TWI408944B - 校正定位結構及其所適用之多功能事務機 - Google Patents

Description

校正定位結構及其所適用之多功能事務機

本案係關於一種校正定位結構，尤指一種校正定位結構及其所適用之多功能事務機。

在日常生活及工作裡，掃描器主要係應用於掃描文件及照片等影像，主要將影像轉換成電子檔以方便儲存、傳送整理及修改等功用，然而，隨著科技的進步，於掃描器的市場上，除了要求機型小型化之外，更要求掃描後所輸出的影像品質以及低成本。

因此，當掃描器每次進行開機或暖機時，掃描器都會掃描一校正片，掃描所得之影像資料主要作為系統的色階校正與補償的依據，以改善掃描器可能造成的影像色偏的問題，及校正掃描器之掃描範圍的起點位置。

請參閱第一圖，其係為習知具有校正定位結構之掃描模組之結構示意圖，如圖所示，習知掃描模組1具有一掃描平台10，掃描平台10上設有一校正定位結構101、掃描裝置102以及掃描視窗103，其中校正定位結構101設置於掃描裝置102及掃描視窗103之間，且校正定位結構101係由一組顏色對比強烈之色片，例如：白色片101a及黑色片101b，而白色片101a設置於掃描平台10上，黑色片101b則是一側邊靠近掃描視窗103並與白色片101a對齊且部份重疊於白色片101a上。另外，掃描裝置102內具有一發光元件（未圖示）及影像讀取器（未圖示），發光元件係提供一光源照射一待掃描文件104，藉由光學反射使得掃描裝置102內的影像讀取器接收影像資料，並輸出為一電子檔。

當習知掃描模組1在進行掃描裝置102的位置校正定位作業時，掃描裝置102先沿著掃描方向B行進，當掃描裝置102移動至校正定位結構101的白色片101a的上方時，掃描裝置102之發光元件會發光且照射白色片101a，光線將反射至影像讀取器，以進行顏色色階之校正作業，後續該掃描裝置102再沿著掃描方向B移動至校正定位結構101的黑色片101b上方，掃描裝置102藉由從白色片101a移動至黑色片101b之顏色對比所產生之感應電壓的差異，來判斷其掃描時掃描範圍之起點位置。

然而，於習知技術中，由於校正定位裝置101係由白色片101a及黑色片101b所組成，因此，當掃描裝置102掃描至校 正定位結構101的白色片101a及黑色片101b之交接處11時，會 導致感應電壓不穩定而產生嚴重的過渡現象（如第二圖之虛線區域22）， 造成可用以判斷校正顏色色階的資料不充足（如第二圖之虛線區域21），使得掃描 裝置102內的影像讀取器容易產生判斷誤差，而影響掃描裝置102判斷顏色色階之校正作業的準確度，再者，若待掃描文件104之影像形式類似於校正定位結構101時，該掃描裝置102便會容易誤判掃描範圍之起點位置，如此一來，便會影響掃描裝置102的顏色色階的校正作業及掃描路徑之起點位置定位的準確度，而導致掃描後輸出的影像品質降低。

另外，習知掃描模組1之校正定位結構更可為一定位感測器（Home sensor）101c（如第三圖所示），當掃描裝置102沿著掃描方向B進行掃描時，掃描裝置102會經過定位感測器101c時，定位感測器101c便會提供一訊號告知並定位掃描裝置102之起點位置。

雖然，習知掃描模組1使用定位感測器101c及校正定位裝置101之白色片101a的方式可達到校正掃描起點位置及顏色色階之校正的目的，但使用定位感測器101c卻提高習知掃描模組1在製造時花費許多成本，造成生產成本提高等問題，而無法符合現今掃描器市場低成本的發展趨勢。

而且，習知掃描模組1之掃描裝置102進行掃描時會因校正定位結構101之白色片101a及黑色片101b之設置方式，會造成掃描裝置102內的影像讀取器於白色片101a及黑色片101b之交接處容易產生判斷誤差，導致過渡現象產生，使掃描圖像之品質下降。

有鑑於此，如何發展一種校正定位結構及其所適用之多功能事務機，以解決習知技術之缺失，實為相關技術領域者目前所迫切需要解決之問題。

本案之目的在於提供一種校正定位結構及其所適用之多功能事務機，其係藉由校正定位結構之校正結構及定位結構的設置方式，以達到掃描裝置之顏色色階之校準作業及其判斷掃描範圍之起點位置，俾解決掃描裝置掃描至習知校正定位結構時，會產生嚴重的過渡現象，而影響輸出之影像品質，以及校正定位結構之設置方式導致花費許多成本等缺失。

為達上述目的，本案之一較廣義實施態樣為提供一種校正定位結構，適用於一掃描模組，其中該掃描模組具有一掃描平台及一掃描視窗，而該掃描視窗係具有一掃描寬度，至少包括：一校正結構，其係設置於該掃描平台上，且相對於該掃描寬度設置；以及至少一定位結構，其係重疊設置於部份該校正結構，並設置於該掃描寬度之外。

為達上述目的，本案之另一較廣義實施態樣為提供 一種多功能事務機，至少包括：一掃描模組，包含：一掃描平台；一掃描視窗，具有一掃描寬度；以及一校正定位結構，其係具有一校正結構及至少一定位結構，其中該校正結構係設置於該掃描平台上，且相對於該掃描寬度設置，該至少一定位結構，其係重疊設置於部份該校正結構，並設置於該掃描寬度之外。

體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化，其皆不脫離本案的範圍，且其中的說明及圖式在本質上係當作說明之用，而非用以限制本案。

請參閱第四圖A，其係為本案第一較佳實施例之掃描模組之結構示意圖，如第四圖A所示，本案之掃描模組4可適用於一多功能事務機，主要包含掃描平台40、掃描視窗41、掃描裝置42及校正定位結構43，其中掃描視窗41、掃描裝置42及校正定位結構43均設置於掃描平台40上，掃描視窗41上可放置一待掃描文件411，以提供掃描裝置42進行掃描，並具有一掃描寬度A，而掃描裝置42係具有一發光元件（未圖示）及一影像讀取器（未圖示），該影像讀取器可為例如接觸型影像感測器（CIS）或電荷耦合元件（CCD），而校正定位結構43則設置於掃描視窗41及掃描裝置42之間且相對於掃描寬度A設置。

請參閱第四圖B並配合第四圖A，其係為第四圖A所示之校正定位結構示意圖，校正定位結構43係為一長條狀結構，可以印刷方式或是色片黏貼的方式設置於掃描模組4之結構上，其係包含校正結構431及定位結構432，校正結構431設置於掃描平台40上，於本實施例中，定位結構432之數目為兩個，定位結構432重疊設置於部份校正結構431之兩端，且定位結構432之一側邊4321對齊於校正結構431之一側邊4311，並緊鄰於相對掃描寬度A之外的校正結構431上設置，其中兩個定位結構432之間的距離實質上相當於掃描寬度A，此外，於本實施例中，校正結構431及定位結構432係為一組顏色對比強烈之色片，例如：校正結構431以白色片，而定位結構432則為黑色片，而校正結構431及定位結構432之間具有一交接處433。

當掃描裝置42沿著掃描方向B進行掃描時，掃描裝置42首先移動至校正結構431之上方，掃描裝置42內的發光元件會發光並照射校正結構431，光線反射至影像讀取器，使影像讀取器所接收的白色反射光線作為顏色色階之基準並進行後續掃描作業之顏色色階的校正，後續掃描裝置43再沿著掃描方向B行進至定位結構432，此時，當掃描裝置43經過校正結構431及定位結構432之交接處433時，掃描裝置42會因交接處433之校正結構431至定位結構432顏色的轉換，而利用感應電壓所產生的變化來判斷其掃描範圍之起點位置。

然而，於校正結構431上對應於掃描寬度A內的區域並沒有設置定位結構432，因此，與第二圖相比較，本案之掃描裝置42進行掃描時可大大地減少了因感應電壓不穩定而產生的過渡現象（如第五圖之虛線區域51），使得掃描裝置42可用以判斷校正顏色色階的資料更為充足（如第五圖之虛線區域52），而能更準確地校正顏色色階，以提昇掃描後輸出的影像品質。再者，由於校正定位結構43之定位結構432係設置於掃描寬度A之外，可避免產生嚴重的過渡現象，藉此，便可減少設置校正定位結構43之所需寬度，使得掃描器可同時達到小型化及提昇輸出之影像品質之目的。

請參閱第六圖，其係為本案第二較佳實施例之掃描模組之校正定位結構示意圖，如圖所示，本實施例之校正定位結構60與第一較佳實施例之校正定位結構43的差異在於定位結構602之數目以一個為佳，其中定位結構602係為單邊設置且緊鄰於相對掃描寬度A之外的校正結構601上，而定位結構602之一側邊6021同樣對齊於校正結構601的一側邊6011設置，使掃描裝置42進行掃描作業時，亦可達到定位掃描範圍之起點位置之目的，至於校正結構601及定位結構602之結構及功能與第四圖B所示之第一較佳實施例相似，於此不再贅述。

綜上所述，本案之校正定位結構及其所適用之多功能事務機主要係利用校正定位結構之定位結構係重疊設置於部份校正結構，並設置於掃描寬度之外，使得掃描裝置進行掃描作業時，先掃描至校正結構以進行顏色色階之校正作業，之後掃描裝置再掃描至定位結構，此時掃描裝置於校正結構及定位結構之交接處因顏色之對比差異而產生之感應電壓的差異，來判斷其掃描時掃描範圍之起點位置，由於定位結構係設置於校正結構上之兩端，換言之，相對於掃描寬度的校正結構係沒有設置定位結構，因此，掃描裝置於掃描時可減少因感應電壓不穩定而產生的過渡現象，使得掃描裝置能準確地校正顏色色階，更提昇了掃描後輸出的影像品質，此外，更能減少定位結構的設置成本，以達到掃描器市場低成本的發展趨勢。由於上述優點係為習知技術所不及者，故本案之校正定位結構及其所適用之多功能事務機極具產業價值，爰依法提出申請。

本案得由熟習此技術之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。

1‧‧‧習知掃描模組

4‧‧‧掃描模組

10、40‧‧‧掃描平台

101、43、60‧‧‧校正定位結構

101a‧‧‧白色片

101b‧‧‧黑色片

101c‧‧‧定位感測器

102、42‧‧‧掃描裝置

103、41‧‧‧掃描視窗

104、411‧‧‧待掃描文件

11、433‧‧‧交接處

A‧‧‧掃描寬度

B‧‧‧掃描方向

21、22、51、52‧‧‧虛線區域

431、601‧‧‧校正結構

432、602‧‧‧定位結構

4311、4321、6011、6021‧‧‧側邊

第一圖：其係為習知具有校正定位結構之掃描模組之結構示意圖。

第二圖：其係為第一圖之校正定位結構所產生之過渡現象之波形圖。

第三圖：其係為習知另一具有校正定位結構之掃描模組之結構示意圖。

第四圖A：其係為本案第一較佳實施例之掃描模組之結構示意圖。

第四圖B：其係為第四圖A所示之校正定位結構示意圖。

第五圖：其係為第四圖A之校正定位結構所產生之過渡現象之波形圖。

第六圖：其係為本案第二較佳實施例之掃描模組之校正定位結構示意圖。

4‧‧‧掃描模組

40‧‧‧掃描平台

41‧‧‧掃描視窗

411‧‧‧待掃描文件

42‧‧‧掃描裝置

43‧‧‧校正定位結構

431‧‧‧校正結構

432‧‧‧定位結構

4311、4321‧‧‧側邊

433‧‧‧交接處

A‧‧‧掃描寬度

B‧‧‧掃描方向

Claims (10)

1. 一種校正定位結構，適用於一掃描模組，其中該掃描模組具有一掃描平台及一掃描視窗，而該掃描視窗係具有一掃描寬度，至少包括： 一校正結構，其係設置於該掃描平台上，且相對於該掃描寬度設置；以及 至少一定位結構，其係重疊設置於部份該校正結構，並設置於該掃描寬度之外。
2. 如申請專利範圍第1項所述之校正定位結構，其中該掃描模組具有一掃描裝置，用以掃描該掃描視窗上之一待掃描文件。
3. 如申請專利範圍第2項所述之校正定位結構，其中該掃描裝置更具有一影像讀取器及一發光元件，該影像讀讀取器係為接觸型影像感測器或電荷耦合元件其中之一。
4. 如申請專利範圍第2項所述之校正定位結構，其中該校正定位結構係設置於該掃描裝置與該掃描視窗之間。
5. 如申請專利範圍第1項所述之校正定位結構，其中該校正結構與該至少一定位結構係為一組顏色對比強烈之色片，且具有一交接處，用以根據該交接處所 感應電壓的變化來判斷該掃描裝置之掃描範圍的起點位置 。
6. 如申請專利範圍第1項所述之校正定位結構，其中該 定位結構之一側邊對齊於該校正結構之一側邊，並緊鄰於相對該掃描寬度之外的該校正結構上設置。
7. 如申請專利範圍第1項所述之校正定位結構，其中該至少一 定位結構係包含二個定位結構，兩者間的距離實質上係相當於該掃描寬度。
8. 一種多功能事務機，至少包括： 一掃描模組，包含： 一掃描平台； 一掃描視窗，具有一掃描寬度；以及 一校正定位結構，其係具有一校正結構及至少一定位結構，其中該校正結構係設置於該掃描平台上，且相對於該掃描寬度設置，該至少一定位結構，其係重疊設置於部份該校正結構，並設置於該掃描寬度之外。
9. 如申請專利範圍第8項所述之多功能事務機，其中該 定位結構之一側邊對齊於該校正結構之一側邊， 並緊鄰於相對該掃描寬度之外的該校正結構上設置。
10. 如申請專利範圍第8項所述之多功能事務機，其中該校正結構與該至少一定位結構係為一組顏色對比強烈之色片，且具有一交接處，用以根據該交接處所感應電壓的變化來判斷該掃描裝置之掃描範圍的起點位置。