及驅動角度控制訊號以驅動所述馬達之轉軸以預定之角度旋轉，從而帶動所述複數磁性件進行旋轉。所述磁阻感測元件用於感測與所述磁阻感測元件相對應之一磁性件之磁通量。所述比較單元內預設一標準磁通量，所述比較單元用於判斷所述磁阻感測元件感測之磁通量與所述標準磁通量是否相同以確定所述磁性件是否設置於所述固定架上正確之位置。

相較於先前技術，所述測量系統利用所述磁阻感測元件感測磁性件之磁通量來確定所述磁性件是否設置於所述固定架上正確之位置，避免測量系統測量時接觸磁性件及固定架，同時磁阻感測元件可配合馬達之轉軸轉動依次自動對各磁性件進行測量，減少了工時。

100‧‧‧測量系統

10‧‧‧固定架

12‧‧‧側壁

14‧‧‧磁性件

20‧‧‧馬達

22‧‧‧本體

24‧‧‧軸心蓋

26‧‧‧承載面

28‧‧‧轉軸

30‧‧‧支撐架

32‧‧‧基座

34‧‧‧支撐桿

36‧‧‧移動台

38‧‧‧收容孔

39‧‧‧手柄

40‧‧‧定位架

60‧‧‧磁阻感測元件

70‧‧‧比較單元

80‧‧‧訊號接收顯示單元

90a‧‧‧控制單元

90b‧‧‧驅動單元

圖1為本發明實施方式提供之測量系統之結構示意圖。

下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。

請參閱圖1，其為本發明實施方式之測量系統100。所述測量系統100用於測量複數磁性件14是否設置於一固定架10上正確之位置。所述測量系統100包括一馬達20、一支撐架30、一定位架40、 一磁阻感測元件60、一比較單元70及一訊號接收顯示單元80。所述磁阻感測元件60設置於所述支撐架30上。馬達20具有一轉軸28，定位架40固設於馬達20之轉軸28上並隨著轉軸28之轉動帶動固定架10轉動，從而利用磁阻感測元件60對各磁性件14進行相應測量。

本實施方式中，固定架10之形狀為方形，其包括四個側壁12，每一側壁12對應設置一磁性件14。各磁性件14一般採用黏貼方式固定於固定架10四側之相應位置。

所述馬達20包括一本體22與一軸心蓋24，所述軸心蓋24設置於本體22之軸向靠近固定架10之一側。所述軸心蓋24具有一承載面26及轉軸28，所述轉軸28設於軸心蓋24之承載面26之軸心靠近固定架10之一側。

磁阻感測元件60設置於支撐架30上。可以理解，為使磁阻感測元件60依不同之測量需要設置於不同之位置，將支撐架30設置成高度可調式以藉由調整支撐架30之高度來改變磁阻感測元件60之位置。

本實施方式中，支撐架30包括一基座32、一支撐桿34及一移動台36。基座32設置於馬達20之一側，支撐桿34沿靠近固定架10之方向設置於基座32上，磁阻感測元件60設置於移動台36上。所述支撐桿34上開設四個間隔設置之收容孔38，移動台36包括一可收容於收容孔38內之手柄39。所述手柄39與所述收容孔38卡合連接，便於手柄39藉由與不同收容孔38相配合以改變移動台36之高度， 從而改變磁阻感測元件60之位置。

定位架40之形狀與固定架10之形狀相對應以方便固定架10與定位架40相配合。本實施方式中，定位架40之形狀為方形。本實施方式中，定位架40之底部開設一通孔(未圖示)收容馬達20之轉軸28以使定位架40與馬達20相配合固緊，馬達20藉由轉軸28之轉動以帶動定位架40轉動。

固定架10套設於定位架40遠離馬達20之一端，且固定架10與定位架40互相配合固緊。定位架40之轉動帶動固定架10之轉動，從而使固定架10之每一側壁12之磁性件14分別依次轉動位置。本實施方式中，固定架10與定位架40採用卡合方式固緊以便於更換待檢測之磁性件14。

磁阻感測元件60設置於支撐架30之移動台36上用以感測固定架10之磁性件14之磁通量。磁阻感測元件60為於某一距離範圍內與磁性件14以任意方式如垂直、平行等相對設置時均可對磁性件14磁通量進行感測之元件。

比較單元70內預設一標準磁通量，比較單元70將磁阻感測元件60感測之磁通量與標準磁通量進行比較以確定磁性件14是否設置於固定架10相應之位置。

若磁性件14安裝於固定架10上之位置符合設計需要，則磁阻感測元件60會感測到磁性件14之之磁通量，也即為比較單元70內預設之標準磁通量。因此，比較單元70藉由比較磁阻感測元件60感測之磁性件14之磁通量與預設之標準磁通量即可判斷磁性件14於固 定架10上之位置是否符合設計要求。

若所述磁阻感測元件60感測之磁通量與所述標準磁通量相同，則磁性件14於固定架10上之位置符合設計要求，比較單元70根據比較結果輸出相應之指示訊號。若所述磁阻感測元件60感測之磁通量與所述標準磁通量不同，則磁性件14於固定架10上之位置不符合設計要求，比較單元70根據比較結果輸出相應之指示訊號。

訊號接收顯示單元80用於接收比較單元70輸出之指示訊號顯示相應之資訊給使用者察看以便及時判斷磁性件14是否滿足設計要求。若磁阻感測元件60感測之磁通量與所述標準磁通量相同，則訊號接收顯示單元80接收比較單元70輸出之相應指示訊號並顯示為“1”，該磁性件14於固定架10上之位置滿足設計要求。若磁阻感測元件60感測之磁通量與所述標準磁通量不同，則訊號接收顯示單元80接收比較單元70輸出之相應指示訊號並顯示為“0”，該磁性件14於固定架10上之位置不滿足設計要求。

磁阻感測元件60測量完一磁性件14，馬達20之轉軸28依順時針或逆時針方向轉動一角度以使磁阻感測元件60感測固定架10之另一側壁12上之磁性件14之磁通量。本實施方式中，馬達20之轉軸28沿逆時針方向轉動之角度為90度。可以理解，轉軸28轉動之角度因固定架10之形狀及磁性件14之數量之不同而有所不同，以保證每一磁性件14均可被磁阻感測元件60測量即可。

為實現測量系統100之自動化及批量化測量，測量系統100還包括一控制單元90a及一驅動單元90b。

控制單元90a根據比較單元70是否輸出指示訊號來確定是否啟動驅動單元90b驅動馬達20旋轉，於驅動單元90b內預設一驅動方向及驅動角度控制訊號以驅動馬達20以預定之角度旋轉。本實施方式中，於驅動單元90b內預設驅動方向為逆時針且驅動角度為90度。所測量之磁性件14於固定架10上之位置不管是否符合設計要求，測量完該磁性件14後，比較單元70會輸出相應之指示訊號以使控制單元90a啟動驅動單元90b驅動馬達20之轉軸於逆時針方向旋轉90度，磁阻感測元件60感測磁性件14之磁通量。

控制單元90a依次啟動驅動單元90b驅動馬達20之轉軸轉動以使磁阻感測元件60依次對四個磁性件14進行測量。本實施方式中，逆時針方向上之第一磁性件14及第三個磁性件14(即相對設置之磁性件14)於固定架10上之位置不滿足設計要求，第二個磁性件14及第四個磁性件14於固定架10上之位置滿足設計要求，則訊號接收顯示單元80根據比較單元70輸出之指示訊號依次顯示“0”、“1”、“0”、“1”。可以理解，訊號接收顯示單元80可將比較結果依次排列顯示，即顯示為一串數位訊號“0101”，從而使用者可根據顯示結果方便之判斷出各磁性件14於固定架10上之位置是否滿足設計要求。

所述測量系統100之磁阻感測元件60感測磁性件14之磁通量來確定磁性件14是否設置於固定架10上正確之位置，避免測量系統100測量時接觸磁性件14及固定架10，同時磁阻感測元件60可配合馬達20轉軸28之轉動依次對各磁性件14進行位置測量，減少了工時。

綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

100‧‧‧測量系統

10‧‧‧固定架

12‧‧‧側壁

14‧‧‧磁性件

20‧‧‧馬達

22‧‧‧本體

24‧‧‧軸心蓋

26‧‧‧承載面

28‧‧‧轉軸

30‧‧‧支撐架

32‧‧‧基座

34‧‧‧支撐桿

36‧‧‧移動台

38‧‧‧收容孔

39‧‧‧手柄

40‧‧‧定位架

60‧‧‧磁阻感測元件

70‧‧‧比較單元

80‧‧‧訊號接收顯示單元

90a‧‧‧控制單元

90b‧‧‧驅動單元

Claims (6)

1. 一種測量系統，其用於測量複數磁性件設置於一固定架上之位置是否正確，所述測量系統包括一馬達及一定位架，所述馬達具有一轉軸，所述定位架固設於所述轉軸上，所述固定架套設於所述定位架，其改良在於，所述測量系統還包括一磁阻感測元件、一比較單元及一驅動單元，所述驅動單元內預設一驅動方向及驅動角度控制訊號以驅動所述馬達之轉軸以預定之角度旋轉，從而帶動所述複數磁性件進行旋轉，所述磁阻感測元件用於感測與所述磁阻感測元件相對應之一磁性件之磁通量，所述比較單元內預設一標準磁通量，所述比較單元用於判斷所述磁阻感測元件感測之磁通量與所述標準磁通量是否相同以確定所述磁性件設置於所述固定架上之位置是否正確。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測量系統，其中，所述馬達包括一本體與一軸心蓋，所述軸心蓋設置於本體之軸向靠近固定架之一側，所述軸心蓋具有一承載面及所述轉軸，所述轉軸設於所述軸心蓋之承載面之軸心靠近所述固定架之一側。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測量系統，其中，所述測量系統還包括一支撐架，所述支撐架包括一基座、一支撐桿及一移動台，所述基座設置於所述馬達之一側，所述支撐桿沿靠近所述固定架之方向設置於所述基座上，所述移動台設置於所述支撐桿上，所述磁阻感測元件設置於所述移動台上。
4. 如申請專利範圍第3項所述之測量系統，其中，所述支撐桿上開 設至少一間隔設置之收容孔，所述移動台包括一可收容於所述收容孔內之手柄，所述手柄與所述收容孔相配合固定。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測量系統，其中，所述測量系統還包括一訊號接收顯示單元，所述比較單元根據比較結果輸出相應之指示訊號，所述訊號接收顯示單元用於接收所述比較單元輸出之相應指示訊號以顯示相應之資訊。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測量系統，其中，所述測量系統還包括一控制單元，所述比較單元輸出相應之指示訊號以使所述控制單元啟動所述驅動單元驅動所述馬達之轉軸旋轉。