TWI408690B - 可提升測試品質的自動化測試系統 - Google Patents
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Description
本發明係指一種可提升測試品質的自動化測試系統，尤指一種可避免測試訊號受到外在干擾，進而提升測試的穩定性與準確度的自動化測試系統。
自動化測試設備(Automatic Test Equipment，ATE)是一種通過電腦控制進行器件、電路板和子系統等測試的設備，其可透過電腦編程取代人工勞動，自動化地完成測試序列。然而，隨著單封裝系統(System-in-packet，SIP)及單晶片系統(System-on-chip)的不斷發展，自動化測試流程變得更加複雜，也衍生許多測試上的不確定因素。
請參考第1圖，第1圖為習知一自動化測試系統10之示意圖。在第1圖中，自動化測試系統10透過一自動化測試設備100測試一待測元件102。當待測元件102固定於托盤後，待測元件102的探針PR1、PR2會嵌合於一針盤104的針槽PST1、PST2，使得待測元件102與自動化測試設備100透過探針PR1、PR2、針槽PST1、PST2、單心線WR1、WR2及轉接針TR1、TR2進行訊號交換，以進行相關測試。其中，由於探針PR1、PR2的位置不一定符合轉接針TR1、TR2的位置，因此，用來嵌合探針PR1、PR2的針槽PST1、PST2與轉接針TR1、TR2間需透過單心線WR1、WR2連結。單心線WR1、WR2係由單一金屬線所形成之傳輸線，其外圍一般會塗佈一層絕緣及保護塗料。單心線WR1、WR2在短距離傳輸上的應用非常廣泛，但其抗雜訊能力及抗電磁干擾能力卻非常低，使得高頻測試訊號易受電磁干擾，而低頻測試訊號容易失真，造成測試不穩定。
舉例來說，請參考第2圖，第2圖為第1圖之自動化測試設備100以方波訊號測試待測元件102之示意圖。如第2圖所示，由於單心線WR1、WR2對外部的干擾信號無任何屏蔽作用，使得單心線WR1、WR2在信號傳輸時容易受到外界的干擾，造成傳輸的信號不穩定，影響測試結果。
因此，本發明之主要目的即在於提供一種可提升測試品質的自動化測試系統。
本發明揭露一種可提升測試品質的自動化測試系統，用來測試包含複數個探針之一待測元件，該自動化測試系統包含有一自動化測試設備；複數個轉接針，耦接於該自動化測試設備；一針盤，包含複數個針槽，用來嵌合該待測元件之該複數個探針；一接地板，用來提供接地；以及複數個同軸電纜，每一同軸電纜耦接於該複數個針槽之一針槽、該複數個轉接針之一轉接針及該接地板，用來於該針槽與該轉接針間傳遞訊號。
請參考第3A圖，第3A圖為本發明實施例一自動化測試系統30之示意圖。自動化測試系統30用來測試一待測元件302，其包含有一自動化測試設備300、轉接針TRa、TRb、一針盤304、一接地板306及同軸電纜CRa、CRb。比較第3A圖及第1圖可知，自動化測試系統30與自動化測試系統10之架構相同，運作方式亦相同，不同之處在於自動化測試系統30以同軸電纜CRa、CRb取代了單心線WR1、WR2，並增加了接地板306。因此，當待測元件302固定於托盤後，待測元件302的探針PRa、PRb會嵌合於針盤304的針槽PSTa、PSTb，使得待測元件302與自動化測試設備300透過探針PRa、PRb、針槽PSTa、PSTb、同軸電纜CRa、CRb及轉接針TRa、TRb進行訊號交換，以進行相關測試。其中，同軸電纜CRa、CRb除了金屬導線外，另包含有一金屬屏蔽層，連接於接地板306，用來提供隔絕外界干擾信號，避免干擾到其內金屬導線所傳輸的信號，進而達到測試穩定的目的。請繼續參考第3B圖，第3B圖為同軸電纜CRa與其它元件之連接方式的示意圖。如第3B圖所示，同軸電纜CRa的導線用來於轉接針TRa與探針PRa間交換訊號，同時，同軸電纜CRa外圍的屏蔽層連接於接地板306，用來避免外部干擾。另外，同軸電纜CRb的連接方式亦類似於同軸電纜CRa，故不贅述。
簡言之，自動化測試系統30係利用同軸電纜CRa、CRb優異的抗干擾能力，避免探針PRa、PRb與轉接針TRa、TRb的測試訊號受到外在雜訊的干擾，進而提升測試的穩定性與準確度。需注意的是，本發明所使用之同軸電纜CRa、CRb其不限於特定種類、材質、尺寸等。例如，第4圖為習知一同軸電纜40之剖面示意圖。同軸電纜40用來實現同軸電纜CRa或CRb，其包含有一導線400、一絕緣層402、一屏蔽層404及一保護層406。導線400用來傳遞訊號。絕緣層402用來隔絕導線400與屏蔽層404。屏蔽層404則接地，用來屏蔽外界干擾訊號。保護層406包覆屏蔽層404，用來保護同軸電纜40。
透過同軸電纜CRa、CRb，自動化測試系統30可避免高頻測試訊號受電磁干擾，並避免低頻測試訊號失真，以提升測試穩定度。舉例來說，請參考第5圖，第5圖為第3A圖之自動化測試設備300以方波訊號測試待測元件302之示意圖。如第5圖所示，由於同軸電纜CRa、CRb具有優異的抗干擾能力，可避免外界的干擾，提升傳輸信號的穩定度，確保測試結果的準確性。
在第1圖中，由於單心線WR1、WR2對外部的干擾信號無任何屏蔽作用，使得單心線WR1、WR2在信號傳輸時容易受到外界的干擾，造成傳輸的信號不穩定，影響測試結果。相較之下，本發明係以同軸電纜CRa、CRb取代單心線WR1、WR2，並增加了接地板306，利用同軸電纜CRa、CRb優異的抗干擾能力，避免測試訊號受到外在干擾，進而提升測試的穩定性與準確度。
綜上所述，針對自動化測試系統，本發明可避免測試訊號受到外在干擾，進而提升測試的穩定性與準確度。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
10、30．．．自動化測試系統
100、300．．．自動化測試設備
102、302．．．待測元件
104、304．．．針盤
PR1、PR2、PRa、PRb．．．探針
PST1、PST2、PSTa、PSTb．．．針槽
WR1、WR2．．．單心線
TR1、TR2、TRa、TRb．．．轉接針
306．．．接地板
CRa、CRb．．．同軸電纜
第1圖為習知一自動化測試系統之示意圖。
第2圖為第1圖之一自動化測試設備以方波訊號測試一待測元件之示意圖。
第3A圖為本發明實施例一自動化測試系統之示意圖。
第3B圖第3A圖中一同軸電纜與其它元件之連接方式的示意圖。
第4圖為習知一同軸電纜之剖面示意圖。
第5圖為第3A圖之一自動化測試設備以方波訊號測試一待測元件之示意圖。
30．．．自動化測試系統
300．．．自動化測試設備
302．．．待測元件
304．．．針盤
PRa、PRb．．．探針
PSTa、PSTb．．．針槽
TRa、TRb．．．轉接針
306．．．接地板
CRa、CRb．．．同軸電纜
Claims (1)
- 一種可提升測試品質的自動化測試系統，用來測試包含複數個探針之一待測元件，該自動化測試系統包含有：一自動化測試設備；複數個轉接針，耦接於該自動化測試設備；一針盤，包含複數個針槽，用來嵌合該待測元件之該複數個探針；一接地板，用來提供接地；以及複數個同軸電纜，每一同軸電纜耦接於該複數個針槽之一針槽、該複數個轉接針之一轉接針及該接地板，用來於該針槽與該轉接針間傳遞訊號，該複數個同軸電纜之每一同軸電纜包含有：一導線，耦接於該複數個針槽之一針槽與該複數個轉接針之一轉接針；一絕緣層，包覆於該導線；一屏蔽層，包覆於該絕緣層，並耦接於該接地板；以及一保護層，包覆於該屏蔽層。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW98116380A TWI408690B (zh) | 2009-05-18 | 2009-05-18 | 可提升測試品質的自動化測試系統 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW98116380A TWI408690B (zh) | 2009-05-18 | 2009-05-18 | 可提升測試品質的自動化測試系統 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201042651A TW201042651A (en) | 2010-12-01 |
| TWI408690B true TWI408690B (zh) | 2013-09-11 |
Family
ID=45000646
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| TW98116380A TWI408690B (zh) | 2009-05-18 | 2009-05-18 | 可提升測試品質的自動化測試系統 |
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|---|---|
| TW (1) | TWI408690B (zh) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4961050A (en) * | 1989-02-10 | 1990-10-02 | Cascade Microtech, Inc. | Test fixture for microstrip assemblies |
| US5477159A (en) * | 1992-10-30 | 1995-12-19 | Hewlett-Packard Company | Integrated circuit probe fixture with detachable high frequency probe carrier |
| US20050174105A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-11 | Kunihiro Matsuura | Testing apparatus |
| US20050212544A1 (en) * | 2002-09-17 | 2005-09-29 | Advantest Corporation | Performance board and testing system |
| WO2006134901A1 (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-21 | Advantest Corporation | 同軸ケーブルユニット、デバイスインターフェース装置及び電子部品試験装置 |
| US20080191731A1 (en) * | 2004-03-12 | 2008-08-14 | Advantes Corporation | Semiconductor device testing apparatus and device interface board |
-
2009
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Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4961050A (en) * | 1989-02-10 | 1990-10-02 | Cascade Microtech, Inc. | Test fixture for microstrip assemblies |
| US5477159A (en) * | 1992-10-30 | 1995-12-19 | Hewlett-Packard Company | Integrated circuit probe fixture with detachable high frequency probe carrier |
| US20050212544A1 (en) * | 2002-09-17 | 2005-09-29 | Advantest Corporation | Performance board and testing system |
| US7262590B2 (en) * | 2002-09-17 | 2007-08-28 | Advantest Corporation | Performance board and testing system |
| US20050174105A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-11 | Kunihiro Matsuura | Testing apparatus |
| US20080191731A1 (en) * | 2004-03-12 | 2008-08-14 | Advantes Corporation | Semiconductor device testing apparatus and device interface board |
| WO2006134901A1 (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-21 | Advantest Corporation | 同軸ケーブルユニット、デバイスインターフェース装置及び電子部品試験装置 |
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|---|---|
| TW201042651A (en) | 2010-12-01 |
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