TWI236049B - Plating method - Google Patents
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Description
1236049 五、發明說明(1) [發明所屬之技術領域] 大體而言本發明係關於金屬鍍覆之領域。具體而言, 本發明係有關在電子裝置上鍍覆金屬凸塊的領域,例如銲 錫凸塊。 [先前技術] 厚光阻劑層,亦即自5至1 0微米上達5 0至1 0 0微米,係 用於特定電子裝置製程。例如,在製造晶片級封裝、銲膏 列印、TAB (捲帶自動接合)接線等之金屬沈積成型品時, 厚光阻劑層係用於微電機系統(「MEMS」)之大體積應用。 具體而言,厚光阻劑層係用於形成如半導體晶圓上的銲錫 凸塊之大機械結構。 在此過程中,基材以足量的光阻劑塗覆複數次以提供 厚光阻劑層。然後以習知步驟使此厚的光阻劑層成像以提 供所欲的特徵或圖案。然後經成像的層使用特定光阻劑用 的適當步驟顯影。顯影之後,使如銅、錫、鉛、金等金屬 或其混合物沈積成該等特徵。金屬沈積之後,移除該厚光 阻劑並使該金屬沈積物適當地回流以提供晶片級封裝用的 近似球形。 此習知過程中,藉著使用複數層習知光阻劑而達到厚 光阻劑層。習知光阻劑能製備具有厚度約1至1 0微米的光 阻劑層。欲集成1 5至1 0 0微米的光阻劑層需要進行複數次 此等的塗覆步驟。每個步驟皆會增加該製程及所得的電子 裝置之時間及費用成本。因此需要以單一步驟施塗厚光阻 劑層的方法。
92341.ptd 第4頁 1236049 五、發明說明(2) 美國專利案第4, 5 9 2, 8 1 6號(Emmons等人)揭示光阻劑 的電泳沈積之組成物及方法。此專利的光阻劑係水性為主 並且包含具有正或負電性基團的(甲基)丙烯酸酯接著劑聚 合物以及交聯劑。極厚光阻劑層,亦即—5 0微米,在此專 利中並未曾揭示過。
某些非水性液態光阻劑可由市面上購得,該光阻劑包 含具有不帶電胺基的(曱基)丙烯酸酯接著劑聚合物、丙烯 酸酯交聯劑以及光活性成分。此光阻劑具有少於3 5 %之總 固體含量。厚光阻劑層無法使用市售可得的光阻劑以單一 塗覆步驟製成。
Sam sung電子公司之韓國專利申請案第 1 0 - 1 9 9 9 - 0 0 3 9 0 8 4號,揭示將光阻劑施塗於半導體晶圓的 方法。該光阻劑層具有高達約3 5, 0 0 0埃(或3. 5微米)的厚 度。此係藉由將該光阻劑喷灑於該晶圓上,以較低速度及 低加速度旋轉該晶圓以硬化該光阻劑,接著以高旋轉速度 及高加速度旋轉該晶圓以製備具有所欲厚度及均勻性的光 阻劑層。此專利申請案中並未揭示極厚之光阻劑層。 [發明内容]
意外地發現可以單一塗覆步驟將極厚的光阻劑層施塗 至基材,例如半導體晶圓。此光阻劑層具有極良好的厚度 均勻性。 一方面,本發明提供一種沈積光敏性組成物的方法, 包含以下的步驟:a)在電子裝置基材上沈積光敏性組成 物,該光敏性組成物包含接著劑聚合物;一或複數種交聯
92341:ptd 第5頁 1236049 五、發明說明(3) 劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶劑;其中該光敏 性組成物在3 6 5奈米時每微米具有$ 0 . 1個吸收單位的吸收 度;其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性組 成物具有總固體含量為4 5 %或更高;以及b )以一速度旋轉 該電子裝置基材歷經足以製備具有實質上均勻厚度的光敏 性組成物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚。 另一方面,本發明提供一種沈積光敏性組成物的方 法,包含以下的步驟:a)在電子裝置基材上沈積光敏性組 成物,該光敏性組成物包含以一或複數種(甲基)丙烯酸酯 單體作為聚合單元之接著劑聚合物;一或複數種可自由基 聚合的交聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶劑; 其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性組成物 具有總固體含量為4 5 %或更多;以及b)以一速度旋轉該電 子裝置基材歷經足以製備具有實質上均句厚度的光敏性組 成物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚。 又一方面,本發明提供在半導體晶圓上形成浮雕影像 的方法,包含以下的步驟:a)在半導體晶圓上沈積光敏性 組成物,該光敏性組成物包含以一或複數種(甲基)丙烯酸 酯單體作為聚合單元之接著劑聚合物;一或複數種可自由 基聚合的交聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶 劑;其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性組 成物具有總固體含量為4 5 %或更多;b )以一速度旋轉該半 導體晶圓歷經足以製備具有實質上均勻厚度的光敏性組成 物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚;以及c)使
92341.ptd 第6頁 1236049 五、發明說明(4) 該光敏性組成物層依影像暴露於光化輻射下。 又另一方面本發明提供在半導體晶圓上形成金屬凸塊 的方法,包含以下的步驟:a)在半導體晶圓上沈積光敏性 組成物,該光敏性組成物包含以一或複數種(甲基)丙稀酸 酯單體作為聚合單元之接著劑聚合物;一或複數種可自由 基聚合的交聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶 劑;其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性組 成物具有總固體含量為4 5 %或更多;b )以一速度旋轉該半 導體晶圓歷經足以製備具有實質上均勻厚度的光敏性組成 物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚;c )使該光 敏性組成物層依影像暴露於光化輻射下;d)使經曝光的光 敏性組成物層顯影以獲得經圖案化的區域;e)使金屬沈積 於經圖案化的區域;以及f )移除經曝光的光敏性組成物以 提供具有金屬凸塊的半導體晶圓。 本說明書中,除非另有說明,下列之縮寫即為下述之 意義:°C =攝氏度數;g=克;mJ=毫焦耳;rpm=每分鐘轉 數;sec.=秒;min.=分;# m=微米;以及wt%=重量%。 「樹脂」及「聚合物」在本說明書中可交替使用。 「烷基」一詞係指直鏈、分支及環狀烷基。「鹵素」及 「鹵基」包含氟、氯、溴及碘。因此,「鹵化」係指氟 化、氯化、漠化及埃化。「聚合物」係指均聚物及共聚物 並且包含二聚物、三聚物、寡聚物等。「(甲基)丙稀酸 酯」係指丙烯酸酯及曱基丙烯酸酯二者。同理,「(曱基) 丙烯酸」係指丙烯酸及曱基丙烯酸二者。「單體」係指任
92341.ptd 第7頁 1236049 五、發明說明(5) 何可聚合之乙烯系或乙炔系不飽和化合物。「交聯物」及 「交聯劑」在本說明書中可交替使用並且表示含二或更多 乙烯系或乙炔系不飽和基。本說明書中「厚光阻劑」或 「厚光阻劑層」表示厚度2 5微米之光阻劑層。「極厚光 阻劑」及「極厚光阻劑層」表示厚度2 5 0微米之光阻劑 〇 除非另有說明,所有用量均為重量% ,以及所有比例 均為重量比。所有數字範圍皆為内含並且可任意結合,除 非明顯地將此等數字範圍強制加至1 0 0 %。 可將極厚膜光阻劑沈積於根據本發明的電子裝置基材 上,包含以下的步驟:a)在電子裝置基材上沈積光敏性組 成物,該光敏性組成物包含接著劑聚合物;一或複數種交 聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶劑;其中該光 敏性組成物在3 6 5奈米時每微米具有S 0 . 1個吸收單位的吸 收度;其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性 組成物具有總固體含量為4 5 %或更高;以及b )以一速度旋 轉該電子裝置基材歷經足以製備具有實質上均勻厚度的光 阻劑組成物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚。 本發明係使用在3 6 5奈米時每微米厚度具有S 0 . 1個吸 收單位的吸收度之光敏性組成物而達成。該光敏性組成物 在3 6 5奈米時每微米厚度具有$ 0 . 0 5個吸收單位的吸收 度。每單位厚度具有此吸收度之各種光敏性組成物皆適 用。特別適合的光敏性組成物係包含具有作為聚合單元之 一或複數種(甲基)丙烯酸酯單體的接著劑聚合物並且包含
92341.ptd 第8頁 1236049 五、發明說明(6) 一或複數種可自由基聚合的交聯劑;一或複數種光活性成 分;以及有機溶劑的光敏性組成物。此等光敏性組成物可 為正向作用的或負向作用的光敏性組成物。此等光敏性組 成物為熟習該項技術者所熟知。 在較佳實施例中,本發明提供沈積光敏性組成物的方 法,包含以下的步驟:a)在電子裝置基材上沈積光敏性組 成物,該光敏性組成物包含以一或複數種(甲基)丙烯酸酯 單體作為聚合單元之接著劑聚合物;一或複數種可自由基 聚合的交聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶劑; 其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光敏性組成物 具有總固體含量為.45%或更多;以及b)以一速度旋轉該電 子裝置基材歷經足以製備具有實質上均勾厚度的光敏性組 成物層之時間,其中該層的厚度係5 0微米或更厚。「實質 上均勻厚度」表示該基材表面的厚度變化為該平均厚度的 ± 1 0 %,較佳為± 8 %,更佳為± 5 °/〇。 特別適合的接著劑聚合物係包含以一或複數種(甲基) 丙烯酸酯單體作為聚合單元者。此接著劑聚合物可包含一 或複數種其他單體作為聚合單元。(甲基)丙烯酸酯單體包 含(曱基)丙烯酸烷酯、(曱基)丙烯酸烯酯、(曱基)丙烯酸 芳香酯、(甲基)丙烯醯胺以及烷基(曱基)丙烯醯胺。其他 適用於該接著劑聚合物的單體包含,但不限於,(甲基)丙 烯酸、乙烯基芳香族單體、含氮化合物及其硫代類似物、 經取代的乙烯單體、環狀烯烴、經取代的環狀烯烴等等。 該接著劑聚合物較佳包含經聚合之一或複數種包含酸可顯
9234].ptd 第9頁 1236049 五、發明說明(7) 影基圑之單體。較佳的包含酸可顯影基圑之單體為含胺單 體或含醯胺單體,而較佳為含一或複數個胺的(甲基)丙烯 酸酯單體。特別適合的含胺單體包含,但不限於,甲基丙 烯酸2-(二甲胺基)乙酯(「DMAEMA」)、3-(二甲胺基)丙基 甲基丙烯醯胺 (「DMAPMA」)或丙烯酸二甲胺基乙酯。其 他有用的含胺單體包含,但不限於,該烷基包含二烷胺基 或二烷胺基烷基的含胺單體,例如N,N -二甲基胺乙基甲基 丙烯醯胺、N,N -二曱基-胺丙基曱基丙烯醯胺、N,N -二甲 基胺丁基甲基丙烯醯胺、N,N -二乙基胺乙基甲基丙烯醯 胺、N,N -二乙基胺丙基甲基丙烯醯胺、N,N -二乙基胺丁基 甲基丙烯醯胺、N - (1,:1 -二甲基-3 -氧丁基)丙烯醯胺、 N — (1,3 -二苯基—1-乙基—3 -氧丁基)丙稀酿胺、N—(1-甲基 -1 -苯基-3 -氧丁基)曱基丙烯醯胺以及2 -羥乙基丙烯醯 胺、胺乙基乙烯脲之N-曱基丙烯醯胺、N-曱基丙烯氧乙基 嗎啉、二甲基胺丙基胺之N -順丁醯二烯亞胺及其混合物。 一般而言,可用於本發明之(甲基)丙烯酸烷酯為(曱 基)丙烯酸((^—24)烷酯。適合的(甲基)丙烯酸烷酯包含, 但不限於:「低餾分」(曱基)丙烯酸烷酯、「中餾分」 (甲基)丙烯酸烷酯以及「高餾分」(曱基)丙烯酸烷酯。 「低餾分」(曱基)丙烯酸烷酯一般係指烷基含有1至6 個碳原子者。適合的低餾分(曱基)丙烯酸烷酯包含,但不 限於:曱基丙烯酸曱酯、丙烯酸曱酯、丙烯酸乙酯、甲基 丙烯酸丙酯、甲基丙烯酸丁酯、丙烯酸丁酯、曱基丙烯酸 異丁酯、曱基丙烯酸己酯、曱基丙烯酸環己酯、丙烯酸環
92341.ptd 第10頁 1236049 五、發明說明(8) 己S旨及其混合物。 「中德分」(甲基)丙稀酸烧酯一般係指烧基含有7至 1 5個碳原子者。適合的中餾分(曱基)丙烯酸烷酯包含,但 不限於:丙烯酸2 -乙基己酯(π Ε Η Απ )、曱基丙烯酸2 -乙基 己酯、甲基丙烯酸辛酯、曱基丙烯酸癸酯、曱基丙烯酸異 癸酯(以支鏈(C 1G)烷基異構物之混合物為主)、甲基丙烯酸 十一烷酯、曱基丙烯酸十二烷酯(亦稱為曱基丙烯酸月桂 烧酉旨)、甲基丙稀酸十三烧S旨、甲基丙稀酸十四烧醋(也就 是甲基丙烯酸肉豆蔻烷酯)、甲基丙烯酸十五烷酯及其混 合物。 「高I留分」(曱基)丙稀酸烧酯一般係指烧基含有1 6至 24個碳原子者。適合的高餾分(曱基)丙烯酸烷酯包含,但 不限於··曱基丙烯酸十六烧自旨、曱基丙稀酸十七烧S旨、甲 基丙稀酸十八烧酷、甲基丙烯酸十九烧S旨、甲基丙稀酸二 十級烧S旨、甲基丙稀酸二十烧S旨及其混合物。 上述的中餾分及高餾分的(曱基)丙烯酸烷酯單體,一 般係藉由標準的酯化步驟,使用工業級長鏈脂肪族醇製備 的,而這些市售可得的醇類係烷基中含有碳原子數介於1 0 及1 5之間或1 6及2 0之間的不同鏈長之醇類的混合物。這些 醇類的例子為·· V i s t a化學公司的各種經齊格勒(Z i e g 1 e r ) 催化的八1^01醇類,即八1^0[1618及八1^0[ 1 6 2 0,8}1611化
學公司的各種經齊格勒催化的NE0D0L醇類,即NE0D0L 2 5 L,以及天然衍化而成的醇類如P r 〇 c t 〇 r & G a m b 1 e公司 的TA-1 6 18及CO- 1 2 7 0。因此,為達本發明的目的,(甲基)
92341.ptd 第11頁 1236049 五、發明說明(9) 丙烯酸烷酯傾向於不僅包含所列舉的各別(甲基)丙烯酸烷 酯產物,亦包含以所列舉之特定(甲基)丙烯酸烷酯為主要 成分之(甲基)丙烯酸院酯混合物。 在本發明中有用的(甲基)丙烯酸烷酯單體可係單體或 在烷基部分具有不同數目碳原子的混合物。同樣地,本發 明有用的(甲基)丙烯醯胺及(曱基)丙烯酸烷酯單體可選擇 性地經取代。經選擇性取代的適合(甲基)丙烯醯胺和(甲 基)丙烯酸烷酯單體包含,但不限於:(甲基)丙烯酸羥基 (C 2-6)烧酉旨、(甲基)丙稀酸二烧基胺基(C 2-6)烧酉旨、二烧基 胺基(C2_6)烷基(曱基)丙烯醯胺。 適合的(甲基)丙烯酸羥烷酯單體含,但不限於:甲基 丙烯酸2-羥乙酯(” ΗΕΜΑΠ )、丙烯酸2-羥乙酯(π ΗΕΑΠ )、曱 基丙烯酸2-羥丙酯、甲基丙烯酸1-曱基-2-羥乙酯、丙烯 酸2-羥丙酯、丙烯酸1-甲基-2-羥乙酯、甲基丙烯酸2-羥 丁酯、丙烯酸2 -羥丁酯及其混合物。 可用於本發明的其他經取代之(曱基)丙烯酸酯單體為 含矽單體,例如r -丙基三(C^)烷氧基矽烷基(甲基)丙烯 酸烧酯、τ -丙基三(C卜6)烧基石夕烧基(曱基)丙稀酸烧S旨、 7〃 -丙基二(C卜6)烧氧基(C 1 - 6)烧基石夕烧基(甲基)丙稀酸烧 醋、τ -丙基二(C 1-6)烧基(C i-6)烧氧基石夕烧基(甲基)丙稀酸 烷酯、乙烯基三(CbJ烷氧基矽烷基(甲基)丙烯酸烷酯、乙 稀基二(C i-6)烧氧基(C 1-6)统基石夕烧基(甲基)丙稀酸烧S旨、 乙稀基(C 1 - 6)烧氧基二(C 1 —6)烧基石夕烧基(曱基)丙細酸烧 酉旨、乙稀基三(C ! _6)烧基石夕烧基(曱基)丙稀酸烧S旨、2-丙基
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92341.pid 第12頁 1236049 五、發明說明(ίο) 矽個半氧烷(曱基)丙烯酸酯及其混合物。 本發明中可作為不飽和單體的乙烯基芳香族單體包 含,但不限於:苯乙烯、羥苯乙烯、α -甲基苯乙烯、乙 烯基曱苯、對-甲基苯乙烯、乙基乙烯基苯、乙烯基萘、 乙烯基二甲苯及其混合物。乙烯基芳香族單體也包含其相 對的經取代對應物,例如,鹵化衍生物,亦即,含有一或 複數個鹵素基,如氟、氣或溴;以及硝基、氰基、(C ho) 烧氧基、鹵基(C丨-10)烧基、魏(C丨—丨。)烧氧基、魏基、胺基、 (C Η0)烧基胺基衍生物等。 本發明中可作為不飽和單體的含氮化合物及其硫代類 似物包含,但不限於:如2-乙烯基吡啶或4-乙烯基吡啶等 乙稀基吼σ定;如2 -甲基-5 -乙稀基吼咬、2 -乙基-5 -乙稀基 吡啶、3-曱基-5-乙烯基吡啶、2, 3-二曱基-5-乙烯基吡啶 以及2 -甲基-3 -乙基-5 -乙稀基吼ϋ定等經(C 1 -8)烧基取代之Ν -乙烯基吡啶;經曱基取代之喹啉及異喹啉;Ν -乙烯基己内 醯胺;Ν-乙烯基丁内醯胺;Ν-乙烯基吡咯烷酮;乙烯基咪 唑;Ν-乙烯基咔唑;Ν-乙烯基-琥珀醯亞胺;(甲基)丙烯 腈;鄰-、間-或對-胺苯乙烯;順丁烯二醯亞胺;Ν-乙烯 基-噚唑啶酮;Ν,Ν-二甲基胺乙基-乙烯基-醚;乙基-2-氰 基丙烯酸醋;乙稀基乙腈;Ν-乙稀基敝醯亞胺;如Ν-乙烯 基-^1代吡咯烷酮、3-曱基-:1 -乙烯基-吡咯烷酮、4-甲基 -:1 -乙烯基-吡咯烷酮、5 -甲基-1 -乙烯基-吡咯烷酮、3 -乙 基-1 -乙烯基-吡咯烷酮、3 -丁基-1 -乙烯基-吡咯烷酮、3, 3 -二曱基-1-乙稀基-¾ σ各烧酮、4,5 -二曱基-1-乙稀基-口比
92341.ptd 第13頁 1236049 五、發明說明(11) 口各烧㈣同、5,5 _二甲基_1-乙稀基-口比洛少完S同、3,3,5 -三曱基 -1 -乙稀基比17各烧嗣、4 -乙基-1 -乙稀基-D比σ各烧i同、5 -甲 基-5_乙基-1-乙煉基-D比略少完嗣及3,4,5 -三甲基-1-乙稀基 -吼洛烧嗣等之N -乙稀基-D比σ各烧嗣;乙稀基D比略;乙稀基 苯胺及乙烯基六氫吼σ定。 本發明中可用來作為不飽和單體的經取代之乙烯單體 包含,但不限於:乙酸乙烯酯、乙烯基甲醯胺、氣化乙 烯、氟化乙烯、溴化乙烯、偏二氯乙烯、偏二氟乙烯、偏 二溴乙烯、四氟乙烯、三氟乙烯、乙酸三氟曱基乙烯酯以 及乙烯基醚。 本接著劑聚合物較佳包含以一或複數種含胺之(曱基) 丙烯酸酯單體作為聚合單元以及一或複數種低餾分的(甲 基)丙稀酸酯單體。 該(曱基)丙烯酸酯接著劑聚合物一般係市售可得者, 例如購自 R 〇 h m a n d H a s s公司,Philadelphia, P e η n s y 1 v a n i a,或可藉由如乳化聚合、溶液聚合或懸浮聚 合等習知方法製備。本發明有用的乳化聚合物之製備一般 係先將水及部分單體乳化物填入裝設攪拌器、溫度計及迴 流冷凝器的反應容器。一般而言,該單體乳化物係由單 體、界面活性劑、起始劑及鏈轉移劑適當地組成。初步填 入的單體乳化物係於充滿氮氣的情形下加熱伴隨攪拌自約 5 5°C至約1 2 5°C之溫度。等初始填充物達到足以引發聚合 作用的溫度時,將該單體乳化物或餘量的單體乳化物填入 反應容器放置1 5分鐘至4小時,同時保持該反應於所欲的
92341.ptd 第14頁 1236049 五、發明說明 反應溫度 的外加的 加至該反 之前先發 始劑之後 起始劑並 或者 中,該乳 面活性劑 攪拌而製 溫度以進 之後,將 一保溫時 言添加三 持3 0分鐘 徹底完成 (12) 箄:::單體乳化加成之後,將—系列溶 加至該反應t。一般而言該起始劑係 應接者一保溫時段使反應在添加 斗。一“ 口下一份起始劑 奴而言添加三次起始劑。添加最後一份 ’ 4批係維持3 〇分鐘至4小時以完, ^ α他# 成分解所有的 且使该反應徹底完成。 ,,乳化聚合可依批式製程進行。在此批式製程 化聚合物係於充滿氮氣的情形下將水、單^、 、起始劑以及鏈轉移劑適當地填至反應^ 伴$ 備。該單體乳化物係加熱自約5 5。(:至約! 2 5°c的通 行該聚合反應。維持於此溫度達3〇分鐘至4小= 一系列外加的等分起始劑填至該反應容器,接著 段使反應在添加下份起始劑之前先發生。一妒 次起始劑。添加最後一份起始劑之彳^,該批^ 至4小時以完成分解所有的起始劑並且使該反應 聚合之後,可分離該乳化聚合物然後以任何適當的有 機溶劑萃取。此等方法乃熟習該項技術者所熟知者二 本發明之溶液聚合物一般係先將打底溶劑(s 〇丨v e n t hee 1 )或溶劑與一部分單體混合物的混合物加至裝配授掉 器、溫度計及迴流冷凝器的反應容器。該單體混合物一般 係由單體、起始劑以及鏈轉移劑適當地組成。該打底的溶 劑或溶劑/單體混合物係於充滿氮氣的情形下伴隨授掉自 約5 5°C至約1 2 5°C之溫度。等該打底的填充物達到足以引
1236049 五、發明說明(13) 發聚合反應的溫度之後,該單體混合物或餘量的單體混合 物係填充至該反應容器放置1 5分鐘至4小時,同時保持該 反應於所欲的反應溫度。完成該單體混合物加成之後,將 一系列溶於水中的外加的等分起始劑加至該反應中。一般 而言該起始劑係加至該反應,接著一保溫時段使反應在添 加下一份起始劑之前先發生。一般而言添加三次起始劑。 添加最後一份起始劑之後,該批係維持3 0分鐘至4小時以 完成分解所有的起始劑並且使該反應徹底完成。另一方法 係先填入溶劑及一部分單體混合物至該反應容器。 用於本發明之(甲基)丙烯酸酯聚合物的分子量一般具 有小於2 5 0,0 0 0的重量平均分子量,然而較高分子量亦可 使用。該重量平均分子量較佳分布於約1 0,0 0 0至約 2 5 0,0 0 0,更佳約2 0,0 0 0至約1 0 0,0 0 0。該接著劑聚合物的 用量一般為4 5至9 0重量%,較佳為7 5至9 0重量%。 多種交聯劑可用於本發明。此等交聯劑係多官能性單 體且特別係二-、三-、四-或更多官能性之單體。此等交 聯劑較佳係自由基聚合的交聯劑,且特別係二-、三-、四 -或更多官能性之乙烯系或乙炔系未飽和單體,以及較佳 係多官能性(曱基)丙烯酸酯單體。適合的交聯劑包含,但 不限於:二乙烯基苯、烯丙基甲基丙烯酸酯、1,4 -苯二醇 二丙烯酸酯、1,4 -苯二醇二甲基丙烯酸酯、雙-(丙烯基氧 基乙基)磷酸酯、雙酚A二丙烯酸酯、雙酚A二甲基丙烯酸 酯、1,3 - 丁二醇二丙烯酸酯、1 , 3 -丁二醇二曱基丙烯酸 酯、1,4 -丁二醇二丙烯酸酯、1,4 -丁二醇二曱基丙烯酸
92341.ptd 第16頁 1236049 五 、發明說明(14) 酯 Λ 2- -丁烯 -] ί, 4- 二醇二 二丙稀酸S旨 、2 -丁烯-1, 4- "二 醇 二 甲 基 丙 烯 酸酯 丁 二 醇 二 甲 基 丙 烯 酸 酯 > 1, 2,4- -丁 三 醇 三 甲 基 丙 稀 酸酯 Λ 丁 稀 基 丙 稀 酸 酯 Λ 丁 稀 基 甲 基丙 稀 酸 酯 、 1, 4- -環 己 二醇 二 丙 烯 酸 酯 Λ 1, 4- -環 己 二 醇 二 甲基 丙 稀 酸 酯 癸 撐 二 醇二 丙 烯 酸 酯 Λ 癸 撐 二 醇 二 甲 基 丙 烯酸 酯 二 烯 丙 基 三 聚 異氰 酸 酯 二 稀 丙 基 依 康 酸 酯 二 乙二 醇 二 丙 烯 酸 酯 二 乙二 醇 二 甲 基 丙 稀 酸 酯 雙 酚 -Α之 二-( ;3- -丙 稀 基 氧 基 乙 基 )醚 、雙酚- -Α之二 _(丙稀基氧基- 2- -經丙 基 )鍵、 稀 丙 基 反丁 稀 二 酸 酯 Λ 二 異 丙 烯 基 苯 、 雙 酉分-Α之 二 -( ;3- -曱 基 丙 稀 基氧 基 乙 基 )醚 •雙酚- -Α之二 -(2 丨-甲基丙稀基氧基 r !-經丙基 )醚 四 氣 雙 酚 -Α之 二 -( :3- -甲 基 丙烯 基 氧 基 _CL )_ 羥 丙 基 )醚 、四溴雙酚- -Α之二 -(3-甲基丙稀基氧基- -2- -fk 丙 基 )醚、 i-丁二醇之二- -(3-曱基丙烯基氧基- -2- -經 丙 基 ) 醚 雙 酉分酸 之 二 -(3- -曱 基 丙 烯 基 氧 基 -2 羥丙基)醚 λ 2, 2- 甲 基 -1,ί 3 -丙二醇二丙稀酸S旨λ ‘ 2,2 -二 二甲基- -1, 3- -丙 二 醇 二 曱 基 丙烯 酸 酯 Λ '· 丙 二 醇 二 甲 基 丙 稀 酸 酉旨、 乙 二 醇 二 丙 烯 酸 酯 、乙 二 醇 二 甲 基 丙 稀 酸 酯 Λ 甘 油 二 丙稀 酸 酯 甘 油 二 甲 基 丙烯 酸 酯 Ν 己 二 醇 二 丙 稀 酸 酯 己 二醇 二 曱 基 丙 烯 酸 S旨 Λ 經氫 化 之 雙 酚 -Α二 甲 基 丙 稀 酸 λ 三聚 氰 胺 丙 烯 酸 酯 Λ 曱 代稀 丙 基 乙 基 丙 稀 酸 酯 Λ Ν, Ν’ -伸甲基雙丙烯基醯 胺 、 1, 9-壬 二 醇 二 甲 基 丙 烯 酸 酯 ν 1, 5- 戊 二醇 --- 丙 稀 酸 酯 Λ 1, 5 -戊 二 醇 •-- 甲 基 丙 稀 酸 酯 Λ 季 戊 四 醇四 丙 稀 酸 酯 、 季 戊 四 醇四 曱 基 丙 烯 酸 酯 、 季 戊 四 醇 三 丙 烯酸 酉旨 Λ 季 戊 四 醇 甲 基丙 稀 酸 酯 1- -苯 基 -] .,2 -乙二 二醇二 二曱基丙烯酸
92341.ptd 第17頁 1236049 五、發明說明(15) 酉旨、聚氧乙基-2,2 -二(對-羧苯基)丙炫二丙稀酸醋、聚氧 乙基-2,2 -二(對-經苯基)丙烧二曱基丙稀酸醋、聚氧丙基 三經甲基丙院三丙稀酸自旨、1,3 -丙二醇二丙烯酸酯、1,2 -丙二醇二曱基丙烯酸酯、1,3 -丙二醇二甲基丙烯酸酯、經 丙氧基化之雙酚-A二曱基丙烯酸酯、四乙二醇二丙烯酸 酉旨、四乙二醇二曱基丙稀酸醋、1,3,5 -三丙稀基氧基六氫 -s -三哄、三乙二醇二丙烯酸酯、三乙二醇二甲基丙烯酸 酯、1,3,5 -異丙烯基苯、三羥曱基乙烷三丙烯酸酯、三羥 曱基丙烷二烯丙基醚單-曱基丙烯酸酯、三羥曱基丙烷三 丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三甲基丙烯酸酯、2,2,4 -三曱基 -1,3 -戊二醇二甲基丙烯酸酯、三丙二醇二丙烯酸酯、參 -(2-丙稀基氧基乙基)三異氮酸醋、以及參-(2-曱基丙稀 基氧基乙基)三異氰酸酯。亦可使用例如揭示於美國專利 案第3,5 9 4,4 1 0、4,1 8 0,4 7 4以及4,3 8 2,1 3 5號中之丙烯酸 酯與曱基丙烯酸酯之聚烷氧化化合物、例如揭示於美國專 利案第3,3 8 0,8 3 1號中之聚氧基乙基化之三羥甲基丙烷三 丙烯酸酯與三曱基丙烯酸酯及類似化合物。其他適合的交 聯劑為熟於此技藝者所知悉。 較佳之交聯劑包含乙二醇二丙烯酸酯、三羥曱基丙烷 三丙烯酸酯、烯丙基曱基丙烯酸酯(n ALMA")、乙二醇二曱 基丙烯酸廊EG DMA”)、二乙二醇二甲基丙烯酸酯 (n DEGDMA”)、丙二醇二甲基丙烯酸酯、丙二醇二丙烯酸 酯、三羥甲基丙烷三甲基丙烯酸酯(π ΤΜΡΤΜΑ”)、曱基丙烯 酸縮水甘油S旨、2,2 -二甲基丙烧1,3 -二丙稀酸酯、1,3 -丁
92341.ptd 第18頁 1236049 五、發明說明(16) 二醇二丙烯酸酯、1,3 - 丁二醇二曱基丙烯酸酯、1,4 -丁二 醇二丙烯酸酯、二乙二醇二丙烯酸酯、二乙二醇二曱基丙 烯酸酯、1,6 -己二醇二丙烯酸酯、1,6 -己二醇二甲基丙烯 酸酯、三丙二醇二丙烯酸酯、三乙二醇二曱基丙烯酸酯、 四乙二醇二丙烯酸酯、聚乙二醇2 0 0二丙烯酸酯、四乙二 醇二甲基丙烯酸酯、聚乙二醇二曱基丙烯酸酯、乙氧化之 雙酚A二丙烯酸酯、乙氧化之雙酚A二甲基丙烯酸酯、聚乙 二醇6 0 0二甲基丙烯酸酯、聚(丁二醇)二丙烯酸酯、季戊 四醇三丙烯酸酯、三羥曱基丙烷三乙氧基三丙烯酸酯、甘 油基丙氧三丙稀酸S旨、季戊四醇四丙稀酸醋、季戊四醇四 曱基丙烯酸酯、二季戊四醇單羥基五丙烯酸酯及其混合 物。 交聯劑之使用量可於廣範圍下改變。通常,交聯劑之 使用量為自1 0至3 0重量% ,以1 5至2 5重量%為佳。典型 地,(曱基)丙烯酸酯聚合物對可自由基聚合之交聯劑的重 量比係自1 : 1至1 0 : 1,較佳係1. 5 : 1至9 : 1,以及更佳 係 3 : 1至 7 : 1。 任何可引發或誘發該交聯劑之聚合反應之光活性成分 皆可用於本發明之光敏性組成物中。較佳之光活性成分為 可產生自由基者,例如,聚合反應光起始劑。光活性成分 之實例包含,但非限於,疊氮化合物、含硫化合物、金屬 鹽類以及複合物、肟類、胺類、多核化合物、有機羰基化 合物及其混合物,如美國專利案第4,3 4 3,8 8 5號中第1 3欄 第2 6行至第1 7攔第1 8行所述者,其所揭示之内容以參考資
92341.pid 第19頁 1236049 五、發明說明(17) 料合併於本文、以及9,1 0 -蒽醌、:1 -氯蒽醌、2 -氯蒽醌、 2-甲基蒽醌、2-乙基蒽醌、2-第三丁基蒽醌、八甲基蒽 醌、1,4-萘醌、9, 10-菲醌、1,2-苯并蒽醌、2, 3-苯并蒽 醌、2-甲基-1,4-萘醌、2, 3-二氯萘醌、1,4-二曱基蒽 醌、2,3 -二甲基蒽醌、2 -苯基蒽醌、2,3 -二苯基蒽醌、3 -氯-2 -曱基蒽醌、惹烯醌、7,8,9,1 0 -四氫萘醌、以及1,2, 3,4 -四氫苯并蒽-7,1 2 -二酮。其他亦可使用揭示於美國專 利案第2,7 6 0,8 6 3號中之光活性成分以及包含連位酮醛基 醇類(vicina 1 keta 1 dony 1 a 1 coho 1s)(例如安息香、六甲 基丁酮醇、偶姻醚類,例如安息香甲基與乙基醚類)、α -碳氫取代之芳香族偶姻類,包含α -甲基安息香、α -烯丙 基安息香、以及α -苯基安息香。美國專利案第 2, 8 5 0, 44 5 > 2,8 7 5,0 4 7、3,0 9 7,0 9 6、3,0 74,9 74、3,0 9 7, 0 9 7、以及3,1 4 5,1 0 4號揭示之光還原性染料以及還原劑、 以及吩嗪、噁嗪與醌類之染料、美國專利案第 3,4 2 7,1 6 1、3,4 7 9,1 8 5、以及 3,5 4 9,3 6 7號揭示之二苯曱 酮、具有氫提供者之2,4,5 -三苯基咪唑基雙體及其混合 物,亦可作為光起始劑。與光起始劑及光引發劑一起使用 者係揭示於美國專利案第4,1 6 2,1 6 2號之敏化劑。雖然三 苯基膦非為自由基產生劑,但亦可包含於光活化化學系統 中作為催化劑。此等自由基產生劑特別適用於與負向作用 之光成像組成物中。特別係於正向作用之光敏性組成物 中,可使用其他光活性成分,例如光酸產生劑或光鹼產生 劑。此等光酸與光驗產生劑為熟於此技藝者所知悉。
92341.ptd 第20頁 1236049 五、發明說明(18) 特別適合的光活性成分包含:3 -苯基-5 -異噚唑酮/苯 繞蔥酮、2 -第三丁基蒽醌、2,2 -二曱氧基-2 -苯基苯乙 酮、1 -羥基環己基苯基酮、以及二乙氧基苯乙酮。其他適 合的光起始劑係揭示於日本化學會誌編號1 1 9 2至1 9 9 (1 9 8 4 )以及包含具有3 , 3 羰基雙(7 -二乙基胺基香豆 素)、1-曱基-2-苯曱基伸曱基-1,2-二氫萘酚(1,2d)噻 哇、或9 -苯基d丫。定之2,4,6 -參(三氯甲基)-1,3,5 -三哄、 具有9 -苯基吖啶之2 -酼苯并咪唑、以及具有9 -苗酮或1 -甲 基-2-苯甲基伸甲基-1,2-二氫萘并(1,2d)噻唑之3-苯基 -5 -曙σ坐琳。 較佳之光活性成分係具有嗎啉基與s -苯基基團之酮 類,例如美國專利案第4, 5 8 2, 8 6 2號(Berner等人)所揭示 者,此處合併於本文以玆參考。較佳之光活性成分係2 -甲 基-l-[4-(曱基硫)苯基]-2-嗎啉基丙烷-1-酮。 視需要使用光活性成分之混合物。當使用兩種光活性 成分時,其可以任何比例混合,例如自9 9 : 1至1 : 9 9。典 型地,此等光活性成分之用量以組成物之總重計,係自0. 0 5至1 0重量%,較佳為自0 . 1至5重量%,以及更佳為自0 . 1 至2重量%。 本發明中可使用任何可使該黏結劑、該交聯劑以及該 光活性成分溶解或懸浮之有機溶劑。有機溶劑之實例包 含,但非限於:酮類溶劑,例如丙酮、曱基乙基酮、環己 酮、曱基異戊基酮以及2 -庚酮;多氫醇類及其衍生物,例 如、乙二醇、乙二醇單醋酸酯、二乙二醇、二乙二醇單醋
92341.ptd 第21頁 1236049 五、發明說明(19) 酸酯、丙二醇、丙二醇單醋酸酯、二丙二醇、以及二丙二 醇單醋酸酯、以及其單甲基、單乙基、單丙基、單丁基及 單苯基醚類;環醚類溶劑,例如二噚烷;酯類溶劑,例如 乳酸甲S旨、乳酸乙S旨、醋酸甲醋、醋酸乙醋、醋酸丁酯、 丙酮酸甲酯、丙酮酸乙酯、曱氧基丙酸曱酯以及乙氧基丙 酸乙酯;以及醯胺類溶劑,例如N,N ’-二甲基甲醯胺、 Ν,Ν’ -二甲基乙醯胺、N-曱基-2-吡咯烷酮,3-乙氧乙基丙 酸酯、2 -庚酮、7 -丁内酯及其混合物。 本發明組成物中溶劑的使用量係必須足以使該組成物 具有4 5 %或以上之總固體含量。其他特別有用之組成物係 具有總固體含量^ 5 0 %、2 5 5 %、- 6 0 %、以及-6 5 %。 本發明中可視需要使用各種添加劑,包含,但非限 於:抗條紋劑、塑化劑、速度增進劑、填充物、染料、塑 膜劑等。這些視需要之添加劑可以以多種濃度存在於光阻 組成物中。例如,填充物及染料可以以相對大量之濃度使 用,例如以組成物乾成分之總重計,其量為約5至3 0重量 % 〇 本發明之光敏性組成物典型地以任何順序結合接著劑 聚合物、交聯劑、光活性成分、溶劑及視需要之添加劑而 製備。 本發明之光敏性組成物之優點係其可用於單一步驟塗 覆過程中沉積一層厚度為5 0// m或以上之塗層。依照本發 明可輕易地沉積具有厚度g 60// m、2 65// m、— 70// m、 —75// m、g 80// m、以及—90// m之塗層。特別係,依照
92341.pid 第22頁 1236049 五 、發明說明 (20) 本 發 明 於 單 一 步 驟 塗 覆 過 程 中 可 達 到 具 有 厚 度 1 ( ]0// I n, 例 如 南 達 13 0至] 140// m之塗層( 〕雖袁 长係使用單- -步驟塗覆 過 程 但 於 某 些 例 子 中 有 利 於 使 用 多 重 塗 覆 步 驟 以 累 積 所 需 之 厚 度 例 如 2 0 0// I] η 〇 本 發 明 組 成 物 可 用 於 此 等 多 重 步 驟 塗 覆 過 程 〇 本 發 明 過 程 可 於 各 種 電 子 裝 置 基 材 上 沉 積 光 敏 性 組 成 物 包 含 但 非 限 於 印 刷 線 路 板 Λ 導 線 架 半 導 體 晶 圓 半 導 體 封 裝 等 〇 本 發 明 方 法 特 別 適 用 於 半 導 體 晶 圓 上 沉 積 金 屬 凸 塊 例 如 焊 錫 凸 塊 〇 於 本 發 明 過 程 中 該 光 敏 性 組 成 物 係 藉 由 適 當 方 法 例如 但 非 限 於 旋 塗 浸 塗 滚 塗 網 版 印 刷 等 沉 積 於 電 子 裝 置 基 材 上 〇 於 特 定 具 體 實 施 例 中 該 光 敏 性 組 成 物 係 於 沉 積 金 屬 凸 塊 之 過 程 中 旋 塗 至 半 導 體 晶 圓 上 〇 為 了 說 明 之 因 的 本 發 明 將 說 明 有 關 於 半 導 體 晶 圓 上 沉 積 負 向 作 用 光 敏 性 組 成 物 〇 該 過 程 之 第 — 步 驟 係 將 一 定 量 之 光 敏 性 組 成 物 沉 基 於 半 導 體 晶 圓 上 〇 於 一 具 體 實 施 例 中 5 特 別 係 當 該 過 程 係 用 於 半 導 體 晶 圓 上 沉 積 金 屬 凸 塊 時 該 光 敏 性 組 成 物 係 沉 積 於 導 電 層 〇 該 光 敏 性 組 成 物 之 特 定 量 係 根 據 該 光 敏 性 組 成 物 之 特 定 成 分 以 及 對 所 得 感 光 性 塗 層 之 所 欲 的 厚 度 〇 典 型 地 該 光 敏 性 組 成 物 係 沉 積 於 該 晶 圓 之 中 心 此 等 晶 圓 係 靜 止 或 旋 轉 狀 態 〇 妖 後 使 該 晶 圓 旋 轉 且 持 續 一 段 足 以 提 供 具 有 所 需 厚 度 之 光 敏 性 組 成 物 塗 層 的 時 間 晶 圓 上 之 該 塗 層 實 質 上 具 有 均 勻 的 厚 度 〇 適 當 的 旋 轉 速 度 係 10 0至] L500 r pm ’ 1亦可採用較高或較低
92341.ptd 第23頁 1236049 五、發明說明(21) 的旋轉速度。於一具體實施例中,首先該晶圓係以1 〇 〇至 7 0 0 rpm之速度旋轉一段時間,例如1至2〇秒,然後以5〇〇 至1 0 0 0 rpm之速度旋轉一段時間,例如^ 3〇秒。視需要 使5亥晶圓於軟烤别靜置一段時間。 第二步驟中’係使該光敏性組成物經軟烤,亦即,加 熱以確保溶劑瘵發。此等軟烤典型地係藉由將該晶圓置於 熱板上,例如6 5至1 2 〇°c —段時間,例如3 〇秒至5分鐘而完 成。至於第二步驟’係於軟烤步驟後將任何上層珠狀殘餘 物移除。可採用任何習知之上層珠狀殘餘物移除過程。於 此等上層珠狀殘餘物移除期間,典型地該晶圓係以^ 1 〇 〇 〇 r pm之速度力疋轉且較佳為$ 7 〇 〇 r pm。然後將該光敏性組成 物進行硬烤(hard baked),例如於90至12 (TC,3至10分 鐘,作為第四步驟。於硬烤步驟後,使該晶圓冷卻。 接著’使用對該光活性成分為適當波長之光輻射透過 遮罩使該光敏性組成物成像,例如248nm、l93nm、 15 7nm、EUV、電子光束等,俾提供浮雕影像。該光敏性組 成物較佳於3 6 5 nm成像。本文中使用之「遮罩」係指用於 成像之光罩或用於提供圖案之圖像。通常,本發明之光敏 性組成物係於2〇0至1 8 0 0 mJ,較佳為8〇〇至12〇〇 mJ之能量 下曝光。
1236049 五 、發明說明 (22) 一 或 複 數 種 白 由 基 聚 合 之 交 聯 劑 , 一 或 複 數種 光 活 性 成 分 以 及 有 機 溶 劑 其 中 該 光 敏 性 組 成 物 實質 上 不 含 水 以 及 該 光 敏 性 組 成 物 具 有 4 5 %或以上之總固體含量 ;b)使該 半 導 體 晶 圓 以 某 一 速 度 旋 轉 一 段 時 間 5 使 其足 以 提 供 具 有 實 質 上 均 勻 厚 度 之 光 敏 性 組 成 物 塗 層 , 其 中該 塗 層 之 厚 度 係 5 0// m或以- 以及C )以光輻射使該光敏性組成物塗層 曝 光 而 成 像 〇 曝 光 後 使 該 光 敏 性 組 成 物 顯 影 以 提 供該 圖 案 化 之 影 像 〇 可 使 用 多 種 顯 影 劑 5 例 如 溶 劑 Λ 水 性 驗性 組 成 物 以 及 水 性 酸 性 組 成 物 〇 較 佳 為 使 用 酸 性 組 成 物 ,且 更 佳 為 酸 性 水 性 組 成 物 作 為 顯 影 劑 0 通 常 有 用 之 水 性酸 性 顯 影 劑 組 成 物 包 含 酸 及 水 〇 此 等 酸 為 有 機 或 無 機 酸 ,且 較 佳 為 有 機 酸 〇 此 等 酸 包 含 5 但 非 限 於 乳 酸 > 丙 酸 、檸 檬 酸 > 醋 酸 酒 石 酸 、 乙 醇 酸 等 0 亦 可 使 用 酸 之 混 合物 〇 典 型 地 該 酸 性 顯 影 劑 係 於 室 溫 至 約 6 0°C 之 溫 度 下 使用 〇 此 等 酸 性 顯 影 劑 較 佳 係 於 3 5至 4 5〇C 之 、、田 /JHL 度 下 使 用 〇 於 半 導 體 晶 圓 上 沉 積 金 屬 凸 塊 之 過 程 中, 光 敏 性 組 成 物 之 塗 層 係 經 成 像 以 便 形 成 孔 徑 9 例 如 感 光性 塗 層 中 之 導 孔 0 此 等 過 程 中 該 感 光 性 塗 層 係 經 沉 積 於電 子 裝 置 上 之 導 電 層 〇 光 敏 性 組 成 物 之 曝 光 及 接 續 之 顯 影, 於 光 敏 性 組 成 物 以 及 底 層 導 電 層 中 提 供 T 清 晰 的 孔 洞 (導孔: )° 此 外 該 過 程 的 下 一 個 步 驟 係 於 清 晰 的 孔 洞 (導孔)上 沉 積 金 屬 或 金 屬 合 金 凸 塊 0 此 等 金 屬 沉 積 可 藉 由 無 電 或電 解 沉 積 過 程 而 達 成 〇 以 電 解 金 屬 沉 積 較 佳 〇 於 電 解 金 屬沉 積 過 程 中 ,
92341.ptd 第25頁 1236049 五 、發明說明 (23) 以 該 電 子 裝 置基 材 (亦即 半導體晶圓)作為陰極。 於 金 屬 或金 屬 合 金 沉 積前(例如適合作為焊錫),可藉 由 濺 鍍 無 電沉 積 等 沉 積 導電層(例如銅或鎳)以形成凸塊 下 之 金 屬 層 〇此 等 凸 塊 下 之金屬層典型的厚度係自1 0 0 0至 5C ),0 0 0A 以 及充 當 接 下 來 電鍍焊錫凸塊之可濕性底層。 於 無 電 電鍍 中 可 使 用 各種金屬,包含,但非限於, 銅 % 錫 -鉛 、鎳 、金 ‘銀、 鈀等。適合電鍍沉積的金屬及 金 屬 合 金 包 含, 但 非 限 於 ,銅、錫、錫U、錄、金、 銀 Λ 錫 -録 、錫- -銅 Λ 錫 -絲、錫-銦、錫-銀、纪等。此等 金 屬 電 鍍 浴 為熟 於 此 技 藝 者所知悉且可輕易地由多種來源 獲 得 例 如 希普 列 公 司 5 馬爾堡,麻薩諸塞州。 於 一 具 體實 施 例 中 1 該半導體晶圓上之金屬沉積物係 作 為 焊 錫 凸 塊。 此 外 該 金屬凸塊較佳為可焊錫之金屬及 金 屬 合 金 9 例如 錫 Λ 錫 _金J、錫-銅、錫-銀、錫-絲、錫- 銅 、錫- -銅-銀等ς >適合形成焊錫凸塊之金屬及金屬合 金 已 揭 示 於 美國 專 利 案 第 5, 1 8 6, 3 8 3 ; 5, 9 0 2, 4 72 ; 5, 9 9 0, 5 6 4 ; ;( 3,( 399,71; 3 ; 以 及 6, 0 1 3,5 7 2號,以及歐洲專利申請 案 ΕΡ : 1 : 148 5 48 (Cheung等人),其全部皆以參考資料合 併 於 本 文 〇 金屬 及 金 屬 合 金之實例包含,但非限於,錫; 具 有 小 於 2重量%銅 且 較 佳 約0 . 7重量%銅之錫-銅合金;具 有 小 於 2重量%銀 且 較 佳 白 3. 5至1 0重量%銀之錫-銀合金; 具 有 白 5至\ 25重量! 且 較 佳約2 0重量:之錫-鉍合金;以 及 具 有 小 於 5重量! %銀 且 較 佳約3. 5重量%銀,小於2重量%銅 且 較 佳 約 0· 7重量! %銅 , 以 及以錫平衡之錫-銀-銅合金。於
92341.ptd 第 26 頁 1236049 五、發明說明(24) 一具體實施例中,用於焊錫凸塊之金屬合金係不含鉛,亦 即含有$ 1 0 p p m之雜。
通常,適合的電解金屬電鍍浴係酸性的,且含有酸、 溶於水型式之欲沉積之金屬或金屬類、以及視需要一或多 種有機添加劑,例如亮光劑(增速劑)、載劑(抑制劑)、平 整劑、延展性增強劑、濕潤劑、電鍍浴穩定劑(特別係用 於含錫之電鍍浴)、晶粒精製劑等。本發明中,各視需要 成分的類型及用量係隨著所使用之特定金屬電鍍浴而改 變。一般,此等金屬電鍍浴係商業上可購得,例如購自希 普列公司。 可自單一電鑛浴中沉積二元合金,如錫-銅、錫-麵、 錫-銀、錫-錯等,或可自多重電鍍浴中以個別層沉積且經 回流以形成合金。此種回流技術說明於美國專利案第 6,0 1 3,5 7 2號。此種回流典型地係於移除殘留之光敏性組 成物後進行。
於此過程中,該光敏性組成物係作為不欲被電鍍區域 之保護層。金屬沉積後,清除殘留之光敏性組成物,例如 藉由使用市售可得之以N-甲基吡咯烷酮(π NMP’’)為主之清 除劑,於約4 0至6 9°C下進行清除。適合的清除劑可由各種 來源講得,例如希普列-S V C,森尼維耳市,加州。 因此,本發明亦提供一種於半導體晶圓上形成金屬凸 塊之方法,包括下列步驟:a)於半導體晶圓上沉積光敏性 組成物,該光敏性組成物包括接著劑聚合物,該接著劑聚 合物包括以一或複數種(甲基)丙烯酸酯單體作為聚合單
92341.ptd 第27頁 1236049 五、發明說明(25) 元;一或複數種自由基聚 成分;以及有機溶劑;其 以及該光敏性組成物具有 該半導體晶圓以某一速度 有實質上均勻厚度之光敏 度係50// m或以上;c)以 光而成像;d )使經曝光之 案化之區域;e )於圖案化 曝光之光敏性組成物俾提 以下之實施例係進一 並非以任何觀點限制本發 [實施方式] 實施例1 光敏性組成物係藉由 備。該組成物之總固體含 成分_____ 合之交聯劑;一或複數種光活性 中該光敏性組成物實質上不含水 4 5 %或以上之總固體含量;b )使 旋轉一段時間,使其足以提供具 性組成物塗層,其中該塗層之厚 光輻射使該光敏性組成物塗層曝 光敏性組成物塗層顯影俾提供圖 之區域沉積金屬;以及〇移除經 供具有金屬凸塊之半導體晶圓。 步詳細說明本發明的各種觀點, 明的範圍。 組合下表所列之成分及含量而製 量係—6 0 %。 __量(重量%) 曱基丙烯酸乙酯、丙烯酸 曱基丙烯酸二曱基胺基乙 物,溶於溶劑中 二季戊四醇單羥基五丙烯 丁酯以及 酯之共聚 酸酉旨 80 2-曱基-1-[4-(甲基硫)苯基]-2 嗎琳基丙烧-1 -酮 2 -異丙基噻吨酮 其他添加劑 _____ 17 20. 0·
92341.ptd 第28頁 1236049 五、發明說明(26) 實施例2 接著將由實施例1之組成物旋塗於半導體晶圓上。該 組成物(6 m 1 )分配至靜止狀態下之晶圓的中心,以及以 5 0 0 r p m之速度使該晶圓旋轉5秒鐘,使該組成物分布於晶 圓上,接著以7〇〇rp m之速度旋轉。其次,自該晶圓的背側 移除邊緣的氣泡,之後,無進行旋轉使晶圓靜置6 0秒。然 後,於7 5°C之熱板上(無接觸)使該組成物進行軟烤(3分 鐘)。軟烤後,藉由溶劑接觸3 0秒與以5 0 0 r p m之速度使該 晶圓旋轉而移除頂測邊緣之氣泡。然後於1 〇 〇°C之熱板上 (無接觸)使該組成物進行硬烤3 0秒,然後冷卻。該組成物 於晶圓上之厚度約1 00// m。 實施例3 將實施例2經塗覆之晶圓透過遮罩於3 6 5 η πι成像。然後 該經成像之組成物以乳酸顯影,俾提供圖案化之光敏性組 成物。
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Claims (1)
1236049 六 申請專利範圍 1 . 一 種 沈積 光 敏 性 組 成 物 的 方法 ,包 括 以 下 步 驟 ·· a)在 電 子 裝 置 基 材 上 沈積 光敏 性 組 成 物 該 光 敏 性 組 成物 包 含 以 一 或 複 數 種(甲基: )丙 烯 酸 酯 單 體 作 為 聚 合 〇0 一 早兀 之 接 著 劑 聚 合 物 或複 數 種 可 白 由 基 聚 合 的 交 聯劑 -^ 或 複 數 種 光 活性 成分 1 以 及 有 機 溶 劑 其 中 該光 敏 性 組 成 物 實 質 上係 不含 水 並 且 該 光 敏 性 組 成 物 具有 總 固 體 含 量 為 4 5 %或更多: :以及 b)以 一 速 度 旋 轉 該 電 子裝 置基 材 歷 經 足 以 製 備 具 有 實 質上 均 勻 厚 度 的 光 敏 性組 成物 層 之 時 間 , 其 中 該 層 的 厚度 係 5 0微 米 或 更 厚 〇 2. 一 種 在半 導 體 晶 圓 上 形 成 浮雕 影像 的 方 法 包 括 以 下 步 驟 二 a)在 半 導 體 晶 圓 上 沈 積光 敏性 組 成 物 , 該 光 敏 性 組 成 物包 含 以 或 複 數 種 (曱基)丙 稀 酸 酯 單 體 作 為 聚 合 單 元之 接 著 劑 聚 合 物 一或 複數 種 可 由 基 聚 合 的 交 聯 劑; 一 或 複 數 種 光 活 性成 分; 以 及 有 機 溶 劑 ; 其 中 該 光敏 性 成 分 實 質 上 係 不含 水並 且 該 光 敏 性 組 成 物 具 有 總固 體 含 量 為 4 5 %或更多; b)以 一 速 度 旋 轉 該 半 導體 晶圓 歷 經 足 以 製 備 具 有 實 質 上均 勻 厚 度 的 光 敏 性 組成 物層 之 時 間 , 其 中 該 層 的 厚 度係 5 0微 米 或 更 厚 y 以及 c )使 該 光 敏 性 組 成 物 層依 影像 暴 露 於 光 化 輻 射 下 〇 3. 種 在半 導 體 晶 圓 上 形 成 金屬 凸塊 的 方 法 9 包 括 以 下
92341.ptd 第 31 頁 1236049 六、申請專利範圍 步驟: a) 在半導體晶圓上沈積光敏性組成物,該光敏性 組成物包含以一或複數種(曱基)丙烯酸酯單體作為聚 合單元之接著劑聚合物;一或複數種可自由基聚合的 交聯劑;一或複數種光活性成分;以及有機溶劑;其 中該光敏性成分實質上係不含水並且該光敏性組成物 具有總固體含量為4 5 %或更多; b) 以一速度旋轉該半導體晶圓歷經足以製備具有 實質上均勻厚度的光敏性組成物層之時間,其中該層 的厚度係5 0微米或更厚; c) 使該光敏性組成物層依影像暴露於光化輻射 下; d) 使經曝光的光敏性組成物層顯影以獲得經圖案 化的區域; e) 使金屬沈積於經圖案化的區域;以及 f )移除經曝光的光敏性組成物以製備具有金屬凸 塊的半導體晶圓。 4. 如申請專利範圍第1、2或3項之方法,其中,該一或複 數種交聯劑係(曱基)丙烯酸酉旨交聯劑。 5. 如申請專利範圍第1、2或3項之方法,其中,該總固體 含量係g 5 0 %。 6. 如申請專利範圍第1、2或3項之方法,其中,該接著劑 聚合物復包括一或複數種含胺的(甲基)丙烯酸酯單體 作為聚合單元。
92341.ptd 第32頁 1236049 六、申請專利範圍 7. 如申請專利範圍第1、2或3項之方法,其中,該接著劑 聚合物包括一或複數種含酸可顯影基團的單體作為聚 合單元。 8. 如申請專利範圍第1、2或3項之方法,其中,該接著劑 聚合物及該可自由基聚合的交聯劑係以1 : 1至1 0 : 1之 重量比存在。 9. 如申請專利範圍第3項之方法,其中,該金屬係以電解 方式沈積。 1 0. —種沈積光敏性組成物之方法,包括以下步驟: a)在電子裝置基材上沈積光敏性組成物,該光敏 性組成物包含接著劑聚合物;一或複數種交聯劑;一 或複數種光活性成分;以及有機溶劑;其中該光敏性 組成物在3 6 5奈米時每微米具有S 0 . 1個吸收單位的吸 收度;其中該光敏性組成物實質上係不含水並且該光 敏性組成物具有總固體含量為4 5 %或更高;以及 b )以一速度旋轉該電子裝置基材歷經足以製備具 有實質上均勻厚度的光敏性組成物層之時間,其中該 層的厚度係5 0微米或更厚。
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US10036953B2 (en) | 2013-11-08 | 2018-07-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Photoresist system and method |
US10095113B2 (en) | 2013-12-06 | 2018-10-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Photoresist and method |
US9761449B2 (en) | 2013-12-30 | 2017-09-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Gap filling materials and methods |
US9599896B2 (en) | 2014-03-14 | 2017-03-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist system and method |
US9581908B2 (en) | 2014-05-16 | 2017-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist and method |
US10568483B2 (en) * | 2014-12-12 | 2020-02-25 | Irobot Corporation | Cleaning system for autonomous robot |
KR101598826B1 (ko) * | 2015-08-28 | 2016-03-03 | 영창케미칼 주식회사 | 에칭 내성이 우수한 i-선용 네가티브형 포토레지스트 조성물 |
KR101757543B1 (ko) | 2015-09-07 | 2017-07-13 | 오병서 | 천장등 고정방법 및 그 구조 |
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Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US2850445A (en) | 1955-01-19 | 1958-09-02 | Oster Gerald | Photopolymerization |
US3074974A (en) | 1957-12-06 | 1963-01-22 | Monsanto Chemicals | Method for the preparation of diglycidyl ether of tetrachlorobisphenol-a |
US3097097A (en) | 1959-02-12 | 1963-07-09 | Gisela K Oster | Photo degrading of gel systems and photographic production of reliefs therewith |
NL254306A (zh) | 1959-08-07 | |||
GB1090142A (en) | 1965-02-26 | 1967-11-08 | Agfa Gevaert Nv | Photochemical insolubilisation of polymers |
US3479185A (en) | 1965-06-03 | 1969-11-18 | Du Pont | Photopolymerizable compositions and layers containing 2,4,5-triphenylimidazoyl dimers |
US3549367A (en) | 1968-05-24 | 1970-12-22 | Du Pont | Photopolymerizable compositions containing triarylimidazolyl dimers and p-aminophenyl ketones |
US4162162A (en) | 1978-05-08 | 1979-07-24 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Derivatives of aryl ketones and p-dialkyl-aminoarylaldehydes as visible sensitizers of photopolymerizable compositions |
US4343885A (en) | 1978-05-09 | 1982-08-10 | Dynachem Corporation | Phototropic photosensitive compositions containing fluoran colorformer |
EP0088050B1 (de) | 1982-02-26 | 1986-09-03 | Ciba-Geigy Ag | Photohärtbare gefärbte Massen |
US4629680A (en) * | 1984-01-30 | 1986-12-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photopolymerizable materials capable of being developed by a weak alkaline aqueous solution |
US4592816A (en) * | 1984-09-26 | 1986-06-03 | Rohm And Haas Company | Electrophoretic deposition process |
DE3540950A1 (de) | 1985-11-19 | 1987-05-21 | Basf Ag | Durch photopolymerisation vernetzbare gemische |
US4794021A (en) * | 1986-11-13 | 1988-12-27 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method of providing a planarized polymer coating on a substrate wafer |
US5005164A (en) * | 1987-04-28 | 1991-04-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Recording and reproducing apparatus |
US5055164A (en) | 1990-03-26 | 1991-10-08 | Shipley Company Inc. | Electrodepositable photoresists for manufacture of hybrid circuit boards |
EP0490118A1 (en) * | 1990-12-10 | 1992-06-17 | Shipley Company Inc. | Photoimagable solder mask and photosensitive composition |
US5202222A (en) * | 1991-03-01 | 1993-04-13 | Shipley Company Inc. | Selective and precise etching and plating of conductive substrates |
CA2076727A1 (en) | 1991-08-30 | 1993-03-01 | Richard T. Mayes | Alkaline-etch resistant dry film photoresist |
US5186383A (en) | 1991-10-02 | 1993-02-16 | Motorola, Inc. | Method for forming solder bump interconnections to a solder-plated circuit trace |
US5928839A (en) * | 1992-05-15 | 1999-07-27 | Morton International, Inc. | Method of forming a multilayer printed circuit board and product thereof |
JP3575109B2 (ja) * | 1995-05-10 | 2004-10-13 | Jsr株式会社 | バンプ形成用材料 |
AU1556297A (en) | 1996-01-30 | 1997-08-22 | Naganoken | Aqueous solution for forming metal complexes, tin-silver alloy plating bath, and process for producing plated object using the plating bath |
US6099713A (en) | 1996-11-25 | 2000-08-08 | C. Uyemura & Co., Ltd. | Tin-silver alloy electroplating bath and tin-silver alloy electroplating process |
JP3633179B2 (ja) | 1997-01-27 | 2005-03-30 | Jsr株式会社 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
KR100219806B1 (ko) | 1997-05-27 | 1999-09-01 | 윤종용 | 반도체장치의 플립 칩 실장형 솔더 범프의 제조방법, 이에 따라 제조되는 솔더범프 및 그 분석방법 |
US5990564A (en) | 1997-05-30 | 1999-11-23 | Lucent Technologies Inc. | Flip chip packaging of memory chips |
KR100585071B1 (ko) | 1999-09-13 | 2006-06-01 | 삼성전자주식회사 | 스핀 코팅을 이용한 포토레지스트막의 도포 방법 |
US6638847B1 (en) | 2000-04-19 | 2003-10-28 | Advanced Interconnect Technology Ltd. | Method of forming lead-free bump interconnections |
US7309559B2 (en) * | 2000-09-27 | 2007-12-18 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Resist pattern, process for producing same, and utilization thereof |
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