TWI252305B - Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof - Google Patents

Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof Download PDF

Info

Publication number
TWI252305B
TWI252305B TW94100450A TW94100450A TWI252305B TW I252305 B TWI252305 B TW I252305B TW 94100450 A TW94100450 A TW 94100450A TW 94100450 A TW94100450 A TW 94100450A TW I252305 B TWI252305 B TW I252305B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
heat pipe
temperature
infrared thermal
film
detecting
Prior art date
Application number
TW94100450A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200624783A (en
Inventor
Huei-Chiun Shiu
Original Assignee
Huei-Chiun Shiu
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huei-Chiun Shiu filed Critical Huei-Chiun Shiu
Priority to TW94100450A priority Critical patent/TWI252305B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI252305B publication Critical patent/TWI252305B/zh
Publication of TW200624783A publication Critical patent/TW200624783A/zh

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

1252305 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種以紅外線熱影像檢測熱管度之 方法及其裝置,尤指一種利用紅外線熱影像器(Inf Thermography or Inf rared Imager )來應用於檢測熱管之 熱傳溫度上的方法以及該方法所直接使用之裝置。 【先前技術】 按,傳統檢測熱管之熱傳溫度時,多以測溫線接觸熱 管管體為之。而由於檢測時,需將一支支待檢測之熱^接 上測溫線後,始能測得,但如此之作法對於大量 •當不便。 列上相 而 器(In 檢測熱 攝影機 配合光 熱管在 面的輻 化很大 面很平 故非常 出紅外 的實際 管的熱 有 隹现名凋重溫度的技術上 frared Thermography or 管的熱傳溫度。所謂紅外 (Infrared Camera ), 學鏡頭和電子電路所組成 加工過程中,容易因污損 射發射係數(emissivity ;又,通常熱管管體皆以 滑光允,輻射發射係數相 谷易受到周圍環境影塑 線熱影像器的發射係i下 溫度,造成紅外線熱影像 傳溫度作業上。 鑑於此,本發明人為改善 ,或可運用紅外線 Infraredlmager : 線熱影像器又稱為 其乃利用紅外線感 的一種設備。然而 、氧化而造成熱管 )隨著管體不同位 銅材質所製成,而 當低(通常小於〇 . 使檢測溫度不穩定 限值,因而難以獲 杰無法順利應用在 幫助 矣工外線 測器, ’由於 管體表 置而變 鋼管表 得 檢 並解決上述之缺失,乃特
1252305 五、發明說明(2) 潛心研究並配合學理之運用,終於提出一種設計合理且有 效改善上述缺失之本發明。 【發明内容】 本發明之主要目的,在於可提供一種以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之方法及其裝置,其係為使紅外線熱影像器 (Infrared Thermography or Infrared I mager )能適用 於檢測熱管之熱傳溫度上,並解決測得溫度不穩定的缺失 ,俾於熱管管體表面遮蓋一薄膜(film),由於薄膜可提 供較穩定與較大數值的輻射發射係數(約〇 · 4〜〇 · 8 ),故 可使紅外線熱影像器在檢測熱管熱傳溫度時更為穩定而 於測得正確之溫度。 & # ί 了,Ϊ成上述之目的,本發明係提供一種以紅外線埶 衫像檢測熱管溫度之方法,包括下列步驟·· …、 测部官ί受熱端輸入熱量,並於該熱管待檢 行檢::象器針對該熱管覆蓋有薄膜之部位進 、乂劂侍該熱官的熱傳溫度。 疋 為了達成上述之目 ΑΑ j»影像檢測熱管溫度晋,^發明係提供一種以紅外線熱 「並於該熱管待檢測部:Ϊ覆至f、-熱管配合工作, 70及一紅外線熱影像器,·豆 :,。亥裝置包括一加熱單 J f熱端輪入熱量,;紅;献:亥:熱單元係用以對熱管 有缚膜之部位處,且 像器則相對於熱管覆# 之Μ -Λ /專膜係位於叛;^ t ^ 外線熱影像檢 足間。猎以組成一 口 k "一 於熱官與紅外線熱影像器 蜊熱管溫度之裝置 麵 第6頁 1252305 五、發明說明(3) 【實施方式】 為了使 貴審查委員能更進一步瞭解本發明之特徵及 技術内容,請參閱以下有關本發明之詳細說明與附圖,然 而所附圖式僅提供參考與說明用,並非用來對本發明加以 限制者。 請參閱第一圖、第二圖及第三圖,係分別為本發明方 法之流程示意圖、裝置之示意圖(一)及(二)。本發明 係提供一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之方法,其步驟 如下: ⑩ a)將待檢測之單支或複數支熱管1之受熱端1 0輸入熱 量,並於該熱管待檢測部位上覆蓋一薄膜(f i 1 m ) 3 :其 中,對熱管1之受熱端10輸入熱量時,可藉由一加熱單元2 為之,該加熱單元2 可為一加熱器、熱風加熱裝置(如熱 對流)、熱輻射加熱裝置(如加熱板)、或如圖所示,為 一液體容器,其内可容納適量的加熱液體2 0,所述加熱液 .體20可為水、礦油或植物油等液體,以提供熱管1之受熱 端1 0浸浴於加熱液體2 0中而升溫。 b)以一紅外線熱影像器(Infrared Thermography or ⑩Infraredlmager)4,針對熱管1覆蓋有薄膜3之部位進行 檢測,以測得熱管1的熱傳溫度。 此外,在步驟a)中,所述待檢測部位通常係指熱管1 之冷卻端1 1,或者,亦可針對熱管1某一中段部位進行檢 測,而薄膜3厚度最好介於0. 0 0 5〜0. 0 4 0 mm之間,該薄膜3 可為塑膠薄膜,如聚氣乙烯等;另,薄膜於製造時可加入
第7頁 !2523〇5
五、發明說明(4) 色伞刀’進一步改善、調整其鲈 熱管待檢測部位之表面、或$膜::係數。同時,亦可於 ,勒膜可為植物油、礦物油或二面上’塗佈-層黏膜 性之膠(仏〇,其係可使執;】成:二尤指具有較低黏 佳,以減少檢測上的誤差。…”缚膜3之間的接觸性更 再者,本發明可適用於大旦… 支熱管1並列排置(如$三圖所里一、γ、1,業上/其係將複數 蓋於各熱管1之待檢測部* :,且僅需以-薄膜3覆 請逐1量之動作,故在、二= 線4:檢= =程,即可得到本發明以紅外 閱第二圖及第三圖所示,本發明係提供一種以 外線…β像檢測熱管溫度之裝置,其係與上述熱管1配1 工作,#並於該熱管i待檢測部位上覆蓋有一薄膜(f丨“『 3 ;該裝置係包括一加熱單元2、及一紅外線熱影像器(
Infrared Thermography 〇r Infraredlmager ) 4 ;其中· 該加熱單元2乃用以對熱管1之受熱端u輸入熱量,如 丨前所述,加熱單元2可為一加熱器、熱風加熱裝置(如^ 對流)熱輪射加熱裝置(如加熱板)、或為一本發明、、 舉實施例中之液體容器;由於此一部份已為前文所^,所 在此不再對此於以贅述。 κ ’故 該紅外線熱影像器4係相對於熱管1覆蓋有薄暝3 部位處,意即熱管1之冷卻端丨丨上,且該薄膜3係 ' =該 %熱管
第8頁 1252305 五、發明說明(5) 1與紅外線熱影像器4之間 此外,該震置可更包括 體均勻之材質S製成,=整二Ϊ f5,該背板5主要係以一 或塑膠板所製成,並位於熱其月爱反$皆為銅、鋁等金屬板 處:::提供熱管1待檢測::Λ有部位的下方 ,以使紅外線熱影像器4 ,勺勾且穩定的背景溫度 該背板係設於一支座50上,’以::數值更為精準’同時’ 與定位。 供熱管1較佳之支標 是以,藉由上述之構造組成, 線熱影像檢測熱管溫度之裴置。卩可得到本發明以紅外 因此’藉由本發明以红外! 法及其裝置,由於薄膜3可提供較檢測熱管溫度之方 發射係數,約為〇 · 4〜〇 · 8,故可使1〜、疋與較大數值的輻射 熱管1之熱傳溫度時更為穩定°而^外^熱影像器4在檢測 時亦可適用於熱管丨大量的檢 4传正確之溫度,同 綜上所述,本發明確可達到預期之 習知之缺失,又因極具新穎性及進步使:目@,而解決 利申請要件,爱依專利法提出申請,&元全符合發明專 專利,以保障發明人之權利。 啧h詳查並賜准本案 惟以上所述僅為本發明之較佳可 拘限本發明之專利範圍,故舉凡運用1轭例,非因此即 内容所為之等效技術、手段等變化,^明說明書及圖式 明之範圍内,合予陳明。 =5理白包含於本發 第9頁 1252305
第ίο頁

Claims (1)

1252305 六、申請專利範圍 1 、一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之方法,包括 下列步驟: a) 將待檢測熱管之受熱端輸入熱量,並於該熱管待檢 測部位上覆蓋薄膜;及 b) 以紅外線熱影像器針對該熱管覆蓋有薄膜之部位進 行檢測^以測得該熱官的熱傳溫度。 2、如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)之該熱管待檢測部位係指 該熱管之冷卻端。 > 3、如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)於該熱管待檢測部位表面 、或該薄膜表面上,係塗佈一層黏膜。 4、 如申請專利範圍第3項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中該黏膜係以為植物油、礦物油或 合成油為之。 5、 如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)所述之薄膜,係以厚度介 於0.005〜0.040mm之間的薄膜為之。 > 6、一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之裝置,其係 與至少一熱管配合工作;包括: 一薄膜,覆蓋於該熱管待檢測部位上; 一加熱單元,用以對該熱管之受熱端輸入熱量;及 一紅外線熱影像器,相對於該熱管覆蓋有薄膜之部位 處,且該薄膜係位於該熱管與該紅外線熱影像器之間。
第11頁 1252305 六、申請專利範圍 7、 如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該薄膜厚度係介於0. 0 0 5〜0. 040 mm之間。 8、 如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該薄膜與於該熱管待檢測部位之 間係塗佈一層黏膜。 9 、如申請專利範圍第8項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該黏膜係為植物油、礦物油或合 成油。 ® 1 0、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一加熱器。 1 1 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一熱風加熱裝 置。 ' 1 2、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一熱輻射加熱 裝置。 1 3 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 彳p檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一液體容器, 且於該液體容器内容納有加熱液體。 1 4、如申請專利範圍第1 3項所述之以紅外線熱影 像檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱液體係為水、礦油或 植物油者。 1 5 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像
第12頁 1252305
第13頁
TW94100450A 2005-01-07 2005-01-07 Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof TWI252305B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW94100450A TWI252305B (en) 2005-01-07 2005-01-07 Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW94100450A TWI252305B (en) 2005-01-07 2005-01-07 Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI252305B true TWI252305B (en) 2006-04-01
TW200624783A TW200624783A (en) 2006-07-16

Family

ID=37565376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW94100450A TWI252305B (en) 2005-01-07 2005-01-07 Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI252305B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI630377B (zh) * 2017-04-18 2018-07-21 亞迪電子股份有限公司 熱像檢測裝置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI630377B (zh) * 2017-04-18 2018-07-21 亞迪電子股份有限公司 熱像檢測裝置

Also Published As

Publication number Publication date
TW200624783A (en) 2006-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5834661A (en) Method of detecting defects in materials using infrared thermography
Vellvehi et al. Irradiance-based emissivity correction in infrared thermography for electronic applications
US4996426A (en) Device for subsurface flaw detection in reflective materials by thermal transfer imaging
RU2011115097A (ru) Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа
JP2016539340A5 (zh)
Fénot et al. A heat transfer measurement of jet impingement with high injection temperature
TWI252305B (en) Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof
McNamara et al. Infrared imaging microscope as an effective tool for measuring thermal resistance of emerging interface materials
JP2010019624A (ja) 気体温度分布検出システム及び検出体
TW200641365A (en) Nondestructive inspection method for inspecting junction of flexible printed circuit board
US10302379B1 (en) Apparatus of heat pipe quality detection using infrared thermal imager and method thereof
CN109470363B (zh) 基于红外热像测温技术的曲面薄壁加热热流分布测量方法
RU2008138643A (ru) Способ бесконтактного определения теплофизических свойств твердых тел
CN106679818A (zh) 光滑表面温度分布的测量装置及方法
CN107607072A (zh) 一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法
CN110376244A (zh) 一种导热系数测量装置
CN206339310U (zh) 光滑表面温度分布的测量装置
Pilla et al. Thermographic inspection of cracked solar cells
JP3362587B2 (ja) 配管付着物検査方法
JPH0293315A (ja) 金属管壁等の厚さの検査方法
JPH09281064A (ja) 被測定物の内面状態の検出方法
US20060165150A1 (en) Method and apparatus for examining heat pipe temperature using infrared thermography
Ahuja et al. Thermal Diffusivity Imaging of Continuous Fiber Ceramic Composite Materials and Components
JP3006051B2 (ja) 気泡検出方法およびその装置
CN207571062U (zh) 可调式材料热阻热流测定实验装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees