TWI398709B - 顯示面板及其像素單元缺陷檢查方法 - Google Patents

Description

顯示面板及其像素單元缺陷檢查方法

本發明是有關於一種電子裝置之缺陷檢查方法，且特別是有關於一種顯示面板之像素單元缺陷的檢查方法。

請參照第1圖，其係繪示一種傳統顯示面板之像素單元陣列的上視示意圖。顯示面板108的像素單元陣列100係由數個以陣列形式排列的像素單元102所構成。在此傳統顯示面板108的像素單元陣列100中，每個像素單元102具有相同之外觀結構特徵。

舉例而言，在像素單元陣列100中，每個像素單元102均包含儲存電容104。而每個儲存電容104均包含介層窗(Via)106。其中，這些儲存電容104對應設置在像素單元102中，且介層窗106對應設置在儲存電容104中。在此傳統像素單元陣列100中，所有像素單元102所包含之儲存電容104在像素單元102中的位置均相同，且所有像素單元102所包含之儲存電容104的數量均相同。此外，所有儲存電容104所包含之介層窗106在儲存電容102中的位置均相同。

然而，傳統之顯示面板108的像素單元陣列100的設計並不利於缺陷的異常因素分析。請參照第2圖，其係繪示一種傳統像素單元缺陷檢查之流程圖。目前，對於顯示面板中之缺陷，例如點缺陷或線缺陷等的常見檢查方式，大都係如同步驟200所述般，先點亮顯示面板108，此時 失效分析(Failure Mold Analysis；FMA)工作人員即可檢查顯示面板108，以找出顯示面板108中的缺陷像素單元。

接著，如步驟202所述，在發現顯示面板108中之缺陷後，失效分析工作人員一般以例如油性筆，在顯示面板108上圈記出包含此缺陷像素單元的區域。所圈出的這個區域通常包含數十個像素單元102。

接下來，如步驟204所述，在所圈出之區域內，利用光學顯微鏡(Optical Microscope；OM)，來查找缺陷像素單元，並查驗與分析此缺陷像素單元的異常因素。

完成步驟204後，如步驟206所述，判斷所找到之缺陷像素單元的異常因素。在步驟206中，當線上工作人員可判斷出此缺陷像素單元的異常原因時，即完成顯示面板108之像素單元102的失效分析。另一方面，線上工作人員無法判斷出此缺陷像素單元的異常因素時，即如同步驟208所述，拆解顯示面板108，而將上下基板(未繪示)，例如薄膜電晶體(TFT)基板和彩色濾光片基板、薄膜電晶體基板和濾光片基板、彩色濾光片薄膜電晶體(CF on TFT)基板和透明基板、有機發光元件基板(OLED)和上基板，自顯示面板108中分解。

然後，如同步驟210所述，利用光學顯微鏡，檢查自顯示面板108中拆解出的上下基板，以再次判斷及分析缺陷像素單元的異常因素。完成缺陷像素單元之異常因素的判斷與分析後，即完成顯示面板108之像素單元102的失效分析。

然而，在此傳統顯示面板108中，所有像素單元102 的外觀結構特徵相同。再加上，在步驟202中所圈選出的區域範圍較大。因此，在光學顯微鏡下來尋找圈選區域內的缺陷像素單元時，工作人員相當容易找錯位置或是很難快速地在十幾個被圈選的像素單元中找出異常因素。特別是將光學顯微鏡設置成高放大倍數時，顯微鏡可以顯示的區域範圍大幅縮減，此時更不利於工作人員查找缺陷像素單元。故，傳統顯示面板108之缺陷分析的錯誤率高、效率低。

因此，本發明之一態樣就是在提供一種顯示面板，其可將像素單元分成多個群組，且不同群組之像素單元具有不同之外觀結構特徵，但具有相同開口率或/及電性。透過像素單元之外觀結構特徵的差異化設計，可輔助線上的失效分析人員，精確且快速地找出缺陷像素單元，進而可加快缺陷像素單元之異常因素的判斷。

本發明之另一態樣是在提供一種像素單元缺陷檢查方法，其可大幅縮短線上的失效分析人員找出缺陷像素單元的時間，而可提升缺陷像素單元之異常因素的分析效率。

本發明之又一態樣是在提供一種像素單元缺陷檢查方法，可提高缺陷像素單元之異常因素的查驗成功率，而有利於製程或元件設計的改善，進而可減少顯示面板之產品失效分析的人力資源。

根據本發明之上述目的，提出一種顯示面板。此顯示面板包含上基板、下基板、以及液晶層。下基板設置於上 基板之對側。液晶層設置於上基板與下基板之間。下基板包含複數個第一像素單元、以及複數個第二像素單元。這些第二像素單元與第一像素單元混合排列成一陣列。這些第一像素單元與第二像素單元具有相同之開口率或/及電性，且這些第一像素單元與第二像素單元具有不同之外觀結構特徵。

依據本發明之一實施例，上述每一第一像素單元與第二像素單元各包含一儲存電容。這些儲存電容係對應設置於第一像素單元與第二像素單元中。前述之第一像素單元所包含之儲存電容在第一像素單元中之位置不同於第二像素單元所包含之儲存電容在第二像素單元中的位置。

依據本發明之另一實施例，上述每一第一像素單元與第二像素單元各包含一儲存電容，且每一儲存電容各包含一介層窗。這些儲存電容係對應設置於第一像素單元與第二像素單元中，且介層窗係對應設置於儲存電容中。其中，前述之第一像素單元所包含之介層窗在儲存電容中之位置不同於第二像素單元所包含之介層窗在儲存電容中之位置。

依據本發明之又一實施例，上述每一第一像素單元與第二像素單元各包含一修補線路。這些修補線路係對應設置於第一像素單元與第二像素單元中。前述之第一像素單元所包含之修補線路在第一像素單元中之位置不同於第二像素單元所包含之修補線路在第二像素單元中之位置。

根據本發明之上述目的，另提出一種像素單元缺陷檢查方法。此像素單元缺陷檢查方法先提供一顯示面板。再 對顯示面板進行一檢查步驟。當獲得一缺陷像素單元時，在顯示面板上標記出包含此缺陷像素單元之一區域。接著，判斷此缺陷像素單元之外觀結構特徵，以確認此外觀結構特徵屬於第一外觀結構特徵或第二外觀結構特徵，而獲得一判斷結果。然後，根據前述之判斷結構，於一顯微鏡下對此缺陷像素單元之異常因素進行第一查驗步驟。

依據本發明之一實施例，當上述之第一查驗步驟無法判斷缺陷像素單元之異常因素時，更包含進行一拆解步驟，以將顯示面板之電晶體基板自顯示面板拆出。

請參照第3圖，其係繪示依照本發明一實施方式的一種液晶顯示面板剖面示意圖。在本實施方式中，以液晶顯示面板做為本實施例之顯示面板，但本發明並不以此為限。液晶顯示面板300主要包含上基板334、下基板332與液晶層336。下基板332設置在上基板334之對側，而液晶層336則設置在上基板334與下基板332之間。

在本實施例中，液晶顯示面板300之上基板與下基板332分別可例如彩色濾光片基板和薄膜電晶體基板、濾光片基板和薄膜電晶體基板、或透明基板和彩色濾光片薄膜電晶體基板。在另一實施例中，顯示面板並非液晶顯示面板，且此顯示面板之上下基板分別可例如為上基板和有機發光元件基板。

請參照第4圖，其係繪示依照本發明一實施方式的一種液晶顯示面板之像素單元陣列之一部分的上視示意圖。 在本實施方式中，液晶顯示面板300之下基板332包含數個像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b。這些像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b混合排列成一陣列330。其中，像素單元306a、308a與310a位在此陣列330之第一排302，而像素單元306b、308b與310b則位在此陣列330之第二排304。

在另一實例中，像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b可位於液晶顯示面板300之上基板334中。

在一實施例中，陣列330之第一排302包含數個像素單元306a、數個像素單元308a、與數個像素單元310a。其中，這些像素單元306a、308a與310a依序交錯排列。例如，第一排302之像素單元的排列方式為，像素單元308a緊鄰在像素單元306a後，而像素單元310a緊鄰於像素單元308a後，接著另一像素單元306a則又緊鄰在像素單元310a後，如此依序交錯排列。

另一方面，陣列330之第二排304包含數個像素單元306b、數個像素單元308b、與數個像素單元310b。這些像素單元306b、308b與310b依序交錯排列。舉例而言，第二排304之像素單元的排列方式為，像素單元308b緊鄰在像素單元306b後，而像素單元310b緊鄰於像素單元308b後，接著另一像素單元306b則又緊鄰在像素單元310b後，如此依序交錯排列。

在一實施例中，像素單元306a與306b例如可為紅色像素單元，像素單元308a與308b例如可為綠色像素單元，且像素單元310a與310b例如可為藍色像素單元。在其他 實施例中，像素單元306a與306b可為不同顏色的像素單元，像素單元308a與308b可為不同顏色的像素單元，且像素單元310a與310b可為不同顏色的像素單元。在本發明中，像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b之顏色可依產品設計需求而加以設定。

在本實施方式中，所有像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b均具有相同之開口率或/及電性，以避免影響液晶顯示面板300的顯示品質。但是，像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b具有不同的外觀結構特徵，以作為失效分析人員之定位參考依據，進而可輔助失效分析人員進行缺陷像素單元的判別。因此，本實施方式之目的為，在不影響液晶顯示面板300之顯示參數設計下，藉由對液晶顯示面板300中之像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b之外觀結構特徵的差異化設計，來輔助失效分析人員順利找出所標記之缺陷像素單元。

舉例而言，請再次參照第4圖。在像素單元陣列330之第一排302中，像素單元306a包含儲存電容312a，像素單元308a包含儲存電容314a，且像素單元310a包含儲存電容316a。其中，儲存電容312a設置在像素單元306a中，儲存電容314a設置在像素單元308a中，而儲存電容316a設置在像素單元310a中。

另一方面，在像素單元陣列330之第二排304中，像素單元306b包含儲存電容312b，像素單元308b包含儲存電容314b，且像素單元310b包含儲存電容316b。其中，儲存電容312b設置在像素單元306b中，儲存電容314b設 置在像素單元308b中，而儲存電容316b設置在像素單元310b中。

在一實施例中，陣列330之第一排302的像素單元306a、308a與310a所分別包含之儲存電容312a、314a與316a在像素單元306a、308a與310a中之位置實質相同。陣列330之第二排304的像素單元306b、308b與310b所分別包含之儲存電容312b、314b與316b在像素單元306b、308b與310b中之位置實質相同。但，陣列330之第一排302的像素單元306a、308a與310a所分別包含之儲存電容312a、314a與316a在像素單元306a、308a與310a中之位置，不同於第二排304的像素單元306b、308b與310b所分別包含之儲存電容312b、314b與316b在像素單元306b、308b與310b中之位置。如此一來，失效分析人員可根據第一排302與第二排304之像素單元所包含之儲存電容在像素單元中之位置的不同，輕易區分出第一排302之像素單元與第二排304之像素單元。

請再次參照第4圖。在陣列330之第一排302中，像素單元306a之儲存電容312a包含介層窗318a，像素單元308a之儲存電容314a包含介層窗320a，且像素單元310a之儲存電容316a包含介層窗322a。其中，介層窗318a設置在儲存電容312a中，介層窗320a設置在儲存電容314a中，而介層窗322a設置在儲存電容316a中。

另外，在陣列330之第二排304中，像素單元306b之儲存電容312b包含介層窗318b，像素單元308b之儲存電容314b包含介層窗320b，且像素單元310b之儲存電容 316b包含介層窗322b。其中，介層窗318b設置在儲存電容312b中，介層窗320b設置在儲存電容314b中，而介層窗322b設置在儲存電容316b中。

在本實施方式中，介層窗318a、318b、320a、320b、322a與322b可為具有電性連接作用的連接元件；或者可為不具電性連接作用，而係僅為作為外觀差異化設計以輔助辨識的虛設介層窗(Dummy Via)。

在一實施例中，像素單元306a與306b可為相同顏色之像素單元，像素單元308a與308b可為相同顏色之像素單元，且像素單元310a與310b可為相同顏色之像素單元。此時，如第4圖所示，像素單元306a之介層窗318a位於儲存電容312a之偏左側，且像素單元306b之介層窗318b也位於儲存電容312b之偏左側。而像素單元308a之介層窗320a位於儲存電容314a之中央區，且像素單元308b之介層窗320b也位於儲存電容314b之中央區。像素單元310a之介層窗322a位於儲存電容316a之偏右側，且像素單元310b之介層窗322b也位於儲存電容316b之偏右側。

藉由改變介層窗在儲存電容中的位置，失效分析人員可輕易區分出不同群組之像素單元。

在液晶顯示面板300中，像素單元306a與306b分別包含修補線路324a與324b，像素單元308a與308b分別包含修補線路326a與326b，且像素單元310a與310b分別包含修補線路328a與328b。其中，修補線路324a、324b、326a、326b、328a與328b分別對應設置在像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b中。

在一實施例中，修補線路324a、324b、326a、326b、328a與328b在像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b中的位置可不相同，以利區分像素單元群組。舉例而言，如第4圖所示，修補線路324a與324b在像素單元306a與306b中的位置可不同於修補線路326a、326b、328a與328b在像素單元308a、308b、310a與310b中的位置；修補線路326a與326b在像素單元308a與308b中的位置可不同於修補線路328a與328b在像素單元310a與310b中的位置。

在另一實施例中，可利用在像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b中設置不同數量之修補線路的方式，來輔助失效分析人員區分像素單元。例如，像素單元306a與306b可各包含一個修補線路，像素單元308a與308b可各包含二個修補線路，而像素單元310a與310b可各包含三個修補線路。如此一來，線上失效分析人員即可藉由像素單元306a與306b、像素單元308a與308b、以及像素單元310a與310b的此一外觀結構特徵的差異，輕易地區別出這三個像素單元群組。

在液晶顯示面板300中，透過對像素單元之外觀結構特徵的差異化設計，可用以輔助線上失效分析人員進行像素單元定位。請參照第5圖，其係繪示依照本發明之一實施方式的一種像素單元缺陷檢查之流程圖。在本實施方式中，失效分析人員即係利用液晶顯示面板300之像素單元外觀的差異化設計，來進行液晶顯示面板300之像素單元缺陷檢查。

首先，如步驟400所述，提供液晶顯示面板，例如第3圖與第4圖所示之液晶顯示面板300。接下來，如步驟402所述，先將液晶顯示面板300點亮後，線上失效分析人員可對液晶顯示面板300進行檢查，以檢查液晶顯示面板300的所有像素單元是否具有缺陷。如步驟404所述，當線上失效分析人員查獲液晶顯示面板300的缺陷像素單元時，可利用例如油性筆在此液晶顯示面板300上標記出此缺陷像素單元。在標記此缺陷像素單元時，例如是利用圈選方式將缺陷像素單元利用油性筆區選出來，因為像素單元的尺寸較圈選區域小，所以區域除了包含缺陷像素單元外，也同時包含了其他正常像素單元。

接著，如步驟406所述，失效分析人員可利用例如是高倍率目鏡判斷所找出之缺陷像素單元的外觀結構特徵，以確認所找到之缺陷像素單元的外觀結構特徵的類型究竟係與像素單元306a、306b、308a、308b、310a與310b中何者所具有的外觀結構特徵相同。在以下之說明實施例中，假設所找到之缺陷像素單元的外觀結構特徵，經判斷後係屬於像素單元306a所具有的外觀結構特徵。

接下來，如同步驟408所述，失效分析人員可根據步驟406所獲得之判斷結果，在顯微鏡下，進行第一次的查驗以查驗缺陷像素單元的異常因素。步驟408所採用之顯微鏡可為例如光學顯微鏡。在步驟408中，由於已從步驟406中獲知，缺陷像素單元之外觀結構特徵的類型係屬於像素單元306a之外觀結構特徵。因此，在光學顯微鏡下，於步驟404中所圈選出的區域中尋找缺陷像素單元時，可 先將其儲存電容312b、314b與316b在像素單元中之位置不同於儲存電容312a在像素單元306a中之位置的像素單元306b、308b與310b先行排除。如此一來，可先排除圈選區域中一半的像素單元。接著，可將其介層窗320a與322a在像素單元中之位置不同於介層窗318a在像素單元306a中之位置的像素單元308a與310a予以排除。如此，可再排除剩餘像素單元中三分之二的像素單元。

因此，藉由像素單元的外觀差異化設計，可大大地縮減缺陷像素單元的尋找查驗時間，而可提高失效分析的效率，並可提高缺陷像素單元之異常因素的查驗成功率，更可大幅縮減失效分析所需的人力。

若在步驟408中，失效分析人員可判斷出此缺陷像素單元之異常因素，即完成液晶顯示面板300之像素單元缺陷的檢查。然後，可將像素單元產生缺陷的原因提供給前段製程人員或研發設計人員作為參考，來進行製程或設計的改善，以降低或消除缺陷形成的機率。

另一方面，若在步驟408中，失效分析人員無法判斷出此缺陷像素單元的異常因素時，例如像素單元之缺陷部分為液晶顯示面板300之彩色濾光片的黑色矩陣(Black Matrix)層所遮蔽時，則須如同步驟410所述，先將液晶顯示面板300予以拆解，而將液晶顯示面板300之上下基板拆解，以供進行進一步的查驗。

接著，如同步驟412所述，失效分析人員可於顯微鏡下，進行第二查驗，以查驗液晶顯示面板300之上下基板，本實施例中失效分析人員查驗液晶顯示面板300之上下基 板，例如是一電晶體基板，以判斷缺陷像素單元之異常因素，而完成液晶顯示面板300之像素單元缺陷的檢查。在步驟412中，同樣可根據步驟406中所獲得之判斷結果，先行排除外觀結構特徵與缺陷像素單元之外觀結構特徵不同的像素單元。因此，同樣可大幅縮短缺陷像素單元的查找時間。

由上述本發明之實施方式可知，本發明之一優點就是因為在液晶顯示面板中，可將像素單元分成多個群組，且不同群組之像素單元具有不同之外觀結構特徵，但具有相同開口率或/及電性。透過這樣的像素單元外觀結構特徵的差異化設計，可輔助線上的失效分析人員，精確且快速地找出缺陷像素單元。因此，可加快缺陷像素單元之異常因素的判斷。

本發明之外觀結構特徵可以是在儲存電容312a、312b、314a、314b、316a、316b、介層窗318a、318b、320a、320b、322a、322b、修補線路324a、326a、328a、324b、326b、328b設計不同之形狀、數量、設置在像素單元內之位置或其組合，只要在不影響像素單元之開口率或/及電性的前提下，本領域具有通常知識者可以根據實際上之需求設計不同之外觀結構特徵。

由上述本發明之實施方式可知，本發明之另一優點為，本發明之像素單元缺陷檢查方法可大幅縮短線上的失效分析人員找出缺陷像素單元的時間，而可提升缺陷像素單元之異常因素的分析效率。

由上述本發明之實施方式可知，本發明之又一優點 為，本發明之像素單元缺陷檢查方法可提高缺陷像素單元之異常因素的查驗成功率，而有利於製程或元件設計的改善，進而可減少液晶顯示面板之產品失效分析的人力資源。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何在此技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。

100‧‧‧像素單元陣列

102‧‧‧像素單元

104‧‧‧儲存電容

106‧‧‧介層窗

108‧‧‧顯示面板

200‧‧‧步驟

202‧‧‧步驟

204‧‧‧步驟

206‧‧‧步驟

208‧‧‧步驟

210‧‧‧步驟

300‧‧‧液晶顯示面板

302‧‧‧第一排

304‧‧‧第二排

306a‧‧‧像素單元

306b‧‧‧像素單元

308a‧‧‧像素單元

308b‧‧‧像素單元

310a‧‧‧像素單元

310b‧‧‧像素單元

312a‧‧‧儲存電容

312b‧‧‧儲存電容

314a‧‧‧儲存電容

314b‧‧‧儲存電容

316a‧‧‧儲存電容

316b‧‧‧儲存電容

318a‧‧‧介層窗

318b‧‧‧介層窗

320a‧‧‧介層窗

320b‧‧‧介層窗

322a‧‧‧介層窗

322b‧‧‧介層窗

324a‧‧‧修補線路

324b‧‧‧修補線路

326a‧‧‧修補線路

326b‧‧‧修補線路

328a‧‧‧修補線路

328b‧‧‧修補線路

330‧‧‧陣列

332‧‧‧下基板

334‧‧‧上基板

336‧‧‧液晶層

400‧‧‧步驟

402‧‧‧步驟

404‧‧‧步驟

406‧‧‧步驟

408‧‧‧步驟

410‧‧‧步驟

412‧‧‧步驟

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：

第1圖係繪示一種傳統液晶顯示面板之像素單元陣列的上視示意圖。

第2圖係繪示一種傳統像素單元缺陷檢查之流程圖。

第3圖係繪示依照本發明一實施方式的一種液晶顯示面板剖面示意圖。

第4圖係繪示依照本發明之一實施方式的一種液晶顯示面板之像素單元陣列之一部分的上視示意圖。

第5圖係繪示依照本發明之一實施方式的一種像素單元缺陷檢查之流程圖。

300‧‧‧顯示面板

302‧‧‧第一排

304‧‧‧第二排

306a‧‧‧像素單元

306b‧‧‧像素單元

308a‧‧‧像素單元

308b‧‧‧像素單元

310a‧‧‧像素單元

310b‧‧‧像素單元

312a‧‧‧儲存電容

312b‧‧‧儲存電容

314a‧‧‧儲存電容

314b‧‧‧儲存電容

316a‧‧‧儲存電容

316b‧‧‧儲存電容

318a‧‧‧介層窗

318b‧‧‧介層窗

320a‧‧‧介層窗

320b‧‧‧介層窗

322a‧‧‧介層窗

322b‧‧‧介層窗

324a‧‧‧修補線路

324b‧‧‧修補線路

326a‧‧‧修補線路

326b‧‧‧修補線路

328a‧‧‧修補線路

328b‧‧‧修補線路

330‧‧‧陣列

332‧‧‧下基板

Claims (18)

1. 一種顯示面板，包含：一上基板；一下基板，設置於該上基板之對側；以及一液晶層，設置於該上基板與該下基板之間；其中，該下基板包含：複數個第一像素單元；以及複數個第二像素單元，與該些第一像素單元混合排列成一陣列，且該些第一像素單元與該些第二像素單元具有相同之開口率或/及電性，且該些第一像素單元與該些第二像素單元具有不同之外觀結構特徵，其中該外觀結構特徵包含每一該些第一像素單元與該些第二像素單元內之儲存電容、介層窗、及/或修補線路的形狀、數量、及/或設置位置。
2. 如請求項1所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元與該些第二像素單元各包含一儲存電容，該些儲存電容係對應設置於該些第一像素單元與該些第二像素單元中，且該些第一像素單元所包含之該些儲存電容在該些第一像素單元中之位置不同於該些第二像素單元所包含之該些儲存電容在該些第二像素單元中的位置。
3. 如請求項1所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元與該些第二像素單元各包含一儲存電容，且每一該些儲存電容各包含一介層窗，該些儲存電容係對應設置於 該些第一像素單元與該些第二像素單元中，該些介層窗係對應設置於該些儲存電容中，其中該些第一像素單元所包含之該些介層窗在該些儲存電容中之位置不同於該些第二像素單元所包含之該些介層窗在該些儲存電容中之位置。
4. 如請求項1所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元與該些第二像素單元各包含一修補線路，該些修補線路係對應設置於該些第一像素單元與該些第二像素單元中，且該些第一像素單元所包含之該些修補線路在該些第一像素單元中之位置不同於該些第二像素單元所包含之該些修補線路在該些第二像素單元中之位置。
5. 如請求項1所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元與該些第二像素單元各包含至少一修補線路，該些修補線路係對應設置於該些第一像素單元與該些第二像素單元中，且每一該些第一像素單元所包含之該至少一修補線路的數量不同於每一該些第二像素單元所包含之該至少一修補線路的數量。
6. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些第一像素單元與該些第二像素單元交錯排列。
7. 如請求項6所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元與該些第二像素單元各包含一儲存電容，該些儲存電容係對應設置於該些第一像素單元與該些第二像素單元 中，且在該陣列中相鄰之一第一排與一第二排中，位於該第一排之該些第一像素單元與該些第二像素單元所包含之該些儲存電容的位置不同於位於該第二排之該些第一像素單元與該些第二像素單元所包含之該些儲存電容的位置。
8. 如請求項1所述之顯示面板，更包含複數個第三像素單元，其中該些第三像素單元與該些第一像素單元、該些第二像素單元具有相同之開口率或/及電性，且該些第三像素單元具有與該些第一像素單元與該些第二像素單元不同之外觀結構特徵。
9. 如請求項8所述之顯示面板，其中在該陣列之每一排中，該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元依序交錯排列。
10. 如請求項8所述之顯示面板，其中該些第一像素單元為紅色像素單元，該些第二像素單元為綠色像素單元，該些第三像素單元為藍色像素單元。
11. 如請求項8所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元各包含一儲存電容，且每一該些儲存電容各包含一介層窗，該些儲存電容係對應設置於該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元中，該些介層窗係對應設置於該些儲存電容中，其中該些第一像素單元所包含之該些介層 窗在該些儲存電容中之位置、該些第二像素單元所包含之該些介層窗在該些儲存電容中之位置、以及該些第三像素單元所包含之該些介層窗在該些儲存電容中之位置均不相同。
12. 如請求項11所述之顯示面板，其中每一該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元各包含一儲存電容，該些儲存電容係對應設置於該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元中，且在該陣列中相鄰之一第一排與一第二排中，位於該第一排之該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元所包含之該些儲存電容的位置不同於位於該第二排之該些第一像素單元、該些第二像素單元與該些第三像素單元所包含之該些儲存電容的位置。
13. 一種像素單元缺陷檢查方法，包含：提供一顯示面板，該顯示面板包含：一上基板；一下基板，設置於該上基板之對側；以及一液晶層，設置於該上基板與該下基板之間；其中，該下基板包含：複數個第一像素單元；以及複數個第二像素單元，與該些第一像素單元混合排列成一陣列，且該些第一像素單元與該些第二像素單元具有相同之開口率或/及電性，且該 些第一像素單元與該些第二像素單元具有不同之外觀結構特徵，其中該外觀結構特徵包含每一該些第一像素單元與該些第二像素單元內之儲存電容、介層窗、及/或修補線路的形狀、數量、及/或設置位置；對該顯示面板進行一檢查步驟，當獲得一缺陷像素單元時，在該顯示面板上標記出包含該缺陷像素單元之一區域；判斷該缺陷像素單元之外觀結構特徵，以確認該外觀結構特徵屬於該第一外觀結構特徵或該第二外觀結構特徵，而獲得一判斷結果；以及根據該判斷結構，於一顯微鏡下對該缺陷像素單元之一異常因素進行一第一查驗步驟。
14. 如請求項13所述之像素單元缺陷檢查方法，其中判斷該缺陷像素單元之外觀結構特徵係利用一高倍率目鏡。
15. 如請求項14所述之像素單元缺陷檢查方法，其中該第一查驗步驟包含：排除與該缺陷像素單元之外觀結構特徵不同之像素單元。
16. 如請求項13所述之像素單元缺陷檢查方法，當該第一查驗步驟無法判斷該缺陷像素單元之異常因素時，更包含進行一拆解步驟，以拆解該上基板與該下基板。
17. 如請求項16所述之像素單元缺陷檢查方法，於該拆解步驟後，更包含根據該判斷結果，於該顯微鏡下對該缺陷像素單元之異常因素進行一第二查驗步驟。
18. 如請求項16所述之像素單元缺陷檢查方法，其中該第二查驗步驟包含：排除與該缺陷像素單元之外觀結構特徵不同之像素單元。