TWI252305B - Method for hot tube temperature inspection by using infrared imager and device thereof - Google Patents
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1252305 五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種以紅外線熱影像檢測熱管度之 方法及其裝置,尤指一種利用紅外線熱影像器(Inf Thermography or Inf rared Imager )來應用於檢測熱管之 熱傳溫度上的方法以及該方法所直接使用之裝置。 【先前技術】 按,傳統檢測熱管之熱傳溫度時,多以測溫線接觸熱 管管體為之。而由於檢測時,需將一支支待檢測之熱^接 上測溫線後,始能測得,但如此之作法對於大量 •當不便。 列上相 而 器(In 檢測熱 攝影機 配合光 熱管在 面的輻 化很大 面很平 故非常 出紅外 的實際 管的熱 有 隹现名凋重溫度的技術上 frared Thermography or 管的熱傳溫度。所謂紅外 (Infrared Camera ), 學鏡頭和電子電路所組成 加工過程中,容易因污損 射發射係數(emissivity ;又,通常熱管管體皆以 滑光允,輻射發射係數相 谷易受到周圍環境影塑 線熱影像器的發射係i下 溫度,造成紅外線熱影像 傳溫度作業上。 鑑於此,本發明人為改善 ,或可運用紅外線 Infraredlmager : 線熱影像器又稱為 其乃利用紅外線感 的一種設備。然而 、氧化而造成熱管 )隨著管體不同位 銅材質所製成,而 當低(通常小於〇 . 使檢測溫度不穩定 限值,因而難以獲 杰無法順利應用在 幫助 矣工外線 測器, ’由於 管體表 置而變 鋼管表 得 檢 並解決上述之缺失,乃特
1252305 五、發明說明(2) 潛心研究並配合學理之運用,終於提出一種設計合理且有 效改善上述缺失之本發明。 【發明内容】 本發明之主要目的,在於可提供一種以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之方法及其裝置,其係為使紅外線熱影像器 (Infrared Thermography or Infrared I mager )能適用 於檢測熱管之熱傳溫度上,並解決測得溫度不穩定的缺失 ,俾於熱管管體表面遮蓋一薄膜(film),由於薄膜可提 供較穩定與較大數值的輻射發射係數(約〇 · 4〜〇 · 8 ),故 可使紅外線熱影像器在檢測熱管熱傳溫度時更為穩定而 於測得正確之溫度。 & # ί 了,Ϊ成上述之目的,本發明係提供一種以紅外線埶 衫像檢測熱管溫度之方法,包括下列步驟·· …、 测部官ί受熱端輸入熱量,並於該熱管待檢 行檢::象器針對該熱管覆蓋有薄膜之部位進 、乂劂侍該熱官的熱傳溫度。 疋 為了達成上述之目 ΑΑ j»影像檢測熱管溫度晋,^發明係提供一種以紅外線熱 「並於該熱管待檢測部:Ϊ覆至f、-熱管配合工作, 70及一紅外線熱影像器,·豆 :,。亥裝置包括一加熱單 J f熱端輪入熱量,;紅;献:亥:熱單元係用以對熱管 有缚膜之部位處,且 像器則相對於熱管覆# 之Μ -Λ /專膜係位於叛;^ t ^ 外線熱影像檢 足間。猎以組成一 口 k "一 於熱官與紅外線熱影像器 蜊熱管溫度之裝置 麵 第6頁 1252305 五、發明說明(3) 【實施方式】 為了使 貴審查委員能更進一步瞭解本發明之特徵及 技術内容,請參閱以下有關本發明之詳細說明與附圖,然 而所附圖式僅提供參考與說明用,並非用來對本發明加以 限制者。 請參閱第一圖、第二圖及第三圖,係分別為本發明方 法之流程示意圖、裝置之示意圖(一)及(二)。本發明 係提供一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之方法,其步驟 如下: ⑩ a)將待檢測之單支或複數支熱管1之受熱端1 0輸入熱 量,並於該熱管待檢測部位上覆蓋一薄膜(f i 1 m ) 3 :其 中,對熱管1之受熱端10輸入熱量時,可藉由一加熱單元2 為之,該加熱單元2 可為一加熱器、熱風加熱裝置(如熱 對流)、熱輻射加熱裝置(如加熱板)、或如圖所示,為 一液體容器,其内可容納適量的加熱液體2 0,所述加熱液 .體20可為水、礦油或植物油等液體,以提供熱管1之受熱 端1 0浸浴於加熱液體2 0中而升溫。 b)以一紅外線熱影像器(Infrared Thermography or ⑩Infraredlmager)4,針對熱管1覆蓋有薄膜3之部位進行 檢測,以測得熱管1的熱傳溫度。 此外,在步驟a)中,所述待檢測部位通常係指熱管1 之冷卻端1 1,或者,亦可針對熱管1某一中段部位進行檢 測,而薄膜3厚度最好介於0. 0 0 5〜0. 0 4 0 mm之間,該薄膜3 可為塑膠薄膜,如聚氣乙烯等;另,薄膜於製造時可加入
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五、發明說明(4) 色伞刀’進一步改善、調整其鲈 熱管待檢測部位之表面、或$膜::係數。同時,亦可於 ,勒膜可為植物油、礦物油或二面上’塗佈-層黏膜 性之膠(仏〇,其係可使執;】成:二尤指具有較低黏 佳,以減少檢測上的誤差。…”缚膜3之間的接觸性更 再者,本發明可適用於大旦… 支熱管1並列排置(如$三圖所里一、γ、1,業上/其係將複數 蓋於各熱管1之待檢測部* :,且僅需以-薄膜3覆 請逐1量之動作,故在、二= 線4:檢= =程,即可得到本發明以紅外 閱第二圖及第三圖所示,本發明係提供一種以 外線…β像檢測熱管溫度之裝置,其係與上述熱管1配1 工作,#並於該熱管i待檢測部位上覆蓋有一薄膜(f丨“『 3 ;該裝置係包括一加熱單元2、及一紅外線熱影像器(
Infrared Thermography 〇r Infraredlmager ) 4 ;其中· 該加熱單元2乃用以對熱管1之受熱端u輸入熱量,如 丨前所述,加熱單元2可為一加熱器、熱風加熱裝置(如^ 對流)熱輪射加熱裝置(如加熱板)、或為一本發明、、 舉實施例中之液體容器;由於此一部份已為前文所^,所 在此不再對此於以贅述。 κ ’故 該紅外線熱影像器4係相對於熱管1覆蓋有薄暝3 部位處,意即熱管1之冷卻端丨丨上,且該薄膜3係 ' =該 %熱管
第8頁 1252305 五、發明說明(5) 1與紅外線熱影像器4之間 此外,該震置可更包括 體均勻之材質S製成,=整二Ϊ f5,該背板5主要係以一 或塑膠板所製成,並位於熱其月爱反$皆為銅、鋁等金屬板 處:::提供熱管1待檢測::Λ有部位的下方 ,以使紅外線熱影像器4 ,勺勾且穩定的背景溫度 該背板係設於一支座50上,’以::數值更為精準’同時’ 與定位。 供熱管1較佳之支標 是以,藉由上述之構造組成, 線熱影像檢測熱管溫度之裴置。卩可得到本發明以紅外 因此’藉由本發明以红外! 法及其裝置,由於薄膜3可提供較檢測熱管溫度之方 發射係數,約為〇 · 4〜〇 · 8,故可使1〜、疋與較大數值的輻射 熱管1之熱傳溫度時更為穩定°而^外^熱影像器4在檢測 時亦可適用於熱管丨大量的檢 4传正確之溫度,同 綜上所述,本發明確可達到預期之 習知之缺失,又因極具新穎性及進步使:目@,而解決 利申請要件,爱依專利法提出申請,&元全符合發明專 專利,以保障發明人之權利。 啧h詳查並賜准本案 惟以上所述僅為本發明之較佳可 拘限本發明之專利範圍,故舉凡運用1轭例,非因此即 内容所為之等效技術、手段等變化,^明說明書及圖式 明之範圍内,合予陳明。 =5理白包含於本發 第9頁 1252305
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Claims (1)
1252305 六、申請專利範圍 1 、一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之方法,包括 下列步驟: a) 將待檢測熱管之受熱端輸入熱量,並於該熱管待檢 測部位上覆蓋薄膜;及 b) 以紅外線熱影像器針對該熱管覆蓋有薄膜之部位進 行檢測^以測得該熱官的熱傳溫度。 2、如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)之該熱管待檢測部位係指 該熱管之冷卻端。 > 3、如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)於該熱管待檢測部位表面 、或該薄膜表面上,係塗佈一層黏膜。 4、 如申請專利範圍第3項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中該黏膜係以為植物油、礦物油或 合成油為之。 5、 如申請專利範圍第1項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之方法,其中步驟a)所述之薄膜,係以厚度介 於0.005〜0.040mm之間的薄膜為之。 > 6、一種以紅外線熱影像檢測熱管溫度之裝置,其係 與至少一熱管配合工作;包括: 一薄膜,覆蓋於該熱管待檢測部位上; 一加熱單元,用以對該熱管之受熱端輸入熱量;及 一紅外線熱影像器,相對於該熱管覆蓋有薄膜之部位 處,且該薄膜係位於該熱管與該紅外線熱影像器之間。
第11頁 1252305 六、申請專利範圍 7、 如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該薄膜厚度係介於0. 0 0 5〜0. 040 mm之間。 8、 如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該薄膜與於該熱管待檢測部位之 間係塗佈一層黏膜。 9 、如申請專利範圍第8項所述之以紅外線熱影像檢 測熱管溫度之裝置,其中該黏膜係為植物油、礦物油或合 成油。 ® 1 0、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一加熱器。 1 1 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一熱風加熱裝 置。 ' 1 2、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一熱輻射加熱 裝置。 1 3 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像 彳p檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱單元係為一液體容器, 且於該液體容器内容納有加熱液體。 1 4、如申請專利範圍第1 3項所述之以紅外線熱影 像檢測熱管溫度之裝置,其中該加熱液體係為水、礦油或 植物油者。 1 5 、如申請專利範圍第6項所述之以紅外線熱影像
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Priority Applications (1)
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Cited By (1)
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TWI630377B (zh) * | 2017-04-18 | 2018-07-21 | 亞迪電子股份有限公司 | 熱像檢測裝置 |
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2005
- 2005-01-07 TW TW94100450A patent/TWI252305B/zh not_active IP Right Cessation
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