TWI292630B - Light emitting device covered with reflective structure and method of making the same - Google Patents

Light emitting device covered with reflective structure and method of making the same Download PDF

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TWI292630B TW093132241A TW93132241A TWI292630B TW I292630 B TWI292630 B TW I292630B TW 093132241 A TW093132241 A TW 093132241A TW 93132241 A TW93132241 A TW 93132241A TW I292630 B TWI292630 B TW I292630B
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Description

Ϊ292630 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 ,本發明與—種發光裝置有關,制是有關於—種具反射層包 復的發光二極體裝置。 【先前技術】 首务光二極體(light emitting diode; LED)是一種可發光的半 ^體光電元件’其構造如第1圖所示。該發光二極體1〇,係包含 ^板11,-第-半導體層12’(N型半導體層)形成於該基 主、酋之表面上,一主動層13,以及一第二半導體層14,(P型 體層)依序堆疊於該第一半導體層12,之上。盆發光原理 =利用電子與制在P-N介面結合的過程中,以光的形式J出能 =放出足夠的光子’以達顺明效果。由於發光二極體體積小、 巧輕^發光效率高、製造成本低,因此,目前已翻來製作顯 =、父通號諸以及光纖通訊的光源。但是目前發光二極體的 出,率卻紐術仍須突破的瓶頸,乃因經由載體結合所發出的 =,成輻射狀散射,並不會規則地全往光取出方向發射, j發光二極體元件亮度無法達到翻之效果,並且也因光 射產生了過多的熱能。 鑒於以上之概念,為克服光取出效率低的缺點, 些文獻揭露出LED的改良技術,然而這些技術都各具有' , !^,J ^ Patent ^155^99 ☆為MUler f ’揭露—種高折射率與低折射率材 = 複數週期 distributed Bragg reflector(DBR)結構,作為 TFn 反射層,用以增進發光二極體的光取出效率。 ,、、、仙之 另-實施例係中觀㈣541,728號專利揭示 晶片發光二極體的台面壁上形成一高反射性介電 片 介電質堆疊係由交錯的低折射率I及高折射率層 ^ 堆疊會反射料二極體晶片内人射於有塗層之台面壁之 一大部分,而改變其方向,故可降低穿透台面壁的光損耗Y本項 1292630 一先知耗$見象仍$會在其他側表面上發生,再者高反射 =電質堆疊只能使用在具特定傾斜範圍之 使用-般微影製程加工,製程上所耗之成本極大。μ隹且乃 具有國以= 專利所揭示之-種 線,升發光之效果===== 二極體光取出效益之改善仍屬有=民先‘ 射金屬層之高效率發光二極體結構,並發展二-種 出的光,是對卿u層亦無法反射經由發光二極體側面透 益之改善仍屬有限。 光學及射晅沾am fcK 1之反先、、、σ構可知,不論是以DBR或是 上述所提及之:祕/+自只能反射部分或是特定波長的光線;而且 須ί :繁翻微景_魏程,所以, r構製程的忿構:合失產=新Τί之善需光,回收效率與簡化反 【發明内容】 而衣 本發明係提出-種麟—發光裝置的 , -反光層於該發光裝置,其包含下列步驟 根據上述影目# t ’更化柯塑層;以及移除該模仁。 與雷射晶片。心Ή發絲置係為-發光二極體晶片(Die) 與雷ίίΐ述構想,其中該發光裝置係為複數個發光二極體晶片 根據上述構想,其中該發絲置係為晶圓級(wafer-level)之 1292630 發光二極體與雷射晶片。 根據上述構想,其所形成之該發光 式構裝(wire-bonding)、覆晶式構裝(f x. 構衣結構可為打線 (waier-level packaging)之結構其^之Chlp)與晶圓級構裝 根據上述構想,其中該模仁為一且 選自於金、銀、銅、鐵、錫、銘、鈦、鍵有ζ熱,之材質,其係 辞、石夕、藍寳石、陶t以及高分子Hi鉻、錯、鎵、錯、鎳、 :上其,可塑層係為—具有塑性 貝之材科,其材質係選自於貝生 (P〇lydimethylsiloxane,PDMS )、聚 ' ;:$ 冗氧垸 (Polymethy卜methacrylate,醜)、‘气西: $ ,(;tr"hane elasWs)' 乙_貝、氣乙烯類、氨酯類、酯類以及有機氟類其中之一。、 分法根Si構想’其中該塗佈該可塑層與該反光層之係使用旋 主法、"ι4貝法、射出成形法與壓膜法其中之一。 =上述構想,其中該軟化該可塑層係使用加 與添加塑化劑法其中之一。 以 根據上述構想,其中該硬化該可塑層係使用降溫法、曝光法 人添加硬化劑法其中之一。 根據上述構想,其中更包含去除該反光層之一部份。 根,上述構想,其中該去除該反光層之該部分係使用微影蝕 =二、軟微影蝕刻法、壓印法、雷射加工法、離子束加工法與微 刀削加工法其中之一。 本發明更提出一種發光裝置,其係包含:一基板;一第一半 俨^層,其係形成於該基板上,且包含一第一電極;一第二半導 ,其係形成於該第一半導體層上,且包含一第二電極;一主 其^ ^其係位在該第一與該第二半導體層之間;以及一反光層, ς糸形成於該基板、該第一半導體層、該第二半導體層與該主動 曰之侧邊與上邊之外表面上。 1292630 根據上述構想,其中該 結構與單一材科所形成之結"構其㈢之結構係為複合材料所形成之 根據上述構想,其中、二又之~。 反光材料。 稷合材料至少包含-非導電材料與- 根據上述構想,其中兮置 料。 早一材料係為一非導電性質之反光材 根據上述構想,其中該反 基板、該第一半導體p、k ^、具有一黏著性材料而與該 著。 ^辦遠主動層與該第二半導體層之外表面黏 根據上述構想,本發明之發 根據上述構想,其中該反包卜構裝結構。 【實施方式】 千名反切係為該魏結構之-部份。 光声具反光層之發光裝置之製作方絲—且有反 尤層=構之,先裝置,本發明搭配圖示說明如下:…、有反 發光』置:弟包明之:具,面的反光層結構之 板10之上;·4ϋ η基ϋ,—半導體層丨2,位在該基 二丰導雜爲m動層13,位在该弟一半導體層12之上以及一第 ^體每14 ’位在該主動層13之上;中久古女筮—μ 一 體層12與14上分&丨jl古皆伽户—二、 〜第一與弟二半導 美杯11、铱ΐ 具有一與弟二電極15與16,而且上述之 \弟一半導體層12、主動層13以及第二半導體層14之奸 面係由—反光層結構21所包覆。其中該反光層結ί 更匕έ 一黏著材料層21a與一反光材料層2ib。 曰 其中該反光材料層21b與該黏著材料層2la所相q 中之一。其中該反光層結構係具有非導電性 凊參閱第3圖(a)到(g)所示,本發明之另一目的#氧接 f用於發光裝置的製造方法,其主要特徵在於形成-反光層^構 21於該發光裝置10,該方法包含下列步驟:提供一模仁31= ^第 1292630 3圖(a)所示;塗佈一可塑層32於該模仁31之上,如第3圖(b) 所示;塗佈一反光層結構21於該可塑層32之上,如第3圖(c)所 示;軟化該可塑層32,如第3圖(d)所示;提供一發光裝置, 如第3圖(e)所示;將該模仁31以及其上之可塑層32與反光厣鈐 構21壓印於該發光裝置10上,使得該模仁31上之該^光層 21因可塑層32軟化後產生形變而能包覆於該發光裝置1〇之外表 上,如第3圖(f)所示;以及待該可塑層32硬化後,移除該槿二 31 ’如第3圖(g)所示。 、 在上述之步驟中,其中第3圖(e)所提及的發光裝置1〇 指一發光二極體晶片(Die)、雷射晶片、複數個發光二極體晶片 晶圓級(wafer-level)之發光二極體其中之一。而且該發光裝3 之構裝結構可為打線式構裝(wire—b〇nding)、 ^ aiip-chip)^0ηθ®(wafer-level packaging) ...如第3圖(a)到(f)之步驟所示之模仁31,其係為一呈古 導熱性質之材料,其係含有金、銀、銅、鐵、錫、心、欽、^ =鍺、鎵、錯、錄、鋅、石夕、藍寶石、陶变、高分子及 其中之一。如第3圖(a)至,J⑴之步驟所示之可塑^^,、盆: ,-具有塑性性質與彈性性質之㈣,其材質係^2 氧烷(Polydimethylsiloxane’PDMS )、聚甲其石^一 土夕 (Polymethy 1-methacrylate ,ΡΜΜΑ )、聚 $ 西匕酉夂甲酉曰 (Polyurethane elastomers) ^ ^ mm > f f第=員、、氨醋類、醋類、有機氟類及其組合^二, 與該反光躲構21之步_為㈣法、^塑層32 膜法以及其組合其中之一。如第3圖⑷法、厪 化該可塑層32之步驟係偏加熱法、曝光法、、f中該軟 其組合其巾之-。而該硬倾可麵32之 ^制法或及 光法、添加硬化劑法或及其組合其中之_。~ '、㈣降溫法、 1292630 請參照第3 ffl (h),上述之本發明所提供之一種用於發光裝 置的製造方法’其更包含-去除該反光層結構21之―部份 驟,以配合發光裝置10之外部結構(如第3圖⑸所示)。其中該 去除該反光層之該部分之步驟,係可於該反光層結構21壓印到該 發光裝置之刚(如=3 11(e)所示)進行,亦可於該反光躲印至該 ,反光層之後(如第3圖(g)所示)進行。其中該去除該反光層結構 21之該部分係使用微影姓刻法、軟微影飯刻法、壓印法、雷射加 工法、離子束加工法、微切削加工法或及其組合其中之一。 請參照第4圖,本發明之係為利用上述之步驟,完成一 3層結,萝21之發置1 士〇。該方法之主要特徵在於該反光層結 之匕復,可配光裝置10之外表形狀,將該反光層結構 21貼合於該發光裝置10之外表面之任意位置。 、 基=本U之應用’上述之各貫施例係為本發明之舉例說明 之 ίϊΖ Ϊ能以本發明之實施範圍;任何熟悉本領域之技 ^仕,在不脫離本發明之精神範_,都可以任意更動或潤飾 之發絲置之結敝合與其製造過程之方法崎到較佳 不脫離本發明之所涵蓋之專利保護範圍。 為了參考本案之實施例後能對本發明有較佳的妹夫昭 ,其中相同的树符號代表相同之部分或元ϊ, =1圖顯不一傳統發光二極體堆疊結構示意圖; 、 | 2圖顯示本發明之-具反光層之發絲置之示 之圖,明本發明之具反光層結構之發;裝置 【主第要==1讓魏:簡4虹之示意圖。 γ,10發光二極體 12,12第一半導體層 14,14第二半導體層 11 ,11基板 13 13主動層 15第一電極 10 1292630 16第二電極 21a黏著材料層 31模仁 41熱源 21反光層結構 21b反光材料層 32塑性層 42雷射光源
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Claims (1)

1292630 十、申請專利範圍: L古,用於—發絲置的製造方法,其包含形成—反光層於該發 先裝置,其包含下列步驟; 提供一模仁; 塗佈一可塑層於該模仁之上; 塗佈一反光層於該可塑層之上; 軟化該可塑層; 將該模仁壓印_發絲置上,使賊仁上之該反光層因 可J層形變而包覆於該發光裝置之外表上,· 硬化該可塑層;
移除該模仁。 ’其中該發光裝置係為一發光二 ’其中該發光裝置係為複數個發 2·如申請專利範圍第1項之方法 極體晶片(Die)與雷射晶片。 3.如申請專利範圍第1項之方法 光二極體晶片與雷射晶片。 4·,申凊專利範圍第1項之方法,其中該發光裝置係為晶圓級 (wafer - level)之發光二極體與雷射晶片。
5· ^申印專利顧帛1項之方法,形成之該發光裝置之構裝 、,構可為打線式構裝(wire-bQnding)、覆晶式構裝(flip_chip) 與晶圓級構裝(wafer-level packaging)之結構並中之一。 6·如申=專利範圍第1項之方法,其中該模仁為一具有導熱性質 之材貝其係含有於金、銀、銅、鐵、錫、|呂、欽、皱、絡、 鍺、鎵、m、鋅、;5夕、藍寶石、喊以及高分子與其任意 組合其中之一。 w、 ^ •如申請專利範圍第1之方法,其中該可塑層係為一具有塑性性 質與彈性性質之材料,其材質係含有聚二甲基矽氧烷 (Polydimeiihylsiloxane,PDMS)、聚曱基丙浠酸甲酯 (Polymethy卜methacrylate,PMMA)、聚氨酯彈性體 (Polyurethane elastomers)、苯乙烯類、稀经類、雙烯類、 12
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