TWI237893B - Booster-type power management chip containing electrostatic discharge protection mechanism of output electrode - Google Patents

Booster-type power management chip containing electrostatic discharge protection mechanism of output electrode Download PDF

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TWI237893B TW093138396A TW93138396A TWI237893B TW I237893 B TWI237893 B TW I237893B TW 093138396 A TW093138396 A TW 093138396A TW 93138396 A TW93138396 A TW 93138396A TW I237893 B TWI237893 B TW I237893B
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Hung-De Su
Jing-Meng Liou
Jiang-Yung Gu
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Richtek Technology Corp
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Description

1237893 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種具㈣出極#電放電保護機制之 升壓型電源管理晶#,特別是指—種具有低功耗及高靜電 放電耐受性的升壓型電源管理晶片。 【先前技術】 靜電在我們生活的周遭環境中可說是無所不在,尤其 是當帶有靜電的物體接觸到IC(積體電路)晶片的接腳時,所 產生的瞬間高壓放電將影響與該接腳連接的所有電路,使 得靜電放電(electrostatic discharge,簡稱ESD )成為造成電子 系統失效的最大潛在原因之一。 參閱圖1戶斤示,是習知一種靜電放電(以下簡稱ESD)保 護電路1,其設在-ICW 2中,連接在…晶片2的兩個 接腳(pad)20、21之間,用以防止與接腳2〇、21連接的電路 3不致遭受ESD的傷害。習知ESD保護電路i包括一連接 在接腳20、21之間的靜電放電元件^(以NM〇s為例),一 連接在接腳20與靜電放電元件u的閘極之間的壓降產生電 乂及連接MOS電晶體11的閘極和輸出接腳21之 電阻13。 其中壓降產生電路12可由複數M0S電晶體121串接 v成^ 1C曰曰片2在正常工作狀態下時,由於接腳2〇、21 的輸出電壓低於一觸發電壓準位,靜電放電元件U不導通 。其中觸發電壓準位為壓降產生電路12的最低驅動電壓加 上靜電放電元件11的最低導通臨界電壓之和。 5 1237893 因此,當接腳20、 生之瞬間電壓大於 之間發生ESD時,# ESD所產 、s,姑+、,、觸务笔壓準位時,靜電放電元件11將導 、,使电流流經靜電放電 靜電放電元件11導除 ’、〇產生的大電流由 ,λα 于、而達到保護電路3不受ESD傷害的 Η的0 Μλ仁(由於一般ESD保護電路1的靜電放電元件11(以 NMOS電晶體為例)之 ( )之通道I度通常只有約eoovm,因此1 通道電阻(圖未示)通當扃 '、 书在20區人姆左右,以致ESD瞬間產 的大電流,會在其通道電阻(圖未示)上產生大㈣,而如圖 下:二將靜電放電元件11中寄生之雙載子接面電晶體(以 間冉JT)ll〇導通,使Bmi〇與靜電放電元# Η之通 這導通電流一起承受咖電流。且因為Bmi〇導通後會 有溫度越高電流越集中的不均勻—.Η。㈣特性使得大 部分的電流都集中在最先導通的局部BmiQ上導致靜電 放電元件11因流絲宜一 « . 、、二某一局部BJT之電流密度太大而過熱燒 毀。 故’如圖3所示’習知_種作法是在靜電放電元件η 内再加上-串聯電a 14,來消除bjt的溫度效應,進而做 到溫度越高電流越分散的效果,以防止靜電放電元件Η因 局部過熱而燒毀的問題。但也因此使得靜電放電元件Η的 面積較—般元件面積要來得大。再參見圖4所示,是習知 一種升壓裝置(習稱booster或boost c〇nverter)4,其用以將 一電源管理晶片(P〇Wer management chip)5提供的_輸入電 壓Vin提升至一較高準位後輸出。電源管理晶片5中具有一 1237893 連接在電源管理晶片5之一第一輸出接腳(pacj)51及一第一 輪出接腳(pad)52之間的MOS電晶體開關(以NM〇s為例)μ ,且升壓裝置4除了電源管理晶片5外,更包含一與輸入 電壓Vin和第一輸出接腳51連接之電感42,一與第一輸出 接腳51順向連接,並經由一電容43與第二輸出接腳52連 接之二極體44。
且M〇S電晶體開關41之閘極受一控制電路45控制, 當M〇S電晶體開關41被控制電路45導通(turn 〇n)時,輸 入電壓Vin對電感42充電,當M〇s電晶體開關41被控= 電路45關閉(turn off)時,電感42則經由二極體44朝電容 43充電’將電能轉存至電容43中,使得由電容43取出之 輸出電壓v〇m高於輸入電壓Vin,而達到升壓之目的。
然而’在習知的升壓裝置4中並沒有咖保護機制 原因是MOS電晶體開關41因考量面積效益的因素 加上一夠大的串聯電阻來消除寄生BJT的溫度效應,且; 寄生ΒΓΓ之導通電壓又不會比圖1之靜電放電元件n的: 生BJT之V通電壓來得高。而若要將如圖】所示之習j ESD保護電路i加入升壓裝置4中則必須如圖5所示 ^ MOS電Ba體開關41之沒極與esd保護電路1之間串4 電T 46 ’使ESD電壓不致直接傷㈣廳電晶體開· 41 ::如此-來’電阻46卻會消耗升壓裝置4的輸出電々 ’而嚴重影響到升壓裝置4的工作效率。 而且口為習知升壓裝置4中之電晶體開關4 靜電放電過程中计,又合一卩, ^ 、,不曰打開,所以只能靠其寄生之BJT才 7 1237893 靜電排掉,且因考 口可里面積效盃,寄生之 夠大的串聯電m,使得 並無法加上一 程中因+4 曰曰_幵奇41很容易在靜電放電過 釭中因電流的熱集中效應而局部燒毀。 【發明内容】 因此,本發明之目的, 置之工作效率並具有電流均 受性之具有輸出極靜電放電 片。 即在七供一種不致影響升塵裝 勻性(uniform)及高靜電放電耐 保濩機制之升塵型電源管理晶
於疋’本發明具有輸出極靜電放電保護機制之升壓 電源“里晶片’包括-第-輸出接腳、-第二輸出接腳. - MOS電晶體開關及—觸發電路。該m〇s電晶體開關y 接在該第—輸出接腳與該第二輸出接腳之間。該觸發電與 連接在該第一輸出接腳與第二輸出接腳之間,並與該MO; 電晶體開關之閘極連接’使得該第—及第二輸出接腳之間 產生一大於一觸發電壓準位之瞬間電壓時,該觸發電路即 驅使該MOS電晶體開關導通,使電流均句地流經該刪
電晶體開關之通道而達到靜電放電保護的效果。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效,在 以下配合參考圖式之一較佳實施例的詳細說明中,將可清 楚的呈現。 參閱圖6所示,是本發明具有輸出極靜電放電保護機 制之升壓型電源管理晶片(以下簡稱電源管理晶片6)的一較 佳實施例之電路圖,電源管理晶片6設在一升壓裝置4中 8 1237893 ’其除了包括圖4所示之電源管理晶片5的既有電路外, 更包括一設在第一及第二輸出接腳51、52之間的觸發電路 5〇 ’當第一及第二輸出接腳5 1、52之間產生的一瞬間電壓( 例如靜電放電)大於一高於工作電壓之觸發電壓準位時,觸 lx黾路5 0可觸發MOS電晶體開關41導通,使該瞬間電壓 產生的電流均勻地流經MOS電晶體開關41之通道,以達 到第一及弟二輸出接腳5 1、52連接的MOS電晶體開關41 不致受到瞬間高壓的傷害。 觸發電路50在本實施例中,包括一壓降產生電路% 及一電阻57。壓降產生電路56設在第一輸出接腳51與 MOS電晶體開關41的閘極之間,用以在第一輸出接腳5 i 與MOS電晶體開關41的閘極之間產生一導通臨界電壓, 而觸發電壓準位至少需等於導通臨界電壓加上使該M〇S電 晶體開關41導通之閘極臨界電壓。且如圖7所示,壓降產 生電路56在本實施例中,可以由複數串聯之NM〇s電晶體 561組成,或者由圖8所示之複數串聯之pM〇s電晶體 組成,而導通臨界電壓即為使該等串接之M〇s電晶體561 或562導通之閘極臨界電壓。因此導通臨界電壓可藉由調 整MOS電晶體561或562的數目來進行設定,例如本實施 例之升壓裝置4的工作電壓Vout是在2〇伏特左右,則可將 導通臨界電壓設定在25伏特。如此,使正常工作時之工作 電壓低於觸發電壓準位,故正常卫作時,觸發電路%並不 會觸發電晶體開關41。 51、52之間發生靜電 藉此,當在第一及第二輸出接腳 1237893 放電而產生-大於觸發電塵準位的瞬間錢,例如27伏特 %在接點58處將產生2伏特的麼降,而將M〇s電晶體 開關41之間極導通(設間極導通電屡為ι伏们,使得靜電· 放電電流可經由MOS電晶體開關41均勻地流至第二輪Z 接腳52而達到靜電放電的效果。且由於则電晶體開關 4!的通道寬度通常做得很寬,、約,故其通道電阻 (圖未示)相對地小,約小於!歐姆,因此流經通道電阻的電 流在通道電阻上產生的壓降將不足以導通刪電晶體開關 41中寄生之雙載子接面電晶體(BJT),且當M〇s電晶體開 關41由閘極導通時,具有溫度越高電流越分散的均勻 (uniform)特性’因此’電流可以較平均地分散到整個通道 上,使MOS電晶體開關41不致因電流集中在局部區域而 過熱燒燦。 因此,MOS電晶體開關41除了做為升壓裝置*的功率 開關之外,由於具有極寬的通道寬度,因此當第一及第二 輸出接腳51、52之間發生靜電放電(ESD)時,藉由觸發電 路50適時觸發M〇s電晶體開關41,可讓靜電放電之瞬間鲁 電壓產生的瞬間電流均勻地流過MOS電晶體開_ 41,而將. 靜電放電導除’讓升壓裝置4在不需外加靜電放電保護電 路的情況下,達到以自身電路(即M〇s電晶體開關4”保護 之效果。 再參見圖9所示,為了縮短M〇s電晶體開關41的反 應時間,更可在觸發電路50與M〇s電晶體開關Μ之間設 置一驅動NMOS電晶體59,其閘極與接點58連接,其汲 10 1237893 輪出接腳51連接,源極與M〇S電晶體開關4!之 體開關t/、以藉由導通NM〇S電晶體%去推動M〇S電晶 汗' 的方式,縮短MOS電晶體開關w的導通時間。 ^參見圖1G所示’為了讓刪電晶體開關Μ不致因 準二:輪出接腳51、52之間的電壓猶微低於觸發電壓 /關閉,並使靜電放電保護的期間得以延長,觸發電 “更I括由一 PM0S電晶體61、一 NMOS電晶體62 電阻63構成之磁滯控制電路。PM〇s電晶體61與壓降 產生電路56之該等M〇s電晶體(以nm〇s為例)中的一顆 M〇S電晶體並聯(本實施例是以與第一顆聰電晶體561 並聯為例),NMOS電晶體a的汲極與pM〇s電晶體〇的 閘極連接,其閘極肖M〇s電晶體開關41之問極連接,宜 源極與第二輸出接腳52連接。電阻63連接在第—輸出接 腳51與PM0S電晶體61的閘極之間。藉此,當第一與第 -輸出接腳51、52《間產生的瞬間電壓大於觸發電壓準位 寺M〇S電日日體62被導通,連帶使pM〇§電晶體61導 通,而將壓降產生電路56之则電晶體561短路,使得 第一與第二輸出接腳51、52之間產生之瞬間電壓必須低於 -較觸發電壓準位更低之第三電壓準位,例如23伏特時, 才月匕將MOS電晶體開關41關閉,藉此,延長Μ〇§電晶體 開關41的導通時間。 再參見圖11所示,觸發電路5〇中的壓降產生電路% 亦可被一具有一較M〇s電晶體開關41之崩潰電壓低的 NMOS電晶體64取代,且觸發電壓準位至少等於NM〇s電 1237893 日日月“4的崩潰電壓加上M〇S電晶體開關4i的導 因此,當第一及第二輸出接腳51、52之間產 觸發電壓準位時,NM0S電晶體64即崩潰,以藉由電流流 經電阻57產生之壓降觸發_電晶體開關*i導通。 再參見圖12所示’觸發電路5〇亦可由一第一電容幻 、一第一 NMOS電晶體66和一控制開關7所組成,电第今一電 容65連接在第- NM〇s電晶體66的沒極與閘極之間,且 第- NMOS電晶體66的汲極與第一輪出接腳51連接,其 源極與MOS電晶體開關41的閘極連接,而控制開關7連 接在第- NMOS電晶體66的閘極和第二輸出接腳52之間 。且第一電容65之電容量較第一 NM〇s電晶體%和Μ〇§ 電晶體開關41的閘汲極間電容(圖未示)大报多。因此,在 正常工作狀態下,控制開關7短路,第一電容Μ會被充電 ,使第- NMOS電晶體66無法導通,但是#有靜電放電 (ESD)發生,控制開關7開路,使得第一與第二輸出接腳5 i 、52之間產生瞬間大電壓時,由於第一電容65之電壓狀態 在瞬間無法改變,使得第一 NMOS電晶體66之閘源極電壓
Vgs(圖未示)瞬間上升,而將第一 nm〇S電晶體66導通, 使觸發MOS電晶體開關41導通,而將靜電放電產生之瞬 間大電壓均勻地經由MOS電晶體開關41導除。 如圖13所示’該控制開關7包括一第二NMOS電晶體 71、一第三NMOS電晶體72及一電阻73。第二NMOS電 晶體71的閘極受一致能訊號控制,以隨電路啟閉而導通或 關閉’第三NMOS電晶體72之閘極與第二NMOS電晶體 12 1237893 :,之:Λ接」其沒極與第一 nmos電晶體66之閘極連 第-㈣弟二輪出接腳52連接,而電阻73是連接在 二:S電晶體72之問極與第二輸出接腳52之間。在 升反衣置4被啟動的愔 唾一 ^ ^ ^ 、、 月况下,第二NM〇§電晶體71會被致 月匕《万儿En導通,而在電 ,^ 玉阻73上產生一壓降,將第三 NMOS電晶體72導诵 使弟一 NM0S電晶體όό無法導通 而維持在關閉狀態,以防止第_Ν刪電晶體“發生在正 常工作電壓下導通之誤動作。 、此外’如圖13所示,控制開關7中更可設置一與電阻 並^之第一電谷(又稱去耦合(dec叩k)電容)%,其電容量 遠大於第三NMOS電晶體72的閘源極電容(圖未示),藉此 :可穩定第三NMOS電晶體72之問源極電壓(圖未示),曰使 第二NMOS電晶體72不致因第一與第二輸出接腳5ι、^ 之間電壓稍微波動而關閉。 惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不 能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利 範圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍 屬本發明專利涵蓋之範圍内。 【圖式簡單說明】 部寄生的雙载子接 圖1是習知一種靜電放電保護電路圖 圖2是顯示圖1之靜電放電元件内 面電晶體導通時之電路圖; 之靜電放電元件内部再加上—串耳葬 圖3是顯示在圖 電阻14之電路圖。 13 1237893 圖4是習知一種升壓裝置之電路圖; 圖5顯示在圖4之升壓裝置的一電源管理晶片中另外 設置一靜電放電保護電路; 圖6疋本發明具有輸出極靜電放電保護機制之升壓型 電源管理晶片的一較佳實施例之電路圖; 圖7是本實施例之壓降產生電路的一種實施態樣; 圖8是本實施例之壓降產生電路的另一種實施態樣; 圖9顯示在本實施例之觸發電路中的壓降產生電路與 MOS電晶體開關之間更設置一驅動NM〇s電晶體; 圖10顯不本實施例之觸發電路更包括一磁滯控制電路 圖11顯示本實施例之壓降產生電路可以一較MOS電 晶體開關之崩潰電壓低的NMOS電晶體來取代; 圖12顯示本實施例之觸發電路亦可由一第一電容、一 第一 NMOS電晶體及一控制開關所組成;及 圖13顯示在圖12中之控制開關的詳細電路。 14 1237893 【主要元件符號說明】 4升壓裝置 7 控制開關 41 MOS電晶體開關 43電容 45控制電路 5 1第一輸出接腳 56壓降產生電路 58接點 65第一電容 71第二NMOS電晶體 74第二電容 6 升壓型電源管理晶片 42電感 44二極體 50觸發電路 52第二輸出接腳 57 、 63 、 73 電阻 61、562 PMOS 電晶體 66第一 NMOS電晶體 72第三NMOS電晶體 59、62、64、561 NMOS 電晶體 Vin輸入電壓 Vout輸出電壓 15

Claims (1)

1237893 十、申清專利範圍: 1 · 一種具有輸出極靜雷兩 片,包括·· 电保護機制之升壓型電源管理晶 —第一輸出接腳; 一第二輸出接腳; 一 電晶體開關, 二輸出接腳之間;及 在…輸出接腳與該第 之門電路,連接在該第一輸出接聊與第二輸出接腳 义间,並與該MOS雷晶鲈μ明七> 士 包日日肢開關之閘極連接,使一 及第二輸出接腳之間產生一大於 η ° 生大於一觸發電壓準位之瞬間電 料’該觸發電路即驅使該MOS電晶體開關導通,使電 流均勻地流經該MOS電晶體開關。 2·依申請專利範圍第!項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之:壓型電源管理晶片’其中該職電晶體開關係 一通道t度大於10000 # m之NMOS電晶體。 3.依申請專利範圍第2項所述之具有輸出極靜電放電保镬 機制之升壓型電源管理晶片,其中該觸發電路包括一壓 降產生電路及-電阻,該壓降產生電路連接在該第一輸 出接腳與該MOS電晶體開關的閘極之間,該電阻連接在 該MOS電晶體開關的閘極與該第二輸出接腳之間,且該 壓降產生電路係用以在該第一輸出接腳與該M〇s電晶體 開關的閘極之間產生一導通臨界電壓,且該觸發電壓準 位至少等於該導通臨界電壓加上使該M〇s電晶體開$導 通之閘極臨界電壓。 16 1237893 4·依申請專利範圍第3項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源管理晶片,其中該壓降產生電路包含 複數串接之MOS電晶體,且該導通臨界電壓係指該等串 接MOS電晶體導通之閘極臨界電壓。 、 .依申請專利範圍第4項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源管理晶片,其中該等MOS電晶體可以 是NMOS或PM〇s電晶體其中之一。 曰 ' 6. 依申請專利範圍帛4項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源官理晶片,其中該觸發電路更包括一 NMOS電晶體,其沒極與第一輸出接腳連接,其閘極與該 壓降產生電路和該電阻之連接點連接,其源極與咖電 晶體開關之閘極連接,使得該第-與第二輸出接腳之二 產生的瞬間電壓大於該觸發電壓準位時,肖NM0S電曰 體被導通,以藉由該_s電晶體觸發該m〇 曰曰 關,而降低则電晶體開關之反應時間。 日日肢開 7. :申請專利範圍…所述之具有輸出 機制之升㈣電源管理晶片,其中該觸發電路更包1 磁滯控制電路。 ,·依申請專利範圍第7項所述 八勇^出極靜電放雷你嗜 機制之升壓型電源管理a h ^保4 日日片其中該磁滯控制電路包括 - PMOS電晶體、—NM 玉路匕括 雷曰骑彻β两攸女 电日日體及一電阻,該PMOS 電曰曰體與该壓降產生電路之該等Μ 雷曰骋并胳斗 ' 電日日體令的一 MOS 冤日日體並聯,该NMOS雷晶俨沾、η』 λλθ日 罨日日體的汲極與該PMOS電晶靜 的閘極連接,其閘極與該M〇s 雕 a曰日肢開關之閘極連接, 17 1237893 /、原極舁孩第一輸出接腳連接,該電阻連接在該第一輸 出—接腳與_ PMQS電晶體之閑極之間,藉此,當第一鱼 :二輸出接腳之間產生的瞬間電壓大於該觸發電壓準位 =、,該NMOS電晶體被導通,並連帶使該ρΜ〇§電晶體 '而將4壓降產生電路之與該pM〇s電晶體並聯的 電晶體短路,使得第—與第二輸出接腳之間產生之 電壓低於一較該觸發電壓準位低之第三電壓準位時,才 能將該MOS電晶體開關關閉。 依申巧專利靶圍第3項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源管理晶片,其中該壓降產生電路係一 Ν_電晶體,其具有—較該M〇s電晶體開關低之崩潰 電壓’且該觸發電壓準位係該崩冑電壓加上該m〇s電晶 體開關導通之閘極臨界電壓。 曰 1 〇·依申4專利蛇圍帛3項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升麗型電源管理晶片,其中該觸發電路包括一第二 電容、一第一 NMOS電晶體及一控制開關,該第一電容 連接在該第一輸出接腳與該第一 NMOS t晶體之閘Z 間’該第-NMOS電晶體之;及極與該第一輸出接腳連接 ,其源極與該MOS電晶體„之閘極連接,該控制開關 連接在該第- NMOS t晶體的閘極和該第二輸出接聊之 間,在正常工作情況下,該控制開關短路,使該第—電容 被充電,讓該第一 NMOS電晶體無法導通,而當發生$ 電放電時,第-及第二輸出接腳之間會產生一瞬間電塵, 且由於該第一電容狀態瞬間無法改變’因此該瞬間電^將 18 1237893 令該第一 NMOS電晶體導通,進而觸發該MOS電晶體開 關導通。 11. 依申請專利範圍第10項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源管理晶片,其中該控制開關包括一第二 NMOS電晶體、一第三NMOS電晶體及一電阻,該第二 NMOS電晶體之閘極受一致能訊號控制,以隨電路啟閉而 導通或關閉,該第三NMOS電晶體之閘極與第二NMOS 電晶體之源極連接,其汲極與該第一 NMOS電晶體之閘 極連接,其源極與該第二輸出接腳連接,該電阻連接在該 第三NMOS電晶體之閘極與第二輸出接腳之間,當該第 二NMOS電晶體被該致能訊號導通時,在該電阻上會產 生一壓降將第三NMOS電晶體導通,使第一 NMOS電晶 體維持在關閉狀態,以防止第一 NMOS電晶體在正常工 作狀態下不致因誤動作而導通。 12. 依申請專利範圍第11項所述之具有輸出極靜電放電保護 機制之升壓型電源管理晶片,其中該控制開關更包括一第 二電容,其與該電阻並聯,可防止第三NMOS電晶體在 正常工作狀態下不致因該第一與第二輸出接腳間之電壓波 動而關閉。 19
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