TWI409446B - 具有光強檢測功能之光固化機 - Google Patents
具有光強檢測功能之光固化機 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI409446B TWI409446B TW96151163A TW96151163A TWI409446B TW I409446 B TWI409446 B TW I409446B TW 96151163 A TW96151163 A TW 96151163A TW 96151163 A TW96151163 A TW 96151163A TW I409446 B TWI409446 B TW I409446B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- light
- intensity
- light intensity
- machine
- data
- Prior art date
Links
Description
本發明涉及一種光固化機,尤其涉及一種具有光強檢測功能之光固化機。
隨著電子產品多功能化之發展,鏡頭模組於手機、筆記本電腦、數位相機、個人數位助理等消費性電子產品中得到廣泛應用。人們在追求多功能化之同時,亦希望電子產品具有優良之影像效果,即,需要鏡頭模組具有高品質之成像品質。
先前之光學鏡頭模組結構通常包括收容於鏡筒內之複數個鏡片、濾光片、間隔環等光學元件,以及用於控制各光學元件之間距的間隔環等。由於鏡筒通常為圓筒狀結構,各光學元件通常依次沿鏡筒軸線方向裝設於鏡筒中。於鏡頭模組之組裝過程中,一般係通過點膠工藝來固定工件,如濾光片與間隔環,其具體方法係使用細小的、具有單出膠口之點膠裝置將膠體逐滴塗佈於濾光片與間隔環之交接處,然後,再採用一個光固化機對塗佈有膠體之濾光片及間隔環進行照射,以使膠體固化從而使得濾光片與間隔環黏結於一起。
然,先前之光固化機存在以下問題:光固化機為給定光照強
度以及光照時間,對工件進行照射,但是隨著燈管之使用時間增加,其壽命會減小,其光照強度亦會逐漸降低,將可能達不到實際設定值。並且,一方面,工件只能接受光固化機一次照射,從而無法確保工件上塗佈之膠體完全固化;另一方面,當燈管達到使用壽命而使光固化機停止工作時,將會使正在進行固化之工件全部報廢,另外,換燈管之時間亦會使加工出現停頓,從而影響工作進度,帶來不必要之損失。
有鑑於此,提供一種具有光強檢測功能之光固化機以檢測光源之實際輸出光強從而可適時調整光照時間並估計燈管更換時間,確保光固化效果及效率之光固化機實為必要。
一種光固化機,其包括:一個承載裝置,用於承載塗佈有膠體之工件;及一個光源,用於照射該承載裝置上承載之工件以使該工件上塗佈之膠體固化,該光源包括一燈管;其中,該光固化機還包括:一個光強度感測裝置,用於感測該光源所發出之光之強度,並輸出該感測數據;一個數據處理單元,用於接收並處理該光強度感測裝置輸出之感測數據,形成並輸出一光之強度隨時間變化之曲線之數據訊號;及一個顯示單元,用於接收數據處理單元輸出之數據訊號,並顯示該光之強度隨時間變化之曲線。
相較於先前技術,該具有光強檢測功能之光固化機通過設置一光強度感測裝置感測光源的燈管之實際輸出光強,並顯示一光強隨時間變化之曲線,一方面,可適時調整光照時間,
根據光強之衰減適當增加光照時間,以確保工件上塗佈之膠體固化;另一方面,該光強度感測裝置之設置可根據燈管隨光強之變化估計燈管之更換時間並提前換好燈管,以防止由於燈管使用壽命到達而使光固化機停止工作而使正在固化之工件報廢。
100‧‧‧光固化機
10‧‧‧承載裝置
11‧‧‧工件
20‧‧‧光源
21‧‧‧燈管
30‧‧‧光強度感測裝置
31‧‧‧感測端
40‧‧‧數據處理單元
50‧‧‧顯示單元
圖1為本發明實施例提供之一種光固化機之示意圖。
下面將結合附圖,對本發明實施例作進一步詳細說明。
請參閱圖1,為本發明實施例提供之一種光固化機100,用於通過光照之形式將塗佈於工件上之膠體固化。該光固化機100包括:一個承載裝置10、一個光源20、一個光強度感測裝置30、一個數據處理單元40及一個顯示單元50。
該承載裝置10用於承載塗佈有膠體之工件11。該承載裝置10可為一個承載台,且該承載台由一驅動器驅動以帶動工件11移動。該承載裝置10還可為一個傳送帶,可移動並帶動該工件11做線性移動。當然,該承載裝置10還可僅為一個承載台,該工件11置於該承載台上不需移動即可。
該光源20用於照射該承載裝置10上承載之工件11以對使該工件11上塗佈之膠體固化。該光源20可為一紫外線光源,其用於對工件11進行照射。本實施例中,該工件11具體可為裝載於鏡筒(圖未示)中之鏡片與間隔環(圖未示),該鏡片與該間隔環之接觸表面塗佈有膠體。該光源20包括一燈管21,該燈
管21可為一紫外線LED燈管。
該光強度感測裝置30用於感測該光源20所發出之光之強度,並輸出該感測數據。該光強度感測裝置30可為一紫外光感測器。該光強度感測裝置包括一感測端31,該感測端31設置於該光源20之照射範圍內,則感測端31即可接收到該光源20發出之光,並可根據接收到之光之強度輸出光之強度值。
該數據處理單元40與光強度感測裝置30之間電性連接。該數據處理單元40用於接收該光強度感測裝置30輸出之感測數據(即光之強度值),並將該感測數據進行處理,並形成一光強度隨時間變化之曲線。該數據處理單元40可包括一存儲單元,用於存儲接收到之感測數據。該數據處理單元40可為一數位訊號處理晶片或者一訊號處理軟體,其功能都係對接收到之感測數據進行數據處理。其可採取取樣之方式,每隔一個週期時間即將光強度感測單元所感測到之光之強度值紀錄下來,借此即可監測光強值隨時間之變化。
該顯示單元50與數據處理單元40之間電性連接。該數據處理單元40將感測到之光之強度值進行處理後將光之強度隨時間變化之曲線顯示於顯示單元50上。通過該曲線,操作者可更加一目了然地瞭解光強之變化並且適時做出各種決策。
該光固化機100可包括一觸摸式顯示屏(圖未示)及一主控制器(圖未示)。該數據處理單元40可集成於光固化機100之主控制器中。當然,其亦可單獨設置為一個獨立之處理器
。該顯示單元50亦可為光固化機之顯示屏,即數據處理單元40之輸出資訊直接顯示於該光固化機之顯示屏上。或者,該顯示單元50設置為一個獨立之顯示屏。這些都可根據實際需要而設置。
使用時,操作者首先需利用光固化機10之觸摸式顯示屏來設置光照強度及光照時間,並打開光強度感測裝置30,開啟光源20,對承載裝置10上承載之塗佈有膠體之工件11進行光固化操作。同時,觀察顯示單元50上顯示之光強度感測裝置30感測到之實際之光強度值。如果實際光強度值與設定值相符,則待光照結束後繼續進行下一批工件之照射。如果實際光強度值與設定值有偏差,例如低於設定值,則可於進行下一批工件之照射前,修改照射設定參數,例如適當延長光照時間或者增加光強設定值,以使工件上之膠體可完全固化。並可設定一光強之臨界值,當光之強度到達該臨界值時,即輸出報警訊號,提醒需更換該光源30之照明燈管31。
相對於先前技術,該具有光強檢測功能之光固化機通過設置一光強度感測裝置感測光源之燈管之實際輸出光強,並顯示一光強隨時間變化之曲線,一方面,可適時調整光照時間,根據光強之衰減適當增加光照時間,以確保工件上塗佈之膠體固化;另一方面,該光強度感測裝置之設置可根據燈管隨光強之變化估計燈管之更換時間並提前換好燈管,以防止由於燈管使用壽命到達而使光固化機停止工作而使正於固化之工件報廢。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧光固化機
10‧‧‧承載裝置
11‧‧‧工件
20‧‧‧光源
21‧‧‧燈管
30‧‧‧光強度感測裝置
31‧‧‧感測端
40‧‧‧數據處理單元
50‧‧‧顯示單元
Claims (9)
- 一種光固化機,其包括:一個承載裝置,用於承載塗佈有膠體之工件;及一個光源,用於照射該承載裝置上承載之工件以使該工件上塗佈之膠體固化,該光源包括一燈管;其改良在於,該光固化機還包括:一個光強度感測裝置,用於感測該光源所發出之光之強度,並輸出該感測數據;一個數據處理單元,用於接收並處理該光強度感測裝置輸出之感測數據,形成並輸出一光之強度隨時間變化之曲線之數據訊號;及一個顯示單元,用於接收數據處理單元輸出之數據訊號,並顯示該光之強度隨時間變化之曲線。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該光源為一紫外線光源,該光強度感測裝置為一個紫外光感測器。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該燈管為一LED燈管。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該數據處理單元包括一存儲單元,用於存儲接收到之感測數據。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該數據處理單元為一數位訊號處理晶片或者一訊號處理軟體,用於對接收到之感測訊號進行數據之處理。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該數據處理單元用於每隔一週期時間將光強度感測裝置感測到之光之強度值記錄下來。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該光固化機包括一觸摸式操作顯示屏。
- 如申請專利範圍第7項所述之光固化機,其中,該顯示單元為該光固化機之顯示屏或者為一個獨立之顯示屏。
- 如申請專利範圍第1項所述之光固化機,其中,該數據處理單元用於監測感測數據之變化,並設有一臨界值,當光之強度小於該臨界值時,即輸出報警訊號。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW96151163A TWI409446B (zh) | 2007-12-31 | 2007-12-31 | 具有光強檢測功能之光固化機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW96151163A TWI409446B (zh) | 2007-12-31 | 2007-12-31 | 具有光強檢測功能之光固化機 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200928324A TW200928324A (en) | 2009-07-01 |
TWI409446B true TWI409446B (zh) | 2013-09-21 |
Family
ID=44863999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW96151163A TWI409446B (zh) | 2007-12-31 | 2007-12-31 | 具有光強檢測功能之光固化機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI409446B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI709837B (zh) * | 2014-10-24 | 2020-11-11 | 美商佛塞安科技公司 | 用以減少光感測裝置之雜訊的發光系統及方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI481794B (zh) * | 2012-03-14 | 2015-04-21 | Au Optronics Corp | 光照系統及光照方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5637187A (en) * | 1990-09-05 | 1997-06-10 | Seiko Instruments Inc. | Light valve device making |
US6950778B2 (en) * | 2001-06-21 | 2005-09-27 | Tri-Tronics Company, Inc. | Programmable photoelectric sensor and a system for adjusting the performance characteristics of the sensor |
US20060201617A1 (en) * | 2000-11-30 | 2006-09-14 | Koji Hashizume | Apparatus for manufacturing bonded substrate |
-
2007
- 2007-12-31 TW TW96151163A patent/TWI409446B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5637187A (en) * | 1990-09-05 | 1997-06-10 | Seiko Instruments Inc. | Light valve device making |
US20060201617A1 (en) * | 2000-11-30 | 2006-09-14 | Koji Hashizume | Apparatus for manufacturing bonded substrate |
US6950778B2 (en) * | 2001-06-21 | 2005-09-27 | Tri-Tronics Company, Inc. | Programmable photoelectric sensor and a system for adjusting the performance characteristics of the sensor |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI709837B (zh) * | 2014-10-24 | 2020-11-11 | 美商佛塞安科技公司 | 用以減少光感測裝置之雜訊的發光系統及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200928324A (en) | 2009-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20090067701A1 (en) | System and method for detecting blemishes on surface of object | |
CN101468344A (zh) | 具有光强检测功能的光固化机 | |
CN105424717A (zh) | 多重瑕疵检出的光学检测设备 | |
KR101350328B1 (ko) | 스폿 용접기의 전극팁 영상 판독장치 | |
KR101360301B1 (ko) | 스폿 용접기의 전극팁 교체시기 판정장치 | |
TW200739122A (en) | Reflective photo device, an electronic apparatus with a built-in camera using the device for providing colorimeter and ambient light sensor functions and its method | |
TWI409446B (zh) | 具有光強檢測功能之光固化機 | |
US20140146165A1 (en) | Glass-Sheet Optical Inspection Systems and Methods with Illumination and Exposure Control | |
CN101308183A (zh) | 检测装置及其检测方法 | |
JP6707443B2 (ja) | 欠陥検査用画像撮像システム、欠陥検査システム、フィルム製造装置、欠陥検査用画像撮像方法、欠陥検査方法及びフィルム製造方法 | |
CN209858455U (zh) | 玻璃表面缺陷检测装置 | |
TWI464388B (zh) | 光校正裝置、生物檢測校正系統及其操作方法 | |
KR101774005B1 (ko) | 표면 낙하성 입자 실시간 측정 이미지 분석 장치 | |
KR101299127B1 (ko) | 대상물 비전 검사를 위한 조명 어셈블리 | |
US9939671B2 (en) | Liquid crystal module detection apparatus for detecting image-sticking, and detection and evaluation system and method | |
CN107422501B (zh) | 液晶母板显示影像获取方法 | |
US10668469B2 (en) | Biological sorting apparatus and method thereof | |
KR100760827B1 (ko) | Lcd 탑샤시용 탭 검사장치 및 검사방법 | |
TWM494301U (zh) | 元件外表面檢驗裝置 | |
KR101432468B1 (ko) | 투명 도전막 패턴의 검사 장치 | |
KR20120077347A (ko) | 액정 검사 장치 | |
US10569282B2 (en) | Light source module and microparticles sorting apparatus having the same | |
KR100902659B1 (ko) | 스탬프 검사장치 및 이를 이용한 미세패턴 형성방법 | |
KR20110042648A (ko) | 압흔 검사 장치 및 방법 | |
KR101522365B1 (ko) | 빗각조명을 이용한 기판 검사장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |