TWI383334B - 用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法 - Google Patents

Description

用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法

本發明係關於一種影像處理裝置，且特別是有關於一種用以產生座標校正點(coordination calibration point)之影像處理裝置。

近年來，各種希望為使用者帶來便利性的輸入技術，如觸控面板、聲控輸入以及手勢擷取輸入等，都漸漸受到市場的重視並開始迅速地發展。在許多與輸入裝置相關的應用中，影像處理技術常常是一個重要的環節。

舉例而言，利用影像擷取裝置擷取對應使用者手勢的影像，再利用影像處理技術以及手勢辨識技術，就可以達到以手勢執行輸入的功能。另一方面，若使用者將光線投射到螢幕上形成光點，透過影像擷取裝置擷取對應該螢幕的影像之後，亦可藉由利用影像處理技術判斷該光點位於螢幕上的位置達到輸入的目的。於實際應用中，上述影像擷取裝置可經由一廣角或魚眼鏡頭進行影像擷取，以便在近距離內可以涵蓋整個螢幕。

然而，透過廣角或魚眼鏡頭之影像擷取裝置所擷取的影像，往往會有扭曲失真之現象發生，尤其是使用魚眼鏡頭進行影像擷取時，所產生之失真的情形更是嚴重。經由廣角或魚眼鏡頭所擷取的影像其失真現象一般可分成桶狀失真及枕狀失真兩種情況。雖然這兩種情況均可以藉由相對應之校正方程式進行影像校正之動作，但是若要針對影像中之某一區塊進行校正時，就需要利用更複雜繁瑣的校正方程式，才能順利完成座標校正之工作，以使得影像中之控制點座標能正 確地對映至實際螢幕上之點座標，不僅需大量的運算資源，且相當費時及不便。

因此，本發明之主要範疇在於提供一種用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法，以解決上述問題。

本發明之一範疇在於提供一種用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法，其利用邊緣檢測技術以及交點判斷方法，快速地產生座標校正點，進而加速座標校正程序的速度。

根據本發明一具體實施例之影像處理裝置係用以根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點。該影像處理裝置包含一相減模組(subtraction module)、一邊緣檢測模組(edge detection module)、以及一交點產生模組(intersection point generation module)。該相減模組用以將該第二影像與該第一影像相減以產生一第一相減影像，且用以將該第三影像與該第一影像相減以產生一第二相減影像。該邊緣檢測模組係耦接於該相減模組，用以針對該第一相減影像執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像，且用以針對該第二影像執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像，其中該第一邊緣影像包含一第一邊緣，該第二邊緣影像包含一第二邊緣。該交點產生模組係耦接於該邊緣檢測模組，用以根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素，該交點像素即為對應該第一邊緣以及該第二邊緣之一座標校正點。

根據本發明一具體實施例之影像處理方法係用以根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點。

於此具體實施例中，該影像處理方法，首先，將該第二影像與該第一影像相減以產生一第一相減影像。接著，該影像處理方法將該第三影像與該第一影像相減以產生一第二相減影像。之後，該影像處理方法針對該第一相減影像執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像，其中該第一邊緣影像包含一第一邊緣。而後，該影像處理方法針對該第二相減影像執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像，其中該第二邊緣影像包含一第二邊緣。最後，該影像處理方法根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素，該交點像素即為對應該第一邊緣以及該第二邊緣之一座標校正點。

根據本發明之用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法係利用邊緣檢測技術以及交點判斷方法，快速地產生座標校正點，進而加速座標校正程序的執行。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

本發明提供一種用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法。以下將詳述本發明之具體實施例，藉以充分解說本發明之特徵、精神、優點以及實施上的簡便性。

請參閱圖一，圖一係繪示根據本發明一具體實施例之影像處理裝置1。於此具體實施例中，影像處理裝置1可用以根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點。於實際應用中，影像處理裝置1所產生之座標校正點可用以協助執行後續的座標校正程序。如圖一所示，影像處理裝置1可包含一相減模組10、一邊緣檢測模組12、以及一交點產生模組14。

請參閱圖二A至圖二C，圖二A係繪示第一影像IM1之示意圖。圖二B係繪示第二影像IM2之示意圖。圖二C係繪示第三影像IM3之示意圖。於實際應用中，影像處理裝置1可進一步包含一影像擷取模組16，且影像擷取模組16可包含一廣角鏡頭160或魚眼鏡頭。第一影像IM1、第二影像IM2以及第三影像IM3皆可由影像擷取模組16所擷取。廣角鏡頭160的特性為視角很廣，所以可以在近距離內擷取到大範圍的影像，如圖二A至圖二C中的第一影像IM1、第二影像IM2以及第三影像IM3所示。然而廣角鏡頭160的缺點就是所擷取的影像具有十分嚴重的扭曲失真，所以需要進行特殊的校正程序後才能加以應用。

請參閱圖三A至圖三C，圖三A係繪示一螢幕3顯示一第一圖樣(pattern)P1之示意圖。圖三B係繪示螢幕3顯示一第二圖樣P2之示意圖。圖三C係繪示螢幕3顯示一第三圖樣P3之示意圖。於實際應用中，第一圖樣P1可為一單色圖樣，例如圖三A中所示的全黑圖樣。第二圖樣P2可為水平雙色交錯條紋圖樣，如圖三B中所示的水平黑白條紋交錯圖樣。第三圖樣P3可為垂直雙色交錯條紋圖樣，如圖三C中所示的垂直黑白條紋交錯圖樣。

於一具體實施例中，第一影像IM1可包含對應螢幕3之一單色區域30，如圖二A所示。於實際應用中，影像擷取模組16可於螢幕3顯示第一圖樣P1時，擷取第一影像IM1。如此一來，影像擷取模組16所擷取的第一影像IM1就可以包含對應螢幕3之全黑的單色區域30。

於一具體實施例中，第二影像IM2可包含對應螢幕3之一第一條紋影像32，其中第一條紋影像32包含交錯排列之複數個第一條紋320以及複數個第二條紋322，如圖二B所 示。於實際應用中，影像擷取模組16可於螢幕3顯示第二圖樣P2時，擷取第二影像IM2。如此一來，影像擷取模組16所擷取的第二影像IM2就可包含對應螢幕3之第一條紋影像32，其中第一條紋影像32所包含之第一條紋320為黑色，且第二條紋322為白色。

同樣地，第三影像IM3可包含對應螢幕3之一第二條紋影像34，其中第二條紋影像34包含交錯排列之複數個第三條紋340以及複數個第四條紋342，如圖二C所示。於實際應用中，影像擷取模組16可於螢幕3顯示第三圖樣P3時，擷取第三影像IM3。如此一來，影像擷取模組16所擷取的第三影像IM3就可包含對應螢幕3之第二條紋影像34，其中第二條紋影像34所包含之第三條紋340為黑色，且第四條紋342為白色。

於一具體實施例中，第一條紋320以及第二條紋322可為橫向排列，而第三條紋340以及第四條紋342可為縱向排列，如圖二B以及圖二C所示。

請參閱圖四A以及圖四B，圖四A係繪示第一相減影像SIM1之示意圖。圖四B係繪示第二相減影像SIM2之示意圖。相減模組10可用以將第二影像IM2與第一影像IM1相減以產生一第一相減影像SIM1，如圖四A所示。值得注意的是，第一影像IM1所包含之單色區域30具有一第一顏色(黑色)，而第二影像IM2中第一條紋影像32所包含之該等第一條紋320也為具有該第一顏色(黑色)之單色條紋，所以第二影像IM2與第一影像IM1不同之處只有該等第二條紋322。因此，第二影像IM2與第一影像IM1相減所產生的第一相減影像SIM1僅包含該等第二條紋322，如圖四A所示。

相同地，相減模組10可用以將第三影像IM3與第一影像IM1相減以產生一第二相減影像SIM2，如圖四B所示。值得注意的是，第一影像IM1所包含之單色區域30具有該第一顏色(黑色)，而第三影像IM3中第二條紋影像34所包含之該等第三條紋340也為具有該第一顏色(黑色)之單色條紋，所以第三影像IM3與第一影像IM1不同之處只有該等第四條紋342。因此，第三影像IM3與第一影像IM1相減所產生的第二相減影像SIM2僅包含該等第四條紋342，如圖四B所示。

於實際應用中，相減模組10可進一步包含一二值化單元100，用以二值化第一相減影像SIM1以及第二相減影像SIM2。藉此，可以使後續邊緣檢測模組12的工作更容易進行。

請參閱圖五A以及圖五B，圖五A係繪示第一邊緣影像EIM1之示意圖。圖五B係繪示第二邊緣影像EIM2之示意圖。邊緣檢測模組12係耦接於相減模組10，用以針對第一相減影像SIM1執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像EIM1。如圖五A所示，第一邊緣影像EIM1包含複數個第一邊緣E1。同樣地，邊緣檢測模組12並可針對第二相減影像SIM2執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像EIM2。如圖五B所示，第二邊緣影像EIM2包含複數個第二邊緣E2。於實際應用中，該等第一邊緣E1以及該等第二邊緣E2之寬度皆為一個像素。

於一具體實施例中，交點產生模組14係耦接於邊緣檢測模組12，可用以根據該等第一邊緣E1中之一個第一邊緣E1以及該等第二邊緣E2中之一個第二邊緣E2產生一交點像素IP，該交點像素即為對應該個第一邊緣E1以及該個第二邊緣 E2之一座標校正點。

於一具體實施例中，交點產生模組14可進一步包含一第一處理單元140、一判斷單元142以及一第二處理單元144，如圖一所示。以下以該等第一邊緣E1中之一個第一邊緣E1以及該等第二邊緣E2中之一個第二邊緣E2為例，說明產生交點像素之一具體實施例。

請參閱圖六，圖六係繪示交點產生模組14產生交點像素IP之示意圖。於此具體實施例中，第一邊緣E1包含複數個第一邊緣像素P1-P12，且第二邊緣E2包含複數個第二邊緣像素Q1-Q8。第一處理單元140可根據該等第一邊緣像素P1-P12以及該等第二邊緣像素Q1-Q8計算對應該等第一邊緣像素P1-P12中之每一個第一邊緣像素之鄰近邊緣像素數量。

所謂鄰近邊緣像素數量，可為該等第一邊緣像素P1-P12中之一個第一邊緣像素之鄰近八個像素位置的像素為邊緣像素之數量。舉例而言，第一邊緣像素P3的鄰近邊緣像素為第一邊緣像素P2以及第一邊緣像素P4，故對應第一邊緣像素P3之鄰近邊緣像素數量為二。第一邊緣像素P5的鄰近邊緣像素為第一邊緣像素P4、第二邊緣像素Q5以及第一邊緣像素P6(或第二邊緣像素Q4)，故對應第一邊緣像素P5之鄰近邊緣像素數量為三。

如圖六所示，對應第一邊緣像素P2-P4以及第一邊緣像素P8-P11之鄰近邊緣像素數量皆為二，對應第一邊緣像素P5之鄰近邊緣像素數量為三，而對應第一邊緣像素P6以及第一邊緣像素P7之鄰近邊緣像素數量為四。值得一提的是，於計算上述鄰近邊緣像素數量時，可不考慮兩端之第一邊緣像素(P1、P12)之鄰近邊緣像素數量，因為兩端之第一邊緣像素之座標不易有產生交點像素IP的可能。

判斷單元142係耦接於第一處理單元140，用以根據對應該個第一邊緣像素之該鄰近邊緣像素數量判斷該個第一邊緣像素是否為一準交點像素。於實際應用中，若對應該個第一邊緣像素之該鄰近邊緣像素數量是否超過一預設值，則判斷該個第一邊緣像素為一準交點像素，於一實施例中，預設值係大於或等於三，則判斷單元142可判斷該個第一邊緣像素為一準交點像素。根據此判斷準則，第一邊緣像素P5、第一邊緣像素P6以及第一邊緣像素P7皆為準交點像素QIP，如圖六所示。

第二處理單元144係耦接於判斷單元142，可用以根據該等準交點像素QIP產生該交點像素IP。於實際應用中，第二處理單元144可將該等準交點像素QIP之座標執行一平均運算程序而產生該交點像素IP。該交點像素IP即為對應該個第一邊緣E1以及該個第二邊緣E2之一座標校正點。如圖六所示，由於第一邊緣像素P5-P7為準交點像素QIP，故經第二處理單元144運算之後，可產生交點像素IP。該交點像素IP即為對應圖六中之第一邊緣E1以及第二邊緣E2之座標校正像素。

請參閱圖七，圖七係繪示交點產生模組14所產生之複數個交點像素IP之示意圖。如圖七所示，交點產生模組14可根據所有的第一邊緣E1以及第二邊緣E2產生對應的交點像素IP，即圖七中所示之複數個小白點。

請參閱圖八，圖八係繪示向量計算模組18產生延伸點EP之示意圖。由於第一邊緣E1以及第二邊緣E2兩端的像素可能偏差較大，所以可能無法利用交點產生模組14產生對應的交點像素。因此，於一具體實施例中，影像處理裝置1可進一步包含一向量計算模組18，耦接於交點產生模組14。向 量計算模組18可用以基於一向量演算法，根據已經產生的交點產生延伸點。如圖八所示，向量計算模組18可基於該向量演算法，根據交點像素IP1以及交點像素IP2產生一延伸點EP。

請參閱圖九，圖九係繪示影像處理裝置1所產生之複數個座標校正點CP之示意圖。如圖九所示，交點產生模組14之該等交點IP以及向量計算模組18所產生之該等延伸點EP即為座標校正點CP，亦即圖九中所示的該等小白點。該等座標校正點CP可用以協助進行後續的座標校正程序。

請參閱圖十，且一併參閱圖一至圖九。圖十係繪示根據本發明另一具體實施例之影像處理方法之流程圖。於此具體實施例中，該影像處理方法可用以根據第一影像IM1、第二影像IM2以及第三影像IM3產生複數個座標校正點CP。於實際應用中，該影像處理方法可應用於如圖一所示之影像處理裝置1，但不以此為限。關於影像處理裝置1、第一影像IM1、第二影像IM2以及第三影像IM3之內容與範例已詳述於上文，在此不再贅述。

如圖十所示，該影像處理方法，首先，執行步驟S10，將第二影像IM2與第一影像IM1相減以產生一第一相減影像SIM1。接著，該影像處理方法執行步驟S12，將第三影像IM3與第一影像IM1相減以產生一第二相減影像SIM2。之後，該影像處理方法執行步驟S14，針對第一相減影像SIM1執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像EIM1，其中第一邊緣影像EIM1包含第一邊緣E1。而後，該影像處理方法執行步驟S16，針對第二相減影像SIM2執行該邊緣檢測程序以產生第二邊緣影像EIM2，其中第二邊緣影像EIM2包含第二邊緣E2。最後，該影像處理方法執行步驟S18，根據第一邊 緣E1以及第二邊緣E2產生交點像素IP，交點像素IP即為對應第一邊緣E1以及第二邊緣E2之座標校正點CP。

於實際應用中，步驟S10可進一步包含一二值化該第一相減影像SIM1之步驟，且步驟S12可進一步包含一二值化該第二相減影像SIM2之步驟。藉此，可以使後續的邊緣檢測步驟更容易進行。

請參閱圖十一，且一併參閱圖六。圖十一係繪示圖十中之步驟S18之詳細流程圖。於一具體實施例中，第一邊緣E1可包含複數個第一邊緣像素P1-P12，且第二邊緣E2可包含複數個第二邊緣像素Q1-Q8。於實際應用中，步驟S18可進一步包含下列步驟。如圖十一所示，該影像處理方法，首先，執行步驟S180，根據該等第一邊緣像素P1-P12以及該等第二邊緣像素Q1-Q8計算對應該等第一邊緣像素P1-P12中之每一個第一邊緣像素之一鄰近邊緣像素數量。接著，該影像處理方法執行步驟S182，根據對應該個第一邊緣像素之該鄰近邊緣像素數量判斷該個第一邊緣像素是否為一準交點像素QIP。最後，該影像處理方法執行步驟S184，根據該等準交點像素QIP產生交點像素IP。步驟S180-S184之詳細內容及範例可參閱上文所述，在此不再贅述。

藉由該影像處理方法所產生的座標校正點CP，可用以協助執行後續的座標校正程序。

根據本發明之用以產生座標校正點之影像處理裝置及方法係利用邊緣檢測技術以及交點判斷方法，快速地產生座標校正點，進而提供優於先前技術的座標校正程序效率。此外，本發明之具體實施例可針對扭曲失真的影像進行座標校正，因此只要能夠配合該影像處理裝置進行座標校正程序，即使鏡頭的品質不佳，或者因為使用廣角或魚眼鏡頭而使映 像扭曲失真，也能夠進行相當不錯的校正程序。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。因此，本發明所申請之專利範圍的範疇應該根據上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具相等性的安排。

1‧‧‧影像處理裝置

10‧‧‧相減模組

100‧‧‧二値化單元

12‧‧‧邊緣檢測模組

14‧‧‧交點產生模組

140‧‧‧第一處理單元

142‧‧‧判斷單元

144‧‧‧第二處理單元

16‧‧‧影像擷取模組

160‧‧‧廣角鏡頭

18‧‧‧向量計算模組

3‧‧‧螢幕

P1‧‧‧第一圖樣

P2‧‧‧第二圖樣

P3‧‧‧第三圖樣

IM1‧‧‧第一影像

IM2‧‧‧第二影像

IM3‧‧‧第三影像

30‧‧‧單色區域

32‧‧‧第一條紋影像

320‧‧‧第一條紋

322‧‧‧第二條紋

34‧‧‧第二條紋影像

340‧‧‧第三條紋

342‧‧‧第四條紋

SIM1‧‧‧第一相減影像

SIM2‧‧‧第二相減影像

EIM1‧‧‧第一邊緣影像

E1‧‧‧第一邊緣

EIM2‧‧‧第二邊緣影像

E2‧‧‧第二邊緣

P1-P12‧‧‧第一邊緣像素

Q1-Q8‧‧‧第二邊緣像素

QIP‧‧‧準交點像素

IP、IP1、IP2‧‧‧交點像素

EP‧‧‧延伸點

CP‧‧‧座標校正點

S10-S18‧‧‧步驟流程

S180-S184‧‧‧步驟流程

圖一係繪示根據本發明一具體實施例之影像處理裝置。

圖二A係繪示第一影像之示意圖；圖二B係繪示第二影像之示意圖；圖二C係繪示第三影像之示意圖。

圖三A係繪示螢幕顯示第一圖樣之示意圖；圖三B係繪示螢幕顯示第二圖樣之示意圖；圖三C係繪示螢幕顯示第三圖樣之示意圖。

圖四A係繪示第一相減影像之示意圖；圖四B係繪示第二相減影像之示意圖。

圖五A係繪示第一邊緣影像之示意圖；圖五B係繪示第二邊緣影像之示意圖。

圖六係繪示交點產生模組產生一交點像素之示意圖。

圖七係繪示交點產生模組所產生之複數個交點像素之示意圖。

圖八係繪示向量計算模組產生延伸點之示意圖。

圖九係繪示影像處理裝置所產生之複數個座標校正點之示意圖。

圖十係繪示根據本發明另一具體實施例之影像處理方法之流程圖。

圖十一係繪示圖十中步驟S18之詳細流程圖。

1‧‧‧影像處理裝置

10‧‧‧相減模組

100‧‧‧二值化單元

12‧‧‧邊緣檢測模組

14‧‧‧交點產生模組

140‧‧‧第一處理單元

142‧‧‧判斷單元

144‧‧‧第二處理單元

16‧‧‧影像擷取模組

160‧‧‧廣角鏡頭

18‧‧‧向量計算模組

Claims (18)

1. 一種用以產生座標校正點之影像處理裝置，用以根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點，該影像處理裝置包含：一相減模組，用以將該第二影像與該第一影像相減以產生一第一相減影像，將該第三影像與該第一影像相減以產生一第二相減影像；一邊緣檢測模組，耦接於該相減模組，用以針對該第一相減影像執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像，且用以針對該第二相減影像執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像，其中該第一邊緣影像包含一第一邊緣，該第二邊緣影像包含一第二邊緣；以及一交點產生模組，耦接於該邊緣檢測模組，用以根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素，該交點像素即為對應該第一邊緣以及該第二邊緣之一座標校正點，其中該第一邊緣包含複數個第一邊緣像素，且該第二邊緣包含複數個第二邊緣像素，該交點產生模組進一步包含：一第一處理單元，用以根據該等第一邊緣像素以及該第二邊緣像素計算對應該等第一邊緣像素中之每一個第一邊緣像素之一鄰近邊緣像素數量；一判斷單元，耦接於該第一處理單元，用以根據對應該個第一邊緣像素之該鄰近邊緣像素數量判斷該個第一邊緣像素是否為一準交點像素；以及一第二處理單元，耦接於該判斷單元，用以根據該等準交點像素產生該交點像素。
2. 如申請專利範圍第1項所述之影像處理裝置，其中該第一影像包含對應於一螢幕之一單色區域。
3. 如申請專利範圍第2項所述之影像處理裝置，其中該第二影像包含對應於該螢幕之一第一條紋影像，且該第三影像包含對應於該螢幕之一第二條紋影像，其中該第一條紋影像包含 交錯排列之複數個第一條紋以及複數個第二條紋，且該第二條紋影像包含交錯排列之複數個第三條紋以及複數個第四條紋。
4. 如申請專利範圍第3項所述之影像處理裝置，其中該等第一條紋以及該等第二條紋係橫向排列，且該等第三條紋以及該等第四條紋係縱向排列。
5. 如申請專利範圍第3項所述之影像處理裝置，其中該單色區域具有一第一顏色，該等第一條紋中之每一個第一條紋為具有該第一顏色之一單色條紋。
6. 如申請專利範圍第3項所述之影像處理裝置，其中該單色區域具有一第一顏色，該等第三條紋中之每一個第三條紋為具有該第一顏色之一單色條紋。
7. 如申請專利範圍第1項所述之影像處理裝置，其中該相減模組進一步包含一二值化單元，用以二值化該第一相減影像以及該第二相減影像。
8. 一種用以產生座標校正點之影像處理裝置，用以根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點，該影像處理裝置包含：一相減模組，用以將該第二影像與該第一影像相減以產生一第一相減影像，將該第三影像與該第一影像相減以產生一第二相減影像；一邊緣檢測模組，耦接於該相減模組，用以針對該第一相減影像執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像，且用以針對該第二相減影像執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像，其中該第一邊緣影像包含一第一邊緣，該第二邊緣影像包含一第二邊緣；一交點產生模組，耦接於該邊緣檢測模組，用以根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素，該交點像素即為對應該第一邊緣以及該第二邊緣之一座標校正點；以及 一向量計算模組，耦接於該交點產生模組，用以基於一向量演算法，根據該等交點像素產生複數個延伸點。
9. 如申請專利範圍第1項所述之影像處理裝置，其中該第一影像、該第二影像以及該第三影像皆由包含一廣角鏡頭之一影像擷取模組所擷取。
10. 一種用以產生座標校正點之影像處理方法，該影像處理方法根據一第一影像、一第二影像以及一第三影像產生複數個座標校正點，該影像處理方法包含下列步驟：將該第二影像與該第一影像相減以產生一第一相減影像；將該第三影像與該第一影像相減以產生一第二相減影像；針對該第一相減影像執行一邊緣檢測程序以產生一第一邊緣影像，其中該第一邊緣影像包含一第一邊緣；針對該第二相減影像執行該邊緣檢測程序以產生一第二邊緣影像，其中該第二邊緣影像包含一第二邊緣；以及根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素，該交點像素即為對應該第一邊緣以及該第二邊緣之一座標校正點，其中該第一邊緣包含複數個第一邊緣像素，且該第二邊緣包含複數個第二邊緣像素，根據該第一邊緣以及該第二邊緣產生一交點像素之步驟進一步包含下列子步驟：根據該等第一邊緣像素以及該等第二邊緣像素計算對應該等第一邊緣像素中之每一個第一邊緣像素之一鄰近邊緣像素數量；根據對應該個第一邊緣像素之該鄰近邊緣像素數量判斷該個第一邊緣像素是否為一準交點像素；以及根據該等準交點像素產生該交點像素。
11. 如申請專利範圍第10項所述之影像處理方法，其中該第一影像包含對應於一螢幕之一單色區域。
12. 如申請專利範圍第11項所述之影像處理方法，其中該第二影像包含對應於該螢幕之一第一條紋影像，且該第三影像包含對應於該螢幕之一第二條紋影像，其中該第一條紋影像包含交錯排列之複數個第一條紋以及複數個第二條紋，且該第二條紋影像包含交錯排列之複數個第三條紋以及複數個第四條紋。
13. 如申請專利範圍第12項所述之影像處理方法，其中該等第一條紋以及該等第二條紋係橫向排列，且該等第三條紋以及該等第四條紋係縱向排列。
14. 如申請專利範圍第12項所述之影像處理方法，其中該單色區域具有一第一顏色，該等第一條紋中之每一個第一條紋為具有該第一顏色之一單色條紋。
15. 如申請專利範圍第12項所述之影像處理方法，其中該單色區域具有一第一顏色，該等第三條紋中之每一個第三條紋為具有該第一顏色之一單色條紋。
16. 如申請專利範圍第10項所述之影像處理方法，其中產生該第一相減影像之步驟進一步包含一二值化該第一相減影像之步驟。
17. 如申請專利範圍第10項所述之影像處理方法，其中產生該第二相減影像之步驟進一步包含一二值化該第二相減影像之步驟。
18. 如申請專利範圍第10項所述之影像處理方法，其中該第一影像、該第二影像以及該第三影像皆由包含一廣角鏡頭之一影像擷取模組所擷取。