TWI238387B

TWI238387B - Method of and apparatus for managing disc defects in disc, and disc on which defects are managed

Info

Publication number: TWI238387B
Application number: TW092126299A
Authority: TW
Inventors: Jung-Wan Ko; Kyung-Geun Lee; Sung-Hee Hwang
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2002-10-10
Filing date: 2003-09-24
Publication date: 2005-08-21
Also published as: JP5025087B2; SG152921A1; RU2006125152A; US20070109932A1; PL374604A1; EP2328152A3; US7463564B2; RU2457555C2; US8081547B2; TW200406001A; BRPI0314659B1; CN101083112B; US20080151720A1; US20040125717A1; BR0314659A; JP2012185901A; KR20040032674A; EP1550125A1; MXPA05003624A; JP5259855B2

Description

1238387

相關應用之互相參照本申請案主張對於在2002年1〇月1〇曰於韓局提出之編號為2 0 〇 2 - 6 1 8 9 7之韓國專利中請案2 9慧財產在此完整揭露其内容以作為參考。〃之優先權，發明所屬之技術領域本發明是有關於碟片缺陷管理，且特別是利用暫時缺陷管理區（TDMA)來管理碟片缺陷$ 關於—種置，以及一種利用此方法與裝置來執行缺陷法與裝先前技術 I之碟片。缺陷管理是一種覆寫有儲存之資料之程序。上述資分，因而補償缺陷所造成的理是利用線性取代（1 i n e a r (slipping replacement) 缺陷之使用者資料區將以無挪移取代法，將挪移具有缺一個無缺陷之使用者資料區線性取代法與挪移取代記錄資料且能夠利用隨機存料被覆寫至碟片資料區資料損失。一般 °°之新 , J a ，缺陷 replacement)法或挪移取= 來執行。於線性取代法，2 缺陷之備用資料區來取代具: 陷之使用者資料區，並使用: 〇法兩者只可應用於能夠重複j 取（random access)方法執行

記錄之碟片，例如DVD-RAM/RW。換言之，線性取代法與挪移取代法難以應用於只允許記錄一次之可寫一次型碟片 (wri te-once discs) 〇

一般而言，碟片所出現之缺陷是藉由記錄資料於碟片然後再確認資料是否已經正確地記錄於碟片來偵測。然

12293pif.ptd 第7頁 1238387 發明說明（2) 而旦$己錄資料於可寫一刑泄μ 以及管理其缺陷。 ”、、_ i碟片，將無法覆寫新資料在發展CD-R與DVD-R之後，蔣道人s ，組（GB)記錄容量之高具有數十十億位元貴且允許可快速讀取；d:;;碟片：因為其… 碟片然』，因為缺陷管理對於可寫-次型二以在備份操作期間若侦測到缺陷區(亦份操作在系统未頻繁#用上知作。-般而言，因為備區报；可寫-次型碟片之缺陷態，使得備份操作無法完整地：：操作會整夜維持中斷狀發明内容

置，η: 一種能夠應用於碟片之缺陷管理方法*裝置以及-種利用此缺陷管理方万U 本發明也提供一種縱使在記 I 、《之碟片。能夠管理碟片缺陷之缺陷管理方期間谓測到缺陷也作不致於中斷，以及一種具有此方;=:使得此記錄操、本發明之其他觀點及/或優點部分將於下。别句^ 以陳述，並且部分將可由此說明、；1说明中予明而得知。 ’ ® ’或可藉由實施本發根據本發明之_ - 规點隹此提供一種碟H ^ ^ ^ L 個用以記錄使用者資料之資料區，f茱片，其中包括一及一導出區當中至少一區且用以> 乂及一個位於—導入區 …£且用MS己錄與上述資料區所記錄

1238387

〜队用者眘树‘ 暫時缺心Γ之暫時料訊 ° (¾ 〇較佳但非區之記錄#、要情況為對於每一個記錄使用者資料方。 '、喿作都纪錄暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理| 之

料區2 ^佳但非必要情況為暫時缺陷資訊包含指示資資料，或勺、位置之資訊，其中記錄了相對應之使用者之資訊。曰示個用以替換此缺陷區之取代區之位置根碟片缺操作所於一暫入區及缺陷資時缺陷較錄操作記錄步缺陷資述導出據本發明陷之方法 6己錄之資時缺陷管一導出區訊之管理管理區。佳但非必都重複上驟；以及訊記錄於區當中至之另一觀點在此提供一種用以管理碟片之，，其中包括：將與碟片資料區根據一記錄料有關之缺陷資訊當作暫時缺陷資訊記錄 =區，此暫時缺陷管理區位於碟片之一導 t中至少一區；以及將用以管理上述暫時二貝汛S作暫時缺陷管理資訊記錄於上述暫要情況為上述方法更包括：對於每一個記述缺陷資訊之記錄步驟及上述管理資訊之將最後^記錄之暫時缺陷管理資訊及暫時一缺陷管理區，此區位於上述導入區及上少一區。期間執行最後所記根據本發明之一觀點，在终結碟片錄之暫時缺陷資訊之記錄步驟。〃較佳但非必要情況為上述缺陷資訊之記錄步驟更包

1238387 五、發明說明（4) 括·將指示上述白人4

區位置之資^^ & 3目對應使用者資料之資料F …資:τ 記: ，錄；或循序上；以作上述暫此暫時缺陷資訊區之起二；：暫w陷資訊區，並且由較佳但非必要情、> 序地記錄上述缺陷資1二述官理資訊之記錄步驟包括循暫時缺陷管理資訊暫時缺陷管理區所包括；：點開始。由此暫時缺陷管理資訊區之終根據本發明之又一記錄及/或再生裝置另；觀勺點在此提供-種可使用碟片之元記錄資料於碟片或由、括·;記錄/讀取單元，此單控制器控制上述記錄/±碟片頃取貧料，·以及一控制写，此 -記錄操作所記錄之、資項料取單元以便訊記錄於一暫時缺理^缺陷資訊當作暫時缺陷資一導出區當令至少—^理£，此區位於碟片之一導入區„ ，之管理資訊當作“二上述暫時缺陷f 管理區。 s理貝矾圮錄於上述暫時缺陷車交佳但非必要愔、單元以便對於每—個記制上述記錄/讀取述暫時缺陷管理資訊記錄於上述暫時=暫時缺陷資訊及上終結碟片期間將最後所記錄士2缺陷管理區；以及在之暫時缺陷管理資訊於二τ缺陷資訊及最後所記錄錄於一缺陷管理區，此區位於碟片 _ 12293pif.ptd 第10頁 1238387 r -----. 五、發明說明（5) f導入區及上述導出區當中至少一區。記錄本之又另-觀點在此提供-種可使用碟片之料於碟片或由：2 ::記錄/讀取單元’此單元記錄資制上述記錄/續取項_取貧料’以及一控制11，此控制器控操作所記釺$ # 以便將與碟片資料區根據第一記錄資訊記』：工：:2關之缺陷資訊當作第-暫時缺陷及—導出區者：5 ,、，理區，11匕區位於碟片之一導入區資訊之缺“二=將用以管理上述第一暫時缺陷述暫時缺陷管理ί I苐一暫時缺陷管理資訊記錄於上記錄之第二資料;Μ與碟片資料區根據第二記錄操作所錄於上述暫時： = 陷資訊當作第二暫時缺陷資訊記缺陷資訊之缺陷管理“:以及將用α管理j^第二暫時於上述暫時缺陷當作第二暫時缺陷管理資訊記錄為了讓本發明$ μ H u 明顯易懂，下文牿夹 ^和/、他目的、特徵、和優點能更詳細說明如下：牛，、父佳實施例，並配合所附圖式，作實施方式本發明現在將舉其較以詳細地說明。不 ^例，並 > 照所附圖式，予件。以下將參照附圖二^ ^的相同參考數字表示相同元第1圖是根據本發明夕父佳實施例以解釋本發明。裝置之方塊圖。參照χ < 一較佳實施例之記錄及/或再生記錄/讀取單元丨、控、圖]上述記錄及/或再生裝置包括工态2以及記憶體3。記錄/讀取單元工

12293pif.ptd 第11頁 1238387 五、發明說明（6) I己錄資料於碟片100(其為一種根據本發明之第一實施二存媒體）並且從碟片100讀回資料以檢驗所記錄之資二理Ί ΐ。控制器2執行根據本發明之一實施例之缺陷、 Β里。於本實施例，控制器2使用一種寫後檢驗法 henfy-after_write meth〇d)，其中以預錄資料於碟片100，然後檢驗所記錄準確二:己，記錄之資料之缺陷"奥言之，控制二價早位來記錄使用者資料於碟片j 〇〇， “ ^乍之碟趣上有缺陷之區; 匕：錄上述資料之後，控制器2將產生指亍碑片100之缺陷區位置之資訊當作暫 ^才曰不碟陷資訊儲存於記憶體3 存：i:: “ ί二:預的定缺’ 彳控制器2將記錄所儲存之資訊當單元工作，或f::::乍：f根據使用者意願所決定之一記錄操作表示-個將碟片丁100°己载錄入工上作二根據本實施例’-置、記錄資料於碟片100、以及將ϋ錄及/或再生裝或再生裝置取出之程序。在上:片100由上述記錄及/ 檢驗資料至少一次。一般而+ j 4知作期間，將記錄及利用上述寫後檢驗法所獲:得：缺己錄及檢驗資料數次。體3。、曰貝戒將暫時儲存於記憶若使用者在記錄資料之德述記錄及/或再生裝置之退於、、移除碟片1 00而按下上文〃丑（未顯示），則控制器2將 ΙΜ 12293pif.ptd 第12頁 1238387 五、發明說明（7) 要求終止圮錄操作。接著，* 之資訊’並提供所讀 =2將：取記憶體3所儲存記錄/讀取單元丨以,己钎斛錄頃取單元1，且控制右已經完成碟片1〇〇乃資料於碟片10。並且要終結二=步：(亦即將不再記錄述暫時缺陷資訊及上述暫缺、1控制益2將記錄上缺陷管理區。 9時缺吕理身訊於碟片100之— 區及記錄及/或再生裝置㈣缺陷管理 , 使用者貝枓。當說明中提及如第1圖所示之 δ己錄及/或再生裝置時，顯然上 t 裝置或單獨的再生裝置或記錄及再生裝置早獨的5己錄禅片Ι^Γ夕圖，第2B圖•示如本發明之實施例所述第1圖之二片：^構。第2A圖詳細繪示具有一記錄層L0之碟片料區以及—早導二錄層上碟:導碟「片100包括-導入區一「導出區上述導入區位於碟片100之内部，而 = 、品位於碟片1 〇〇之外部。上述資料區位於上述導 2 = 了上述導出區之間，並且分為一使用者資料區與一備上述使用者資料區是上述資料區當中一個記錄使用資料之區域。上述備用區是上述資料區當中一個使用者J 料，以=的區域，並且是具有缺陷之一部分使用者資料區 ^ 代區域。上述備用區用以補償上述使用者資料區之缺所仏成之記錄區域損失。假定缺陷可能發生於碟片10 0 12293pif.ptd 第13頁 1238387 五、發明說明（8) 之内，則妨 1 0 0之全部次但非必要之情況為假設上述備用區占碟片片1〇〇。。貝料容量之5°/〇，以便能夠記錄較大量資料於碟苐2B圖纟备一目+ 重記錄層碟、；；不/、i兩記錄層10及L1之碟片100以表示雙成於第一:己二二導入區資料區以及-外圍區依序雙 -外圍區、ί 内部至第一記錄層L°之外部。並且 L1之外部至：:J -導出區依序形成於第二記錄層碟片1〇〇不同的―Λ 部。與第2A圖之單一記錚^ 部。亦印，第2二導出區位於第26圖之碟片_之内中資料之2 斗之碟片10〇具有相反執跡路徑（OTP)，足嚷~ ^ °己錄方式是由第一記錄層L0之導入& M、層L0及L1之每一層。ώ °°。上边備用區分配給上述記錄 $第2Α圖及第2Β圖之實施例，備用區位於使 Ϊ =之間以及使用者資料區與外圍區之間。若i: β此a使用一部分使用者資料區作為另一個備用區二:、’可能有超過一個備用區出現在導入區與導出區之。構。Γ昭圖根ΐ本發明之一實施例之碟片100之詳“ 構參照第3圖’缺陷管理區位於碟片1〇、：區以及外圍區當中至少一 F 匚 ¥出導入區及導出區當中ίΖ區並且時缺陷管理區位於一般而言，將與管理碟片1。。之缺陷有關之資訊記錄 ul 12293pif.ptd 第14頁 1238387 五、發明說明（9) _ 於缺陷管理區。此種資訊包括磾 J陷資訊之位置、是否執行缺理〇= 二所假如是可寫一次型碟片，則根據本發明：= 田先刖所圯錄之資料改變時通常欠硯點錄之資料之後。、斫貝料記錄在先前所記一般而言，當碟片載入如第1 糾- ^ 時，此裝置將由碟片100之導入區錄/再生裝置 =資γ而，若上述導人[=== 呓纾n 4入此碟片之後將花費較長的時間於準備f料< 口己錄或再生。因此，本發千1薄貝枓之缺陷資訊的觀念。•時缺陷；；資訊與暫時錄在：：於導入區及/或導出區之v = 根據本發明之一膏妳你丨，w m 了釈I曰自理&。管理。因λ，暫時缺陷資訊勺衽線性取代法來執行缺陷置之資邹、ρ 包括指示碟片100之缺陷區位代區：:分示=0當中能夠作為此缺陷區之* 資訊，並；：:：示置之資訊。田中°己錄暫恰缺陷資訊之位錄暫時缺暫管：:η，作結束時將記括暫時缺陷資訊#。及暫時缺二=。Γι缺陷管理區包括與記錄於記錄操作#。期間：；;#戶出陷資訊以及有關一取代區之資1 m出現之缺陷有關之資 '匕之貝讥。暫時缺陷資訊#1包括與記錄 12293pif.pt(j 第15頁 1238387

於記錄操作# 1期間關一個作為暫時缺缺陷管理區包括暫資訊#0、#1包括用訊。之資料所出現之缺陷資訊# 1之取代區時缺陷管理資訊#0 以管理暫時缺陷資陷有關之資訊以及有之資訊。並且，暫時、# 1。暫時缺陷管理訊# 0、# 1之相對應資若不想要 100)，缺陷管管理區現訊於缺於碟片缺陷管區，因由記錄性。於錄之缺在終結讀取缺 (DMA) 對碟片，不能或不要記錄另外的資料於碟片丨0 0或若使用者記錄另外的資料於碟片100(亦即需要終結碟片則暫時缺陷資訊區所記錄之暫時缺陷資訊以及暫時理資訊區所記錄之暫時缺陷管理資訊將記錄於缺陷〇在將說明再度記錄暫時缺陷管理資訊陷管理區侧之理由。假如不再記錄另外的資料貝 1 〇〇(亦即需要終結碟片i 0 0 )，則被更新數次之暫時理資訊及暫時缺陷資訊將移至導入區之缺陷管理此能夠快速讀取碟片100所記錄之資m。並且，藉缺陷管理資訊於複數個區域能夠增加資訊之可靠本發明之一實施例，暫時缺陷資訊區#〇至#丨-1所記陷資訊被重複地記錄於暫時缺陷f訊區#i。因此， 1 11 G G期間％夠由最後所記錄之暫時缺陷資訊# i 陷資訊並且再度記錄所讀取之資訊於缺陷管理區 3 =^有成十十彳思位兀組（GBs)之記錄容量之高密度 L ¥而要刀配個叢集給一個記錄暫時缺陷管理資

1238387 五發明說明（11) 訊#丨之區域，並且分資訊#i之區域。這是因為二給-個記錄暫時缺陷時通常最好以叢集之單位；:己：2小實體單位是-叢集訊#丨之數量只有幾千位元组° 貝訊，雖然暫時缺陷資總數量最好大約是此碟.s旦。碟片100所允許之缺陷慮到與一缺陷有關之資二=之百分之五。例如，考小是64千位元組（KBs)長1，大疋位元組長而一叢集之大記錄暫時缺陷資訊# i。，因此大約需要四到八個叢集來根據本發明之一觀 Λ 陷資訊#i及暫時缺陷管此句執仃寫後檢驗法於暫時缺片100當中包含此缺陷之二,。當偵測到-缺陷時，碟性取代法記錄於—備二缺=記錄之資訊可能利用線個與此缺陷區相鄰之或者利用挪移取代法記錄於- Μ 4A圖至第4D圖綠示根據本發明之實施例之暫時缺陷 ¥理（^ (TDMA )之資料結構。參照第4A圖，暫時缺陷管理區才f ^輯^刀為兩部分：一暫時缺陷資訊區，以及一暫時缺陷官理#訊區。暫時缺陷資訊TDFL#〇、TDFL#1、TDFL#2被循序地$錄於暫時缺陷資訊區，並且由暫時缺陷資訊區之起點開始朝向其終點。暫時缺陷管理資訊TDDS#〇、 TTDDS#1、TDDS#2由暫時缺陷管理資訊區之起點開始朝向其終點循序地予以記錄。暫時缺陷管理資訊、 TDDS#1、TDDS#2分別對應於暫時缺陷資訊TDFL#〇、 TDFL#1、TDFL#2 ° 參照第4β圖，暫時缺陷管理區被邏輯地分為兩部分：

12293pif.ptd 第17頁 1238387

Μ及一暫時圖所示區當中缺陷管時缺陷終點開 TDDS#0 始朝向 TDDS#0 TDFL#0 缺陷 > 訊區、 q 1…丨，日，吕 >王貝汛區，如第4 A :、、;、而上述暫時缺陷資訊區及暫時缺陷管資錄資訊之川苜皮命够/1 Λ m t ^ … 1貝Λ η ^只口丨u扭久$ α才蜗陷瞢採咨

Lire第4Α圖之暫時缺陷資訊區及暫時貝汛區田中記錄資訊之順序不同。詳細斬資訊TDFL#〇、TDFL#1、TDFL#2由暫時缺陷資:凡二始朝向其起點循序地予以記錄。暫時缺陷管理; 、TDDS#1、TDDS#2由暫時缺陷管理資訊區之終點其起點循序地予以記錄。暫時缺陷管理資訊、、’’’汗 TDDS# 1、TDDS#2分別對應於暫時缺陷資、TDFL#1、TDFL#2。、。參照第4C圖’相對應之暫時缺陷資訊及暫時缺陷資訊是暫時缺，管理區（TDMA)所記錄之相對應暫時管理資 Λ當中的一對貧訊。亦即，暫時管理資訊了〇1^#〇、 TDMA# 1、TDMA#2由暫時缺陷管理區之起點開始朝向其終點循序地予以記錄。暫時管理資訊TDMA#〇包括一對相對應之暫=缺陷官理資訊TDDS#0及暫時缺陷資訊71)1^#〇。暫時管理資訊TDMA#1包括一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#i 及暫時缺陷資訊TDFL#1。暫時管理資訊TDMA#2包括一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#2及暫時缺陷資訊TDFL#2。參照第4 D圖’相較於第4 C圖之暫時缺陷管理區，相對應之暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理資訊是暫時缺陷管理區所，錄之相對應暫時管理資訊當中的一對資訊，但是其記錄貧訊之順序不同。亦即，暫時管理資訊71)“#〇、 TDMA# 1、TDMA#2由暫時缺陷管理區之終點開始朝向其起點

1238387 五、發明說明（13) 循序地予以3己錄。暫時管理資訊TDMA#〇、TDMA#1、TDMA#2 分別包括一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#〇及暫時缺陷資訊TDFL# 0、一對相對應之暫時缺陷管理資訊τdm# 1及暫時缺陷資訊TDFL#1、以及一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#2&暫時缺陷資訊TDFL#2。暫+缺^ g理貝第5圖繪示根據本發明之一實施例在使用者資料區a及備用區B之中的資料記錄。資料可能以磁區（sect〇rs)或叢集（clusters)之單位來處理。磁區表示電腦檔案系統或應用所能管理之資料之最小單位，而叢集則表示能夠立即被實體地記錄於碟片之資料之最小單位。一般而言，一個或多個磁區構成一個叢集。有兩種磁區··實體磁區與邏輯磁區。實體磁區是碟片上要記錄一磁區資料之一區域。一個用以偵測實體磁區之位址稱為實體磁區號碼（physical sect〇r numbe：f， PSN)。邏輯磁區是檔案系統或應用所能管理之資料之單位。一個用以偵測邏輯磁區之位址稱為邏輯磁區號碼 (logical sector number，LSN)。當記錄資料於碟片 1〇〇時，如第1圖所示之碟片記錄/再生裝置利用實體磁區號碼 (PSN)來損測資料之記錄位置，而於一電腦或一應用之中整個資料是以邏輯磁區號碼（LSNs)之單位來管理並且利用邏輯磁區號碼（LSN)來偵測資料之位置。記錄/再生裝置之控制器2根據碟片1 〇〇是否有缺陷以及記錄資料之初始位置來改變邏輯磁區號碼（LSN)與實體磁區號碼（pSN)之間的關係0

12293pif.ptd 第19頁 1238387 五、發明說明（14) 參照第5圖，A表示一使用者資料區而B表示一備用區’其中實體磁區號碼（PSNs)依照遞增順序分配給複數個磁區（未顯示）。—般而言，每一個邏輯磁區號碼（LSN)對應於至少一個實體磁區號碼（pSN)。然而，因為邏輯磁區號碼（LSNs)依照遞增順序分配給無缺陷的磁區，所以當碟片100具有缺陷區時，縱使實體磁區之大小與邏輯磁區之大小相同也無法維持實體磁區號碼（PSNs)與邏輯磁區號碼 (LSNs)之間的對應。次…於ΐ料區A ’區段1001至1 0 07表示執行寫後檢驗法之二貝料之單位。§己錄裝置記錄使用者資料於區段1 〇〇 1，然後返回區ί又1 0 0 1之起點，並且檢查是否適當地記錄使用者資料或區段1001是否有缺陷。若在區段1001之一部分偵測到缺則將此"卩分標示為缺陷# 1。缺陷# 1所記錄之使用者資料也將記錄於備用—之—部分。在此，備用㈣當中覆寫缺陷#2所記錄之資料之此部分稱為取代#1。其—人’兄錄裝置記錄使用者資料於區段1 002，然後返回區& 1 0 0 2之起點，並且檢查是否地記上區段1 0 0 2是否有缺阶。w 旁缺。右在區段1 〇〇 2之一部分偵測到缺陷而t此部分標示為缺陷#2。同樣地，與缺陷#2相對應於使用者資料L之】二^別標示缺陷#3與取代 2丄， Λ之區奴i〇〇3與備用區B。於區段1004，並未=現缺陷因此不標示缺陷區。 ifn 田^ f ^檢驗區段1〇〇4之資料之後要求結束記錄操作、’、卩§使用者按下記錄裝置之退出按鈕或一記錄操 1238387

作所配置之使用者資料之記錄步驟已經完成時，將有關區段1001至1 003所發生之缺陷#1至#3之資二f裝置時缺陷資訊TDFL#0記錄於暫時缺陷管理區。並且，田作暫官理暫時缺陷資訊TDFL#0之缺陷管理資訊當作斬:^ 理資訊丁 D D S # 0記錄於暫時缺陷管理區。、、^盲當記錄操作#1開始時，將記錄資料於區段1〇〇5至 1〇〇7，並且缺陷#4及缺陷#5與取代#4及取代#5分別形暫時缺陷管理區之使用者資料區A與備用區β，如，段1001至1 004之說明。若要求結束第二記錄操作，則記= 裝置將記錄有關缺陷#4及缺陷#5之資訊當作暫時缺陷資訊 TDFL#1，並將再度記錄暫時缺陷資訊TDFL#〇所包含之^ ° 訊。其後，將用以管理暫時缺陷資訊TDFL#1之缺陷管理次訊記錄於暫時缺陷管理區。貝第6 A圖及第6 B圖繪示根據本發明之一實施例之暫時缺陷資訊TDFL#0及TDFL#〗之資料結構。第7圖繪示有關缺陷、 # 1之資訊之資料結構。參照第6A圖及第6B圖，暫時缺陷資訊TDFL#〇包含有關缺陷#1至缺陷#3之資訊。詳細來說，有關缺陷#1之資訊指不個存在缺陷# 1之區域之位置以及一個記錄取代# 1之區域之位置。有關缺陷#2之資訊指示一個存在缺陷#2之區域 ^位置以及一個記錄取代#2之區域之位置。有關缺陷#3之資訊指示一個存在缺陷#3之區域之位置以及一個記錄取代 # 3之區域之位置。暫時缺陷資訊TDFL#1除了暫時缺陷資訊TDFL#〇所包含

1238387 五、發明說明（16) _ 之資訊以外，争句会右關暫g#妯π次更有關缺陷#4及缺陷#5之資訊。亦即訊觀#1包括有關缺陷# : ’ 之貝汛、有關缺陷#3之資啕關缺陷#2 缺陷#5之資訊。 °有關缺卩曰#4之貝訊以及有關參照第7圖，有關缺陷#丨之指標以及一個指示取抑/1之貝汛巩明一個指示缺陷#i 於；t®扣山 /、弋# 1之指標。詳細來說，缺陷·令才曰標指出缺陷#丨之起點及炊 ^ ^ ^ # . &缺陷#!之 #i之起點及終點。，而取代#ι之礼標指出取代陷管理方法。夫昭第8 n 據本發明之一貫施例之缺撼楚 ^ 、第8圖，於步驟8 0 1，記錄裝置將右關拍 P°己錄刼作所記錄之資料之缺陷資訊當作第一暫時^ 記錄於碟片之暫時缺陷管理區。此程序片缺陷。於步驟802，將用胃里碟理資訊當作第一暫時缺 s弟暫寺缺心資訊之管區。丁紙丨曰s理貝讯圮錄於暫時缺陷管理於步驟803 婪牛碰。將檢查是否需要終結碟片。於牛踯8n/1 右步驟803測定為不需要終纟士於步驟8〇4， 802，同時將提供队、° ” 、複ν驟8〇1及步驟 | J吋將徒供給上述記錄操作、上述蕲 /抑及上述暫時缺陷总_ ^ ^ Ύ 上乩q時缺陷資訊以 =日叶缺卩曰&理資訊之索引加1。然而，用其他數目於上^：杏^丨…Μ k 〃、、員然此夠使 ,σϊ 上迷索引以便擴大用以區分所詐你4次Η 組別之數目。 7。己錄之資料之碟片，則將最之暫時缺陷資之暫時缺陷管於步驟80 5，若步驟8〇3測定為需要終結 f f記錄之暫時缺陷管理資訊及最後所記錄晟屺錄於缺陷管理區。亦即，將最後所記錄

12293pif.ptd 第22頁 1238387 五、發明說明（17) 理資訊及最後所記錄< _ ^身理資訊及最終暫時缺嗯二缺陷負5fl §作最終暫時缺陷管據本發明之一觀點，可二^記錄於缺陷管理區（DMA)。根訊及最終暫時缺陷資气=重複地記錄最終暫時缺陷管理資並且，根據本發加資料偵測之可靠性。最終暫時缺陷管理資訪且觀點，可旎執行寫後檢驗法於時缺陷管理資訊及最故新主、·冬暫時缺^貝矾。若由最終暫當中一個出現缺陷之區二時缺陷資訊谓測到缺陷，則碟片記錄之資料可能被認為:^及在具有缺陷之此區域之後所理資訊及最終暫時缺陷；；= (:;广將最終暫時缺陷管且可能再度記錄最終暫睹：^域t不為一缺陷區），並訊於此缺陷區之後。、缺官理貝矾及最終暫時缺陷資苐9圖是根據本發明 —. 法之流程圖。朱昭第9圖另一貝訑例之碟片缺陷管理方資料以資料單位1己錄於次於步驟901 ’記錄裝置將使用者陷存在於碟片i 00之F B {使用者貝料貞測是否有缺具有缺陷之=二域。:/「驟9 °3 ’第1圖之控請將用者資料覆3=;:缺；區，將此缺陷區所記錄之使 π只丨T伋馬於一備用區以產生一指示此缺陷區與此取代區之指標資訊。；步二產生分別述指標資訊當作第一暫時缺陷資訊儲存於第，將上 3。於步驟905，檢查是否要求結束摔圖之記憶體決定『…錄操作，則將重複步驟二作^ 。而’於步驟906 ’若步驟9G5決定結束記錄操作（亦 12293pif.ptd 第23頁 1238387 五、發明說明（18) --— 即藉由使用者輸入或根據記錄操作而完成使用者資料之記錄步驟），則控制器2將由記憶體3讀取暫時缺陷資訊#〇並將暫時缺陷資訊#〇當作暫時缺陷資訊記錄於一暫時缺陷管理區。於步驟907，將用以管理暫時缺陷資訊曰、 TDFL#〇之管理資訊當作暫時缺陷管理資訊TDDS#〇記錄於上述暫時缺陷管理區。、於步驟9 08 ’檢查是否需要終結碟片1〇〇。若步驟9〇8 决疋不需要終結碟片1 〇〇，則將重複步驟9 〇 i至步驟9 〇 7同時將提供給上述記錄操作、上述暫時缺陷資訊以及上述斬時缺陷管理資訊之索引加1。然而，顯然能夠使用其他數9 目於上述索引以便擴大用以區分所記錄之資料之組別之數目° 於步驟910，若步驟908決定需要終結碟片100，則將最，所記錄之暫時缺陷資訊TDFL# i及最後所記錄之暫時缺陷官理資訊TDDS#i當作缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊D])s呓，於一缺陷管理區（DMA)。根據本發明之一觀點，可能重複地圮錄缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊])1)3數次以增加資偵測之可靠性。、’ 並且，根據本發明之一觀點，可能執行寫後檢驗法於缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊DDS。若由上述缺陷資訊])Fl 及缺陷管理資訊DDS偵測到一缺陷，則一個具有此缺陷之區域以及在具有此缺之此區域之後所記錄之資料可能被為為疋無效的（亦即將包括缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊 DDS之區域標示為一缺陷區）並且可能再度記錄上述缺陷

12293pif.ptd 第24頁 1238387 五、發明說明（19) 管理資訊及缺陷資訊於此缺陷區之後。上述缺陷管理方法可能+ 眚# 接士 L 電腦能夠執行之電腦轺七氺貫知。構成上述電腦程式之程式及自電，耘式來知此項技藝之電腦程式設計師所理 b :転易地被熟腦可讀媒體。當電腦讀取或热〜、述耘式儲存於電本發明之缺陷管理方法。在仃程式時’電腦將執行根據磁性記錄媒體、光學記錄媒^述電腦^讀媒體可能是錄媒體。、、載波媒體韌體或其他可記夠利都需要，但是很明顯地控制_ 可能以-個具有㈣之晶片來實施上述電η 法。飞特疋目的之可程式電腦來執行上述方此夕卜很明顯地 + ^ Λ ' 為了達成幾十十億位元組包括-個；爾之弋錄容量，因此記錄及/或再生單元1可低波長、：數：,錄幾十十億位元組之資料於碟片100

孔徑之單元、盥駐=m)波長之光線並且具有0. 85之聋片（AOD)相容之、單"元先碟片相容之單元、及/或與先進光理。:艮d月ί發明提供可應用於碟片之碟片缺陷售 /或導出區/使Λ—觀點’暫時缺陷資訊區位於導入區在終結碟片期門于、陷貧訊能夠重複地予以記錄。並且 ^ 3 ’由暫時缺陷管理區只讀取最後所記錦

1238387 及、發明說明（20) 暫時缺陷資訊，並且將其記錄於缺陷管理區，因而能夠有效地利用缺陷管理區。因此，當執行缺陷管理時能夠記錄使用者資料於甚至是可寫一次型碟片，因而能夠執行更穩定的備份操作而不致於中斷。當說明中提及可寫一次型碟片時，顯然上述方法能夠 =用於可覆寫媒體或具有可寫一次部分及可覆寫部分之媒雖然本發明用以限定本發明原理及精神的情發明之權利保護準。已經以其較佳實施例揭露如上，麸豆，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之況下，當可作些許之更動與潤飾，因此範圍當視後附之申請專利範圍所界定

1238387 圖式簡單說明第1圖是根據本發明之一實施例之記錄及/或再生裝置之方塊圖。第2 A圖及第2B圖繪示根據本發明之實施例之碟片之結構。第3圖繪示根據本發明之一實施例且如第2 A圖及第2β 圖所示之碟片之資料結構。第4 A圖至第4 D圖繪示根據本發明之實施例之暫時缺陷管理區之資料結構。第5圖繪示根據本發明之一實施例在使用者資料區及備用區之中的資料記錄。第6A圖及第6B圖繪示根據本發明之實施例之暫時缺陷資訊TDFL#0及TDFL#1之資料結構。第7圖繪示根據本發明之一實施例之有關缺陷# i之資訊之資料結構。第8圖是根據本發明之一實施例之缺陷管理方法之流程圖。第9圖是根據本發明之另一實施例之缺陷管理方法之流程圖。圖式標記說明 1 記錄/讀取單元 2 控制器 3 記憶體 10 0 碟片 1001 具有缺陷#1之區段

------ 1238387 圖式簡單說明 1002 具有缺陷#2 之區段 1003 具有缺陷#3 之區段 1004 無缺陷區段 1005 具有缺陷#4 之段 1006 具有缺陷#5 之段 1007 無缺陷區段 A 使用者資料區 B 備用區 DMA 缺陷管理區 L0 第一記錄層 L1 第二1己錄層 TDDS#0 暫時缺陷管理資訊#0 TDDS#1 暫時缺陷管理資訊# 1 TDDS#2 暫時缺陷管理資訊#2 TDFL#0 暫時缺陷資訊# 0 TDFL#1 暫時缺陷資訊# 1 TDFL#2 暫時缺陷資訊#2 TDMA 暫時缺陷管理區 TDMA#0 暫時缺陷管理區#0 TDMA#1 暫時缺陷管理區#1

12293pif.ptd 第28頁

Claims

1238387 六、申請專利範圍 1 · 一種碟片，可使用於一記錄及/或再生裝置該碟片包括一資料區，用以記錄使用者資料；以及與違負料區相鄰之一導入區及一導出區當中至少一區，該區包括一個包含與該資料區所記錄之該使用^資料有關之暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理資訊之暫時缺陷管理區，並且該區可被該記錄及/或再生裝置所存取以碟片上執行缺陷管理〇 ^ 2·如申請專利範圍第1項所述之碟片，其中： F之包括在一個與記錄該使用者資料於該資· 區之一圯錄刼作不同之額外記之額外使用者資料，以及 T 4貝枓£所5己錄該暫時缺陷答I» r- 對應於在該額外記^更包括記錄於該暫時缺陷管理區且之額外暫時缺陷資^术作當中所§己錄之該額外使用者資料 3.如申請專利;2額外暫時缺陷管理資訊。陷資訊包括指示該^第1項所述之「碟片，其中該暫時缺缺陷區記錄了該使用^區之一缺""區之—位置之資訊，該錄了該使用者第3項所述片，更包括一個記其中該暫時缺陷匕该單位以便替換錢陷區之取代區’ 士由社奎巩包括指示該取代區之一位置之資訊。 n 利範圍第1項戶斤述之碟片，其中該暫時缺訊於該暫時缺陷；=陷資訊區，並且記錄該暫時缺陷貧

12293pif.ptd

第29頁 1238387 六、申請專利範圍 6. 如申請專陷管理區包括一陷管理資訊於該 7. 如申請專之該暫時缺陷資錄於該暫時缺陷 8. 如申請專於該導入區及該在終結該碟片期最後暫時缺陷資陷資訊及缺陷管 9 · 一種用以片包括'一資料區利範園暫時缺暫時缺利範園訊及3 管理區利範圍導出區第1項所述之碟片，其中該暫時缺陷管理資訊區，並且記錄該暫時缺陷管理資訊區。第1項所述之碟片，其中將相對應暫時缺陷管理資訊當作一對資訊記第1項所述之碟片，更包括一個位當中至少一區之缺陷管理區，其中間，將最後記錄於該暫時缺陷管理區之一訊及一最後暫時缺陷管理資訊當作最終缺理資訊記錄於該缺陷管理區。管理以及碟片之碟片缺陷之方法，其中該碟個位於一導入區及一導出區之一之暫時缺陷管理區，該方法包括·· 記錄暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區，該暫時缺陷資訊包括與該資料區根據一記錄操作所記錄之資料有關之缺陷資訊；以及記錄暫時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區，該暫時缺陷管理資訊包括用以管理該暫時缺陷資訊之管理資訊。 1 0 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該方法更包括：，於在複數個記錄操作期間所記錄之資料之每一單位都，。亥暫時缺資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊之記錄步驟；以及、

1238387 六、申請專利範圍將最後所記錄之一鲂眭# μ μ 一訊記錄於-缺陷管理區，：理資訊及-暫時缺陷資導出區當巾至少錢陷官理區位於料人區及該 11.如申請專利範圍第9 碟片期間執行最後所々林七其中在終結該驟。相㈣之該暫時缺陷管理資訊之記” -1 2·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中詨 :資訊,記錄步驟包括將指示該資料區之-缺陷區之—缺置之缺陷位置資訊記錄於該暫時缺陷資訊。仇 13·如申請專利範圍第丨丨項所述之方法，其中該缺> Λ之。己錄步驟更包括將指示一個包含該缺陷區、錄之資料之一部分以便替換該缺陷區之取代區之一位置= 取代位置> §fl屺錄於該暫時缺陷資訊。 1 4·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 该暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊，该暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區，以及該暫時缺陷資訊之記錄步驟更包括循序地記錄該暫時缺陷資訊之該些單位於該暫時缺陷資訊區，旅且由該暫時缺陷資訊區之一起點開始。 1 5·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資訊，該暫時缺陷管理區更包括〆暫時缺陷管理資區，以及 1238387 六、申請專利範圍該暫時缺陷管理負訊之記錄步驟包括循序地記錄該暫時缺陷管理資訊之該些單位於該暫時缺陷管理資訊區，並且由該暫時缺陷嘗理> 5代區之一終點開妒。 1 6 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 該暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊，該暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區及一暫時缺陷管理資訊區，該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資訊’以及該暫時缺陷資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊之記錄步驟包括循序地將該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊之相對應單位當作一對資訊記錄於暫時管理資訊之相對應單位，並且由該暫時缺陷管理區乏一起點開始。 1 7 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中：該暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊，該暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區及一暫時缺陷管理資訊區，該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資訊，以及該暫時缺陷資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊之記錄步驟包括循序地將相對應之該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊當作一對資訊予以記錄’並且由該暫時缺陷管理區之一終點開始。 1 8 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該暫時缺

12293pif.ptd 第32買 1238387 六、申請專利範圍陷資訊之記錄步驟更包括：以該資料之預定單位來記錄該資料· 缺檢驗所記錄之該資料以偵測碑陷區；有一缺1¾之若偵測到一缺陷區，則儲存第一 _ 憶體，該第一暫時缺陷資訊包括 A 、陷資於一記咨印丨、/ 狄- 犯？日不遠缺陷區之 ^ 貝汛以及ί日不一個包含該缺陷區所記錄之〜位置之便替換該缺陷區之取代區之資訊；、〃、之〜單位以重複該資料之記錄步驟至該記憶體之次；以及磚存步驟至少一至少讀取該記憶體所儲存之該第一斬將所讀取之該資訊當作該第一暫時缺陷41:陷資訊並且缺陷管理區。、孔§己錄於該暫時 ·種可使用一碟片之記錄及/或再生梦¥ 具有一資料區以及一個位於一導入區及一，該碟片一區之暫時缺陷管理區，該裝置包括··泠出區當中至少圮錄/讀取單元，用以記錄資料於竽區及/或由該碟片之該資料區讀取資料;、：及該資料「控制器，用以控制該記錄/讀取單元以缺卩曰貝訊於該暫時缺陷管理區，該暫欠…、曰、且記錄暫所記錄之資料有關之缺陷資訊，並陷管理資讯勺、括：貝訊於該暫時缺陷管理區’該暫時缺貝λ ^括用以管理該暫時缺陷資訊之管理資訊。 •如申明專利範圍第1 9項所述之記錄及/或再生裝

12293pif.ptd 第33頁 1238387 六、申請專利範圍 Xrjy ’ ί ::控制器更控制該記錄/讀取單元以插很據另一你γ仏 μ平疋从便：記俾14錄彳呆作記錄額外資料於該資料F 。匕錄額外暫日4 ϋ μ t . 貝料區，暫時缺陪其IS π缺陷_貝訊及額外暫時缺陷管理次4认錚捍作區，該暫時缺陷管理區對庫於钿#貝於該錄細作所記錄之該額外資料，以A f應於根據該額外記後所i!!結該碟片期間將最後所記錄之暫時缺P" 陷管理區位卜… 貝錄於一缺陷管理區，嗜缺區。位於遠碟片之該導入區及該導出區當中至少」缺 2i.—種可使用一碟片之記錄及/ ;:-資料區以及一個位於一導入區及―⑴’该碟片日守缺=管理區，該記錄及/或再生裝置包括導出£之-之暫舌己錄/讀取單元，用以記錄資料於區或由該碟片之該資料區讀取資料;：及亥碟片之該資料二控制器，用以控制該記錄/讀取單元以便圮錄第一暫時缺陷資訊於該暫時缺暫時缺陷資訊包括與該資料區根據一第二该第-之資料之1-單位有關之缺陷資訊# °己“作所記錄第一ΪΪ第—暫時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區，該第一曰時缺陷管理資訊包括用以管理該第一之缺陷管理資訊，賀時缺陷貝汛斬# 2 ί ΐ二暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區，該第二二:极曰貝矾包括與該資料區根據一第二記錄操作所記錄貝料之—第二單位有關之缺陷資訊，以及

1238387

σ〇第二f 之缺陷 22 置’其料之額 C錄操並且將時缺陷區當中 23 置，其日2 ΐ Ϊ時缺陷官理資訊於該暫時缺陷管理區，該管理^ ζ理資訊包括用以管理該第二暫時缺陷資訊申明專利範圍第2丨項所述之記錄及/或再生裝外Γ控制器更控制該記錄/讀取單元以便記錄該資作早1立於。亥資料區同時增加一個提供給每一個額外曰4缺陷資訊以及暫時缺陷管理資訊之索引，次:所屺錄之暫時缺陷管理資訊及最後所記錄之暫記錄於一個包含於該碟片之該導入區及該導出至 >、一區之缺陷管理區。 •中知·申明專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝錚拉=ϊ ΐ f更控制該記錄/讀取單元以便根據一最後記月m錄最後資料於該資料區並記錄最終缺陷管理資訊二陷貝汛於一缺陷官理區，該最終缺陷資訊及該最 :ί:理資訊分別包括與根據該最後記錄操作所記錄之乂s後 > 料有關之最後所記錄之暫時缺陷資訊及最後纪錄之暫時缺陷管理資訊，並且 ° 該缺陷管理區位於該碟片之該導入區、該導出區以及一外圍區當中至少一區。 24·如申請專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝置，其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地記錄該暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區之一暫時缺陷資訊區，並且由該暫時缺陷資訊區之一起點開始。

12293pif.ptd 第35頁 Ϊ238387 ^" ------- 置，2 5 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝钵μ "中5亥控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地記管J i ^缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區之一暫時缺陷始。身訊區，並且由該暫時缺陷管理資訊區之一終點開置 2 6 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝包人其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地將匕合該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊之一相對應對暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，並且由該暫時缺陷管理區之一起點開始。 2 7 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝置’其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地將包含該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊之一相對應對之暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，並且由該暫時缺陷管理區之一終點開始。 28·如申請專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝置’該裝置更包括一記憶體，其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便根據一預定記錄操作以該資料之預定單位來記錄該資料於該碟片，檢驗所記錄之該資料之該些單元以偵測該碟片上有一缺陷之一缺陷區，產生指示一缺陷區之缺陷位置資訊以及指示一個用以替換該缺陷區之取代區之取代位置資訊，將所產生之該缺陷位置資訊及該取代位置資訊當作暫

12293pi f.ptd 第36頁 1238387 六、申請專利範圍時缺陷資訊儲存於該記憶體控制該記錄/讀取單元q 錄該資料之一額外單位於讀便根據一另外的記錄操作記在完成該資料之該額外％、曰區之後’ 記錄步驟之後由該記憶體讀=j立根據該另外的記錄操作之控制該記錄/讀取單元% 5亥暫時缺陷資訊，以及資訊於該暫時缺陷管理區。w便記錄所讀取之該暫時缺陷 2 9 ·如申請專利範圍第$ 陷管理區更包括該暫時缺p =所，之碟片，其中該暫時缺資訊區，並且記錄該暫時=j區以外的一暫時缺陷管理資訊區。時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理 30.如申請專利範圍第7項所述之該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊當;乍：讥δ己錄於該暫時缺陷管理區之相鄰單位。、 31·如申請專利範圍第3〇項所述之碟片，其中：記錄額外使用者資料於該資料區，將相對應於該額外使用者資料之額外暫時缺陷資訊及額外暫時缺陷管理資訊當作額外暫時管理資訊記錄^該暫時缺陷管理區之一第二區之相鄰單位，以及、、〜曰記錄該暫時管理資訊於該暫時缺陷管理區當φ 區以外的一第一區。甲该第一 32· —種儲存媒體，可使用於一記錄及/或再生該儲存媒體包括：、一資料區，該資料區包含使用者資料；以及

12293pif.ptd 第37頁 1238387 、申請專利範圍祀固 5亥身料區以外的一營理區，該管理區包括一個包含暫時缺陷眘4 ^ 、成之暫時缺陷管理區，該暫時缺陷資訊與該資料區所記錄之# , ..^ 该使用者資料有關並且可被該記錄及/或再生盆 ▲ 乂在該儲存媒體上執行缺陷管理，媒體了，该錯存媒體是一種具有一特性之可寫一次型儲存〜。亥特性為在記錄該資料於該儲存媒體之一區域之後月匕° ^免將新資料寫入該儲存媒體之該區域。味 •如申請專利範圍第3 2項所述之儲存媒體，其中該管i里區更勺 -Lr A 匕括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管理區， ^ Jf Γ〇 , . °°匕έ可被該記錄及/或再生裝置所使用以在古女儲存媒體上執行該缺陷管理之該暫時缺陷資訊。在為 3/ ·次如，申清專利範圍第3 3項所述之儲存媒體，其中· 該資料區更包括額外使用者資料， /、 · 作額額外使用者資料之額外暫時缺陷資訊當作額卜Θ時g理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，田該額外暫時缺陷資訊更包括該暫時缺陷資訊吞亥缺陷管ρ Θ人·, i 、及 &理£包含该額外暫時缺陷資訊。 35. —種儲存媒體’可使用於一記該儲存媒體包括：久/ A丹生裝置，貝料區，該資料區包含使用者資料以及一使用者資料之區域以外的一巴妁圮鲦該 1 J b域所記錄之額外#用表> 料；以及 a W便用者資該管理區包括一暫時缺與該資料區所記錄之1曰遠資料區以外的一管理區，管理區’該暫時缺陷管理區包含

12293pif.ptd 第38頁 1238387 申清專利範圍用者資料有關訊之區域、暫時缺陷資訊以及一個記錄該暫時缺陷資 ^ 外的—區域所記錄之額外暫時缺陷資訊，料之^ p f額外暫時缺陷資訊包括對應於該額外使用者資兮蚀六、=貝Λ並且可被該記錄及/或再生裝置所存取以在 °亥儲存媒體上執行_陷管s。 2·如申請專利範圍第35項所述之儲存媒體，缺陷管理區更句杯· 暫時缺陷管理區更;f括固弟Μ項所逆〈爾伟媒體，其中該用u=缺卩曰s理資訊，可被該記錄及/或再生裝置所使用以：理該暫時缺陷資訊；以及斤使 & # 1外暫時缺陷管理資訊，可被該記錄及/或再生穿胃所使用以管理兮鈕从心人打王装置 3? β，亥額外暫時缺陷資訊。將·兮如新申士睛專利範圍第36項所述之儲存媒體，其中： _ J 日守缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊當作斬卩* 理資訊記錄於 ^ 只u田1下暫時管、〜曰時缺陷管理區之相鄰單位，將該額外勒u ± 作額外暫時管缺陷資訊及該額外暫時缺陷管位，以及里貝訊記錄於該暫時缺陷管理區之相鄰單 # 1 3 2暫時管理資訊於該暫時缺陷管理區當中_ ^ 錄该額外暫時營 Τ 個記 3 8如理貝訊之區域以外的一區域。 ^ ^ 中叫專利範圍篦3 5須所述之儲存媒體，# & 媒體更包括一兄从礼图弟以孭尸/τ儿响仔姝體，该儲存址另外的區域，該另外的區域包含與該資社广資料，刀所圮錄之使用者資料之一部分相對應之取代中4暫時缺陷資訊及該額外暫時缺陷資訊之— 巴括

12293pif.ptd 1238387 六、申請專利範圍與該缺陷部分之一位置有關之缺陷位置資訊以及與該取代部分之一位置有關之取代位置資訊。 ^ ^9·如申請專利範圍第35項所述之儲存媒體，其中該言=f更包括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管理區，該 =IΞ區包含可被該記錄及/或再生裝置所使用以在該日士 I 次f執行該缺陷管理之該暫時缺陷資訊及該額外暫 · 士申凊專利範圍第3 9項所述之儲存媒體，其中： ΐ = ϊ時缺陷資訊包括該暫時缺陷資訊，以及乂、曰&理區包含該額外暫時缺陷資訊。儲存U體且種&可使7 一儲存媒體之記錄及/或再生裝置，該資料區以及-管理區，該管理區位於-個及/或/生/置包括^ 1包括—暫時缺陷管理區，該記錄料；以及寫（Plckup)早7^，用以轉移關於該資料區之資一控制器，用以抑法士區之該資料並且轉移寫單元以便轉移關於該資料訊，該暫時缺陷資訊包括=3時缺陷管理區之暫時缺陷資錄之資料有關之缺陷資訊拍、该資料區根據一記錄操作所記關於該儲存媒體之缺陷管理且可被该控制器所使用以執行其中該儲存媒體是— ’ 媒體，該特性為在記錄該次二、有特性之可寫一次型儲存能夠避免將新資料寫入^ Α貝料於該館存媒體之一區域之後八4儲存媒體之該區域。

12293pif.ptd 苐40頁 1238387 六、申請專利範圍 42. 如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生置，其中該控制器更控制該讀寫單元以便轉移關於★亥資區當中-個記錄該資料之區域以外的—區域之額外資料，額外趣對應之額外暫時缺陷資訊於該暫 43. 如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或置，其中该控制器更轉移關於該暫時缺陷管理區之^缺陷管ί U暫時缺陷管理資訊包括可被該控制；所使用以管理该暫時缺陷資訊之管理資訊。 ° 44. 如申請專利範圍第43項所述之記錄及/或置，其控制，控制該讀寫單元以便轉移該暫時缺：汛及忒曰時缺陷管理資訊當作暫時管 2 缺陷管理區之相鄰單位。 ^理貝^己錄於該暫時置 4】中如申請專利範圍第43項所述之記錄及/或再生裝該控制器更控制該讀寫單元以額外資料，並且轉移與該額外資料相對應：：以區之資t二巧外暫時缺陷管理資訊當作額外暫時管理於該暫％缺陷管理區之一第二區之相鄰單&，以：以錄區以理資訊於該暫時缺陷管理區當中該第二置:中H請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生裝該控制器更控制該讀寫單元以便轉移關於該資料區之

12293pif.ptd 第41頁 1238387 六、申請專利範® 另外的區域之取代資料，該取代資料對應於該資料區之一掀阳邱/刀、所記錄之資料，以及該暫時缺陷資訊包括與該缺陷部分之一位置有關之缺陷位置資訊以及與該取代部分之一位置有關之取代位置資訊。、 4 7 ·如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生裝置，其中該管理區更包括該暫時缺陷管理區以外的_ ^ 管理區，並且該控制器控制該讀寫單元以便蒋：於該缺陷管理區之該暫時缺陷資訊。轉移關置，4】.中如，請專利範圍第47項所述之記錄及/或再生裝該控制器更控制該讀寫單元額外資料，並且轉移與該額外資料=關，料區之資訊當作額外暫時管理資於、心之$外暫時缺陷該額外暫時缺陷資；更時缺陷管理區，該缺陷管理區包含該額外暫g:日守缺陷貧訊，以及 …49.1電腦可讀媒體，^^陷資訊。貝細一種轉移關於一電腦所執行、-一 ·碼了處理指令用以法，該儲存媒體具有一資料區一儲存媒體之資料之方的一區域並且包括一暫時缺陷管個位於該資料區以外括：區之管理區，該方法包 4工制一讀寫單元以便轉獲得包括與該資料區根據!^資料區之資料；有關之缺陷資訊之暫時缺陷資錄操作所記錄之該資料 — ι並且使用該暫時缺心第42頁 12293pif.ptd 1238387

12293pif.ptd 第43頁 1238387 六、申請專利範圍讀方法更包括控制該讀寫單元以便轉移關於•資料區之一另外的區域之取代資料，該取代負料對應於螻資料區之缺陷部分所記錄之資料之一部分，以及該暫時缺陷資訊包括與該缺陷部分之一位置有關之缺陷位置貧訊以及與該取代部分之〆位置有關之取代伋复資 5 4 ·如申請專利範圍第4 9項所述 > .爲

中該管理區更包括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管埋、區，並且該方法更包括控制該讀寫單元以便額外地轉移關於該缺陷管理區之該暫時缺陷資訊。 5 5 ·如申請專利範圍第5 4項所述之電腦可讀媒體， . 、具中：該方法更包括控制該讀寫單元以便轉移關於該資料區之額外資料，並且轉移與該額外資料相對應之額外暫時缺陷資訊當作額外暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，、該額外暫時缺陷資訊更包枯該暫時缺陷資訊，以2 該缺陷管理區包含該額外暫時缺陷資訊。

12293pif.ptd 第44頁