TWI269876B - Far field source emulator for antenna calibration - Google Patents

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TWI269876B
TWI269876B TW091119354A TW91119354A TWI269876B TW I269876 B TWI269876 B TW I269876B TW 091119354 A TW091119354 A TW 091119354A TW 91119354 A TW91119354 A TW 91119354A TW I269876 B TWI269876 B TW I269876B
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Delmar L Barker
Harry A Schmitt
David J Knapp
Dennis C Braunreiter
Alphonso A Samuel
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Raytheon Co
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Description

A7 1269876 ___ B7 五、發明說明(I ) 〔發明之技術領域〕 本發明係關於多通道雷達天線及其相關軟體之校準, 並特別關於如何校準飛行中之飛彈的天線與軟體。 〔先前技術〕 使用雷達作爲導引系統部分的飛彈在飛彈的天線窠後 方的鼻部通常含有一雷達天線。天線罩包括一個由雷達無 法穿透的材料(通常爲金屬)所作成的圓錐帽。雷達天線 的天線罩前端與圓錐帽之間的平衡則由可穿透雷達的材料 所構成。 雷達天線在製造以及初次設定之時必須經過校準。傳 統上,校準工作在無回聲室內使用一已知能量的遠距離微 波輻射源來進行。此種來源是一種遠場源,意謂著其波前 與天線表面爲實質平行。此一已知能量的遠場源提供一種 以調整相關軟體之變數的方式作爲校準雷達天線的基準。 雷達天線通常以圓形陣列的方式安排,而圓形陣列則 被分割成(不論是以物理方式或邏輯方式)在陣列中心相 會的數個象限。各象限在多通道雷達天線中形成一獨立通 道。由天線的各通道所接收到的訊號被傳送到處理器中, 而由軟體加以處理。若欲校準天線則僅須天線各通道的一 部份接收能量之一遠場爆裂(burst)即可。由於天線的四個 通道在中心點相會,因此便可使用一具有較小橫截面的遠 場源加以校準;只需涵蓋各通道的一部份便已足夠。 校準雷達天線對於其特有之效能而言是相當重要的。 3 ___ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------装· ! (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂· · A7 1269876 _____B7___ 五、發明說明(> ) 尤其是在精緻且敏感的軟體被用於解譯其所接收到的訊號 之處更是如此。例如,用於分辨由各種誘餌、人爲干擾、 與/或僞裝(與標的物相關的防禦性測量)而來之標的物的 軟體在經過校準之後可有較佳的表現。即使在初次製造之 時已經過精密校準,但天線對於輸入信號的反應也可因時 間的不同而有所變動。例如,在將飛彈儲存一段長時間之 後,天線本身便可能產生一些足以影響其反應的輕微物理 變化。另外,投擲飛彈的動作也可能使其遭受足以影響其 反應的力量與/或溫度。 因爲雷達天線的反應可能因爲時間的改變而有所不同 ,因此便需要一種可用於在飛彈飛行途中再次校準飛彈之 雷達天線的系統與裝置。 〔發明內容〕 本發明提供一系統與裝置,用於再次校準飛彈中之多 通道雷達天線,其係利用模擬飛彈之天線罩的遠場源的方 式。輻射之一點源位於天線罩的圓錐帽之後及圓錐帽內。 由點源(產生球形波前)所發射出來的輻射通過一透鏡, 可使波前採取平行方向。雷達能量的平行波撞擊雷達天線 的中心區域,並傳送一已知能量的脈衝到天線各通道的部 份。根據此輸入,處理天線訊號的軟體被重新校準以補償 天線由原校準所得天線反應的任何改變。 其所用透鏡可爲任何傳統透鏡,例如具有連續凹狀與/ 或凸狀的透鏡、法蘭森諾透鏡、此類透鏡之組合,或者甚 4 _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --裝 訂· A7 1269876 ______B7 _ 一 五、發明說明(1 ) 至爲繞射光柵。透鏡也將天線罩內側表面作爲反射表面之 用。再者,透鏡本身也可使用拋物線狀反射器或其他模擬 透鏡之裝置加以取代。 能量點源可以是一個簡單的雙極天線。點源可以使用 一個利用數種不同方式其中任一種方式供給能量的震盪器 予以驅動。能量可透過緊繫在鼻錐內側的電線供給或由以 相似方式固定的光纖纜線所供給。雷射可透過自由空間將 能量由天線傳送至震盪器,或者主雷達傳送器也可被用作 爲能量源,其中置於天線罩的金屬帽內的電容器或電池也 可用於儲存能量直至用於對震盪器供電爲止。 〔實施方式〕 一飛彈10 (圖1)包括雷達天線12以及天線罩14。 天線罩14具有一金屬帽16以及一可使雷達頻率電磁輻射 (微波輻射)穿透的穿透部份18。在飛行期間,反射微波 輻射通過天線罩14的穿透部份18並在天線12之處被接收 。其所造成的訊號在一處理器(未顯示在圖中)中經過各 種電腦程式的處理,以便將飛彈1〇引導至其預定目標。天 線罩14、雷達天線12、以及軟體可完全爲傳統式。 有關於此,必須說明者爲,於說明書以及申請專利範 圍中,“前端”、“向前”、“後端”、以及“後向”等 詞皆係相對於一般的飛彈飛行方向而言。因此,天線罩14 在正常飛行期間的引導端係飛彈1〇的前端,而雷達天線 12則位於天線罩後方。 _5__ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝----I---訂-------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 1269876 ----— _B7 五、發明說明(+ ) 天線12可包括波導的圓形陣列,波導在圖2中以多條 虛線加以示意性表示。範例天線12被分割爲(可能使用物 理方式或邏輯方式加以分割)在陣列中心相交會的四個象 限。在各象限內由各波導所取得的訊號被組合在一起,而 在各象限內以如此方式所組成的訊號形成了多通道天線中 之一通道。(其他各由一天線之一部份所組成的通道數也 可被使用)。由於各種理由之故,包括時間的流逝、相關 之電子元件老化現象、以及暴露在熱源與衝擊或震動的情 況下,天線12在飛行途中便可能需要經過再校準的手續。 校準可透過由一遠場源所發出、已知功率的微波輻射來完 成’亦即一具有實質平行於天線平面之波前的遠場源,如 此便可使各個被照明的波導見到相同的輸入。 本發明之系統與裝置可被用於校準天線12。爲了達成 此目的,一微波輻射之點源20被置於帽16之後。就像任 何點源一樣,點源20所射出之波形具有球狀波前22。透 鏡24位於點源20與天線12之間。透鏡24的形狀係用於 重新導向點源20所射出之微波輻射以使之形成平行、平面 狀的波26。天線12的校準係藉由使點源20射出選定頻率 的微波輻射一段預定的時間而達成。這些波通過透鏡24並 將已知的輸入提供給天線12。之後,天線12便可因爲適 度調整處理天線輸出的軟體而得到校準。 點源20可爲簡單的雙極天線20。就如本技術所習知 ,一雙極天線並非真正的點源,因其具有有限尺寸。然而 ,雙極之長度若爲透鏡24直徑之十分之一或更小則與一點 6____ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公髮) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 訂: :線· A7 1269876 B7____ 五、發明說明(S ) 源相近。或者,也可使用另一作爲點源之用的微波輻射之 發射器並可被包含在點源”的定義之內,就如本案中使 用之詞。 雖然雙極天線並不發射完美對稱的波前,亦即球狀, 但它卻確實以一種可預測或可重複的方式射出近似球形的 微波輻射。因此’透鏡24的造形可被用於補償由點源2〇 所發射的波前的不完美球形本質。 點源20係由位於帽16之後的震盪器電路28所驅動。 振盪器電路28最多僅需要數百微瓦特的功率。.可有數種方 法將功率傳送到震盪器電路28。金屬電氣導體(未顯示在 圖中)可被安裝在天線罩上,以便由天線12之後的電源( 未顯示在圖中)通過天線罩14之穿透部份18的內表面而 到達震盪器電路28之處。電線也可作爲與天線罩壁之一整 合部份。由於金屬線的陰影所形成之雷達訊號中所造成之 天線12中之盲點可透過訊號處理軟體而得到補償。 或者,功率也可使用以相似方式安裝在天線罩14內側 的光纖纜線(未顯示在圖中)來供應。此種纜線可使微波 雷射穿透,因此便需使用軟體稍事調整,若有此需要的話 。第三種將能量供給震盪器電路28的方法爲使用一雷射( 未顯示在圖中),以雷射束的方式在天線12後方將能量供 給連接至震盪器的光二極體,此種技術並不至於干擾天線 或其軟體。此方法也不需要將一導體(光纖或電導體)安 裝在天線罩14上,藉以簡化結構並增加可靠性。最後,點 源20可由位於飛彈10板上的雷達傳導器供給能量。在此 ___I_- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝 --線- 1269876 A7 ____B7_ 五、發明說明(t ) 情況下,此傳導器之一簡短脈衝可將能量傳送到震盪器電 路28,並將之儲存電容器或電池上,直到需要時爲止。熟 知本項技術之人士將會了解其他種將功率供應至震盪器電 路28的技術。 匕鏡24將點源20所發出之微波輻射的球形波前轉換 爲平面電磁波26,亦即,平面狀的波。透鏡24配裝在金 屬帽16之後,在其“陰影”內,而其位置則不在微波輻射 由天線罩14的穿透部份18到天線12的路徑上。因此,透 鏡24之直徑等於或小於帽16之最大直徑。 透鏡24可由數種材料中的任一種材料所製成。微波輻 射的行爲就如同電磁輻射的典型法則一般,且設計與製造 用於彎曲與構形微波輻射的透鏡之技術已廣爲人知。透鏡 24可由下列材料所製成:例如,鐵氟龍、其他塑膠、石鐵 、或鍊烷。透鏡24可用拋光或碾磨技術製成,且可被置於 適當造形的模具中。 透鏡24可爲具有連續曲線表面的單一、折射性透鏡, 如圖1所示。然而,本發明也可考慮採用其他透鏡。例如 ,可使用一複合式透鏡,亦即,雙透鏡或三透鏡,且透鏡 也可爲獨立式透鏡或者膠結在一起。透鏡可爲法蘭森諾透 鏡。再者,也可使用折射光柵。任何已知的透鏡皆可使用 ’只要它可使點源所發射的波前形成平行於天線平面的波 即可。 除此之外,也可使用或多或少的傳統透鏡、反射式透 鏡。例如,點源可被置於拋物線狀反射器的焦點處。在此 一 —______8__ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 1269876 ___B7___ 五、發明說明(?) --------------裝--- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 情況下,反射器被安裝在天線罩14的最前端,就在帽16 的後方,而點源20則位於拋物線狀反射表面以及天線12 之間。一金屬屏幕被用於阻止波由點源直接射向天線,以 便僅僅由拋物線狀反射器所反射的所需平面波才可到達天 線端。再者,透鏡可採用諸如美國專利第4,950,014號專 利所示之平板透鏡模擬技術,該專利之全部揭示在此處倂 入作爲參考之用。 沿著相同的線,天線罩14內部表面的造形可使之作爲 反射器之用,以便用射入平面波前入射小角度將波聚焦。 這可單獨使用一點源而達成也可將點源與一或多個反射或 折射透鏡合倂使用而達成。 線· 因此,很明顯地,本發明提供一種用於校準飛行中飛 彈之雷達天線的系統與裝置。應瞭解的是,所述實施例僅 係用於說明許多表示本發明之應用原則的特定實施例中數 種實施例。習知本技術者在不偏離本發明之範圍內可有許 多種其他配置。 〔圖式簡單說明〕 本發明之不同特性與優點可由參考下列與圖式合倂描 述的詳細說明而有更深入的了解。 圖1係側視圖’部份爲fe截面,以示意方式顯示用於 本發明的飛彈的前端部份、其雷達天線、天線罩、點源、 以及一透鏡;而 圖2則爲圖1所示之雷達天線的前視圖。 _ 9 ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) "" 1269876 A7 B7 五、發明說明(f 〔元件符號說明〕 10〜飛彈;12〜雷達天線;14〜天線罩 〜穿透部份;20〜點源;22〜球狀波前 平面波;28〜震盪器電路 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 16〜金屬帽;18 24〜透鏡;26〜 --------I-------I----I------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

Claims (1)

  1. A8 B8 C8 D8 1269876 六、申請專利範圍 1. 一種用於校準多通道雷達天線之裝置,包含: (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 一雷達天線; 一天線罩,覆蓋在該天線的前方表面; 一微波輻射點源,位於該天線罩內;以及 一透鏡,位於該天線罩內,其形狀係用於將該微波輻 射由點源轉換爲平面電磁波。 2. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該透鏡包 含一折射透鏡。 3. 如申請專利範圍第2項所述之裝置,其中該透鏡包 含一單透鏡。 4. 如申請專利範圍第2項所述之裝置,其中該透鏡包 含一複合式透鏡。 5. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該透鏡包 含一法蘭森諾透鏡。 6. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該透鏡包 含一繞射光柵。 7. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該透鏡包 含一反射透鏡。 8. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該天線罩 包含一金屬帽,且該點源係置於該金屬帽之後。 / 9. 如申請專利範圍第8項所述之裝置,其中該透鏡位 於該金屬帽之後。 10. 如申請專利範圍第9項所述之裝置,其中該金屬帽 包含一引端部份及在該引端部份後方之一最大直徑,且透 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 1269876 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 鏡之直徑等於或小於該金屬帽之最大直徑。 11. 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中包含一連 接至該點源之震盪器電路,以及將功率供應至該震盪器電 路之機構。 12. 如申請專利範圍第11項所述之裝置,其中用於將 功率供應至該震盪器電路之該機構包括一連接至該震盪器 電路之光二極體以及用於將電磁輻射供應至該光二極體之 機構。 13. 如申請專利範圍第12項所述之裝置,其中用於將 電磁輻射供應至該光二極體之機構包括一光纖纜線。 14. 如申請專利範圍第13項所述之裝置,其中該光纖 纜線由該天線後方延伸至該震盪器電路。 15. 如申請專利範圍第12項所述之裝置,其中該用於 將功率供應至該震盪器電路之機構包括一雷射’設置成用 於將雷射能量透過該天線後方的空間傳送至該光二極體。 16. —種將遠場校準訊號提供至微波天線之方法’該微 波天線係位於飛彈天線罩之後方,該方法包含下列步驟: 對位於該微波天線之前的一輻射點源供給能量,以使 該點源發射微波輻射並使用一透鏡將該所發射之輻射轉換 爲平面電磁波。 17. 如申請專利範圍第16項所述之方法,包括將該輻 射點源以及透鏡設置於該天線罩內之步驟。 18. 如申請專利範圍第Π項所述之方法,其中提供能 量給該點源之步驟包括透過一電纜將功率供應給一震盪器 ___2_____ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    1269876 啟 C8 D8六、申請專利範圍 電路之步驟。 19β如申請專利範圍第17項所述之方法,其中提供能 量給該點源之步驟包括透過一光纖纜線將功率供應給一震 盪器電路之步驟。 20. 如申請專利範圍第Π項所述之方法,其中提供能 量給點源之步驟包括透過自由空間雷射輻射將功率供應給 一震盪器電路之步驟。 21. 如申請專利範圍第16項所述之方法,其中使該輻 射通過一透鏡之方法包括使用一折射透鏡之步驟。 22. 如申請專利範圍第16項所述之方法,其中使該輻 射通過一透鏡之方法包括使用一反射透鏡之步驟。 23. 如申請專利範圍第16項所述之方法,其中使該輻 射通過一透鏡之方法包括使用一法蘭森諾透鏡之步驟。 24. 如申請專利範圍第16項所述之方法,其中使該輻 射通過一透鏡之方法包括使用一複合式透鏡之步驟。 25. —種用於校準飛彈中雷達天線之裝置,該雷達天線 具有圓形前端表面,該飛彈之一天線罩在其引端部位具有 一金屬帽,該裝置包括:一雙極天線,以比例之方式用於 模擬一微波輻射點源;以及一透鏡,其形狀係用以將該點 源所射出之輻射轉換爲平面電磁輻射,使其波前實質平行 於該雷達天線之前端表面,該雙極與透鏡係位於該天線罩 之內及該金屬帽之後。 (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公愛)
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