200825439 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 —種對發光二極體進行點亮測1 b< 的方法及裝 置，本發明尤指一種透過多組通電迴路與多個電源 相連接的裝置，利用其通電迴路間的電位差變化， 以進行發光二極體測試的方法及裝置。 【先前技術】 近年來，隨著科技日新月異，發光二極體（Light Emitting D〇1de，LED)的應用也越來越廣泛，舉凡 生活中$見的父通燈號、液晶螢幕所使用的背光模 組，甚至是攜帶用照明裝置等等，而目前發光二極 月豆又刀為單日日發光二極體及多晶發光二極體，目前 市面上有多種多晶發光二極體，如：雙晶雙腳、雙 晶三腳、三晶四腳或三晶六腳等等。 請參閱「第1圖」，為一般三晶四腳發光二極體 的測試示意圖，市面上三晶四腳發光二極體1 0係由 A晶片1〇11、Β晶片1012及C晶片1013等三組晶 片1〇1，及四個電極引腳1〇2所構成，其中，A晶片 1011係分別電連接至第一電極引腳1021及第三電 極引腳1 0 2 3，β晶片1 〇 1 2電連接至第四電極引腳 1 024及第三電極引腳1 0 23，C晶片1〇13則是電連 接至第二電極引腳1 022及第三電極引腳1〇23，進 行測"式日守’係將發光二極體10插設於一測試裝置 5 200825439 20上，其測試裝置20可透過一切換開關2〇ι (或 Relay Card)，控制同一個電源2〇2與連接至不同晶 片101的導通與否，如1〜1圖中所示，藉由切換開 關201的控制，可使第一電極引腳1〇21與第三電極 引腳1023形成導通，其第二電極引腳1〇22及第四 電極引腳1 024則形成開路，因此，僅a晶片ι〇11 被點亮測試；如1-2圖中所示，再度控制切換開關 201的切換，可使第四電極引腳1〇24與第三電極引 腳1 023形成導通，其第一電極引腳1〇21及第二電 極引腳1 0 22則形成開路，僅B晶片1〇12被點亮測 試；如圖卜3所示，再控制切換開關2〇1的切換， 可使第二電極引腳1 022與第三電極引腳1〇23形成 導通，其第一電極引腳1021及第二電極引腳1〇22 則形成開路’僅C晶片1 〇 1 3被點亮測試。 而針對一般三晶六腳發光二極體也是相同的測 試方法，差別僅在其負極引腳有三支，且三支負極 引腳又透過共接的方式相連接，請參閱第2圖，為 身又二晶六腳發光二極體的測試示意圖，如2 -1圖 所示，控制切換開關201後，可使A晶片ι〇11的第 一電極引腳1021與第四電極引腳ι〇24呈導通，並 進行A晶片1 011的點亮測試，如2 —2圖中所系，再 度控制切換開關20 1，可使b晶片1 〇丨2的第二電極 引腳1 022與第四電極引腳ι〇24呈導通，旅進行b 晶片1 0 1 2的點亮測試，如2 —3圖中所示，而再度控 200825439 制切換開關201，可使C晶片1013的第三電極引腳 1 023與弟四電極引腳1 024呈導通，並進行C晶片 1 0 1 3的點党剩試。 、示上所迷’針對以上兩種多晶發光二極體的測 試方法都係利用同一個電源，都必須藉由切換開關 的控制’且每次僅單獨驅動一個晶片進行點亮測 試’其不僅沒有效率，且無法進行晶片同時發亮時 的混色測試。 【發明内容】 有鑑於以往進行發光二極體測試時，因為需要 多次切換’而大幅降低了測試的效率，本發明人爰 精〜研究’並積個人多年從事電子電路設計的經 驗’終设计出—種嶄新的發光二極體的測試方法及 裝置。 本發明之主要目的，旨在提供一種可對發光二 極體上晶片進行個別點亮測試，及同時點亮的混光 測試之發光二極體的測試方法及裝置，以增加測試 的效率。 為達上述目的，本發明發光二極體的測試方法 及裝置，以測試一發光二極體上的一晶片功能是否 正常，測試裝置係包括一電路板、一測試座及複數 個獨立電源’其中之電路板上係設有數組接電電 路，及一接地電路，又，測試座係組設於此電路板 7 200825439 可封接電電路及接地電 座上形成有複數個減亚在測試 之複數個電柽引·., 、、…插设發光二極體 以供與接二:其插孔内係叙設有-導電片， 包卷路及接地電路相連曰 個獨立電源與接電電路相 1取後再將複數 的接地電路、泰 接亚電性連接至共用 向或負向雷茂 电源供給接電電路正
試，並係& ’可使發光二極體上的晶片被點意列 =其係利用-般的電學原理中 〜J 處流向低雷#老 L係由鬲電位 地…電:處由且電位高低的排列由正電幻接 獨立電源：二:本發明所使用的電路中，因為 電電路產生不同的，立次負向…不同，而使接 因此，當 “立，但是接地電路始終不變， 第—+ X明進行測試時，其步驟如下： # -=—步驟··插設發光二極體，由測蜮人》, 先—極體的多摘田列；人貝將發 . 個电極引腳，依序插入測铽成u 内’以使發光二極體可 …上的插 第二步驴.& 的電路相導通； m ^ ^ ^ 輪入正向或反向電壓， 蜀立电源對接電带 ㈢由個別的 接電電路與接地： 正向或反向電壓，以使其 咏—妾地電路間的電位產生變化； 罘二步驟·於τ 壓後，其接電電=:極體被點亮’當輪入正向電 由接電電路心： 高於接地電路，而使電流 接電電路的心_地電路，當輸人負向電壓時，使 路流向接電；：會低於接地電路，電流則由接地電 ’以達到電流導通的目的，使發光 200825439 一極體的晶片被點党進行測試。 综上所述’本發明發光二極體測試方法及裝 置，不但操作及使用都相當簡單，又，搭配一適當 的切換開關後，而可用來切換控制發光二極體上晶 片的個別點焭測試，或是同時點亮的混光測試。 為使貴審查委員能清楚了解本發明之内容，僅 以下列說明搭配圖示，敬請參閱。 【實施方式】 请麥閱第3圖，為本發明測試裝置較佳實施例 的結構示意圖，如圖中所示，本發明係用來測試一 發光二極體3 0上的一晶片3 〇丨功能是否正常，其透 過測試人員以手動方式，或是機器以全自動的方 式，將發光二極體30插設於本發明的測試裝置4〇 上，而此測試裝置40係包括··一電路板4〇1，係設 有複數組接電電路4011，及一共用的接地電路 4 0 1 2，一測試座4 0 2，組設於電路板4 〇丨上，且測 試座402上又形成有複數個插孔4〇21，供插設對應 發光二極體30複數個電極引腳3〇2，並在插孔4〇21 内組6又有一 V電片4022，以使導電片4〇22可與接 電電路4 0 11及接地電路4 〇丨2電性連接，因此，發 光二極體30的電極引腳3〇2可藉由測試座4〇2的導 電片40 22，與接電電路4〇11及接地電路4〇12間呈 導通；以及複數個獨立電源4〇3，與電路板4〇1上 200825439 = = =4GU及接地電路4G12電性連接後，可 體利％ % won 向電壓’而使發光二極 =士上的—晶片301被點亮測試，又，為了增加測 =的便利性，電路板4G1上設有—切換開關4〇4 二：-般常用的Relay Card)，可切換對發光二極 收$上的晶片301，僅需對切換開關4〇4進行一次 :刼:乍，就可進行個別點亮測試，及同時點亮的混 H對測試人員而言，在進行操作時更加方便， 且使用Relay Card作為切換開關4〇4時，可進一步 用來測忒發光二極體30之電極引腳302的極性；本 發明人設計的電路中，當獨立電源、4〇3輸入正向電 ，’可使接電電路4()11成為具有較高電位的正電 端，當輸入的是負向電壓時，其接電電路4011成為 具有較低電位的g雷嫂，& & iL兩t 、、 〕貞迅立而而接地電路4 0 1 2保持始终 不變’再依據電學原理中，電流係由高電位處流向 低電位處，且電位高低的排列係由正電端〉接 電端’使電流的流動方向會改變，但是，卻—樣 可以使毛光—極體3 〇的晶片3 〇丨被點亮測試。， 叫 > 閱第4圖，為本發明測試時的步驟流程圖， 圖中所示根據上述的測試裝置進行測試時，足 步驟如下： 、 第一步驟501 :先插設發光二極體，由測試人員 將發光二極體的多個電極引腳，依序插入測試座上 勺插孔内以使發光二極體的電極引腳可與導電片 10 200825439 >連接，再藉由導^與電路板上 弟二步驟502••輪入正向或…广目導通; 的獨立電源對接電電路輪入 二错由個別 其接電電路盘接地電❸ 向電Μ，以使 >一，、揼地兒路間的電位產生變化； 弟-步驟503 :發光二極體被點亮，當幹 電壓後，J：拉中不* 田輸入正向 、 々接笔笔路的電位高於接地電路， 流由接雷帝物 而使電 电电路▲向接地電路’當輸入負向電 錢電電路的電位會低於接地電路，電流 “ 電路、;奋& & ^ 、1 2 3 4田接地 一一，荽電電路，以達到電流導通的目的
光一極體的晶片被點亮進行測試。 X
一 ^ >閱第5圖，為本發明應用於三晶四腳 一極體測試時的電路示意圖，如目η中所一 X 發明鹿用於又弋 W ’本 ^ ;务光二極體3 0為三晶四腳型式， 具有二έ日曰U 八也就是 、—、、、日日片3 ο 1、三組電極引腳3 〇 2 一 腳303，相對砧社+ Α 接地引 \ 4011及一：也，其電路設計係包含三組接電電路 地電路4012，其中，第—接電電路401^ 係對應第一 ρ μ 4UU1 曰片3011，第二接電電路4〇112參 第二晶片301? μ 對應 ，乐二接電電路40113則對應第三 片dUld，再公a 電爽 别由三組獨立電源403同時輸入正向 11 1 電路4〇111、第二接電電路4〇112, 及弟二接電雷私 2 峻40113的電位高於接地電路4qi9 以使電流由第 ^ ^ ^， 3 昂〜接電電路40111、第二接電敗 40112,及第三 斤/ 路 4 〜镇電電路4 0 11 3流向接地電路4 〇 ] 因此，第一〶u 12 9 5 片3011、弟二晶片3012及第三晶片 200825439 έ同日τ被點焭測試；如圖5 — 2中所示，由二組 H立電源403同時輸入負向電壓，第一接電電路 W^11、第二接電電路40112,及第三接電電路4〇113 的兒位低於接地電路4〇丨2，以使電流反向流動，而 =接地電路4012流向第一接電電路40111、第二接 电私路40112及第三接電電路4〇113，因此，第一 日日片3011、第二晶片3012及第三晶片3013也會同
h被點亮進行測試。 ;’第6圖’為本發明應用於三晶六腳測試 時的電路示咅岡 ，门 ' μ圖，如圖6-1中所示，本發明應用於 散光二極體盏-η _ 為二日日六腳型式，也就是具有三组晶 卜三組電極引腳302及三組接地引腳303,且 :=弓1腳3。3又呈共接狀態，因此，本發明的 电格έ又計可句冬二 路4〇12，复二'、且接電電路40Π及三組接地電 一 、、且接地電路4〇12也呈共接狀態，第 按％電路4 η 1 11 μ 4ηΐ1 係對應第一晶片3011，第二接電 包路 40119技+ 4〇1 n ’、 ％第二晶片3012，第三接電電路 、〗對應第三曰# $ 嗎4n 片3013，再分別由三組獨立電 源403同時輪入正 筮一拉+ 门兒昼，使弟一接電電路40111、 弟一接电電路40119 位高於接地電路： 接電電路40113的電 40111、第—+ “ 〇12，電流便會由第一接電電路 流向接地2=路40112,及第三接電電路40113 3012及第三晶2使第一晶片3011、第二晶片 曰曰3013同時被點亮；如圖6-2中所 12 200825439 不’值是’當三組獨立電源4 〇 3同時輸入負向電壓， 會使第——接電電路40111、第二接電電路40112,及 第二接電電路40113的電位低於接地電路4012，電 抓便會反向流動，而由接地電路4 〇 1 2流向第一接電 電路40111、第二接電電路40112及第三接電電路 40113,其同樣也會使第一晶片3〇 u、第二晶片3〇12 及第二晶片3 0 1 3同時被點亮測試；如圖6 _ 3中所 不，但是本發明使用這樣的電路設計時，有可能因 為衣程中的缺陷或搭接所產生短路，例如：在第一 接1電路40111，與第二接電電路4〇112間產生短 :日寸，如圖中所示，整個電路設計呈並聯的導通狀 悲二因此，電流仍能夠通過第一接電電路40111， ^第二接電電路40112,而使第一晶片3〇11與第二 13 200825439
:路4 0 1 2呈導通，當進行點亮測試時，當與第 =接電電路40111相連接的獨立電源4〇3，二^與 弟二接電電路40U3相連接的獨立電源4〇3係輸出 ^向兔壓，則與第二接電電路40112相連的獨立電 λ、須輪出負向電壓，可使第一接電電路4〇ιιι 及弟二接電電路40113的電位高於接地電路4〇12， 而接地電路4〇12的電位又高於第二接電電路 ^ 2因此，電流的流向係由第一接電電路4〇丨丨j 及f三接電電路40113流向接地電路4〇12，再由接 地弘路4012流向第二接電電路4〇112，以曰 μ Q π 1 1 κ牙》 曰曰 、第二晶片3012及第三晶片3013可同時被 點免測試；如® 7-2所示，當與第-接電電路40111 連接的獨立電源403，以及與第三接電電路4〇1丄3 相連接的獨立電源403係輸出負向電壓，則盥第二 ，電電路40112相連的獨立電源4〇3輪出正向電； 蚪，可使第二接電電路4〇112的電位高於 :;而接地電路的電位又高於第—接電電電： 由第二二接電電路4〇113,因此’電流的流向係 由弟一接笔電路40112流向接地電路4〇12，再由 地電路4012流向第-接電電路4〇111及第三接電♦ 路_3,以使第一晶片3〇11、第二晶片 二晶片3 0 1 3可同時被點亮測試。 士請參閱第8圖，為本發明另一較佳電路遇到短 路時的使用示意圖，如圖8」所示，當短路發生在 14 200825439 =接電電路4G111與第二接電電路⑼⑴間時， 弟干種^〉兄，其與第-接電電路4G1 11相連接的獨 ^源仙所輸出的電流，係通過短路處流向接地 电路4012，使第一晶片3〇11不會被點亮，第二晶 Γ 片3〇1 2與第三晶片3(Η 3仍能狗被點亮，以獲知此 發光二極體3G係為有短路的不良品，並可獲得其短 :處係靠近第-接電電路40111，·如圖"所示， 第：種情況，當短路同樣發生在第-接電電路401 η 與第二接電電路40112間時’但是，與第一接電電 路40111相連接的獨立電源4〇3所輸出的電流，係 通過短路處流向接地電路4012，會使第二晶片3012 不會被點亮’第-晶片3G11與第三晶片3G13仍能 夠被點亮，而可獲知此發光二極體30係為有短路的 不良品，且短路處係靠近第二接電電路40112。
如上所述，本發明其據以實施後，俦由多組獨 立電源同時提供發光二極體上複數個晶片所需的電 力’經由控制切換開關，而可對發光二極體上的晶 片進行個別點亮測試，及同時點亮的混光測試，本 發明確實達到提供-種發光二極體的測試方法及裝 置之目的’以增加測試的效率，及測試時的彈性設 定。 唯’以上所述者’僅為本發明之較佳之實施例 而已’並非用以限定本發明實施之範圍；任何熟習 此技藝者，在不脫離本發明之精神與範圍下所作之 15 200825439 均等變化與修飾，皆應涵蓋於本發明之專利範圍内。 綜上所述，本發明發光二極體的測試方法及裝 置，可對發光二極體上的晶片進行個別點亮測試， 及同時點亮的混光測試，而具有發明之「新穎性」、 「進步性」與「產業可利用性」等專利要件；因此， 申請人爰依專利法之規定，向 鈞局提起發明專利 之申請。 16 200825439 【圖式簡單說明】 第1圖，為一般三晶四腳發光二極體的測試示意圖。 第2圖，為一般三晶六腳發光二極體的測試示意圖。 第3圖，為本發明測試裝置較佳實施例的結構示意 圖。 第4圖，為本發明測試時的步驟流程圖。 第5圖，為本發明應用於三晶四腳發光二極體測試 時的電路不意圖。 第6圖，為本發明應用於三晶六腳測試時的電路示 意圖。 第7圖，為本發明應用於三晶六腳測試時的另一較 佳電路示意圖。 第8圖，為本發明另一較佳電路遇到短路時的使用 示意圖。 【主要元件符號說明】 10 發光二極體 101 晶片 1011 A晶片 1012 B晶片 1013 C晶片 102 電極引.腳 1021 第一電極引腳 1022 第二電極引腳 17 200825439 1023 第三電極引腳 1024 第四電極引腳 20 測試裝置 201 切換開關 202 電源 30 發光二極體 301 晶片 3011 第一晶片 3012 第二晶片 3013 第三晶片 302 電極引腳 303 負極引腳 40 測試裝置 401 電路板 4011 接電電路 40111 第一接電電路 40112 第二接電電路 40113 第三接電電路 4012 接地電路 4013 輔助電路 402 測試座 40 2 1 插孔 40 22 導電片 403 獨立電源 18 200825439 404 切換開關 501 第一步驟 502 第二步驟 503 第三步驟