TWI254471B - An optical examining mechanism with a movable light source - Google Patents

Description

1254471 五、發明說明（1) 【發明所屬 本發明係 是關於在一 得一待測元 【先前技術 習用之元 絲自動檢測 其周邊設數 一驅動機構 ►間；及一螺 檢測裝置包 測螺絲、一 行螺絲頭之 _蛉上述 該元件檢測 於該光源固 影像擷取單 心的反射影 I緣時，由於 導致該螺絲 之完整影像 實仍有必要 有鑑於此 之技術領域 關於一種具 檢測平台i 件之表面的 ] 件檢測機構 機」新型專 4固承載槽孔 ;一輪送執 絲頭檢測裝 含一固定環 影像擷取單 檢測。 元件檢測機 機構在實際 定於一較高 元所取得之 像。但是， 邊緣之角度 頭邊緣影像 ，進而降低 進一步改良 ，本發明改 側之上方設一可動式 構廣泛 使用上 位置， 螺絲頭 當該螺 無法反 呈現黑 檢測之 上述元 良上述 光源模 絲製造 列缺點 當位移 為頂部 疲位於 該影像 無法取 基於上 構。 其係在 動式光 可動式光源之元 方設置一可動式 完整反射影像之 ，如中華民國公 利，其係包含一 ’其用以承栽螺 道，其設於該震 置，其設於該轉 型光源，其用以 元，其用以攝取 使用於螺 仍存在下 且無法適 影像，僅 絲頭之瑕 射光線至 暗’因而 準確性。 件檢測機 之缺點， 組，該可 件檢測機構，特別 光源模組，以利取 元件檢測機構。 告第5 9 0 0 5 1號「螺 震動盤；一轉盤， 絲，且該轉盤連接 動盤及該轉盤之 盤上方，該螺絲頭 照明該轉盤上之待 螺絲頭之影像以進 業界，但是 ，例如：由 調整，因此 表面靠近中 $亥螺絲頭邊 擷取單元， 得該螺絲頭 述因素，確 一檢測平台 源模組内設

C:\Logo-5\Five Continents\PK9779. ptd 第7頁 1254471 五、發明說明（2) 有一環型光源’且該可動式光源模組可相對該檢測平台 行垂直縱向往復式移動，以提供一可動式光源；此外口 "影像掏取早元架設於遺可動式光源模纟且之上太 m 、、、 乃，因此經由 待測元件表面所反射之光線，可穿過該可動忒出 ^ 、亢你核組而 被該影像擷取單元擷取，如此能取得待測元件表面—敕 '反射影像，進而提高元件檢測之準確性。 70 i 【發明内容】 本發明主要目的係提供一種具可動式光源之元件檢測 構，其中一可動式光源模組可滑動的架設於一檢測平a β上方’且該可動式光源模組可相對該檢測平台進行垂直縱 向往復式移動’以提供一可動式光源，以便取得待、、則元^ 表面之完整反射影像’使得本發明具有提高元件檢^確 性之功效。 樽|據本發明之具可動式光源之元件檢測機構，其包含一 -檢測^平台、一固定軌、一可動式光源模組及一影像擷取單 元。該檢測平台設有一輸送執道、一轉盤、一驅動機構， 該輸送軌道用以輸送待測元件至該轉盤，該轉盤凹設數個 承載槽孔用以承載待測元件，該驅動機構可驅動該轉盤進 修行間歇旋轉。該可動式光源模組設一内部空間，且該内部 空間環設一環型光源’該可動式光源模組上、下方皆設— 開口’且該可動式光源模組經由一滑動裝置可滑動的設置 於該固定執。該影像擷取單元架設於該可動式光源模組之 上開口上方，且其經由一固定座設於該固定執上。該可動 式光源模組可相對於該檢驗平台進行垂直縱向往復式移

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五、發明說明（3) 7實一可動式光源供進行待測元件之影像檢測。 易ί 上述及其他㈣、特徵、優點能更明顯 作詳細；；=舉本發明較佳實施例，並配合所附圖式， 凊f照第1圖所示，本發明較佳實施 機構包含一檢測平台10、一固定執20動式一先可原動 ίΐίΐ广30及一影像擷取單元40。該檢測平台W設有-^執、11、一轉盤12、數個承載槽孔121、— V送：::广：構14二一收料導引板15及-收料装置16;該 η之Θ i凹< =Γ运數個待測元件50至該轉盤12，該轉盤 R 反3叹於該轉盤12外側，其用以支撐該待 脚:5〇平行放置於該檢測平台1〇 ; :二; 檢測平台1〇中央’其可用以驅動該轉盤12進=歇:轉， ==期精確配合單一待測元件5〇之檢;收 料V引板15設於相對於該轉盤12靠近該收料一 側’其用以導?丨檢測完成之該待測元件5〇回‘至該收料裝 _置1 6。再者，該固定軌2 〇係立設於該檢測平台1 〇之一側， 以供可滑動的結合該可動式光源模組3 〇。 請再參照第1、2及3圖所示，本發明較佳實施例之可動 式光源模組30，其設有一内部空間31、一環型光源32、一 擴散板33、一上開口34、一下開口 35及—滑動裝置36 ;該 内部空間3 1概呈半球型，且其環設一環型光源^，該環蜇

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第9頁 1254471 五、發明說明（4) -一· - 光源32較f選自發光二極體（LED)，且該環型光源32外惻 設置一擴散板33，該擴散板33用以使照明之光線得以均勻 •投射於該待測元件5〇上；該可動式光源模組3〇上、下方開 、設：^:34及一下㈣口35，該上開°34可使經由該待測 兀件50反射之光線穿過該上開口以後，由該影像操取單元 、40所擷取。在執行檢測時，該下開口 35則允許該待測元件 Ϊ 動式光源模組3〇底部；該可動式光源模組3〇經 由忒⑺動扁置36可滑動的設置於該固定軌2〇，例如 由適當電腦程式的控制，該可動式光源模組3〇可相對該： 齡測平台ίο進行垂直縱向往復式㈣，且單—該待測元件 執行檢測之時間精密配合該轉盤丨2之間歇週期，藉此達到 擷取該待測元件5 〇之完整反射影像之目的。 請參照第1、2及3圖所示，本發明較佳實施例之影像擷 取:單元40較佳選自CCD型或CM〇s型之數位影像擷取元件， 其^於該可動式光源模組3〇之上開口34上方，且該影像擷 取單元40經由一固定座3〇設於該固定執2〇上。藉由控制該 可動式光源模組3 0相對該檢驗平台丨〇之垂直縱向往復移 動，該影像擷取單元4〇可經由該可動式光源模組3〇上方之 •亡開口 34 ’適時擷取經由該待測元件5〇產生反射之光線， 藉以達到具可動式光源之元件檢測目的。 明再參照第2及3圖所示，為了本發明較佳實施例之具可 動式光源之元件檢測機構執行檢測，該轉盤丨2受該驅動機 構1 4之驅動，將該待測元件5 〇 (例如螺絲）逐一輸送至該可 動式光源模組30之下方；當該待測元件5 〇被輸送至該可動

C:\L0g0-5\Five Continents\PK9779.ptd 第10頁 1254471 五、發明說明（5) 式光源杈組3 0下方初其月，該可動式光 對較高位置（第2圖），因而，兮饵、則一从疋位一相 為頂邻矣品土 < ) 口而由该待測兀件50反射之光線僅 ’、’、、表面罪近中心的反射影像，所以由节旦彡傻 40擷取之元件表面影二 二之影像。藉由適當電腦程式之控制=二中 、3 0可下降至該可叙々， 邊』動式先源杈紐 12貼近（第3圖）之—相底部’並定位在與該轉缝 進入該可動式卉w相對較置時，該待測元件50 J勁式先源杈組3 〇之下開口 3 5， 於該可動式光源模組3f)肉卹 I7 4待測兀件50位 •光線即為整個待測：二内0二=糊 取單元4◦擷取η Π表衫像，如此經由該影像掏 像，且誃待制象Ρ為忒待測兀件5〇表面之完整反射影 週期。I^牛5〇之檢測時間精確配合該轉盤12間歇之 乎△ 1 〇進二# ΐ明具有該可動式光源模組30可相對該檢測 違i:光源：：ί Ϊ向往復式移動之設計，使本發明之具可 待:fT元件= a僉測機構可以提供一可動式光源供進行該 得剧tl件50之影像檢測。 像日:再Ϊ照Ϊ2圖所示’當該影像操取單元40完成擷取影 _Γη寺1牛通過該可動式光源模組30及影像操取單元 4〇，如此可進行下-個該待測元件50之檢測。 檑t t : ί、，相較於習用之元件檢測機構具-固定光源， 一 付彳測元件頂部表面靠近中心之反射影像〔如附件 4示^之缺』。反觀，第1圖之本發明藉由設置該可動 、源模、、且3 〇 ’使其相對該檢測平台1 0進行垂直縱向往復

1254471 五、發明說明（6) 式移動，其確實有利於取得該待測元件5 0表面之完整反射 影像〔如附件二所示〕，進而增加檢測之正確性。 - 雖然本發明已利用前述較佳實施例詳細揭示，然其並非 用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之 精神和範圍内，當可作各種之更動與修改，因此本發明之 、保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

C:\Logo-5\Five Continents\PK9779. ptd 第12頁 1254471 圖式簡單說明 【圖式簡單說明】 第1圖：本發明較佳實施例之具可動式光源之元件檢測 機構之組合立體圖。 第2圖：本發明較佳實施例之具可動式光源之元件檢測 機 構在執 行 檢 測 時 之 組合側 視 圖 〇 第3 圖 本發明較佳實 施例之具可動 式光 源之元件檢測 機 構在執 行 檢 測 時 之 另- -組 合 側 視 圖 〇 附件一 • 習 用 檢 測 機構所 擷 取 之 待測元件之 實 體照相 _圖 〇 附个 卜二 • 本 發 明 較 佳實施 例 之 具 可動式光源 之 元件檢測 機 構所擷 取 之 待 測 元 件之實 體 昭 相 圖 〇 _ 要元 件 符 號 說 明 ] ： · 檢 測 平 台 11 m 送 軌 道 12 轉 盤 121 承 載 槽 孔 13 外 導 引 板 14 驅 動 機構 15 收 料 導 引 板 16 收 料 裝 置 20 固 定 軌 30 可 動 式 光 源 模 組 • 31 内 部 空 間 32 環 型 光 源 33 擴 散 板 34 上 開 U 35 下 開 Π 3 6 滑 動 裝置 40 影 像 擷 取 單 元41 固 定 座 50 待 測 元件

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Claims (1)

1254471 、申請專利範圍 1、一種具可動式光源之元件檢測機構，其包含： 一檢測平台，其设有一輸送軌道、—轉般及一私' 構，該輸送軌道用以輸送待測元件，該轉般受=二機1 機構之驅動，並可轉動及承載該待測元件· 驅動 一固定軌，其設置於該檢測平台之一側； 一可動式光源模組，其設有一内部空間、—環型 、一上開口及一下開口；該可動式光源模組經屌 動裝置可滑動的設置於該固定執，且該可動—滑 組可沿該固定軌相對該檢測平台進行：；往 ;該環型光源環設於該内部空間Θ，該上 = 成在該可動式光源模組之上、下側；及 形 一影像擷取單元，其設於該固定軌上； 其中該可動式光源模組設於該檢測平台之上 〜像操取單元架設於該可動式光源模組二上5 T丄該影 ΐ/如此該可動式光源模組提供一可動式光源ς射至3， 測平台之待測元件，由該待測元件表面反二檢 由該影像擷取單元擷取，以進行元件檢 πI九線經 、依申請專利範圍第1項之具可動式光源'之、元 構，其中該檢測平台設有—外導引板”f機 盤之外周，其用以支撐該待測元件平行ϋ =該轉 平台。 十十仃放置於該檢測 、依申請專利範圍第i項之具可動式光源 構，其中該檢測平台設有一收料導引板及一收^壯機 ，该收料導引板^導引完成檢測之該_元件U

C:\Logo-5\Five Continents\PK9779. 第14頁 1254471 六、申請專利範圍 至該收料裝置。 4、 依申請專利範圍第1項之具可動式光源之元件檢測機 - 構，其中該可動式光源模組之内部空間係呈半球型。 5、 依申請專利範圍第1項之具可動式光源之元件檢測機 構，其中該可動式光源模組之環型光源選自發光二極 * 體。 6、 依申請專利範圍第1項之具可動式光源之元件檢測機 構，其中該環型光源外側設一擴散板，該擴散板用以 使光線均勻照射至該待測元件。 _ 7、依申請專利範圍第1項之具可動式光源之元件檢測機 構，其中該影像擷取單元係選自CCD型、CMOS型之數 位影像擷取單元。 8、依申請專利範圍第1項之具可動式光源之元件檢測機 _ piCP、構，其中該固定軌垂直設置於該檢測平台之一側，如 ^此，該影像擷取單元可沿該固定軌相對該檢測平台進 行垂直往復式移動。 ❿

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