TWI311653B - - Google Patents

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1311653 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 一種對發光二極體進行點亮測試的方法及裝 置，本發明尤指一種透過多組通電迴路與多個電源 相連接的裝置，利用其通電迴路間的電位差變化， 以進行發光二極體測試的方法及裝置。 【先前技術】 近年來，隨著科技日新月異，發光二極體（L i gh t Emitting Doide,LED)的應用也越來越廣泛，舉凡 生活中常見的交通燈號、液晶螢幕所使用的背光模 組，甚至是攜帶用照明裝置等等，而目前發光二極 體又分為單晶發光二極體及多晶發光二極體，目前 市面上有多種多晶發光二極體，如：雙晶雙腳、雙 晶三腳、三晶四腳或三晶六腳等等。 ' 請參閱「第1圖」，為一般三晶四腳發光二極體 的測試示意圖，市面上三晶四腳發光二極體1 0係由 A晶片1 0 11、B晶片1 0 1 2及C晶片1 0 1 3等三組晶 片101，及四個電極引腳1 0 2所構成’其中’ A晶片 1 0 11係分別電連接至第一電極引腳1 0 21及第三電 極引腳1 0 2 3，B晶片1 0 1 2電連接至第四電極引腳 1 0 24及第三電極引腳1 0 2 3，C晶片1013則是電連 接至第二電極引腳1 0 2 2及第三電極引腳1 0 2 3，進 行測試時，係將發光二極體1 0插設於一測試裝置 5 1311653 20上，其測試裝置20可透過一切換開關2〇1 (或 Relay Card)，控制同一個電源2〇2與連接至不同晶 片101的導通與否，如卜1圖中所示，藉由切換開 關201的控制，可使第一電極引腳1〇21與第三電極 引腳1〇23形成導通’其第二電極引腳1〇22及第四 電極引腳1 024則形成開路，因此，僅A晶片ι〇ιι 被點亮測試^卜2圖中所示’再度控制切換開關 201的切換’可使第四電極引腳1〇24與第三電極引 腳1〇23形成導通，其第一電極引腳1〇21及第二電 極引腳1 022則形成開路’僅β晶片1()12被點亮測 試；如圖卜3所示’再控制切換開關2〇ι的切換， 可使第二電極引腳助與第三電極引腳m3形成 導通，其第-電極引腳1Q21及第：電極引腳ι〇22 則形成開路Μ堇C晶片1〇13被點亮測試。 .而針對一般三晶六腳發光二極體也是相同的測 -式方法’差別僅在其負極引腳有三支，且三支負極 引腳又透過共接的方式相連接，請參閱第2圖，為 通又日日六腳發光一 AA ό ϊ ts — λ. —極體的測试示意圖，如2 -1圖 所示，控制切換開關9 η ] & 、Ί關201後，可使Α晶片loii的第 %極引腳1 021與第四電極引腳1 024呈導通，並 進行A晶片1 〇 π的审!·一、， 月的點焭測試，如2_2圖中所示，再 度控制切換開關201，可使B晶片1〇12的第二電極 引腳1〇22與第四電極引腳1〇24呈導通，並進μ 晶片m2的點亮測試，如"圖中所示，而再度控 6 1311653 制切換開關2 Ο 1，可使C晶片1 Ο 1 3的第三電極引腳 1023與第四電極引腳1024呈導通，並進行C晶片 1 0 1 3的點亮測試。 綜上所述，針對以上兩種多晶發光二極體的測 試方法都係利用同一個電源，都必須藉由切換開關 的控制，且每次僅單獨驅動一個晶片進行點亮測 試，其不僅沒有效率，且無法進行晶片同時發亮時 的混色測試。 【發明内容】 有鑑於以往進行發光二極體測試時，因為需要 多次切換，而大幅降低了測試的效率，本發明人爰 精心研究，並積個人多年從事電子電路設計的經 驗，終設計出一種嶄新的發光二極體的測試方法及 裝置。 本發明之主要目的，旨在提供一種可對發光二 極體上晶片進行個別點亮測試，及同時點亮的混光 測試之發光二極體的測試方法及裝置，以增加測試 的效率。 為達上述目的，本發明發光二極體的測試方法 及裝置，以測試一發光二極體上的一晶片功能是否 正常，測試裝置係包括一電路板、一測試座及複數 個獨立電源，其中之電路板上係設有數組接電電 路，及一接地電路，又，測試座係組設於此電路板 7 上，而可 屢上π 1與接電電路及接地電路呈導通，並在測試 κ*τ' ί 、 % Μ ,複數個插孔’以供對應插設發光二極體 及數個1· ρ丨 q供與接““腳，其插孔内係組設有一導電片， 钿褐立2、电電路及接地電路相連接，最後再將複數 的缽妯：源與接電電路相連接’並電性連接至共用

向或*二 透過複數個獨立電源供給接電電路正 、貝向電斤 S，其係 可使發光二極體上的晶片被點亮測 夷後向:二用—般的電學原理中’電流係由高電位 ^嗦〉負命山 且私位咼低的排列由正電端〉接 螂之電源二^，由於本發明所使用的電路中，因為 電電路產生：向電壓或負向電壓的不同，而使接 因此，火 ''的電位，但是接地電路始終不變， 發明進行測試時，其步驟如下： 乐—步，驟.

先二極體的：：設發光二極體，由測試人員將發 孔内，β使私？電極引腳’依序插入測試座上的插 第二步驟 體可與電路板上的電路相導通； 獨立電源對接t輪入正向或反向電壓，藉由個別的 接電電路與捿祕電路輸入正向或反向電壓，以使其 也電路間的電位產生變化； 乐二步驟.乂一 壓後，其接⑧·光二極體被點亮，當輸入正向電 由接電電路沪：路的電位高於接地電4 ’而使電流 接電電路的^接地電路，當輸入負向電墨時，使 路流向接電命4會低於接地^，電㈣由接地電 电路，以達到電流導通的目的，使發 8 二極體的晶片被點亮進行測試。 上所述’本發明發光二極體測試方法及裝 不仁操作及使用都相當簡單，又，搭配一適當 的切換開關後，而可用來切換控制發光二極體上晶 片的個別點免測試’或是同時點亮的混光測試。 為使貴審查委員能清楚了解本發明之内容，僅 以下列S兒明搭配圖示，敬請參閱。 【實施方式】 請參閱第3圖’為本發明測試裝置較佳實施例 的結構示意圖，如圖中所示，本發明係用來測試一 發光二極體30上的一晶片301功能是否正常，其透 過測試人員以手動方式’或是機器以全自動的方 式’將發光二極體3 0插設於本發明的測試裝置4 〇 上’而此測試裝置4 0係包括：一電路板4 01，係設 有複數組接電電路4 0 11 ’及一共用的接地電路 4 0 1 2 ; —測試座4 0 2，組設於電路板4 〇 1上，且測 試座4 0 2上又形成有棱數個插孔4 Q 2 1，供插設對應 發光二極體30複數個電極引腳30 2,並在插孔4〇21 内組設有一導電片4022，以使導電片4〇22可與接 電電路40 1 1及接地電路401 2電性連接，因此，發 光二極體3 0的電極引腳3 0 2可藉由測試座$ 〇 2的導 電片4022’與接電電路4011及接地電路4〇12間呈 導通；以及複數個獨立電源4 0 3，與電路板4 〇丨上 1311653 屯路4011及接地電路4012電性連接後，可 體;^電路日4Q11正向或負向《，而使發光二極 上的一晶片3 0 1祐1 ,丄、 試時的便利性，電路板:〇 ,為了增加測 r ^ 4〇1上设有一切換開關4〇4 體：一般常用的〜C叫可切換對發光二極 性 的晶片301，僅需對切換開關404進行—次 光二’就可進行個別點亮測試，及同時點亮的混 且 \人貝而吕，在進行操作時更加方便， 6 ” Card作為切換開關404時，可進一步 用來測試發井-益；触。Λ ^ 發明人設計的；Π :電極引腳3〇2的極性;本 壓，可使接命雷 "^電源403輸入正向電 端# $，路4011成為具有較高電位的正電 喘，當輸入的JL含% 具有較低+ 電廢時’其接電電路4011成為 -兒立的負電端，而接地電路 不#，再仿祕；印付始終 據琶孚原理中，電流係由高 6 低電位處，且雷仞古加门电位處机向 負電端H 係由正電端〉接地端〉 、兒 电流的流動方向會改變，但是，卻—样 可If發光二極體3G的晶片3G1被點亮測試。， 如圖第4圖，為本發明測試時的步驟流程圖， 。 根據上述的測試裝置進行測試時，t 步驟如下： ν τ 其 弟步,驟501 :先插設發光二極體’由測試人 將發光二極㈣AA 0 h 貝 體的夕個電極引腳，依序插入測試座 的插孔内，以使發光二極體的電極引腳可與導電片 10

Dll 653 电今峰、志 連接，再藉由導電片與電路 电硌扳上的電路相導 弟二步驟502:輸入正向$ & & φ广 V ' 的獨立f ^ &或反向電壓，藉由個別 立電源對接電電路輸入正向 U -ί± 』又久问電|，以你 〃接^電路與接地電路間的電位產生變化； 弟三步驟503:發光二極體被 電壓後，苴接帝+ ,々从+ 田％入正向 土山 …接毛电路的笔位高於接地電路，而使電 机由接電電路流向接地電路， 輸入負向電壓時， 使接電電路的電位合低於垃& + * &电位9低於接地電路，電流則由接地 机向接電電路’以達到電流導通的目的，使發 先—極體的晶片被點亮進行測試。 清參閱第^ . _ 圖’為本發明應用於三晶四腳發光 —極體測試時的雷 _立 電路不思圖，如圖5 -1中所示，本

I明應用於私杰_ k A g . '先—極體3〇為三晶四腳型式，也就是 具有三組晶片 q n __ 、二組電極引腳3 02及一接地引 卿3 0 3 ,相斟从 /1ηι 1 、也’其電路設計係包含三組接電電路 4011及—接 .. 電路4〇12,其中，第一接電電路40111

係對應第一0曰H 味 阳月⑽11，第二接電電路40112係對應 弟二晶片3〇12，笙_ μ Οηιο 弟二接電電路40113則對應第三晶 月3 〇 1 3，再八 Φ两— 刀別由三組獨立電源403同時輸入正向 電壓，第〜抵带 认咕一 电電路40111、第二接電電路40112, 及第二接電雷 „ ^ ^ 路40 11 3的電位高於接地電路40 1 2， 以使電流由坌 从

Anilo 乐—接電電路40111、第二接電電路 40112，及第= 因此，.第 〜接電電路4〇113流向接地電路4〇12, 晶片3〇11、第二晶片3012及第三晶片 11 1311653 3〇13會同時被點亮測試·，如圖5-2中所示，由三么且 獨立電源403同時輸入負向電壓，第一接電電路 4〇111、第二接電電路4〇1!2,及第三接電電路40113 的電位低於接地電路4012，以使電流反向流動，而 由接地電路4012流向第〜接電電路40⑴、第二接 電電路40112及第三接電電路4〇ιι3，因此，第— 晶片3011、第-曰η 、 弟一日日片3〇12及第三晶片3013也會同 時被點亮進行測試。 月乡閱第6圖，為本發明應用於三晶六腳琪 時的電路示意圖，如圖6'1中所示，本發明應用於 發光二極體30為三晶六腳型式，也就是具有三組日曰、 片3〇1、三組電極引腳302及三組接地引腳3〇3,: 三組接地引腳3Q3又呈共接狀態，因此，本 電路設計可包含三組接電電路仙及三組接地= 路4。12’其三組接地電路4。12也呈共接狀 一接電電路则1係對應第-晶片30U,第二接^ 電路4〇112係對應第二晶片3〇12，第三接電電路 4〇U 應&晶片謝3,再分別由三組獨立電 源4〇3同時輸入正向電塵，使第—接電電路4〇11Γ 第二接電電路_2’及第三接電電路4〇1 位高於接地電路4〇丨2， 电 -"、第二接電電二二會由第一接電電路 ,峪4U1U及苐三接電電路4〇in 流命接？路使第-晶片3〇"、第二晶片 3012及二晶片3013同時被點亮；如圖6一2令所 12 1311653 —丨―疋虽三組獨立電源403同時輸入負向電壓， =使第一接電電路40 Π卜第二接電電路40112,及 第一接電電路40113的電位低於接地電路4〇12，電 机便會反向流動，而由接地電路4〇丨2流向第一接電 電路40111、第二接電電路40112及第三接電電路 4〇U3,其同樣也會使第一晶片3〇11、第二晶片“Η 及第三晶片3〇13同時被點亮測試；如圖6 —3中所 不，但是本發明使用這樣的電路設計時，有可能因 為製程中的缺陷或搭接所產生短路，例如：在第一 接電電路4〇111，與第二接電電路4〇112間產生短 :時’如圖中所示，整個電路設計呈並聯的導通狀 態，因此，電流仍能夠通過第一接電電路4〇111，

^第二接電電路4〇112,而使第一晶片Μ。與第二 晶片3012被通過的電流點亮，所以三個晶片3〇1都 會被點亮，而無法獲知此發光二極體是否故障。 請參閱《 7目，為本發明應用於三晶六腳測試 $的另一較佳電路示意圖’如圖7 —丨所示，為解決 珂述6-3圖中所發生的狀況，本發明人另外設計了 一種特殊的電路排列方式，其同樣具有三組接電電 路4011及一接地電路4〇12，其第二接電電路4〇丨12 係與接地電路4〇12相連接，而將第一接電電路 40111與第三接電電路40113另—端，在藉由—辅 助電路4〇13串聯至與第二接電電路4〇112相連接的 接电路4 0 1 2上，以使三組接電電路4 〇丨丨都能與 13 1311653 接地I攸3 、路40 1 2呈導通，當進行點亮測試時，當與第 矣電電路40111相連接的獨立電源403，以穷命 正向電Μ13相連接的獨立電源4Q3係輸出 則與第二接電電路40 11 2相連的獨* 々 肩輸出負向電壓，可使第一接電電路4〇111 及第三接電電路40113的電位高於接地電路 而接地雷玖^ ' 4〇112 '路4012的電位又高於第二接電電路 # _，因此，電流的流向係由第一接電電路4〇1丄i 及第二接電電路40113流向接地電路4〇12， 地電路4012流向第二接電電路4。112， 一曰 ::°U、第二晶片3。12及第三晶片3013 : =試;…2所示，當與第一接電電路4仙 相連接的獨立電源403,以及與第三接電電路40 獨立電源403係輸出負向電壓’二 卿相連的獨立電請輪出正向電壓 4012， 接電電路40112的電位高於接地電路 ，而接地電路4012的電位又高於第—接電雨 4〇ιιι及第三接電電路4G113 : i结-^ _的流向係 弟-接笔電路40112流向接地電路4 2電路_流向第—接電電路4。⑴及 路_3,以使第—晶片3()1 2電电 -a u 〇niq π 日日片3012及第 —日日片3013可同時被點亮測試。 凊參閱第8圖，為本發明另 路時的使用示意圖，如目Η所示=到短 田短路發生在 14 1311653 第—接電電路4〇 第一猶昧、 ”第一接電電路40 1 1 2間時， 立電源I: ’其與第一接電電路4〇Ul相連接的獨 電路4〇l2，：l出的電流，係通過短路處流向接地 第曰一Λ。:11不會被點亮，第二晶

=二：Γ為有短路的不良品，並可獲得其短 4近弟—接電電路40⑴；如圖8 — 2所示， Μ種=當短路同樣發生在第-接電電路4_ ”弟一接笔電路40112間時，但是，與第— ::〇u"目連接的獨立電源4〇3所輸出的電流，： 、過紐路處流向接地電路4〇12，會使第二晶片3 :會被點亮’第一晶片3011與第三晶片30U仍能 =亮，而可獲知此發光二極體3〇係為有短路的 不良。口，且紐路處係靠近第二接電電路4〇11 2。

如上所述，本發明其據以實施後，係由多組 立電源同時提供發光二極體上複數個晶片所需的電 力，經由控制切換開關，而可對發光二極體 广-的晶 片進行個別點亮測試，及同時點亮的混光測試， 發明確實達到提供一種發光二極體的測試方法及= 置之目的，以增加測試的效率，及測試時的彈性設 定。 唯，以上所述者’僅為本發明之較佳之實施例 而已，並非用以限定本發明實施之範圍；任何熟習 此技藝者’在不脫離本發明之精神與範圍下所作 15 1311653 均等變化與修飾，皆應涵蓋於本發明之專利範圍内。 綜上所述，本發明發光二極體的測試方法及裝 置，可對發光二極體上的晶片進行個別點亮測試， 及同時點亮的混光測試，而具有發明之「新穎性」、 「進步性」與「產業可利用性」等專利要件；因此， 申請人爰依專利法之規定，向 鈞局提起發明專利 之申請。

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Claims (1)

1311653 '申請專利範圍 1.種發光二極體的測試方 體上的-晶片之導通狀態，’二以測試-發光一 下： /、冽試方法的步驟女 第-步驟：插設發光二 的多個電極引腳，依 將该發光二極題

内，以使該發光二極體可與：―:試座上的-插孔 路及一接地電路相導通，· 板上的一接電電 第二步驟：輸入正向或及 獨立電源對該接電電二昼，藉由個別的 該接電電路與該接地電路二：或反向電壓’以使 第-牛踩 間的電位產生變化，· 第二乂驟：發光二極體被點 壓後，該接電電路的兩位合一μ 田輪入正向電 電流由該接雷：局於該接地電路，而使

/； 电路流向該接地電路，當輸入負向電 壓^使該接電電路的電位會低於該接地電路，電 流則由该接地電路流向該接電電路，以達到電流導 通的目的，使該發光二極體的該晶片被點亮進行測 試0 2. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體的測試方 法’其中’該蜊試方法的該第一步驟中，並增加一 頊極性測試，以測試該發光二極體每個接電引腳的 極性。 3. /種發光二極體的測試裝置，以測試一發光二極體 上的一晶片功能是否正常’該測試裝置係包括： 20 1311653 /月y日修(更)正替換買 一電路板，係設有複數組接電電路，及一共用 的接地電路； 一測試座，組設於該電路板上，該測試座係形 成有複數個供插設對應該發光二極體複數個電極 引腳之插孔，並在該插孔内組設有一導電片，以使 該導電片可與該接電電路及該接地電路電性連 接；以及 複數個獨立電源，可與該電路板的該接電端及 該接地端電性連接，以供給該電路正向或負向電 壓，而使該發光二極體上的一晶片被點亮測試。 4.如申請專利範圍第3項所述之發光二極體的測試裝 置，其中，該電路板上並設有一切換開關。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之發光二極體的測試裝 置，其中，該切換開關係為一 Re 1 ay Card。 21 1311653 Ί—、圖式：

101 第1-1圖

第1-2圖 22 1311653 Φ nfK更;λ锋換頁

第1-3圖 23 1311653

第2-1圖

第2-2圖 24 1311653 ----—-， 分年//月7日_正替換頁

第2-3圖

25

第3圖 26 1311653

第4圖 27 1311653

401l

301 第5-1圖

第5-2圖 28 1311653 月y日修(更)正替換頁

302 30113012 3013 303 -- — ---^ 301 第6-1圖

第6-2圖 29 1311653

；j 也替換頁

第6-3圖 30 1311653

4011

4011

第7-2圖 31 1311653 ψ f J mm

第8-1圖

第8-2圖 32