TW541350B - Method for producing metal target for sputtering - Google Patents

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TW541350B TW089128339A TW89128339A TW541350B TW 541350 B TW541350 B TW 541350B TW 089128339 A TW089128339 A TW 089128339A TW 89128339 A TW89128339 A TW 89128339A TW 541350 B TW541350 B TW 541350B
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Jian-Hung Ye
Li-He Chen
Chin-Shiau Jau
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Chung Shan Inst Of Science
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    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
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Description

541350 五、發明說明(1) 【發明背景】 本案係有關一種金屬錢鑛乾材(metal target for s p u 11 e r i n g )特別是有關一種製造其具有微細的晶粒大小 及二次相細化的高均質化金屬濺鍍靶材之製造方法,以符 合半導體產業及光電產業所適用之金屬濺鍍靶材。 按濺鍍技術是利用電漿所產生的離子,藉著離子對濺 鍍靶材進行轟擊,使所產生的濺鍍靶材原子沉積於基材表 面形成薄膜之一種薄膜製程技術。濺鍍技術是形成薄膜沉 積眾所熟知的技術之一。近年來,已被廣泛的運用於半導 體產業及光電產業之相關製程中所需的金屬層或非金屬 層。濺鍍時所形成薄膜的性質,對於產品品質有極為重大 影響,製造時具有高的濺射速率,及穩定的製程,對於經 濟規模的製造具有降低成本的優勢,這些都是生產時考量 的關鍵性因素。濺鍍所形成的薄膜性質與濺鍍靶材本身的 性質,諸如晶粒大小及二次相形態之分佈特性有關。 依傳統的鑄造、成形、退火及鍛造技術,生產金屬濺 鍍靶材對於其晶粒大小及二次相的微細化及均質化均有其 限制。而可以形成相對較小的粒徑的喷覆成型技術,因其 設備及生產成本過高,並不適用於經濟規模的商業量產製 造。 【發明概論】 有鑑於此,本發明的主要目的係提供一種能使得晶粒 大小及二次相微細化且均質化,並具有商業應用價值的金 屬濺鍍靶材;當應用於濺鍍時,使其得以具有高的濺射速
541350 五、發明說明(2) 率及優異的薄膜品質。 本發明係提供一種金屬濺鍍靶材,使得金屬濺鍍靶材 本體包含例如:鋁、鈦或銅,不論單一金屬或是添加選自 包含例如··銅、石夕、鈦、錯、鋼、顧、鎢、白金、金、 鈮、钽、钻、鍊、銃等至少一種不同金屬所形成的合金, 都具有晶粒大小及二次相微細化且均質化的性質,符合適 用於半導體產業及光電產業的商業化需求。
本發明另提供一種金屬濺鍍靶材的製造技術,係將經 由雙V熔煉製程熔煉,產生的單一金屬之鋁、鈦或銅,或 是添加選自銅、石夕、鈦、錯、纲、19、鎢、白金、金、 錕、鈕、姑、銖、銃等至少一種不同金屬所形成的合金, 再經由高溫鍛造加工製程,產生晶粒大小及二次相微細化 的高均質化金屬濺鍍靶材。其中,該雙V熔煉製程乃是本 發明提供產生晶粒大小及二次相微細化且高均質化之熔煉 方法,該方法包括:一真空感應熔煉(Vacuum Induction Melting,簡稱VIM)步驟,及一真空電弧精煉(Vacuum Arc Remelting,簡稱VAR)步驟,故稱之為雙V溶煉製程。 為使 貴審查委員能進一步瞭解本創作之結構、特徵 及其目的,茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如 後.
【圖式之簡單說明】 圖一為鋁-鈦合金經單一真空感應熔煉(VIM),所產生 的材料晶粒顯微組織圖, 圖二為鋁-鈦合金經雙V熔煉製程,所產生的材料晶粒
第6頁 541350 五、發明說明(3) 顯微組織圖; 圖三為銘-鈦合金經單一真空感應溶煉(VIM),所產生 的材料—次相顯微組織圖, 圖四為鋁-鈦合金經雙V熔煉製程,所產生的材料二次 相顯微組織圖;以及 圖五為鋁-鈦合金經雙V熔煉製程及高溫鍛造加工,所 產生的材料顯微組織圖。 【較佳具體實施例說明】
按金屬濺鍍靶材被廣泛的應用於半導體產業及光電產 業的薄膜沉積製程,其材料中晶粒及二次相之組織,因與 基地原子束缚能之不同,所造成濺鍍速率差異之效應,會 影響到所沉積的薄膜品質特性。一般傳統的鑄造方式,無 法得到高純度的單一金屬,對於添加不同金屬的合金,亦 不能產生成份均勻的合金,且其對晶粒大小和二次相微細 化及均質化均有其限制性。有鑑於此,本發明係利用真空 感應熔煉(VIM)的熔煉方式,產生單一金屬或是添加其他 不同金屬所形成的合金,但單一真空感應熔煉(VIM)仍受 限於傳統鑄造方式之自然凝固特性的影響,無法產生較微 細的晶粒,且其二次相亦因此凝固速率較大,進而導致有 二次相過大及分佈不均勻的問題產生。
因此,將前述已經單一真空感應熔煉(VIM)所產生的 單一金屬或是添加其他不同金屬所形成的的合金,再經由 一真空電弧精煉(VAR)製程,即可明顯獲得晶粒大小及二 次相微細化且均質化的目的。其中,該真空電弧精煉
第7頁 541350 五、發明說明(4) (VAR)是一種在真空的環境中,藉由電弧重熔的方式,將 單一金屬或合金局部融化後再固化的過程,進而能產生高 均質化的單一金屬或合金的一種溶煉方法。該精煉步驟係 將欲產生的單一金屬或合金當作電極,在此電極與一導電 坩堝之間,利用一高直流電源,使其引導產生電弧;然 後,利用此電極與一導電坩堝之間所產生的電弧,融化由 單一金屬或合金所形成的電極,使該熔融物落至導電坩堝 中固化而獲得。故經由一真空感應熔煉(V I Μ )步驟後,再 經一真空電弧精煉(VAR),即為本發明之雙V熔煉製程。是 以,經由前述之雙V溶煉製程,所產生的單一金屬之铭、 鈦或銅,或是添加選自銅、石夕、鈦、錯、納、顧、鶴、白 金、金、銳、钽、銘、銖、銃等至少一種不同金屬所形成 的合金,可明顯獲得晶粒大小及二次相微細化且均質化的 結果。 即以鋁-鈦合金為例,圖一為鋁-鈦合金經單一真空感 應熔煉(V IΜ ),所產生的材料晶粒顯微組織圖,其與圖二 之鋁-鈦合金經雙V熔煉製程,所產生的材料晶粒顯微組織 圖相比較,可明顯觀察並得知,經由雙V熔煉製程所獲得 的晶粒大小,約小於3 0微米,明顯比只經由單一真空感應 熔煉製程要微細了許多。此外,圖三為鋁-鈦合金經單一 真空感應熔煉(V I Μ ),所產生的材料二次相顯微組織圖, 其與圖四之鋁-鈦合金經雙V熔煉製程,所產生的材料二次 相顯微組織圖相比較,可明顯觀察並得知,經由雙V熔煉 製程所添加之鈦金屬所形成之二次相長度,約小於2 0微米
541350 五、發明說明(5) 且分佈均勻,明顯比只經由單一真空感應熔煉製程要微細 且分佈均勻。更證明了經雙V熔煉製程相較於只經由單一 真空感應熔煉製程,有較佳的微細化且均質化的性質。此 外,添加少量不同金屬種類及用量,會根據不同之應用而 有所不同,諸如金屬濺鍍靶材本體之鋁單一金屬,添加其 他不同金屬所形成的鋁合金,其添加其他不同金屬含量不 超過1 0 %為佳,以便可控制其品質及成本。 圖五為鋁-鈦合金經雙V製程熔煉後,再經高溫鍛造加 工,所產生的材料顯微組織圖,其組織顯微組織仍然微細 且均勻。 是以,經由雙V熔煉製程,再經由高溫鍛造加工製 程,所產生的金屬濺鍍靶材,鋁-鈦合金只是其中之一種 合金,有許多單一金屬或合金皆可適用。因此,單一金屬 之鋁、鈦、銅或是添加其他不同之金屬包含例如:銅、 石夕、鈦、錯、釣、錮、鶴、白金、金、銳、钽、銘、銖、 銃等所形成的合金,皆是半導體產業及光電產業所需的金 屬濺鍍靶材,皆可利用上述鋁-鈦合金的製造方式,形成 晶粒大小及二次相微細化的高均質化金屬濺鍍靶材,並具 有商業應用價值。因此,在應用於濺鍍時,使其得以具有 高的錢射速率及優異的薄膜品質。 故經由本發明之實施,藉由一真空感應熔煉(VIM)步 驟及一真空電弧精煉(VAR)之雙V熔煉製程,使產生的單一 金屬之銘、鈦或銅或是添加選自銅、石夕、鈦、誥、獅、 錮、鎮、白金、金、銳、钽、鈷、銖、銃等至少一種不同
541350 五、發明說明(6) 金屬所形成的合金,再經由高溫鍛造之加工製程,可生產 出適用於半導體產業及光電產業,並兼具有微細化及高均 質化的金屬濺鍍靶材,誠為前所未見之金屬濺鍍靶材的製 造方法。 本案所揭示者,乃較佳實施例之一種,舉凡局部之變 更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所 易於推知者’俱不脫本案之專利權範臂。 綜上所陳,本案無論就目的、手段與功效,在在顯示 其迥異於習知之技術特徵,且其首先創作合於實用,亦在 在符合發明之專利要件,懇請 貴審查委員明察,並祈早 曰賜予專利,俾嘉惠社會,實感德便。
第10頁

Claims (1)

  1. 541350 六、申請專利範IL 一)
    1 · 一種金屬錢鑛乾材的製造方法,係將經由一真空感 應熔煉(VIM)步驟,及一真空電弧精煉(VAR)步驟之雙v炫 煉製程,產生的單一金屬之鋁、鈦或銅,或是添加選自 銅、石夕、鈦、錯、纲、餌、鶴、白金、金、銳、纽、結、 銶、銃等至少一種不同金屬所形成的合金,再經由高溫锻 造加工製·程’俾產生晶粒大小及二次相微細化的向均質化 金屬濺鍍靶材。 2·如申請專利範圍第1項所述之金屬濺鍍靶材的製造 方法’其中金屬濺鍍靶材本體包含有鋁單一金屬或是添加 選自銅、矽、鈦、鍅、婀、鉬、鎢、白金、金、鈮、鈕、 鈷、銖、銳等至少一種不同金屬所形成的鋁合金。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之金屬滅鍍靶材的製造 方法,其中金屬濺鍍乾材本體之铭單一金屬,添力π其他不 同金屬所形成的鋁合金,其添加其他不同金屬含量不超過 10%。 4 ·如申請專利範圍第2項所述之金屬滅鍍靶材的製造 方法,其中鋁-鈦合金濺鍍把材所產生的二次相長度, 小於20微米。 5 ·如申請專利範園第2項所述之金屬濺鍍靶材的製造 方法,其中鋁—鈦合金濺鍍靶材所產生的晶粒,係小於3〇 押6· 一種金屬濺鍍靶材的製造方法,係將金屬材料包含 單一金屬之鋁、鈦或鋼,或是添加選自銅、矽、鈦、锆、 例鉬鶴、白金、金、銳、钽、钻、銖、航等至少一種
    第12頁 541350 案號 89128339 中請專利範圍 修正 六 不同·金屬,經由一真空感應熔煉(VIM)步驟,及—真办 弧精煉(VAR)步驟之雙V熔煉製程,產生單一金屬之銘二電 或鋼,或是添加選自銅、矽、鈦、锆、奶、鉬、拍 鈦 人 崎、白 金、金、銳、組、#、銖、銃等至少一種不同金屬的人 鑄旋,再經高溫锻造加工,形成一具有晶粒大小及:a金 微細化的·高均質化金屬濺鍍靶材。 —次相 7 ·如申請專利範圍第6項所述之金屬濺鍍靶材的製、生 方法,其中包含鋁單一金屬或是添加選自銅、矽、欽、造 锆、锕、鉬、鎢、白金、金、鈮、鈕、鈷、鍊、銳等至小 一種不同金屬所形成的鋁合金。 少 锆、锕、鉬、鎢、白金、金、鈮、鈕、鈷、銖、銳等至少 種不同金屬所形成的鋁合金,其添加他不同金 超過10%。 里 、8·如申請專利範圍第7項所述之金屬濺鍍靶材的製造 方法,其中包含紹單一金屬或是添加選自銅、矽、鈦、 锆、锕、鉬、鎢、白合、人扣、鈕、鈷、銖、銳等至少 不超過10% γ 方本9· t I 4專利範®第7項所述之金屬顏輕材的製造 小於2。微Γ”敛合金錢錄㈣所產生的二次相長度,係 方法第7項所述之金屬激鍍靶材的製造 微米。 I錢鍍靶材所產生的晶粒’係小於3〇 I 第13貢
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