TWI299244B - Method for fabricating conductive structure of circuit board - Google Patents

Method for fabricating conductive structure of circuit board Download PDF

Info

Publication number
TWI299244B
TWI299244B TW93135811A TW93135811A TWI299244B TW I299244 B TWI299244 B TW I299244B TW 93135811 A TW93135811 A TW 93135811A TW 93135811 A TW93135811 A TW 93135811A TW I299244 B TWI299244 B TW I299244B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
conductive
insulating layer
opening
forming
Prior art date
Application number
TW93135811A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200618698A (en
Inventor
Wen Hung Hu
Original Assignee
Phoenix Prec Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Phoenix Prec Technology Corp filed Critical Phoenix Prec Technology Corp
Priority to TW93135811A priority Critical patent/TWI299244B/zh
Publication of TW200618698A publication Critical patent/TW200618698A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI299244B publication Critical patent/TWI299244B/zh

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Description

1299244 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 :種電路板形成導電結構之製程,尤指—種在電路板 或半導體元件上形成銲墊之製造方法。 【先前技術】 〇電子產品縮小化,已長久以來的發展趨勢,並且以往 早一功能型態的電子產品已無法再滿足消費者的需求,因 而必須結合多種功能的電子產品,如行動電話結合數位相 機^使得行動電話具有數位相機的功能,並可將影像由行 動電話直接傳送’因此使得隨身型的電子產品不再僅有單 一使用功能。而具有多功能的電子產品之所以得結合多種 使用功能,係拜積體電路(integratedcircuit)高度發展之 賜、,使得電子產品可邁人多功能、高性能的研發方向。而 為滿足半^肢封I件咼積集度以及微型化 (Miniaturization)之需求,覆晶接合(Fiipchi卜叩已成為 目前的主要趨勢。 而覆晶接合技術之主要結構係在晶片或半導體封裝件 (semiconductor package)之複數個輸出接點上各形成一連 接用的銲錫凸塊(solder ball),得藉由該錫墊以與外部電路 連接。而在W或半㈣縣件上形成銲錫凸塊的製造方 法,如第8A圖至第8G圖所示之習知方法。 請參閱第8A圖,係在-電路板21上先形成一包含有 電性連接墊211a之線路層211,該電性連接墊2113係為 電路板21提供與1C晶片之銲墊接著用。 18034 5 1299244 請,閱第8B圖,接著該電路板21上形成—如可顯影 硬化之第一絕緣層22 ,並使該第一絕緣層22覆葚雨 接墊211a。 ill·生連 請麥閱第8C圖,然後該第一絕緣層22先作曝光 (exP〇sure)及顯影(devel〇pment)製程,俾以在電性連接墊 211a正上方形成一第一開口 221。 請參閱第8D圖,再於第—絕緣層22上方壓合一第二 絕緣層23;同樣於該第二絕緣層23先作曝光然後口顯夺,一 以在第二絕緣層23上形成第二開口 23], 口% 彻锿一日日 η 略乐開口 221 弟一開口 23 1係同在電性連接墊2〗丨a上方,而可 直通電性連接墊211 a之電性遠接執9 11 λα * ^ 电性運接墊211a的連貫開口 30。 鲕芬閱第8E圖,之後於該連貫開口 3〇内係以 方式形成一銲料層24,而該銲料> ” ^ . 杆計層24係如低熔點之錫材。 ,夢閱第8F圖,接著該録料展? 枚w 按者作科層24作回銲(re_fl〇w)加 无、’使该銲料層24融成半球狀之銲錫凸塊μ,。 請參閱第8G圖,最後移除該第二絕緣層23,使 ’易凸塊24’顯露出來,如此即在半 人、’ 上形成用以連接至外部電路㈣錫凸塊=。之电路板21
=在電性連接墊211aJl形成銲錫凸塊W 先在琶路板21上先壓合用以絕緣之第一絕❹、: 可移除的第二絕緣層23。且該第 2 s 以 層v、/石\ , 4 一 、、’巴、、彖層22及弟二絕緣 …須为別先經過光學曝光顯号彡制 顯影時則必須先妳…a 衣孔的製程。而在曝光 〜乂肩无、、、工過疋位,當第二絕 饭,必須鱼第—έ 、 9 作曝光前之定 …弟、、,巴、.彖層22之弟—開口 221之轴心相對。由 18034 6 1299244 於該第一開口 221及第二開口 231之孔徑皆十分微細,故 位準對位不易,使該第二開口 231不易對準第一開口 221 之轴^因此通常將弟一開口 2 31之孔徑加大成第一開口 221的兩倍,藉以降低對位之困難度。但在實際的對位動 作上仍然十分不易,因而增加製作的困難度。 再者,該第一絕緣層22及第二絕緣層23必須分別各 、、’二_人的曝光顯影以形成開口,使得製程步驟增加,因而 增加製程上的複雜度。並且該第二絕緣層23必須與第一絕 緣層=對位,除了製程增加外,又還有對位困難的問題、。 盥义=參閱第9A圖至第91圖,係為另一習知製造方法, 與刚習知方法不同處在於該第一絕緣層22與第二絕緣層 23之間佈設_導電層25,而藉由該導電層以在第一曰絕 緣層22之第1 口 221内切成導電柱% 絕緣層23之篦-叫 ^ ^ - 24位在莫/ 形成銲料層24,使該銲料層 电柱26頂端。雖在製程上略有不同,但該 與第二絕緣層23必須對位的情況 有别述之各種問題。 ^ 凊茶閱第1〇Α圖至第1〇 習 兩習知方法不同产/一― “方法,其與前述 上並覆蓋電性心“ #、巴,、彖層22形成在電路板21 甩注連接墊21U後, 械研磨作薄化,使 #,,,邑、、表層22上再以機 圖所不,而非雷极蝻μ丸 ^如弟10Β 學顯影形成n 2113之線路層211的部份則以化 第二絕緣層23:;:2⑽蓋,如第】〇C圖所示,·接著以 设|在弟一絕緣層22及保護層2】2上方, 18034 7 1299244 如第10D圖所示;之後於該第二絕緣層23進行開口製程 (opening process),以在該電性連接墊211a正上方之第二 絕緣層23形成開口 23 1,使該電性連接墊211 a顯露在開 口 231中,如第10E圖所示;此後則在該開口 231中形成 一銲料層24,並回銲(re-fl〇w)加熱,使該銲料層24融成 半球狀之銲錫凸塊24’ ,最後移除該第二絕緣層23等, 如第1(XF圖至10H圖所示·。 由於該々非電性連接墊211a之線路層211必須另以保護 層212形成在其上,使該電性連接墊211&與線路層 區隔分㈤,因而增加製程的複雜度。又該保護層212之厚 度約有15 並且凸出於研磨後之第一絕緣層22的表2 上i使其表面不平整,故薄化製程(thin Pm process)易出現 可罪度問題。 請參閱第11A圖至第]〗了冃,& t 1 - f造方、…πΓί 為述習知方法之另 23:=古 第一絕緣層22與第二絕緣層 之間形成有-導電層25’其製造步驟分述如下。 請芩閱第11Α圖,传方 ,^ , 你在一如刖述之電路柘 成電性連接塾211a。 ^板21上先形 請參閱第11B圖,技芏# + μ Λ 口 接者该電路板21上形成一黧一绍 緣層22,並使該第一絕緣 、、 a 土 層22覆盖電性連接墊211a及恭 性連接墊211a。 咬银垩211&及电 請參閱第11C圖, 作薄化(thin out),使該 出來。 忒第一絕緣層22上再以機械研磨 線路層211及電性連接墊2Ua顯露 18034 8 1299244 晴蒼閱弟11D圖,而非雷从 立 生連接墊211 a之線路層21: 伤則以網版印刷或顯影制藉 衣私形成保護層212覆蓋。 睛參閱弟ΠΕ圖,再於兮楚, 主 、、 、々昂一絕緣層22及保護層21: 表面形成一導電層25,使今塞命庶 拉故 便毛層25與電性連接墊211a 钱觸。 晴參閱弟11F圖,再; 丹瓦電層25上方壓合一第二 絕緣層23,同樣於該第一举螓 乐一、、、巴緣層23先作曝光然後顯影, 在第二絕緣層23上形成第二開口 231。 請參閱第11G圖,之德於坌—卩目 之设於弟—開口 231内藉由導電層 而以電鍍方式形成一銲料層24。 請參閱第11Η圖,接英梦jj/v # μ 口接者私除该弟二絕緣層23及未被 毛性連接墊211a所覆蓋的導带展μ # 復·^的¥电層25,使該銲料層24顯露 出來。 。月’閱帛in圖,最後該鲜料層24作回鲜(re·。。—加 熱,使該銲料層24融成半球狀之銲錫凸塊24,,如此即 在電路板21上形成用以連接至外部電路的焊錫凸塊从。 上述之習知製法,同樣係在第—絕緣層2 2形成後再經 =械研磨薄化’使電性連接墊211a及電性連接塾2山 =路出來’再於電性連接塾211a表面形成保護層2i2,使 得製程的複雜度增加’而降低產量’故增加製造成本。又 j保護層212凸出於研磨後之第一絕緣層22的表面上,使 知表面不平整,易出現可靠度問題。。 由方、白知之第一、第二絕緣層22、23必須先後經過曝 光顯影及蝕刻製孔,使得製程困難度增加,並且該第二絕 18034 9 1299244 緣f 23必須與第-絕緣層22作對位,除了製程增 又還有對位困難的問題。 ㈢ ’ 【發明内容】 鑑於前述習知技術之缺失,本發明之主要目 供一種電路板形成導電結構之製程得簡化製程。’、提 接本發明之次一目的,係在提供—種電路板形成導^ 構之製程得提高生產速度。 V电〜 2發明之又-目的,係在提供—種電路㈣ 構之製程得免除雙重對位之困難度。 电、、'。 =發明之再—目的’係在提供—種電路板形 構之製程得降低生產成本。 、电、、、口 括上述及其它目的’本發明較佳之實施步驟係包 上形=接墊的電路板’且 移除部分:苐絕= ^ 絕緣# JLW… 路出來;於該第- 電緣層’並覆蓋該導電柱;位於該導 二=第二絕緣層作開口製程,以在該導電柱上* 兮門ΰ内開口’使該導電柱顯露在開口内;於 該第二絕緣層。曰,柄枓層作加熱回銲;以及移除 如習連接塾係先形成加高的導電枉,如此即可免除 問^法必須另外形成保護層造成表面不平整之可靠度 又該第—絕緣層形成在電路板上後先經過移除部份該 18034 10 1299244 第一絕緣層之製程,使該逡恭 緣層上形成第二絕緣層f之:主頁路出來’再於該第-絕 電路板之導電柱可顯露出接進仃開口製程,使該 -人開口的製程’因而得簡化製造程序。 人對位及一 再者,由於免除二次對 困難度,而可簡化程序。、 此即可避免重疊對位的 又僅需-次開口製程,而可 徑之缺失。 克除—_人開口必須放大孔 【實施方式】 ^係藉由特定的具體實施例說 式,熟習此技藝之人士可由 :月之貝施方 瞭解本發明之其他優點與 二曰所揭不之内容輕易地 的具體實施例加以施行或應^,2明亦可藉由其他不同 可基於不同觀點與應用^ ^ 4明書中的各項細節亦 種修飾與變更。〜 不体離本發明之精神下進行各 非:下h Μ例係進—步詳細說明本發明之觀點 非以任何觀點限制本發明之範噚。 月之减2,但並 [第一實施例] 了 "月參閱第1A圖至第 路板形成導電社θ,糸為本發明所揭露一種電 :、、、D構之製程的剖面示意圖。 乐1A圖所示,首先提供—恭 11先形成一導電層11〇,而^反U,於該電路板 電高分子等材料。 ^,¾•層110係如銅(Cu)或導 再於該導電層11G上再形 ★ 成弟一阻層111,該第一 38034 11 1299244 阻層111係可選自乾膜或液態光阻之其中一者, — 阻層⑴上形成開口 llla,而在該開口 llla 線 112及電性連接墊112a。 战、果路層 接著於該電路u上形成—第二阻層113,該 層⑴係可選自乾膜或液態光阻之其中一者,並 路層112及電性連接墊112a,接著於該電性連接塾^ 上方的第二阻層113形成開口⑴a,而形成該開口收 之方法可為顯影開孔或雷射開孔。 如第1B圖所示,於該第二阻層113之開口 内形 成導電柱12,而該導電柱12係如鉛、錫、銀、銅、鉍、乂 ,、鋅、鎳、錯、鎂、銦、碲、金或鎵等元素,或其混合 物所構成的合金材質。 如第1C圖所示,然後移除第一阻層ιη、第二阻層 及非被私I·生連接墊112a及線路層112所覆蓋的導電層 110 〇 如f 1D圖所示,於該電路板11上形成-第-絕緣層 ^ ’該第-絕緣層13係如防銲層(soldermask),而該第一 巴、彖層13並覆盍該導電層11〇及電性連接墊I〗〕。 言如第1E圖所示,移除部分該該第一絕緣層13,使該 ¥電=2顯露出來。其中’移除部分該該第—絕緣層13 係可藉薄化製程(thin _ pn)cess)完成,而該薄化製程係如 機械研磨或電漿(eleetHeplasma)移除,以將高於該導電柱 頁面的第纟巴緣層13部份移除,俾使導電柱12頂面顯 露出來。 12 18034 1299244 如第IF圖所示,於該第一絕緣層13上以壓合 (lamination)、塗佈^也叩丨及印刷⑦血如幻等方法形成一 第二絕緣層14,而該第二絕緣層14係可為感光材料(ph〇t〇 image material)如乾膜,或可為非感光材料(n〇n寸h〇t〇 image material)如PET塑膠或藍帶(bluetape)等,或如不 沾錫物質之鈦、鉑或鈦鉑合金等。然後在該導電柱12正上 方之第二絕緣層14作開口製程(openingpr〇cess),以在該 導電柱12上方之第二絕緣層14形成一開口 141,使該導 電柱12顯露在開口 141内。 如第1G圖所示,之後於該開口 141内以係如印刷方 式形成一銲料層15,而該銲料層15可選自鉛、錫、銀、 銅、絲、錄、鋅、鎳、錯、鎂、銦、碲、金以及蘇等元素, 或其混合物所構成的合金材質。 如第1H圖所示,然後該銲料層15作加熱回銲
Onflow),使該銲料層15軟化並藉由表面張力(阳^%£ tension)以及0聚力(c〇hesi〇n)而形成半球狀的鲜锡凸塊 15’ 〇 如第II圖所示,最後以化學剝離(chemicais吻 或物理剝離(physics stripping)移除該第二絕緣層Μ ^ =電,η之電性連接墊仙上形成半雜轉 凸塊15。该弟一絕緣層13與第二絕緣層14 種稿材質,第一絕緣層13係具防銲特性之防銲層: ㈣一絕緣層u為感光材料之乾膜,則以化學顯影 一絶緣層Η;若該第二絕緣層14為非感光材料之阳塑 18034 13 1299244 知或監帶1可以物理方式將ρΕτ塑膠或藍帶直接撕下。 由方。玄電性連接塾112a係先形成加高的導電柱12, 錢經過薄化顯露導電柱12的製程後,該電性連接塾ιΐ2 刀被埋在第—絕緣層13内,.而不會顯露出來,如此即可 免除如習知料必須另外形隸制造絲 產性不佳的缺失。 卜卞正ι生 ”又該第-絕緣層13形成在電路板11±後先經過上述 之涛化製程’使該導電柱12顯露出來後,再於該第一絕緣 層13表面形成第二絕緣層14,之後即直接進行開口制浐, 如二可免除習知方法之二次對位及二次開口的製二 而待簡化製造程序,以加快生產速度。 再者,由於免除二次對位,如此即可避免重疊對位的 困難度,而可簡化程序以降低製造成本。 又僅需一次開口製程,而可免除二次開口必須放 徑之問題。 [弟一貫施例] 凊苓閱第2 Α圖至第2F圖,係為本發明另一實施萝法 的剖面示意圖,與前一實施例不同處在於顯露該導電 頂面之薄化製程,係以雷射開口(laser)、電漿 plasma)或化學蝕刻(chemical etching)移除位在導電柱d =圍部份的第-絕緣層13,使該導電柱12頂面得顯露出 來,並且可深入至電性連接墊112a的部份,而形成一開口 141,如第2A圖所示,此後於該導電柱12上形成銲錫 塊15之製程即如第一實施例所述,於此不再贅述。 18034 14 1299244 [第三實施例] 请麥閱第3A圖至第3B圖,係為本發明另一實施製法 的剖面示意圖,與前-實施例不同處在於該第—絕緣層13 僅有-層4版盍在導電柱12頂面’或是導電柱12頂面僅 ^部份面積沾有毛邊,如第3A圖所示,得以化學(ehemical) 清除或電漿(electric piasma)清除等方式 頂面的毛邊或薄膜,如此即可顯露導電柱二圖 所二’之後於該導電柱12上形成銲錫凸塊15,之製程即 如第一實施例所述,於此不再贅述。 Φ .
[第四實施例] …請參閱第4A圖至第411圖,係為本發明之另種電路板 形成導電結構之製程的剖面示意圖’與前述實施例不同處 在於該第一絕緣層13與第二絕緣層14之間形成一導電 層’藉由該導電層以在第二絕緣層14之開口⑷内形^鲜 料層15,詳細步驟分述如下。 如第4Α圖所示,首先提供一已形成有電性連接塾_ 的電路板丨卜於該電性連接墊112 a上形成_導電枝Η。 而在電路板11上形成電性連接墊112a及導電柱12之方 法,如第一實施例所述,於此不再贅述。 如第4B圖所示,接著於該電路板u上形成一第一p 緣層13。 < —如第4C圖所示,移除部分該第一絕緣層13表面,係 可藉機械研磨或電漿(electric plasma)移除等作薄化製程,” 使該導電柱12頂面顯露出來。 18034 15 1299244 恭如第4D圖所示,之後該第'絕緣 电層I6’使該導電層16與導電柱12遠曰上形成另一導 係如銅金屬或導電高分子等材料。 。而該導電層16 4E圖所示,於該導電層16上— 扣曰14。且在該第二絕緣層u作開口製/成;;第二絕 才主12上方之第-έ?7 έ矣 王以在该導| 12tS 巴緣層14形成—開口 14〗,佶兮、曾 2頂面之導電層16顯露在開口⑷内。使该¥電才主 如第4F圖所示,然後於該開口 作為電錢電極,而可在導電層16上 2由導電層Μ 如第4G圖所示,之後以化:、干料層15。 導電層16。 私除邊乐二絕緣層Μ所覆蓋之 如弟4H圖所示,最德兮名曰极 銲料屌η私, μ、干枓層15作加熱回銲,使兮 形成半球狀的銲錫凸塊15,,如此即; 在電路板11上形成用以連接外 此即可 [第五實施例] 接卜路的銲錫凸塊15’ 。 1=閱Ϊ5Α圖至? %圖,係為上述實施製法的另-。$思圖’與Μ —實施例不同處在於顯露該導電柱 m化製程’係以雷射開口 Uaser)或化學钮刻 ⑽enncal etching)僅移除位在導電杈} 2頂面的第_絕緣層 二’使該導電柱12頂面得顯露出來而形成一開口⑶,如 弟5A圖所示’之後於其上形成前述之導電層16及第二絕 、彖層14 ’如f 5B圖及帛5C圖所示,此後於該導電柱u 上形成銲錫凸塊15’之製程即如第四實施例所述,於此不 18034 1299244 再贅述。 [第六實施例] 、請參閱« 6A圖至» 6C圖,係為上述以雷射開口⑽㈣ 或化學蝕刻(chemical etching)移除位在導電 一絕緣層13實施製法的另-實施剖面示意圖,與 例不同處在於該開口 131係深入至電性連接t ιΐ2&的部 份’使該導電柱12頂面及周圍完全顯露出來,如第6a圖 所示二於其上再形成導電層16及第二絕緣層14,如第6B 圖及第圖所示,之後於該導電柱12上形成銲錫凸塊 15 如第四實施例之製程,於此不再贅述。 [第七實施例] '請參閱第7A圖至第7D圖,係為本發明另一實施之製 法剖面示意圖,與前一實施例不同處在於該導電柱I〕僅= 部份面積沾有毛邊,如第7A圖所示,因此得以化學 (^micaD清除或電漿(心心plasma)清除等方式移除該 導,柱12的毛邊或薄膜,如此即可顯露導電柱12的頂面, 如第7B&圖所示,於其上再形成導電層“及第二絕緣層 W,如第7C圖及第7D圖所示,之後於該導電柱上形 成銲錫凸塊15,如第四實施例之製程,於此不再贅述。》 a由上述之各實施方式,係在電性連接墊112a上先形成 加局的導電柱12,如此即可免除習知製程之第一絕緣層上 ,線路層必須另外形成保護層’造成表面不平整及增力曰口製 私=複竑性。之後再形成第一絕緣層13,此後再於其上形 成第二絕緣層14(或導電層16與第二絕緣層14),而在第y 17 18034 1299244 -絶緣層14髮作開σ製程僅需製作—次,而可免 位的困難度。 1 、1所述’以上僅為本發明之較佳實施例而已,並非 限:本發明之實質技術内容範圍,本發明之實質技術 廣義地定義於下述之申請專利範圍中,任何他人完 土〆 右疋與下逑之申請專利範圍所定義 者係元全相同,亦或為同一箄 . J 寺效、交更,均將被視為涵蓋於 此申請專利範圍中。 、 【圖式簡單說明】 第1A至11圖係為本發明之電路板形成導電結構之f 程的第一實施製法剖面示意圖; 、 2A—至2F圖係為本發明之電路板形成導電結义 程的弟一貫施製法剖面示意圖; 。至3B圖係為本發明之電路板形成導電結構之製 私的第二實施製法剖面示意圖; 、 第4A至4HU係為本發明之電路板形成導電結構之制 程的第四實施製法剖面示意圖; 衣 第5A至5C圖係為本發明之電路板形成導電結 程的第五實施製法剖面示意圖; 衣 第0A至0C圖係為本發明之電路板形成導電結 程的第六實施製法剖面示意圖; 衣 第7A至7D圖係為本發明之電路板形成導電結 程的第七實施製法剖面示意圖; 、。 衣 第8A至8G圖係為習知電路板形成導電結構之製程刊 18034 18 1299244 面示意圖; 第9A至91圖係為另一習知電路板形成導電結構之製 程剖面示意圖; 第10A至10H圖係為又一習知電路板形成導電結構之 製程剖面示意圖;以及 第11A至111圖係為再一習知電路板形成導電結構之 製程剖面示意圖。 【主要元件符號說明】 11、21 電路板 110 、 16 、25 導電層 111a、113a 、m、14 卜 231 開口 111 第一阻層 112 、 211 線路層 112a、211a 電性連接墊 113 第二阻層 12 ^ 26 導電柱 13、22 第一絕緣層 14、23 第二絕緣層 15、24 銲料層 15, 銲錫凸塊 212 保護層 221 第一開口 231 第二開口 24, 銲錫凸塊 30 連貫開口 19 18034

Claims (1)

1299244 第93135811號專利申請案 (96年1〇月29日) 十、申請專利範園·· h 一種,路板形成導電結構之製程,包括·〗ν、』 提供一形成有電性連接墊的 ** 接墊上形成一導電柱; a路板’且該tW 於該電路板上形成一第一絕緣層; 第”刀:弟一絕緣層,使該導電柱顯露出來; 導電=:7緣層上形成-導電層,使該導電層與 層;;λ ‘電層上形成—係為感材料之第二絕緣 顯電性連接塾正上方之第二絕緣層以曝光及 、、办订幵口製程’以在相對於該電性連接塾及導電 柱上方之第二絕緣層形成一開口,使該導電柱上之導 電層顯露在該開口内; 於該開口内電鍍形成一銲料層; 移除該第二絕緣層及該第二絕緣層所覆蓋之導電 層;以及 ' 加熱回銲該銲料層。 。申-月專利範圍帛1項之製程,其中,該電路板形成 電性連接塾及於該f性連接墊上形成—導電柱之方 法,係包括: 在電路板先形成一導電層; 於該導電層上再形成一第一阻層; 該第一阻層上形成開口; 18034(修正本) 20 1299244 於該開口内形成電性連接墊; 於該電路板上形成一第, 弟93135811號專利申請案 接墊; 阻層’並且覆蓋電性連 3· 4. 5. 6. 相對於該電性連接塾上方的第二阻層上Μ , :該f二阻層之開口内形成導電柱;以及 之導::弟一阻層、第二阻層及非電性連接墊所覆蓋 如申請專利範圍第1或2項之製程,其中,該導電柱 =為::錫、銀:銅、錢、錄、辞、錄、錯、鎮、銦 金、叙及其混合物之其中一者。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該第-及第-阻層係選自乾膜或液態光阻之其中一者。 乐-如申請專利範圍第!或2項之製程,其中,該 係為銅及導電高分子之其中一者。 曰 如申請專利範圍第1或2項之製程 該第一絕緣層係藉由薄化製程完成 :機械研磨及電聚移除之其中一者,…料電扫 頂面的第-絕緣層部份移除,使導電柱頂面顯露出來 專利範圍第1或2項之製程,纟中,移除部分· 、、、巴緣層係藉由雷射開口、電漿移除及化學姓刻之 ^者,移除位在導電柱頂面部份的第一絕緣層,使 ¥電检頂面顯露出來。 如申請專利範圍第!或2項之製程,其中,移除部《 18034(修正; 其中,移除部分 而該薄化製程係 將高於該導電柱 21 • 1299244 9· 10. 11. 12. 13. 14. 15. 第93135811號專利申請案 "亥第一絕緣層係藉由雷射開口、電漿移除及化學蝕刻 之其中一者,移除位在導電柱頂面及周圍的第一絕緣 層’使該導電柱頂面及周圍顯露出來。 如申請專利範圍第1或2項之製程,其中,移除部分 該第一絕緣層係藉由化學清除及電漿清除等方式之其 中者私除該$電柱頂面的毛邊或薄膜,使該導電 柱頂面顯露出來。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該第二絕緣層 係以壓合(lamination)、塗佈(c〇ating)及印刷(printing) 其中之一方式形成在該第一絕緣層上。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該第一絕緣層 係可為防銲層。 如申睛專利範圍第1項之製程,其中,該感光材料係 包括乾膜層(dry film)。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該銲料層係以 電鍍(plating)形成在該開口内。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該第二絕緣層 係以化學剝離(chemical stripping)及物理剝離(physics stripping)其中之一者。 如申請專利範圍第1項之製程,其中,該銲料層係為 鉛、錫、銀、銅、鉍、銻、鋅、鎳、锆、鎂、銦、碲、 金、録及其混合物之其中一者。 22 18034(修正本)
TW93135811A 2004-11-22 2004-11-22 Method for fabricating conductive structure of circuit board TWI299244B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW93135811A TWI299244B (en) 2004-11-22 2004-11-22 Method for fabricating conductive structure of circuit board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW93135811A TWI299244B (en) 2004-11-22 2004-11-22 Method for fabricating conductive structure of circuit board

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200618698A TW200618698A (en) 2006-06-01
TWI299244B true TWI299244B (en) 2008-07-21

Family

ID=45069631

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW93135811A TWI299244B (en) 2004-11-22 2004-11-22 Method for fabricating conductive structure of circuit board

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI299244B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9801288B2 (en) 2014-05-01 2017-10-24 Tong Hsing Electronic Industries, Ltd. Multilayer circuit board and method for manufacturing the same

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI763042B (zh) * 2020-09-17 2022-05-01 佳勝科技股份有限公司 製造電路板結構的方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9801288B2 (en) 2014-05-01 2017-10-24 Tong Hsing Electronic Industries, Ltd. Multilayer circuit board and method for manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
TW200618698A (en) 2006-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI261329B (en) Conductive bump structure of circuit board and method for fabricating the same
CN103295986B (zh) 形成用于堆叠封装件的连接件的机构
TWI302426B (en) Conducting bump structure of circuit board and method for fabricating the same
TWI253697B (en) Method for fabricating a flip chip package
TWI292684B (en) Method for fabricating circuit board with conductive structure
CN103915413B (zh) 层叠封装接合结构
TWI260060B (en) Chip electrical connection structure and fabrication method thereof
US8101864B2 (en) Electronic device substrate and its fabrication method, and electronic device and its fabrication method
US6852621B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method therefor, circuit board, and electronic equipment
TWI287805B (en) Composite conductive film and semiconductor package using such film
TW200937605A (en) Semiconductor package including through-hole electrode and light-transmitting substrate
TW200524101A (en) Electronic device and process for manufacturing same
TW200830502A (en) Structure of super thin chip scale package and method of the same
TW201025520A (en) Flexible and stackable semiconductor die packages, systems using the same, and methods of making the same
TW200537582A (en) Method for mounting semiconductor device, as well as circuit board, photoelectric device, and electronic device
TW200425245A (en) Semiconductor device and method of manufacturing same
TW200908306A (en) Image sensor package and fabrication method thereof
TWI637467B (zh) 中介基材及其製作方法
TW200913216A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
TW200820385A (en) Semiconductor device and method for making the same
TWI234261B (en) Method of forming wafer backside interconnects
TW200818358A (en) Manufacturing method of semiconductor device
CN105264656A (zh) 搭载二次电池的电路芯片及其制造方法
TWI264253B (en) Method for fabricating conductive connection structure of circuit board
TWI299244B (en) Method for fabricating conductive structure of circuit board

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees