TWD194187S - Probe pin for continuity check - Google Patents
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Abstract
【物品用途】;本案設計之物品係安裝於IC插座之殼體，使用於基板對基板接合連接器等之導通檢查者。如「顯示使用狀態之參考圖」所示，本物品之前端部係於藉由IC插座之移動而與作為檢查對象之基板對基板接合連接器等之端子接觸後，於端子表面滑動移動而去除附著於端子表面之污垢，直至IC插座停止為止。;【設計說明】;圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分，圖式所揭露之實線部分，為本案主張設計之部分。圖式中一點鏈線所圍繞者，係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。 後視圖係與前視圖左右對稱而顯示。 本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計導通檢查用探針接腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
Description
本案設計之物品係安裝於IC插座之殼體，使用於基板對基板接合連接器等之導通檢查者。如「顯示使用狀態之參考圖」所示，本物品之前端部係於藉由IC插座之移動而與作為檢查對象之基板對基板接合連接器等之端子接觸後，於端子表面滑動移動而去除附著於端子表面之污垢，直至IC插座停止為止。
圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分，圖式所揭露之實線部分，為本案主張設計之部分。圖式中一點鏈線所圍繞者，係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。 後視圖係與前視圖左右對稱而顯示。 本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計導通檢查用探針接腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPD2016-12515F JP1573833S (zh) | 2016-06-10 | 2016-06-10 | |
| JP??2016-012515 | 2016-06-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWD194187S true TWD194187S (zh) | 2018-11-21 |
Family
ID=58472905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW107301813F TWD194187S (zh) | 2016-06-10 | 2016-12-09 | Probe pin for continuity check |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP1573833S (zh) |
| TW (1) | TWD194187S (zh) |
-
2016
- 2016-06-10 JP JPD2016-12515F patent/JP1573833S/ja active Active
- 2016-12-09 TW TW107301813F patent/TWD194187S/zh unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP1573833S (zh) | 2017-04-10 |
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