TW522488B - Sample processing apparatus and method - Google Patents

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TW522488B
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TW88112483A
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Inventor
Kazutaka Yanagita
Kazuaki Omi
Takao Yonehara
Kiyofumi Sakaguchi
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Canon Kk
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Description

522488 A7 B7 五、發明說明(1 ) 發明背景 發明領域 本發明係關於取樣處理裝置及方法,特別是有關於用 於處理具有分離層的樣品之處理裝置及方法。 相關技藝說明 具有SOI (矽在絕緣器上)結構之基底(SOI基 底)已知爲在絕緣層上具有單晶矽之基底。使用此S〇I 基底的裝置具有很多一般矽基底無法取得的優點。優點的 實例如下所述: (1 )由於介電隔離容易,所以能增加集成度。 (2 )能增加抗輻射。 (3 )由於雜散電容小,所以能增加裝置的操作速度。 (4 )不需要井步驟。 (5 )防止鎖住。 (6 )藉由薄膜形成,可形成完全空乏的場效電晶體。 由於S〇I結構具有上述多種優點,所以,硏究人員 已對其形成方法硏究了數十年。 長期以來已知一種SOI技術,稱爲SOS(矽在藍 寶上)技術,其係以C V D (化學汽相沈積),將矽異質 磊晶地生k於單晶藍寶石基底上。此s 〇 s技術曾經贏得 最成熟的S 0 I技術之榮譽。但是,由於諸如矽層與下層 藍寶石基底之間的介面中晶格未匹配而產生大量的晶體缺 陷、形成藍寶石基底的鋁會混入於矽層中、基底是昂貴的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項 !弟I 再本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -4 - 8 48 2 2 5 A7 ___B7_ 五、發明說明(2 ) 、且難以取得大面積等因素,所以,SOS技術尙無法實 用。 在SOS技術之後,出現S IMOX (離子佈植氧分 離)技術。關於此S I MOX技術,已檢查過不同方法以 減少晶體缺陷或製造成本。這些方法包含將氧離子佈植至 基底中以形掩埋氧化層之方法、經由氧化物膜以接合二晶 圓及拋光或蝕刻一晶圓以在氧化物膜上留下薄的單晶矽層 之方法、以及將氫離子佈植至離具有氧化物的矽基底表面 預定深度處、將基底接合至另一基底、藉由加熱等方式以 在氧化物膜上留下薄的單晶矽層、及剝離相接合的基底之 一(另一基底)之方法。 本申請人於日本專利公開號5 — 2 1 3 3 8中揭示新 的S〇I技術。在此技術中,藉由在具有多孔層的單晶半 導體基底上形成非多孔單晶層(包含單晶矽層)而製備的 第一基底會經由絕緣層而接合至第二基底。在此之後,基 底會於多孔層分離,藉以將非多孔單晶層轉移至第二基底 。由於SOI層的膜厚均勻性良好、SOI層中的晶體缺 陷密度減少、S〇I層的表面平坦性良好、不需要具有特 別規格之昂貴製造裝置、及以單一製造裝置即可製造約數 百埃至1 0 厚的SO I膜之SO I基底,所以,此技 術是有利的。 本申請人也於日本專利公開號7 — 3 0 2 8 8 9中揭 示一種技術,真係接合第一及第二基底、將第一基底與第 二基底分離而不毀壞第一基底、將分離的第一基底表面平 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------裝·! {請先閱讀背面之注意事項再Θ本頁一 tj· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7_ 五、發明說明(3 ) 滑化、再形成多孔層、及重新使用多孔層。由於第一基底 未廢棄,所以,此技術有利於大量減少製造成本及簡化製 程。 在上述技術中,當藉由接合二基底而取得的基底(此 後稱爲接合基底堆.疊)在多孔層處分離時,它們必須以高 再現性及不對它們造成任何損傷之方式分離。 發明槪述 在慮及上述情形下,達成本發明,且其目的係提供裝 置及方法,以在分離諸如具有分離層的基底之樣品時,防 止任何損傷。 當諸如具有分離層的基底之樣品要被分離時,在第一 處理中,部份區域會留作未分離區,然後,在第二處理中 ,從預定方向施加力量至未分離的區域以完全地分離樣品 ,藉以在分離樣品時防止缺陷。 根據本發明的第一及第二觀點之裝置及方法,可用於 第一處理。在第二處理中的分離條件會由根據第一及第二 觀點的裝置及方法均勻化以便於第二處理的控制,藉以在 分離樣品時,防止缺陷。 根據本發明的第一觀點,提供處理裝置,用以處理具 有分離層之樣品,特徵在於包括分離機構,以在分離層部 份地分離樣品並同時留下預定區的分離層作爲未分離區。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,較佳地, 分離機構具有噴射部份以將流體噴至分離層及使用流體以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -6 - I 麵!! ! _ I I <請先閱讀背面之注意事項再HI本頁) tl-· CC 48 2 2 5 A7 ___B7___ 五、發明說明(4 ) 部份地分離樣品。 1!!1·裝 i I (請先閱讀背面之注意事項再β本頁) 在根據第一觀點的處理裝置中,樣品較佳地包括板構 件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,分離機構 較佳地部份地分離樣品並留下實際圓形區作爲未分離區。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,分離機構 較佳地部份地分離樣品並於分離層的實際中央部份留下實 際圓形區作爲未分離區。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,分離機構 較佳地包括驅動機構及噴射部份,驅動機構用以使樣品圍 繞垂直於分離層的軸旋轉,噴射部份用以將流體噴至分離 層,且於驅動機構旋轉樣品時·,樣品會部分地分離。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,驅動機構 較佳地於樣品的部份分離處理初始階段以低速旋轉樣品, 接著以高速旋轉樣品。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,驅動機構 較佳地於部份分離樣品時逐漸地或逐步地增加樣品的旋轉 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 速度。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,驅動機構 較佳地於部份分離樣品時改變樣品的旋轉速度。 在根據第一觀點的處理裝置中,舉例而言,噴射部份 較佳地於樣品的分離處理之初始階段以高壓噴出流體,接 著減少流體壓力。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,噴射部份 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7__五、發明說明(5 ) 較佳地於部份地分離樣品時逐漸地或逐步地減少要噴出的 流體之壓力。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,噴射部份 較佳地於部份地分離樣品時改變要噴出的流體之壓力。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,噴射部份 較佳地於部份地分離樣品時,將流體噴至平面方向上離分 .離層的中心預定距離之位置。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,未分離區 較佳地小於分離層由部份分離處理所分離的區域。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第一觀點之處理裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第二觀點,提供處理具有分離層的樣品 之處理方法,特徵在於分離步驟,分離步驟會於分離層部 份地分離樣品並同時留下預定區的分離層作爲未分離區。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21G X 297公爱)~~" <請先闓讀背面之注意 _事項再»本頁) i 言: 522488 A7 B7 五、發明說明(6 ) 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較佳地藉 由噴射流體至分離層以部份地分離樣品。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較佳地將 樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲未分離區。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較佳地將 樣品部份地分離並在分離層的實際中央部份留下實際圓形 區作爲未分離區。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,在使樣品 圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴射流體至分離層,以婿 樣品部分地分離。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,較佳地於 分離步驟初始階段以低速旋轉樣品,接著以高速旋轉樣品 〇 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較地於部 份分離樣品時逐漸地或逐步地增加樣品的旋轉速度。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較佳地於 部份分離樣品時改變樣品的旋轉速度。 在根據第二觀點的處理方法中,舉例而言,較佳地於 樣品的部份分離之初始階段使用具有高壓的流體,接著使 用低壓流體。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,份較佳地 於部份分離樣品時逐漸地或逐步地減少要用於分離之流體 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) ------------裝 i — {請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂· -絲· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 * 9 - 522488 A7 B7 五、發明說明(7 ) 壓力。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,較佳地於 部份地分離樣品時改變要用於分離的流體壓力。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,在部份地 分離樣品時,將流體噴至平面方向上離分離層的中心預定 距離之位置。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,未分離區 較佳地小於分離處理中將分離層分離的區域。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第二觀點之處理方法中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第三觀點,提供分離裝置,用以在分離 層分離具有分離層之樣品,特徵在於包括第一分離機構及 第二分離機構,第一·分離機構會於分離層部份地分離樣品 並留下預定區的分離層作爲未分離區,第二分離機構用以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -10- 522488 Α7 Β7 五、發明說明(8 ) 從預定方向施加力量至第一分離機構處理過的樣品之未分 離區以完全分離樣品。 在根據第三觀點的分離裝置中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第三觀點的分離裝置中,舉例而言,第一分離 機構較佳地將樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲未分 離區。 在根據第三觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一分離機構將樣品部份地分離並於分離層的實際中央部 份留下實際圓形區作爲未分離區。 在根據第三觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將 流體噴至分離層,以部分地分離樣品,而第二分離機構會 固持樣品不使樣品旋轉並將流體噴至樣品中由部份分離處 理所形成的間隙,以分離餘留在樣品中的未分離區。 在根據第三觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將 流體噴至樣品的分離層,以部分地分離樣品,而第二分離 機構會在實際地停止旋轉樣品時,將流體噴至樣品中由部 份分離處理所形成的間隙,以分離餘留在樣品中的未分離 區 c 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,第二分離 機構較佳地將楔^牛插入部份分離處理所形成的樣品中之間 隙,以完全地分離樣品。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再本頁) Τ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -11 - 522488 A7 B7 五、發明說明(9 ) 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,在第一分 離機構處理之後留下的未分離區較佳地小於第一分離機構 所分離的區域。 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層.之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第三觀點之分離裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第四觀點,提供分離裝置,以在分離層 分離具有分離層之樣品,特徵爲包括驅動機構及噴射部份 ,驅動機構用以使樣品圍繞著垂直於樣品分離層之軸旋轉 ,噴射部份用以將流體噴至分離層,其中,當由驅動機構 旋轉樣品時使用來自噴射部份之流體於分離層部份地分離 樣品並留下預定區的分離層作爲未分離區,且於實際地停 止旋轉樣品時使用來自噴射部份之流體以分離未分離區而 完全地分離樣品。 在根據第四觀點之分離裝置中,舉例而言,樣品較佳 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A7 B7 五、發明說明(10) 地包括板構件, 在根據第四 分離樣品時,較 在根據第四 分離樣品時,較 形區作爲未分離 在根據第四 離處理之後留下 離的區域。 在根據第四 由接合具有易碎 板構件具有易碎結構作爲分離層。 觀點之分離裝置中,舉例而言,在部份地 佳地留下實際圓形區作爲未分離區。 觀點之分離裝置中,舉例而言,在部份地 佳地在分離層的實際中央部份留下實際圓 區。 觀點之分離裝置中,舉例而言,在部份分 的未分離區較佳地小於部份分離處理所分 觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地藉 層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項
再I 頁I 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在根據第四觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第四觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第四觀點之分離裝置 半導體基底的一表面上形成多孔 孔層以形成第一板構件。 中,舉例而言,較佳地在 層及在多孔層上形成非多 在根據第四觀點之分離裝置中’舉例而言’非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第五觀點’提 層分離具有分籬層之樣品,特徵 第二分離機構,第一分離機構會 供分離裝置,用以在分離 在於包括第一分離機構及 於分離層部份地分離樣品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -13- CC 48 2 2 A7 _B7__ 五、發明說明(U) 並留下預定區的分離層作爲未分離區,第二分離機構用以 從預定方向施加力量至由分離處理於樣品中形成之間隙, 以完全分離樣品。 在根據第五觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將 流體噴至分離層以將樣品部份地分離。 在根據第五觀點的分離裝置中,舉例而言,第二分離 機構較佳地將楔件插入樣品中的間隙以完全地分離樣品。 在根據第五觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地又 包括輸送機器人以將第一分離機構處理過的樣品輸送至第 二分離機構。 在根據第五觀點的分離裝置中,舉例而言,較佳地又 包括定位機構以將樣品相對於第一分離機構或第二分離機 構定位。 在根據第五觀點的分離裝置中,舉例而言,由第一分 離機構處理後餘留的未分離區較佳地小於第一分離機構分 離的區域。 在根據第五觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第五觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第五觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公茇) ---------I----裝·! <請先閱讀背面之注意事項再H本頁) 訂: •絲· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -14- 522488 A7 B7 五、發明說明(12 ) 在根據第五觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第五觀點之分離裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第六觀點,提供分離裝置以在分離層分 離具有分離層之樣品,特徵爲包括固持機構及分離機構, 固持機構係用以將在分離層部份地分離之樣品部份地固持 並留下預定·區的分離層作爲未分離區,藉以將樣品設置於 實際不動,分離機構用以從預定方向施加力量至固持機構 所固持的樣品之未分離區以完全地分離樣品。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 在根據第六觀點的分離裝置中,舉例而言,分離機構 較佳地將流體噴至樣品中由部份分離處理所形成的間隙, 以完全地分離樣品。 在根據第六觀點的分離裝置中,舉例而言,分離機構 較佳地將楔件插入樣品中由部份分離處理所形成的間隙中 ,以完全地分離樣品。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,未分離區 較佳地小於已分離的區域。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) !111! ¥_ I I <請先閱讀背面之注意事項再本頁) tl· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 •15- 522488 A7 B7 五、發明說明(13 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第六觀點之分離裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第七觀點,提供分離方法,以在分離層 分離具有分離層之樣品,特徵爲包括第一分離步驟及第二 分離步驟,第一分離步驟會於分離層部份地分離樣品並留 下預定區的分離層作爲未分離區,第二分離步驟用以從預 定方向施加力量至第一分離步驟中處理過的樣品之未分離 區以完全分離樣品。 在根據第七觀點的分離方法中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第七觀點的分離方法中,舉例而言,第一分離 步驟較佳地包括將樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲 未分離區。 在根據第七觀點的分離方法中,舉例而言,較佳地, 第一分離步驟包括將樣品部份地分離並於分離層的實際中 央部份留下實際圓形區作爲未分離區。 在根據第七觀點的分離方法中,舉例而言,較佳地, 請 先 閱 讀 背 面 之 注
I ! 再I 頁 I 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -16- 522488 A7 _____B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(14 ) 第一分離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時, 將流體噴至分離層,以部分地分離樣品,而第二分離步驟 包括固持樣品不使樣品旋轉並將流體噴至樣品中由部份分 離處理所形成的間隙’以分離餘留在樣品中的未分離區。 在根據第七觀點的分離方法中,舉例而言,較佳地, 第一分離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時, 將流體噴至樣品的分離層,以部分地分離樣品,而第二分 離步驟包括實際地停止旋轉樣品時,將流體噴至樣品中由 部份分離處理所形成的間隙,以分離餘留在樣品中的未分 離區。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言,第二分離 步驟較佳地包括插入楔件至樣品中由部份分離處理所形成 的間隙,以完全地分離樣品。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言,在第一分 離步驟處理之後留下的未分離區較佳地小於第一分離步驟 中所分離的區域。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言’第一板構 件較佳地包括_導體基底。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言’較佳地在 請先閱讀背面之注意事項再本頁) 菜 t]: 鳑· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -17- CO 8 24 2 A7 _____B7___ 五、發明說明(15 ) 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第七觀點之分離方法中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的.第八觀點,提供分離方法以在分離層分 離具有分離層之樣品,特徵爲包括止動步驟及分離步驟, 止動步驟將在分離層部份地分離之樣品部份地固持並留下 預定區的分離層作爲未分離區,藉以將樣品設置成實際不 動,分離步驟會從預定方向施加力量至不動的樣品之未分 離區以完全地分離樣品。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 在根據第八觀點的分離方法中,舉例而言,分離步驟 較佳地包括噴射流體至樣品中由部份分離處理所形成的間 隙,以完全地分離樣品。 在根據第八觀點的分離方法中,舉例而言,分離步驟 較佳地包括插入楔件至樣品中由部份分離處理所形成的間 隙中,以完全地分離樣品。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,未分離區 較佳地小於已分離的區域。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言’易碎層較 1!!! -装·! (請先閱讀背面之注意事項再本頁: tl· -鎊· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -18 - 8 8 24 2 A7 _____B7___ 五、發明說明(16 ) 佳地包括多孔層。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第八觀點之分離方法中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第九觀點,提供分離裝置以在分離層分 離具有分離層之樣品,特徵爲包括第一分離機構及第二分 離機構,第一分離機構用以將流體噴至分離層以主要地分 離分離層的第一區,第二分離.機構使用振動能量以主要地 分離分離層的第二區,其中,樣品被第一及第二分離機構 在分離層分離。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一區係在分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的 中央之區域。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,第一分離 機撝較佳地使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴射流 體至分離層,以主要地分離第一區。 較佳地,舉例而言,根據第九觀點之分離裝置又包括 支撐機構以在分離處理中支撐第一及第二分離機構所處理 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) _* ϋ ai 1_1 ϋ I ϋ ϋ n ϋ ·1 i_i I · 1 ϋ (請先閱讀背面之注意事項再ill本頁) 訂· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -19- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(17) 的樣品,且第二分離機構會從支撐機構接觸樣品之部份供 應振動能量至樣品。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 支撐機構具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的 中央部份之部份夾在中間並對該部份施壓以支撐樣品,且 支撐表面具有實際圓形。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一區係實際位於支撐表面施壓的區域之外,且第二區實 際上爲支撐表面施壓的區域。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第二分離機構包括用以處理樣品之處理槽、及用以產生振 動能量之振動源,當第一分離機構處理的樣品浸在處理槽 中時,振動源產生的振動能量會經由處理槽中的液體供應 至樣品。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,處理槽較 佳地包括分隔部份以便當樣品由振動能量完全地分離時分 隔分離的樣品。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一分離機構主要地首先分離第一區,接著,第二分離機 構主要地分離第二區。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,第二分離 機構較佳地主要首先分離第二區,接著,第一分離機構主 要地分離第一區。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,由第一分 (請先閱讀背面之注意事項再iBt本頁: 裝 訂· --絲. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -20- 522488 A7 ___B7 五、發明說明(18 ) 離機構執行之分離處理及至少部份由第二分離機構執行的 分離處理較佳地平行執行。 在根據第九觀點之分離機構中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第九觀點,提供分離裝置,以在分離層 分離具有分離層之樣品,特徵爲包括用以支撐樣品之支撐 部份、用以噴射流體至支撐部份所支撐的樣品之分離層之 噴射部、及用以產生要供應給樣品之振動能量之振動源, 其中樣品係由流體及振動能量分離。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 支撐部份在樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,支撐樣品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) - --------裝 i — <請先閱讀背面之注意事項再iPt本頁) 訂- .•鎿· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 8 48 2 2 A7 _B7 _ 五、發明說明(19 ) 根據第九觀點分離裝置,舉例而言,較佳地又包括控 制區以使噴射部份噴射流體而由流體主要地分離第一區分 離層及使振動源產生振動能量而由振動能量主要地分離第 二區分離層。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,控制區較 佳地控制噴射部份及振動源以由流體首先主要地分離第一 區,接著由振動能量主要地分離第二區。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,控制區較 佳地控制噴射部份及振動源以由振動能量首先主要地分離 第二區及接著由流體主要地分離第一區。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,控制區較 佳地控制噴射部份及振動源以平行地執行以流體進行的樣 品分離處理及以振動能量進行的至少部份樣品分離處理。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一區係分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的中 心。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 支撐部份具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的 中央部份之部份夾在中間及對該部份施壓以支撐樣品,且 支撐表面具有實際圓形。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地, 第一區實際位於由支撐表面施壓的區域之外週邊側上,且 第二區實際上爲支撐表面施壓的區域。 在第九觀點之分離裝置中,舉例而言,振動源較佳地 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閱讀背面之注意事 項再»本頁: t]· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -22- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(20 ) 配置於支撐部份。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,振動源較 佳地配置於支撐部份的遠側端,在該處,支撐部份會與樣 品接觸。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,裝置又包 括用以處理樣品之處理槽,爲了使用流體分離樣品,當以 支撐部份支撐樣品時,流體會被噴射至樣品的分離層,且 爲了使用振動能量分離樣品,當樣品浸在處理槽中時,由 振重。源產生的振動能量會經由處理槽中的液體供應至樣品 〇 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,處理槽較 佳地具有分隔構件,當樣品由振動能量完全分離時,用以 分隔分離的樣品。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 乾燥爐,用以使處理槽中處理的樣品乾燥。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 分類機構,用以將分離的樣品分類。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 輸送機構,用以接收來自支撐部份之樣品及將樣品輸送至 處理槽。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 輸送機構,用以順序地接收來自支撐部份的眾多樣品、將 眾多樣品順序地儲存於一匣中、及將匣置於處理槽中。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 (請先閱讀背面之注意事項 再·本頁) tl· i鎊· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 23- 522488 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ___B7_五、發明說明(21 ) 輸送機構,用以在支撐部份、處理槽與乾燥爐之間輸送樣 品c 據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括輸 送機構,用以順序地接收來自支撐部份的眾多樣品、將眾 多樣品順序地儲存.於一匣中、將匣浸於處理槽中、及在處 理槽中的處理結束之後自處理槽接收匣並將匣輸送至乾燥 爐。 根據第九觀點之分離裝置,舉例而言,較佳地又包括 分類機構,在分離的樣品於乾燥爐中乾燥之後,從乾燥爐 中取出分離的樣品及將樣品分類。 在根據第九觀點之分離機構中,舉例而言,較佳地藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,易碎層較 佳地包括多孔層。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,第一板構 件較佳地包括半導體基底。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,較佳地在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 在根據第九觀點之分離裝置中,舉例而言,非多孔層 較佳地包含單晶半導體層。 根據本發明的第十觀點,提供分離方法以在分離層分 離具有分離層之樣品,特徵爲包括第一分離步驟及第二分 (請先閱讀背面之注意事項再 1裝*! 本頁: 訂· ;鎿. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -24 - 522488 A7 厂 _ B7 五、發明說明(22 ) 離步驟,第一分離步驟會將流體噴至分離層以主要地分離 分離層的第一區,第二分離步驟使用振動能量以主要地分 離分離層的第二區,其中,樣品在第一及第二分離步驟中 於分離層分離。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,樣品較佳 地包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 第一區係在分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的 中央之區域。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,第一分離 步驟較佳地包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴 射流體至分離層’以主要地分·離第一區。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 第一及第二分離步驟包括以相同的支撐部份支撐樣品,而 第二分離步驟包括從接觸樣品的支撐部份之部份處供應振 動能量給樣品。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 支撐部份具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的 中央部份之部份夾在中間並對該部份施壓以支撐樣品,且 支撐表面具有實際圓形。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 第一區係實際位於支撐表面施壓的區域之外週圍側上,且 第二區實際上爲支撐表面施壓的區域。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較隹地, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) {請先閱讀背面之注意事項再Ιϋ本頁) 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 •25- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(23 ) 第二分離步驟包括將第一分離步驟中處理的樣品浸於處理 槽中並經由處理槽中的液體將振動能量供應給樣品。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 首先執行第一分離步驟,接著執行第二分離步驟。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地, 首先執行第二分離步驟,接著,執行第一分離步驟。 在根據第十觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地平 行執行第一和第二分離步驟中的至少部份。 根據本發明的第十一觀點,提供分離方法,以在分離 層分離具有分離層之樣品,特徵爲包括噴射流體至樣品的 分離層及同時地供應振動能量至樣品以分離樣品。 在根據本發明的第十一觀點之分離方法中,舉例而言 ,在使樣品圍繞著垂直於分離層的軸旋轉時,較佳地分離 樣品。 根據本發明的第十二觀點,提供分離方法,以在分離 層分離具有分離層之樣品,特徵爲包括噴射流體至樣品的 分離層及同時地供應振動能量至接近樣品的中央部份之部 份處以分離樣品。 在根據第十二觀點的分離方法中,舉例而言,當使樣 品圍繞著垂直於分離層的軸旋轉時,較佳地分離樣品。 根據本發明的第十三觀點,提供分離方法,以在分離 層分離具有分離層之樣品,特徵爲包括噴射流體至樣品的 分離層及同時地供應振動能量至樣品及注入樣品的流體, 以分離樣品。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -26- (請先閱讀背面之注意事項 再At 本頁) 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(24 ) 在根據第十一觀點之分離方法中,舉例而言,較佳地 ,當使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,較佳地分離樣 品。 根據本發明的第十四觀點,提供分離方法,以在分離 層分離具有分離層之樣品,特徵爲包括支撐樣品的預定部 份時噴射流體至樣品的分離層及同時地供應振動能量至樣 品的預定部份以分離樣品。 在根據第十四觀點之分離方法中,舉例而言,當使樣 品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,較佳地分離樣品。 在根據第十至十四觀點之分離方中,舉例而言,較佳 地藉由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成 樣品。 在根據第十至十四觀點之分離方法中,舉例而言,易 碎層包括多孔層。 在根據第十至十四觀點之分離方法中,舉例而言,第 一板構件較佳地包括半導體基底。 在根據第十至十四觀點之分離方法中,舉例而言,較 佳地在半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形 成非多孔層以形成第一板構件。 在根據第十至十四觀點之分離裝置中,舉例而言,非 多孔層包含單晶半導體層。 從參考附圖之本發明的下述實施例詳述中,本發明的 其它目的、特點及優點會更加淸楚可知。 !!!·裝· ! <請先闓讀背面之注意事項再!ml本頁) 訂· ;綉· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公藿) -27- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A7 __ B7 五、發明說明(25 ) 圖式簡述 圖1 A至1 E係視圖,用以解釋根據本發明的較佳實 施例之SOI基底的製程; 圖2係視圖,顯示根據本發明的較佳實施例之分離裝 置的配置; 圖3係視圖,顯示以固定速度旋轉接合的基底堆疊時 ,將接合的基底堆疊分離成爲二基底之處理所產生的缺陷 9 圖4係視圖,顯示一狀態,於其中,根據第一模式的 第一實施例之第一處理中,部份地分離接合的基底堆疊; 圖5係視圖,顯示一狀態,於其中,根據第一模式的 第一實施例之第二處理中,完全地分離接合的基底堆疊; 圖6係流程圖,顯不根據第一模式的第一實施例之分 離裝置的控制程序; 圖7係視圖’顯不一狀態’於其中,根據第一模式的 第二實施例之第一處理中,部份地分離接合的基底堆疊; 圖8係視圖,顯示根據第一模式的第二實施例之第二 處理中,完全地分離接合的基底堆疊; 圖9係流程圖,顯示根據第一模式的第二實施例之分 離裝置的控制程序; 圖1 0係視圖,顯示一狀態,於其中,根據第一模式 的第三實施例之第一處理中,部份地分離接合的基底堆疊 圖1 1係流程圖,顯示根據第一模式的第三實施例之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -28- • ·1 1 «1 mat mma§ n i n ϋ Λ§ I I I · ϋ ·1 (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂· ;练. 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(26 ) 分離裝置的控制程序; 圖1 2係視圖,顯示一狀態,於其中,根據第一模式 的第四實施例之第一處理中,部份地分離接合的基底堆疊 9 圖1 3係視圖,顯示一狀態,於其中,根據第一模式 的第四實施例之第二處理中,完全地分離接合的基底堆疊 j 圖1 4係流程圖,顯示根據第一模式的第四實施例之 分離裝置的控制程序; 圖1 5係視圖,顯示根據第一模式的第五實施例之最 後分離裝置的配置; 圖1 6係視圖,顯示根據第一模式的第五實施例之最 後分離裝置的配置; 圖1 7係流程圖,顯示使用用於第一處理的分離裝置 及用於第二處理的最終分離裝置之分離處理的流程: 圖1 8係平面視圖,顯示具有用於第一處理之分離裝 置及用於第二處理之最終分離裝置之自動分離裝置; 圖1 9流程圖,顯示自動分離裝置所執行的分離處理 贅 圖2 0A至2 Ο E係視圖,用以解釋根據本發明的另 一較佳實施例之S 0 I基底的製程; 圖2 1係視圖,顯示根據本發明的第二模式之第一至 第三實施例之故進的分離裝置的配置; 圖2 2係視圖,顯示第二模式的第一實施例中,以噴 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) — — — — — — — I!裝 I (請先閱讀背面之注意事項再HI本頁) 0 ••鎊- -29· 522488 A7 ____ B7 五、發明說明(27 ) 射分離第一區(舉例而言,週邊部份)之後的接合基底堆 疊; 圖2 3係流程圖,顯示使用圖2 1中所示的分離裝置 之根據第二模式的第一實施例的分離處理之程序; 圖2 4係流程層,顯示使用圖2 1中所示的分離裝置 之根據第二模式的第二實施例的分離處理之程序; 圖2 5係流程圖,顯示使用圖2 1中所示的分離裝置 之根據第二模式的第三實施例的分離處理之程序; 圖2 6係剖面視圖,顯示應用至本發明的第二模式的 第四實施例之第二分離裝置的配置; 圖2 7係放大視圖,顯示圖2 6中所示的匣之一部份 (在第二區分離之前); 圖2 8係放大視圖,顯示圖2 6中所示的匣之一部份 (在第二區分離之後); 圖2 9係視圖,顯示根據第二模式的第四實施例之處 理系統的配置,其執行接合的基底堆疊分離成二基底之系 列處理; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖3 0係視圖,顯示根據第二模式的第四實施例之處 理系統的配置,其執行接合的基底堆疊分離成二基底之系 列處理;及 圖3 1係流程圖,顯示圖2 9及3 0中所示的處理系 統之控制程序。 主要元件對照表 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -30- 522488 A7 B7 五、發明說明(28 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 0 第 一基 底 1 0 5 第 一基 底 1 1 單 晶矽 基 底 1 2 多 孔矽 層 1 2 5 多 孔矽 層 1 2 多 孔矽 層 1 3 非 多孔 單 晶 砂層 1 4 單 晶矽 基 底 1 5 絕 緣層 2 〇 第 二基 底 1 0 〇 分 離裝 置 1 0 1 接 合基 底 堆 疊. 1 0 1 a 基 底 1 0 1 b 多 孔層 1 0 1 c 基 底 1 〇 1 d 缺 陷 1 0 1 e 缺 陷 1 0 2 噴 嘴 1 0 3 旋 轉軸 1 0 3 a 旋 轉密 封 部 份 1 0 3 b 真 空管 線 1 0 4 旋 轉軸 1 0 4 a •旋 轉密 封部份 1 〇 4 b 真 空管 線 (請先閱讀背面之注意事項再 I · 1 · 獅本頁: 訂: --線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) •31 · 522488 A7 B7 五、發明說明(29 ) 10 6 10 8 10 9 110 111 112 113 114 12 0 15 0 18 1 18 2 19 0 19 1 2 0 1 2 0 2 2 0 3 2 0 4 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 0 0 10 噴嘴驅動區 軸承 支撐盤 馬達 軸承 汽壓缸 密封構件 泵 基底固持部份 基底固持部份 汲吸孔 汲吸孔 控制器 汽壓缸驅動區 邊界 未分離區 分離區 邊界 邊界 第一區 第一區 自動分離裝置 室 待命位置 --------------菜--- (請先閱讀背面之注意事項再Alt本頁) - Ϊ鳑- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -32· 522488 A7 B7 五、發明說明(30 3 2 0 3 3 1 3 3 2 3 3 3 3 3 4 3 3 5 3 3 6 3 4 0 3 4 1 3 5 0 ) 擋門 第二卸載器 第一卸載器 裝載器 載具 載具 載具 基底輸送機器人 機器手臂 最後分離裝置 楔件 汽壓缸 第一支撐部份 平台 汽壓缸 第二支撐部份 彈性構件 吹氣單元 定心單元 導件 汽壓缸 導件 第二分離裝置 超音波槽 • n ·ϋ ·1 ϋ ·ϋ ·ϋ ϋ ϋ ·.1 I ϋ I 0 I 11 <請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂! -•線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
3 5 4 3 5 5 3 5 6 3 5 7 3 6 1 3 7 0 3 7 1 3 7 2 3 7 3 4 0 0 4 0 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -33· 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(31 4 0 2 4 0 3 4 10 4 11 4 12 5 0 0 6 0 1 6 0 2 6 0 3 7 0 0 7 0 1 7 0 2 7 0 3 7 0 4 12 0 1 12 0 3 1 2 0 3 a 1 2 0 3 b 1 2 0 3 c 1 2 0 3 d 1 2 0 3 e 1 2 0 3 f ) 液體 超音波源 匣 分隔 支撐板 乾燥爐 匣 匣 匣 控制器 機器人 機器人 機器人 機器人 振盪器 超音波振盪器 訊號線 訊號線 環 環 訊號線 訊號線 較佳實施例詳述 i — — — — — — — — — — — — · I I <請先閱讀背面之注意事項再Hi本頁) 訂- ;線- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -34- 522488 A7 B7 五、發明說明(32 ) 圖1 A至1 E係視圖,用以解釋根據本發明的較佳實 施例之S〇I基底的製程。 在圖1 A中所示的處理中,製備單晶矽基底1 1,及 藉由陽極處理以在單晶矽基底11的表面上形成多孔矽層 1 2。在圖1 B中所示的處理中,以磊晶生長,在多孔矽 層1 2上形成非多孔單晶矽層1 3。根據此處理,形成第 一基底1 0。 在圖1 C中所示的處理中,藉由在單晶矽基底1 4的 表面上形成絕緣層1 5 (舉例而言,S i 0 2層),以製備 第二基底2 0。使第一基底1 〇及第二基底2 0在室溫下 彼此緊密接觸,以致於非多孔單晶矽層1 3會面對絕緣層 1 5。在此之後,以原處接合、施壓、加熱或其組合,接 合第一基底1 0及第二基底2 0。以此處理,可強力地接 合非多單晶矽層1 3及絕緣層1 5。如上所述,絕緣層 1 5可形成於單晶矽基底1 4側上,或是,如同後述說明 一般,只要當第一及第二基底彼此緊密接觸時,取得圖 1 C中所示狀態,可形成於非多孔單晶矽層1 3上或是在 非多孔單晶矽層1 3與單晶矽基底1 4等二者上。 在圖1 D中所示的處理中,接合的基底會於多孔矽層 1 2的部份分離。第二基底側(1 0 ”+ 2 0 )具有多孔矽 層1 2 ”/單晶矽層1 3 /絕緣層1 5 /單晶矽基底1 4之 多層結構。在第一基底1 0 ’側上,多孔矽層1 2 ’會形成於 單晶矽基底1 f上。 對於分離之後的基底1 0’而言,移除餘留的多孔矽層 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) !!!1!裝 i I (請先閱讀背面之注意事項再Hi本頁) 訂· •錦 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A7 B7 五、發明說明(33 ) 1 2 ’,且表面會於需要時平坦化,所以,基底又可再度使 用以作爲用於形成另一第一基底1 0的單晶矽基底1 1。 在接合的基底堆疊分離之後,在圖1 E中所示的處理 中,選擇性地移除第二基底側(1 0”+ 2 0)上的表面上 之多孔層1 2”。藉由此處理,可取得具有單晶矽層1 3/ 絕綠層15/單晶矽基底14之多層結構,亦即,SOI 基底。 在本實施例中,在圖1 D中所示的至少部份處理中, 亦即,分離接合的基底堆疊之處理,使用之分離裝置係將 液體或汽體(流體)噴射至多孔矽層作爲分離層以將接合 的基底堆疊於分離層分離成二基底。 圖2 0 A至2 0 E係視圖,用以解釋根據本發明的另 一較佳實施例之S〇I基底的製法。 在圖2 0A中所示的處理中,製備單晶矽基底1 1, 及藉由陽極處理以在單晶矽基底11的表面上形成多孔矽 層1 2。在圖2 0 B中所示的處理中,藉由磊晶生長以在 多孔矽層1 2之上形成非多孔單晶矽層1 3,及在非多孔 單晶矽層1 3之上形成絕緣層1 5 (舉例而言,S i 0 1層 )。藉由此處理,形成第一基底1〇。 在圖2 0 C中所示的處理中,製備第二基底1 4。使 第一基底1 0及第二基底1 4在室溫下彼此緊密接觸,以 致於絕緣層1 5會面對第二基底1 4。在此之後,以原處 接合、施壓、加熱或其組合,接合第一基底1 〇及第二基 底1 4。以此處理,可強力地接合絕緣層1 5及第二基底 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) !!!·裝·11 <請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂· •练 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -36- 522488 A7 B7 五、發明說明(34 ) 1 4 〇 在圖2 0 D中所示的處理中,二接合的基底會於多孔 矽層1 2的部份分離。第二基底側(1 0”+ 2 0)具有多 孔矽層1 2 ”/單晶矽層1 3 /絕緣層1 5 /單晶矽基底 1 4之多層結構。在第一基底(1 〇 ’)側上,多孔矽層 1 2 ’會形成於單晶矽基底1 1上。 對於分離之後的基底1 0’而言,移除餘留的多孔矽層 1 2’,且表面會於需要時平坦化,所以,基底又可再度使 用以作爲用於形成另一第一基底1 0的單晶矽基底1 1。 在接合的基底堆疊分離之後,在圖2 0 E中所示的處 理中,選擇性地移除第二基底側(1 0 ”+ 2 0 )上的表面 上之多孔層1 2”。藉由此處理,可取得具有單晶矽層1 3 /絕緣層1 5 /單晶矽基底1 4之多層結構,亦即, S〇I基底。 在本實施例中,在圖2 0 D中所示的至少部份處理中 ,亦即,分離接合的基底堆疊之處理,使用之分離裝置係 將液體或汽體(流體)噴射至多孔矽層作爲分離層以將接 合的基底堆疊於分離層分離成二基底。 〔分離裝置的基本配置〕 此分離裝置使用噴水法。一般而言,噴水法會噴射高 速、高壓水流(爲切割固體材料,會添加硏磨劑)至物體 以切割或處理陶瓷、金屬、水泥、樹脂、橡膠、或木材, 從表面上移除塗著膜,或淸潔表面(“Water Jet,,,Vol. 1 本紙張尺度適用中國國家標準(c摩規格(綱謂)_ 37 _ (請先閱讀背面之注意事項再!|||本頁)
I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A7 B7 五、發明說明(35 ) ,Ν ο · 1,page 4 (1984))。傳統上,使用噴水 法以部份地移除材料以分割、處理、移除塗著膜、或淸潔 表面。 本分離裝置會噴射流體至作爲接合基底堆疊的易碎結 構之多孔層(分離區)以選擇性地斷裂多孔層,藉以在多 孔層分離基底堆疊。此後,流體會稱爲噴射物。形成噴射 .物之流體會稱爲「噴射介質」。關於噴射介質,可以使用 水、諸如酒精等有機溶劑、諸如氟酸或氮酸等酸、諸如'氫 氧化鉀等鹼、諸如空氣、氮氣、碳酸氣、稀有氣體、或蝕 刻氣體等氣體、或電獎。 當此分離裝置應用至製造半導體裝置或分離諸如接合 的基底堆疊時,較佳地使用具有最少雜質金屬或粒子之純 水作爲噴水介質。 在本分離裝置,將噴射物噴射至曝露於接合的基底堆 疊之側表面之多孔層,藉以從週邊部份至中央部份移除多 孔層。藉由此方法,僅有具低機械強度之接合基底堆疊之 多孔層會被移除,而不會損害主體,且接合基底堆疊會被 分離成二基底。 圖2係視圖,顯示根據本發明的較佳實施例之分離裝 置的配置。分離裝置1 0 0具有基底固持部份1 2 0及 1 5 0,它們具有夾機構。基式固持部份1 2 0及1 5 0 會從二側將接合的基底堆疊1 〇 1夾在中間及固持它。接 合的基底堆疊1 0 1具有多孔層1 0 1 b作爲易碎結構部 份。分離的裝置1 0 0會於多孔層1 0 1 b處將接合的基 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公茇) --------------裝·! (請先«讀背面之注意事項再ilk本頁) 訂. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -38- 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(36 ) 底堆疊1 0 1分離成二基底1 〇 1 a及1 0 ;[ C。在分離 裝置1 00中,舉例而言,基底1 〇 ]_ a會設定於圖1C 中的第一基底1 0側上,且基底1 〇 i C會設定於圖1 C 中的第二基底側(1 〇,,+ 2 0 )上。 基底固持部份1 2 0及1 5 0係位於一旋轉軸上。基 底固持部份1 2 0係耦合至旋轉軸1 〇 4的一端,旋轉軸 1 0 4係經由軸承1 〇 8由支撐盤1 〇 9可旋轉地軸向支 撐。旋轉軸1 0 4的另一端會耦合至馬達1 1 〇的旋轉軸 。由基底固持部份1 2 0真空夾住之接合基底堆疊1 〇 1 會由馬達1 1 0所產生的旋轉力旋轉。馬達1 1 〇係由控 制器1 9 0控制以便以控制器1 9 0下令之旋轉速度旋轉 或停止旋轉軸1〇4 〇 基底固持部份1 5 0會耦合至旋轉軸1 0 3的一端, 旋轉軸1 0 3係經由軸承1 1 1而由支撐盤1 〇 9可滑動 地及可旋轉地軸向支撐。旋轉軸1 0 3的另一端耦合至固 定於支撐盤1 0 9的汽壓缸1 1 2。汽壓缸1 1 2係由汽 壓缸驅動區1 9 1驅動,汽壓缸驅動器1 9 1係由控制器 1 9 0驅動。當汽壓缸1 1 2推動旋轉軸1 0 3時,接合 的基底堆疊1 0 1會由基底固持部份1 5 0施壓。密封構 件1 1 3會固定於支撐盤1 0 9以遮蓋旋轉軸1 0 3的外 表面。舉例而言,密封構件1 1 3係由橡膠形成以防止噴 射介質進入軸承1 1 1側。 基底固持部份1 2 0及1 5 0分別具有一或多個汲吸 孔1 8 1及1 82作爲真空夾機構。汲吸孔1 8 1及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公« ) -39- {請先閲讀背面之注意事項再HI本頁) 裝 522488 A7 B7 五、發明說明(37 ) 1 8 2會分別經 1 〇 4 a 及 1 〇 1 0 3 a會分別 空管線1 0 4 b 堆疊1 0 1或分 器1 9 0控制。 將於下說明 處理的問題。接 裝置1 0 0之改 二模式之改良的 由旋轉軸1 0 4及1 0 3與旋轉密封部份 3 a連通。旋轉密封部份1 04 a及 耦合至真空管線104b及103b。真 及1 0 3 b具有電磁閥以控制接合的基底 離的基底之吸附/解離。電磁閥係由控制 使用分離裝置1 0 0之基本分離處理及此 著,將說明本發明的第一模式之使用分離 良的分離處理。接著,將說明本發明的第 分離裝置及分離處理。 (請先閱讀背面之注意事項再mt本頁) 裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 〔蕋本的分離處理〕 首先,旋轉軸1 0 3會縮回汽壓缸1 1 固持部份1 2 0與1 5 0的汲吸表面分離適 的基底堆疊1 0 1會由輸送機器人等,於基 1 2 0與1 5 0之間輸送,且接合的基底堆 心與旋轉軸1 0 4和1 0 3的中心軸是對齊 190會使汽缸112推動旋轉軸103, 固持接合的基底堆疊101 (顯示於圖2中 控制器1 9 0會控制馬達1 1 0以使接 1 0 1以預定的旋轉速度旋轉。旋轉軸1 〇 部份120、接合的基底堆疊101、基底 1 5 0、及旋轉軸1 〇 3會一體地旋轉。 控制器1 9 0會控制泵1 1 4以將噴射 2中以將基底 當距離。接合 底固持部份 疊1 0 1之中 的。控制器 以致於施壓及 的狀態)。 合的基底堆疊 4、基底固持 固持部份 介質(舉例而 訂· -·綉· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -40- CC 8 24 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 __B7 _五、發明說明(38 ) 言,水)送至噴嘴1 0 2及等待直到噴嘴1 〇 2噴射的噴 射物穩定爲止。當噴射物穩定時,控制器1 9 0會控制噴 嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至接合的基底堆疊 1 0 1的中心以將噴射物噴入接合的基底堆疊1 0 1之多 孔層1 0 1 b。 當噴射噴射物時,與連續地注入作爲易碎結構的多孔 層1 0 1 b之噴射介質的壓力有關之分離力會作用於接合 的基底堆疊1 0 1以將耦合基底1 0 1 a與1 〇 1 c之多 孔層1 0 1 b斷開。藉由此處理,舉例而言,可在數分鐘 之內完全地分離接合的基底堆疊1 0 1。 當接合的基底堆疊1 0 1被分離成二基底時,控制器 1 9 0會控制噴嘴驅動區1 0 6以移動噴嘴1 0 2至備便 位置,然後停止泵1 1 4的操作。控制器1 9 0也會控制 馬達1 1 0以停止旋轉接合的基底堆疊1 0 1。控制器 1 9 0會控制上述電磁閥而使得基底固持部份1 2 0及 1 5 0真空吸夾分離的基底1 0 1 a及1 〇 1 c。 接著,控制器1 9 0會使汽壓缸1 1 2縮回旋轉軸 1C3。藉由斷開噴射介質(舉例而言,水)的表面應力 而使實體上分離的二基底彼此分離。 根據上述分離處理,可以在對基底造成最少的傷害或 污染的情形下,有效地分離接合的基底堆疊1 0 1。因此 ,此分離處理對於接合的基底堆疊或其它類似材料之分離 是有前景的。值是,仍有下述問題未解決。 — — II 篇! — !|! f _ I I (請先閱讀背面之注意事項^^^本頁) 訂· ··絲· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -41 - CC 48 2 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 __B7 _五、發明說明(39 ) 〔分離處理的問題〕 圖3係視圖,顯示可能由上述分離處理產生的缺陷 101 d及101 e,上述處理,亦即,從二側施壓及固 持接合的基底堆疊的中央部份及以固定速度旋轉它時,使 用噴射物以將接合.的基底堆疊分離成二基底之處理。會於 接合的基底堆疊101被分離處理的最後處理分離之部份 處·'產生缺陷1 0 1 d及1 0 1 e ^ 假使這些缺陷1 0 1 d及1 0 1 e係大的時,則與多 孔層(圖3中的多孔層1 〇 1 b或圖1C及2 0 C中的多 孔層1 2 )相鄰的層(舉例而言,圖1 B及2 0 B中所示 的單晶矽層1 3 )會受損,且分離的基底無法再用於下一 處理(舉例而言,圖1E或20E中所示的處理)。 缺陷1 0 1 d及1 〇 1 e可能導因於下述原因。 在分離接合的基底堆疊1 0 1時,首先,由基底固持 部份1 5 0 (汽缸1 1 2 )施加的施壓力會以接合基底堆 疊1 0 1被夾於中間之方向,施加於接合的基底堆疊 1 0 1上。其次,由於注入因分離接合的基底堆疊1 0 1 而形成的間隙之噴射物,所以,用以擴展接合的基底堆疊 1 0 1之力量(分離力)會作用。第:三,接合的基底堆疊 1 0 1之未分離區中的多孔層1 0 1 b的接合力(對抗分 離力)會作用。由汽壓缸1 1 2施加的施加力會維持實際 不變。另一方面,當接合的基底堆疊之分離區變大時,分 離力會突然地增加。當然,當未分離區變小時,接合力會 減少。 <請先閱讀背面之注意事項再 •良·! 本頁: 訂· ••鎿- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -42- CC 8 24 2 A7 __ B7_ 五、發明說明(40 ) 而且,在由基底固持部份1 2 0及1 5 0固持接合的 基底堆疊之中央部份時,執行上述分離處理。因此,當該 區域分離時,接合的基底堆疊1 0 1之外週圍區會因噴射 介質的壓力而大幅地捲曲。但是,接合的基底堆疊1 0 1 之中央區的捲曲量小。當捲曲量小時,亦即,當接合的基 底堆疊1 0 1之外週圍部份是要被分離時,分離力主要作 用於未分離區的週圍之部份上且分離是逐漸地進行。另一 方面,當捲曲量小時,亦即,當接合基底堆疊1 0 1之中 央部份(由基底固持部份固持的區域)是要被分離時,基 底固持部份會退回,且分離力會作用於接合的基底堆疊 1 0 1之整個中央部份上。因此,當一起剝離未分離區時 ,分離可能在進行。 根據此重疊,當接合的基底堆疊之外週圍部正被分離 時,可維持(接合力)+ (施壓力)>〉(分離力)之關 係。無過多的分離力作用於接合的基底堆疊上,且分離力 主要作用於未分離區的週圍部份之部份上。因此,未分離 區會由弱分離力及噴射物衝擊逐漸地分離。 但是,當分離進行且保持(接合力)+ (施壓力)< (分離力)之關係時,基底固持部份1 5 0會開姶退回。 因此,分離力會更加有效率地作用於接合的基底堆疊上以 加速分離。在分離處理的最後階段,亦即,當接合的基底 堆疊1 0 1之中央部份要被分離時,由於接合力減弱,且 分離力突然地增加,所以,(接合力)+ (施壓力)<< (分離力)仍可保持。基底固持部份1 5 0會立刻退回, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公漦) -MB I I ΑΒΗΙ· MV I Μ* I I I I I · · .1 · {請先閱讀背面之注意事項再本頁: 訂· ;絲· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -43 - 522488 A7 B7 五、發明說明(41 ) 且過多的分離力會作用於整個未分離區上。此時,可能不 是接合的基底堆疊1 0 1最後被噴射衝擊分離,而是整個 未分離的區域主要因分離力而一起剝落,亦即,藉由此力 ’則注入於因分離接合基底堆疊而形成的間隙之噴射介質 可擴展接合的基底堆疊。 總之,因爲基底固持部份所固持的區域(在上述實施 例中爲中央部份)會由分離力(噴射介質的壓力)主要地 分離,所以,可能會產生上述缺陷。 〔‘第一模式〕 將於下說明本發明的第一模式之減少分離處理的缺陷 之改進的分離處理。 本發明人根據實驗發現可藉由下述方法減少上述缺陷 〇 在第一處理中,接合的基底堆疊1 0 1會被部份地分 離,以致於留下預定區域的多孔層1 0 1 b作爲未分離區 。未分離區較佳地爲實際圓形,且未分離區的位置較佳地 實際位於接合基底堆疊1 0 1的中央部份。 在第二處理中,力量並非從所有方向而是從預定方向 施加至未分離區以完全地分離接合的基底堆疊1 0 1。當 力量從預定方向施加至未分離區時,分離區會逐漸地被加 寬並施加強大的分離力至未分離區的週邊部份之部份及微 弱的分離力至其餘部份。因此,相較於未分離區立刻分離 之情形,可以有效地防止分離基底中的缺陷。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閱讀背面之注意事項再本頁) 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -44- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(42 ) 將於下說明改良的分離處理之較佳實施例。 〔第一實施例〕 在本實施例中,在第一處理中,噴嘴‘1 0 2會移動至 接合的基底堆疊1 0 1之中心,且在由馬達1 1 0 (舉例 而言,8rpm)旋轉接合的基底堆疊101時,接合的 基底堆疊10 1之週邊部份會被分離,而中央部份會留下 作爲未分離區。由於對一些接合的基底堆疊而言,第一處 理之後餘留的未分離區2 0 2的形狀及位置必須均勻,所 以,在旋轉接合的基底堆疊1 0 1時,執行分離處理。藉 由此配置,在實際上同於第二處理的條件下,處理接合的 基底堆疊1 0 1。 圖4係視圖,顯示本實施例的第一處理中被部份地分 離之接合基底堆疊101的狀態。參考圖4,代號201 係代表第一處理期間分離區與未分離區之間的邊界。在邊 界2 0 1之外的區域是已經分離的區域,而在邊界2 0 1 之內的區域是未分離的區域。在本實施例的第一處理中, 由於在旋轉接合的基底堆疊1 0 1時進行分離處理,所以 ,邊界2 0 1的軌跡具有螺旋形。無影線之區域2 0 2係 第一處理之後留下的的未分離區。未分離區2 0 2具有實 際圓形且實際上位於接合的基底堆疊101之中央部份。 陰影區2 0 3係執行第一處理所分離的區域。未分離區 2 0 2較佳地小於分離區2 0 3。 當旋轉接合的基底堆疊1 0 1時執行第一處理,則諸 (請先閱讀背面之注 意S再»本頁) 訂: •線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 45- 522488 A7 B7 五、發明說明(43 ) V I 1 i_i mt mi ϋ *1 «ϋ ϋ H 1 i_i I · ai n (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 如接合的基底堆疊101之中央部份等所需區域可餘留作 爲未分離區2 0 2。因此,可以在實際相同的條件下對接 合的基底堆疊101執行第二處理。 在第二處理中,當減少接合的基底堆疊1 0 1的旋轉 速度時分離未分離區2 0 2且實際地停止旋轉(舉例而言 ,2 r pm或更少)或完全地停止旋轉接合的基底堆疊 1 0 1。在此情形中,可從預定方向施加力量至未分離區 2 0 2。更佳的是,完全地停止接合的基底堆疊1 0 1之 旋轉。 圖5係視圖,顯示本實施例的第二處理中被完全地分 離之接合基底堆疊10 1的狀態。參考圖5,代號204 係代表第二處理期間分離區與未分離區之間的邊界。邊界 2 0 4會如同箭頭標示般移動。 •絲 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在實際地停止旋轉接合的基底堆疊101時將噴射物 注入接合基底堆疊1 0 1的間隙時,力量從預定方向施加 至未分離區2 0 2。由於當施加強大的分離力至未分離區 2 0 2的週邊部份之部份及施加微弱的分離力至其餘部份 時逐漸地加寬分離區,所以,可以防止分離的基底中的缺 陷。 圖6係流程圖,顯示根據本實施例之分離裝置1 0 0 的控制程序。在此流程圖中所示的處理係由控制器1 9 0 控制。本流程圖中所示的處理係在接合的基底堆疊1 0 1 被設定於分離裝置1 0 0之後執行的,亦即,在接合的基 底堆疊1 0 1被基底固持部份1 2 0及1 5 0固持之後執 -46- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 522488 A7 Β7 五、發明說明(44 ) 行的。 步驟S 1 0 1至S 1 0 4係相當於第一處理。首先’ 控制器1 9 0控制馬達1 1 0以預定旋轉速度旋轉接合的 基底堆疊101 (S101)。轉速較佳地約4至12 r pm,且更佳的是約6至1 0 r pm。在本實施例中’ 轉速設定爲8 r p m。 接著,控制器1 9 0會控制泵以從噴嘴1 〇 2噴射具 有預定壓力(舉例而言,500kg f/cm2)的噴射物 (S 1 〇 2 )。然後,控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區 1 0 6以將噴嘴1 0 2從待命位置(噴射物不會與接合的 基底堆疊1 0 1相撞擊之處)移至接合的基底堆疊1 〇 1 的中央軸上的多孔層101b (S103)。開始接合的 基底堆疊1 0 1之部份分離。在要留下的未分離區2 0 2 之外的區域被分離時(舉例而言,在預定時間過後),控 制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 〇 6以將噴嘴1 0 2移動 待命位置(S104)。第一處理結束。 步驟S 1 0 5至S 1 0 7相當於第二處理。首先’控 制器1 9 0控制馬達1 1 〇以實際地停止旋轉接合的基底 堆疊101 (S105)。接著,控制器190會控制噴 嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 〇 2從待命位置移至接合的基 底堆疊101的中央軸上的多孔層101 (S106)。 開始接合基底堆疊1 0 1之未分離區2 0 2的分離。在接 合的基底堆疊ί 0 1完全地分離時,控制器1 9 0會控制 噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴移動至待命位置及控制泵 — !!!!·裝 i — 請先閲讀背面之注意事項再ιρι本頁) 訂. --綠- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公t ) -47· 522488 經濟部·智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ______ 五、發明說明(45 ) 114以停止噴射噴射物(S107)。第二處理結束。 〔第二實施例〕^ 第二實施例係關於更令人滿意地控制第一處理之後留 下的未分離區之形.狀及位置。本實施例的第一處理與第一 實施例的第一處理相同之處在於噴嘴位於接合的基底堆疊 1 0 1之中心上、在由馬達1 1 0旋轉接合的基底堆疊 1 0 1時接合基底堆疊1 0 1的週邊部份會被分離及中央 部份會留下作爲未分離區。 但是,本實施例的第一處理與第一實施例的第一處理 不同之處在於逐漸地或逐步地(包含以二步增加)增加接 合的基底堆疊1 0 1的旋轉速度下,接合的基底堆疊 1 0 1會被部份地分離。舉例而言,接合的基底堆疊 1 0 1會一直以低速旋轉直到接合的基底堆疊1 0 1在分 離開始(第一步驟)之後旋轉約一圈爲止,而且,在此之 後,較佳地增加旋轉速度(第二步驟) 在第一步驟中接合的基底堆疊1 0 1之旋轉速度,舉 例而言,較佳地約4至1 2 r p m,更佳的是6至1 0 r pm。在本實施例中,旋轉速度會設定爲8 r pm。在 第二步驟中接合的基底堆疊1 〇 1之旋轉速度,舉例而言 ,較佳地約2 5至3 5 r pm,更佳的是約28至3 2 r pm。在本實施例中,旋轉速度設定爲3 0 r pm。 由於分離力無法於初始階段有效率地作用於接合的基 底堆疊1 0 1上,所以,在第一處理的初始階段,接合的 -- - - ----!!-裝·! (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂·· 線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -48- CC 48 2 2 5 A7 ___ B7 __ 五、發明說明(46 ) 基底堆疊會以低速旋轉。由於藉由高速地旋轉接合的基底 堆疊10 1,能留下接近點對稱形狀之未分離區,所以, 在逐漸地或逐步地增加旋轉速度下,執行第一處理。 圖7係視圖,顯示根據第二實施例的第一處理中被部 份地分離的接合基底堆疊101之狀態。在圖7中所示的 實施例中,接合的基底堆疊1 0 1會以約8 r pm旋轉, 直到其旋轉約一圈爲止,之後,旋轉速度會增加至約3 0 r p m 。 本實施例的第二處理與第一實施例中相同。圖8係視 圖,顯示接合的基底堆疊1 0 1於第二實施例的第二處理 中被完全地分離。 當於第一處理中接合的基底堆疊101之旋轉速度逐 漸地或逐步地增加時,第一處理之後留下的未分離區 2 0 2可以製成接近圓形,且未分離區2 0 2的位置可以 與接合的基底堆疊1 0 1之中心相符。這意指接合的基底 堆疊1 0 1之未分離區2 0 2的形狀可以製成更加均勻。 因此,相較於第一實施例,可以減少第二處理中可能產生 的缺陷。 圖9係流程圖,顯示根據第二實施例之分離裝置 1 0 0的控制程序。此流程圖中所示的處理會由控制器 1 9 0控制。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分離裝置 1 0 0中之後,執行此流程圖中所示的處理。 步驟S 2 '0 1至S 2 0 5相當於第一處理。首先,控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以低速旋轉接合的基底堆疊 n ϋ m§w 1 ϋ _1 ft— ft— i_i n I · ·1 ϋ <請先閲讀背面之注意事項再ill本頁) tj: -鯓· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -49- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(47 ) 1〇1 (S20 1)。此時旋轉速度,舉例而言,較佳地 約爲4至1 2 r pm,更佳地約爲6至1 0 r pm。在本 實施例中,旋轉速度會設定爲8rpm。 接著,控制器1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 0 2 (S202)噴射具有預定壓力(舉例而言,500 k g f/Cm2)之噴射物。然後,控制器1 9 0會控制噴 嘴驅動區10 6以將墳嘴1 0 2從待命位置移動至接合的 基底堆疊101之中心軸上的多孔層101b (S203 )。開始接合的基底堆疊1 0 1之部份分離。 控制器1 9 0會一直等待直到接合的基底堆疊1 〇 1 旋轉諸如一圈爲止並控制馬達1 1 0以增加接合的基底堆 疊1 0 1的旋轉速度(S204) 。此時,旋轉速度較佳 地約爲2 5至3 5 r pm,更佳的是,約2 8至3 2 I* pm。在本實施例中,旋轉速度設定爲3 0 r pm。 在要留下的未分離區2 0 2之外的其它區被分離之後 (舉例而言,在預定時間過去之後),控制器1 9 0會控 制噴嘴驅動區1 〇 6以將噴嘴1 〇 2移動至待命位置( S205)。第一處理結束。 步驟S206至S208相當於第二處理。首先,控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以實際地停止旋轉接合的基 底堆疊101 (S206)。接著,控制器190會控制 噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 〇 2從待命位置移動至接合 的基底堆疊10 1之中心軸上(S207)。開始接合基 底堆疊1 0 1之未分離區2 0 2的分離。 !1!!!裝 i — <請先閱讀背面之注意事項再jpt本頁) 訂· ;綠. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -50- CC 8 24 2 5 A7 ____ B7_ 五、發明說明(48 ) 在完全地分離接合的基底堆疊1 0 1之後(舉例而言 ,在預定時間過去之後),控制器1 9 0會控制噴嘴驅動 區1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至待命位置及控制泵1 14 以停止噴射噴射物(S208)。第二處理結束。 〔第三實施例〕 第三實施例也關於更令人滿意地控制第一處理之後餘 留的未分離區之形狀及位置。本實施例的第一處理與第一 實施例的第一處理相同之處在於噴嘴位於接合的基底堆疊 1 0 1之中心上、在由馬達1 1 0旋轉接合的基底堆疊 1 0 1時接合基底堆疊1 0 1的週邊部份會被分離及中央 部份會留下作爲未分離區。. 但是,本實施例的第一處理與第一實施例的第一處理 不同之處在於逐漸地或逐步地(包含以二步減少)減少噴 射物壓力下,將接合的基底堆疊1 0 1部份地分離。舉例 而言,較佳地,噴射物壓力設定爲高(舉例而言,約 5 0 0 k g i / c m2 )直至開始分離之後,接合的基底堆 疊1 0 1旋轉約一圈爲止,之後,設定噴射壓力(舉例而 言,約220kgi/cm2),在此噴射壓力下,餘留作 爲未分離區的中央部份不會被分離。 由於分離力無法在初始階段有效率地作用於接合的基 底堆疊1 0 1上,所以,在第一處理的初始階段,將噴射 壓力設定爲高。因爲藉由設定低噴射物壓力,可以留下接 近點對稱形狀之未分離區,所以,在逐漸地或逐步地減少 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公爱) .51 - --------------裝--- {請先閲讀背面之注意事項再本頁) tl· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 48 2 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7__五、發明說明(49 ) 噴射物壓力下執行第一處理。 圖1 0係視圖,顯示在第三實施例的第一處理中接合 的基底堆疊101被部份地分離之狀態。在圖10中所示 的實施例中,噴射物壓力會設定爲5 0 0 k g f/cm2直 到接合的基底堆疊1 Ο 1旋轉約一圈爲止,之後,噴射物 壓力會設定爲2 2 Okg f/cm2。 第三實施例的第二處理與第一實施例的第二處理相同 。第二處理中的接合基底堆疊1〇1之分離實際上與圖8 中所示相同。 在第一處理中,當逐漸地或逐步地減少噴射壓力時, 在第一處理之後餘留的未分離區2 0 2可以製成接近圓形 ,且未分離區2 0 2的位置可以與接合的基底堆疊之中心 匹配。這意指接合的基底堆疊1 0 1之未分離區2 0 2的 形狀可以更均勻。因此,相較於第一實施例,可以減少第 二處理中產生的缺陷。 圖1 1係流程圖,顯示根據第三實施例之分離裝置 1 0 0的控制程序。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分離 裝置1 0 0中之後,執行此流程圖中所示的處理。 步驟S301至S305相當於第一處理。首先,控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以預定速度旋轉接合的基底 堆疊101 (S301)。此時,旋轉速度,舉例而言’ 較佳地爲約4至1 2 r pm,更佳地爲約6至1 0 r pm 。在本實施例中,旋轉速度設定爲8 r pm。 接著,控制器1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 〇 2 * ·1 ·1 mmt mmmmm a§ ml §mmm emf ί ϋ n I · I* §mw <請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂- -·练· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -52- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(50 ) 噴射具有高壓(舉例而言,500kgi/cm2)之噴射 物(S302)。然後,控制器190控制噴射驅動區 1 C. 6以將噴嘴1 〇 2從待命位置移動至接合的基底堆疊 101之中央軸上的多孔層101b (S303)。開始 接合基底堆疊1 0 1之部份分離。之後’控制器1 9 0會 一直等待直到接合的基底堆疊101旋轉諸如一圈及控制 泵1 1 4以設定低噴射物壓力(舉例而言,2 2 0 kgf/cm2) ( S 3 0 4 )。 在要餘留的未分離區2 0 2之外的其它區域被分離之 後(舉例而言,在預定時間過後),控制器1 9 0會控制 噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至待命位置( S305)。第一處理結束。 步驟S 3 0 6至S 3 0 9相當於第二處理。首先,控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以實際地停止旋轉接合的基 底堆疊101 (S306)。接著,控制器190會控制 泵1 1 4以設定高噴射物壓力(舉例而言,5 0 0 k g f / c m 2 ),在此壓力下,可以分離未分離區202 (S 3 0 7 ) ° 控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴 1 0 2從待命位置移動至接合的基底堆疊1 0 1的中央軸 上之多孔層1 0 1 b上。開始接合的基底堆疊1 0 1之未 分離區的分離。在接合的基底堆疊1 0 1完全地分離之後 (舉例而言,在預定時間過後),控制器1 9 0會控制噴 嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至待命位置及控制泵 0 am— n I ·_1 ϋ —9 .1 ·1 «ϋ 1 ϋ ϋ I · I mm (請先閱讀背面之注意事項再本頁) tj· --綉· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) •53· 48 2 2 5 A7 ____B7_ 五、發明說明(51 ) 114以停止噴射噴射物(S30 9 )。結束第二處理。 可以結合第二及第三實施例。更特別的是,在第一處 理中,在分離的初始階段(舉例而言,第一圈),於低速 旋轉接合的基底堆疊1 0 1下,使用高壓噴射物分離接合 的基底堆疊1 〇 1.。之後,在逐漸地或逐步地增加接合的 基底堆疊1 0 1之旋轉速度下,繼續分離,且同時逐漸地 或逐步地減少噴射物壓力。藉由此處理,在第一處理之後 要留下的未分離區2 0 2可以更加均勻。 (第四實施例) 第四實施例也是關於更令人滿意地控制第一處理之後 留下的未分離區之形狀及位置之方法。在本實施例的第一 處理中,噴嘴1 0 2會設定於偏移接合的基底堆疊1 0 1 之中心預定距離之位置處(舉例而言,在垂直於噴射物噴 射方向上20至30nm),且在由馬達1 1 0旋轉接合 的基底堆疊10 1時(舉例而言,8 r pm),接合的基 底堆疊101之週邊部份會分離及留下中央部份作爲未分 離區。噴射物會噴射至偏離接合的基底堆疊1 0 1之中心 的位置處以進一步使第一處理後餘留之一些接合的基底堆 疊1 0 1之未分離區的形狀及位置更均勻。 圖1 2係視圖,顯示本實施例的第一處理中部份地分 離之接合基底堆疊的狀態。參考圖1 2,代號2 0 1代表 第一處理期間分離區與未分離區之間的邊界。邊界2 0 1 之外的區域係已經分離的區域,且邊界2 0 1之內的區域 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) * ·1 ϋ ϋ ·_1 ϋ ϋ 1 1 ϋ ϋ ·.1 I · ϋ mmK (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 訂· -•綉- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -54- CO 48 2 2 5 A7 ____B7__ 五、發明說明(52 ) 是未分離區。在本實施例的第一處理中,由於在旋轉接合 的基底堆疊1 0 1下進行分離處理,所以邊界2 0 1的軌 跡具有螺旋形。無影線之區域2 0 2係第一處理後餘留的 未分離區。相較於第一實施例,未分離區2 0 2的形狀較 接近於圓形,且中心較接近於接合的基底堆疊1 〇 1。陰 影區2 0 3係因執行第一處理而分離的區域。相較於第一 實施例,可能由於作用於多孔層上的分離力會隨著第一處 理的進行而減弱,所以,未分離區2 0 2可以製成接近點 對稱形狀。 本實施例的第二處理與第一實施例中相同。圖1 3係 視圖,顯示第二處理中接合的基底堆疊1 〇 1完全地分離 之狀態。 圖1 4係流程圖,顯示根據本實施例之分離裝置 1 0 0的控制程序。此流程圖中所示的處理係由控制器 1 9 0所控制。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分離裝置 1 0 0中之後,亦即,在接合的基底堆疊1 0 1由基底固 持部份1 2 0及1 5 0固持之後,執行此流程圖中所示的 處理。 步驟S 4 0 1至S 4 0 4相當於第一處理。首先,控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以預定旋轉速度(舉例而言 ,8rpm)旋轉接合的基底堆疊101 (S401)。 接著,控制器1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 0 2噴射 具有預定壓力的噴射物(舉例而言,500kg i/cm )(S 4 0 2 )。然後,控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------菜--- (請先閲讀背面之注意事項再H本頁) tl! ▼•翱· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -55- 522488 A7 B7 五、發明說明(53 ) 1 0 6以將噴嘴1 〇 2從待命位置移動至於水平方向上偏 移接合的基底堆疊101的中心軸預定距離之位置處的多 孔層101b上(S403)。開始接合基底堆疊101 之部份分離。在要留下的未分離區2 0 2之外的其它區被 分離之後(舉例而言,在預定時間過後)’控制器1 9 0 會控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至待命位置 (S304)。第一處理結束。 步驟S405至S407相當於第二處理。首先’控 制器1 9 0會控制馬達1 1 0以實際地停止旋轉接合的基 底堆疊101 (S405)。接著,控制器190會控制 噴嘴驅動1 0 6以將噴嘴1 0 2從侍命位置移動至接合的 基底堆疊101之中心軸上的多孔層l〇lb (S406 )。開始接合的基底堆疊101之未分離區202的分離 。在完全地分離接合的基底堆疊1 0 1之後(舉例而言’ 在預定時間過後),控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區 1 0 6以將噴嘴1 0 2移動至待命位置及控制泵1 1 4以 停止噴射噴射物(S 4 0 7 )。結束第二處理。 在上述第一至第四實施例中,第二處理可能開始而不 會使噴嘴2 0 2歸回至第一處理結束時的待命位置。 (第五實施例) 第五實施例係關於第二處理中使用楔件以取代流體之 方法。關於第一處理,第一至第四實施例中的任一實施例 之笫一處理是較佳的。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------弟·! (請先閲讀背面之注意事項再本頁: t! 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -56- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(54 ) 圖1 5及1 6係視圖,顯示適用於第二處理之分離裝 置(此後稱爲最後分離裝置)之配置。最後分離裝置 3 5 0具有第一及第二支撐部份3 5 3及3 5 6以在第一 處理之後支撐接合的基底堆疊1 0 1之預定位置。舉例而 言,支撐位置較佳地爲接合的基底堆疊之週邊部份的部份 0 第一支撐部份3 5 3固定於平台3 5 4上。第二支撐 部份3 5 6固定於汽壓缸3 5 5的位置之遠側端,汽壓缸 3 5 5固定於平台3 5 4上。當接合的基底堆疊1 0 1係 要設定於最後分離裝置3 5 0中時,活塞會於汽壓缸 3 5 5中縮回以在第一支撐部份3 5 3與第二支撐部份 3 5 6之間形成預定間隙。在接合的基底堆疊1 0 1插入 間隙中時,會從汽壓缸3 5 5推動汽壓缸,以致於接合的 基底堆疊1 0 1會由第二支撐部份3 5 6從上側施壓及固 持。 由諸如橡膠所形成的彈性構件較佳地配置於第一支撐 部份3 5 3及/或第二支撐部份3 5 6與接合的基底堆疊 1 0 1相接觸之部份處。根據此配置,可便於接合的基底 堆疊1 0 1之分離,及防止分離期間由第一支撐部份 3 5 3及第二支撐部份3 5 6所支撐的部份被施予過多的 應力。在圖1 5及1 6中所示的實施例中,彈性構件 357會附著於第二支撐部份356。 最後分離裝置3 5 0具有楔件3 5 1以從預定方向施 加力量至接合的基底堆疊1 0 1。楔件3 5 1會由汽壓缸 (請先閱讀背面之注意事項再本 裝 頁) 訂· i鎿_ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 522488 A7 B7 五、發明說明(55 ) 3 5 2往復地移動。更特別的是,如圖1 6所示,爲了分 離接合的基底堆疊101,從汽壓缸352推楔件351 以將楔件3 5 1的遠側端插入接合的基底堆疊1 0 1之間 隙中。藉由此操作,由於在施加強大的分離力至接合的基 底堆疊1 0 1的未分離區之部份及弱分離力至餘留部份時 逐漸地加寬分離區,所以,可以防止分離基底中的缺陷。 圖1 7係流程圖,顯示使用分離裝置1 〇 0及最後分 離裝置3 5 0之分離處理的流程。首先,將接合的基底堆 疊101設定於分離裝置100中(S501)。藉由同 於第一至第四實施例中的任一實施例之第一處理,可部份 地分離接合的基底堆疊1 0 1並留下預定區作爲未分離區 (S502)。將接受第一處理之接合的基底堆疊1〇1 設定於最後分離裝置350中(S503)。使用楔件完 全地分離接合的基底堆疊101 (S504)。 圖1 8係平面視圖,顯示具有分離裝置1 〇 〇及最後 分離裝置5 0之自動分離裝置。自動分離裝置3 0 0包括 圖2中所示的分離裝置1 0 0、圖1 5及1 6中所示的最 後分離裝置350、基底輸送機器人340、裝載器 3 3 3、第一卸載器332、第二卸載器331、定心單 元370、及吹氣單元361。 分離裝置1 0 0配置於室3 1 0中以防止噴射介質( 舉例而言,水)濺散。室3 1 0在窗部份具有擋門3 2 0 以在第一處理前後裝載/卸載接合的基底堆疊101。 在分離處理之前,儲存有未經處理的接合基底堆疊 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閱讀背面之注意事項再Imt本頁) 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 CO 48 2 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7 _五、發明說明(56 ) 101之載具336會置於裝載器333,及用於儲存分 離的基底之空的載具3 3 5及3 3 4會分別置於第一及第 二卸載器332及331上。 在定心單元3 7 0中,具有符合接合的基底堆疊 1 0 1的拱狀表面之導件3 7 1會由汽壓缸3 7 2推動以 將接合的基底堆疊1 0 1夾在導件3 7 1與另一導件 3 7 3之間,藉以將接合的基底堆疊1 0 1定心。定心單 元3 7 0及最後分離裝置3 5 0係整合在一起。因此,在 第一處理中處理過的接合基底堆疊1 0 1定心之後,可在 使接合的基底堆疊1 0 1的部份保持固持下,使用楔件 3 5 1以達成最後分離。在圖1 8中,顯示於圖1 5及 1 6中的第二支撐部份3 5 6及類似者並未顯示。 藉由機器手臂3 4 1固持接合的基底堆疊1 0 1或每 一分離的基底,而由基底輸送機器人3 4 0將它傳送。機 器手臂3 4 1具有垂直設定或於固持的基底上旋轉之功能 〇 圖1 9係流程圖,顯示自動分離裝置3 0 0執行之分 離處理。此流程圖中所示的處理係由控制器(未顯示)所 控制。在儲存有未經處理的接合基底堆疊1 0 1之載具 3 3 6置於裝載器3 3 3上及於儲存分離的基底之空載具 3 3 5及3 3 4分別被置於第一及第二卸載器3 3 2及 331上之後,執行此處理。 首先,由輪送機器人3 4 0從裝載器3 3 3上的載具 3 3 6取出接合的基底堆疊1 0 1及由定心單元3 7 0將 <請先閱讀背面之注意事項死 •裝*! 本頁) tl: -•銹- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) •59· 522488 A7 B7 五、發明說明(57 ) 其定心(S601)。開啓擋門320 (S602)。將 機器手臂3 4 1旋轉9 0度,而使定心過的接合基底堆疊 1 0 1之表面設置於垂直方向,及將接合的基底堆疊 101設定於分離裝置1〇〇中(S603)。 關閉擋門3 2.0 ( S 6 0 4 )。開始噴射噴射物( S605)。將噴嘴1〇2從待命位置311延著移動路 徑移動至接合的基底堆疊1 〇 1之中心,及開始第一處理 之分離處理(S606)。關於第一處理的分離處理,第 一至第四實施例中任一者的第一處理是適當的。 當預定時間過去時,且在留下預定區域作爲未分離區 時結束分離處理時,噴嘴1 〇 2會延著移動路徑3 1 2歸 回至待命位置311 (S607),及停止噴射物噴射( S 6 〇 8 ) ° 打開擋門320 (S609)。機器手臂341會從 分離裝置1 0 0接收接合的基底堆疊1 〇 1。藉由使機器 手臂3 4 1旋轉9 0°而將接合的基底堆疊1 〇 1設定於 垂直方向中並將其傳送至最後分離裝置3 5 0 (定心單元 3 7 0 ) (S610)。關閉擋門 320 (S611)。 由定心單元3 7 0將接合的基底堆疊1 〇 1定心並由 第一及第二支撐構件3 5 3及3 5 6將其固持(圖1 5及 16) (S612)。將楔件351插入接合的基底堆疊 1 C 1中的間隙中,以完全地分離接合的基底堆疊( S6 1 3)。在分離時由最後分離裝置350及定心單元 3 7 0所產生的灰塵會由吹氣單元3 6 1移除(S 6 1 4 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ----------------- (請先閱讀背面之注意事項再本頁)
I 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A7 B7 五、發明說明(58) 分離的上基底1 0 1 C會由機器手臂3 4 1旋轉(旋 轉1 8 0° )及儲存於卸載器3 3 2上的載具3 3 5中( S615)。分離的下基底i〇ia會由機器手臂341 儲存於卸載器3 3 1上的載具3 34中(S6 16)。 藉由上述處理,結束一接合的基底堆疊1 〇 1之分離 。當有未處理的接合基底堆疊1 〇 1餘留時,重覆上述處 理。 根據本發明的第一模式,舉例而言,提供裝置及方法 ’防止分離諸如具有分離層之基底等樣品時的缺陷。 〔第二模式〕 將於下說明,本發明的第二模式之解決上述問題的改 進分離裝置及分離處理。 本發明人根據實驗發現藉由下述方法可減少上述缺陷 主要使用噴射物以分離多孔層1 0 1 b的第一區,主 要藉由施加振動能量以分離接合的基底堆疊101之第二 區,藉以完全地分離接合的基底堆疊1 0 1。第一區較佳 地實際爲基底固持部份1 2 0及1 5 0對接合的基底堆疊 10 1施壓之區域之外面的區域(週邊區)。第二區較佳 地實際包含基底固持部份1 2 0及1 5 0對接合的基底堆 疊1 0 1施壓之區域,亦即,多孔層1 0 1 b可由分離裝 置1 0 0之基本分離處理立即剝離之區域。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 之 注 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -61 - 522488 A7 ____ B7 五、發明說明(59 ) 如上所述,當主要使用分離物以分離接合的基底堆疊 1 1 0之第一區時,可以增加分離處理的效率。當主要使 用振動能量以分離接合的基底堆疊1 0 1之第二區時,可 防止上述缺陷。更特別的是,當主要使用振動能量以分離 第二區時,可逐漸地分離第二區,及防止上述缺陷。另一 方面,如同分離裝置1 〇 〇所執行的基本分離處理般,在 .以預定速度旋轉接合的基底堆疊下,從開始分離至結束分 離,僅使用具有預定壓力的噴射物以完全地分離接合的基 底堆疊時,分離力會在最後階段突然地增加。由於小的未 分離區會立即剝落,所以,可能會產生缺陷。 第一及第二區可以同時地分離。第一區可以首先分離 ,接著,第二區會分離。相反地,第二區首先分離,接著 ,第一區會分離。第一及第二區的分離處理可由一裝置或 不同的裝置執行。 將於下說明根據本發明的第二模式之改進的分離裝置 及分離處理的實施例。 (第一實施例) 圖2 1係視圖,2示根據本發明的第二模式之第一實 施例之改進的分離裝置的配置。與圖2中所示的分離裝置 1 0 0中相同的代號在圖2 1中係代表相同部份,將省略 其詳細說明。 本實施例的分離裝置3 0 0在基底固持部份1 5 0具 有超音波振盪器1 2 0 3。根據來自振盪器1 2 0 1之輸 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項 本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -62· 522488 A7 B7 五、發明說明(60 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 出訊號,驅動超音波振盪器1 20 3。來自振盪器 1 2 0 1的輸出訊號會經由在遠側端具有刷子之訊號線 1203e及1203ί、與刷子電連接之環1203c 及1203d、及經過轉軸1〇3之訊號線1203a及 1 203b,供應給超音波振盪器1 203。振盪器 1 2 0 1的ON/OF F及輸出訊號振幅和頻率係由控制 器1 9 0所控制。 圖2 3係流程圖,顯示使用分離裝置3 0 0之根據第 一實施例的分離處理程序。此流程圖中所示的處理係由控 制器1 9 0所控制。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分離 裝置3 0 0中之後,執行此流程圖中所示的處理。 在根據第一實施例之分離處理中,首先,在旋轉接合 的基底堆疊1 0 1時以噴射物分離接合的基底堆疊1 0 1 之第一區,然後,以超音波分離接合的基底堆疊1 0 1之 第二區,藉以完全地分離接合的基底堆疊101。第一區 實際上是基底固持部份1 2 0及1 5 0所施壓的區域之外 面的區域。第二區實際上係基底固持部份1 2 0及1 5 0 所施壓的區域。 步驟S 1 1 0 1至S 1 1 06相當於第一區分離處理 。控制器1 9 0會控制馬達1 1 0以預定旋轉速度旋轉接 合的基底堆疊101 (S1101)。旋轉速度可爲固定 的或隨時間改變。較佳地,旋轉速度係設定爲第一轉爲相 當低(舉例而言,4至12rpm),然後設定爲相當高 (舉例而言,25至25rpm)。 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項
Η 頁I 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -63 CC 8 24 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___B7___五、發明說明(61 ) 接著,控制器1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 〇 2 噴射具有預定壓力之噴射物(舉例而言,500 kgf/cm2) (S1102)。 控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴 1 0 2從待命位置移動至接合的基底堆疊1 0 1之中心軸 上的多孔層101b (S1 103)。開始接合的基底堆 疊1 0 1之第一區的分離。 在分離第一區之後(舉例而言,在預定時間過後), 控制器1 9 0會控制噴嘴驅動器1 0 6以將噴嘴1 0 2移 動至待命位置(S 1 1 0 4 )及控制泵1 1 4以停止噴射 噴射物(S 1 1 0 5 )。控制器1 9 0會控制馬達1 1 0 以停止旋轉接合的基底堆疊101 (Sir〇 6)。 圖2 2係視圖,顯示第一區由噴射物分離之後之接合 的基底堆疊1 0 1。參考圖22,代號2 1 1係代表使用 噴射物之分離處理期間已經分離的(分離區)與尙未分離 的區域(未分離區)之間的邊界。在本實施例中,由於在 旋轉接合的基底堆疊1 0 1下第一區會由噴射物分離,所 以,邊界2 1 1的軌跡具有螺旋形。陰影區2 1 3是第一 區,而無陰影的區2 1 2是第二區。 步驟S 1 1 0 7及S 1 1 08相當於第二區分離處理 。首先,控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以開始驅動 超音波振盪器1203(S1107)。超音波振盪器 120 3會產生超音波(振動能量),且使用此超音波的 第二區分離開始。在第二區分離之後(舉例而言,在預定 --------------裝·! (請先閱讀背面之注意事項再iRr本頁: 訂·· •鎿· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公茇) -64- 522488 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(62 ) 的時間過後),控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以停 止超音波振盪器1203的操作(S1 108)。結束接 合的基底堆疊1 0 1之分離處理。在使用超音波之第二區 分離期間,接合的基底堆疊1 0 1可以旋轉。 根據本實施例,使用超音波以將第一區分離之後餘留 的第二區分離。藉由此配置,可以防止小的未分離區立即 剝落,及防止因分離處理而產生缺陷。 此外,根據本實施例,在噴射介質存在於接合的基底 堆疊1 0 1中時,施加超音波。在第二區的分離期間,噴 射介質會作爲斷開多孔層1 0 1 b之介質,這可能是分離 處理爲何能有效率地進行之原因。 在本實施例中,第一及第二區係由一分離裝置3 0 0 分離。相反地,使用不同的分離裝置,可分離第一及第二 ° (第二實施例) 第二實施例係使用圖21中所示之根據第一實施例的 分離裝置3 0 0且與第一實施例不同之處在於分離處理的 程序。 圖2 4係流程圖,顯示使用分離裝置3 0 0之根據第 二實施例的分離處理之程序。此流程圖中所示的處理係由 控制器1 9 0所控制。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分 離裝置3 0 0中之後,執行此流程圖中所示的處理。 在根據第二實施例之分離處理中,首先,使用超聲波 <請先閱讀背面之注意事項 -- 丄 本頁)
I 言 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -65- CC 48 2 2 ) A7 B7 五、發明說明(63 ) 分離接合的基底堆疊1 0 1之第二區。之後,在旋轉接合 的基底堆疊1 0 1時,以噴射物分離接合的基底堆疊 1 〇 1之第一區,藉以完全地分離接合的基底堆疊1 0 1 〇 步驟s 1 2 0. 1及s 1 2 0 2相當於第二區分離處理 。首先,控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以開始驅動 超音波振盪器1203 (S1201)。超音波振盪器 1 2 0 3會產生超音波,及開始使用此超音波之第二區分 離。在第二區分離之後(舉例而言,在預定時間過後)’ 控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以停止超音波振盪器 1203 的操作(S1202)。 步驟S 1 2 0 3至S 1 2 0 8相當於第一區分離處理 。首先,控制器1 9 0會控制馬達1 1 〇以預定旋轉速度 旋轉接合的基底堆疊101 (S1203)。在第二區分 離開始之前或在第二區分離期間,接合的基底堆疊1 〇 1 開始旋轉。 接著,控制器1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 ◦ 2 噴射具有預定壓力之噴射物(舉例而言’ 5 0 0 kg f / c m 2 ) ( S 1 2 0 4 )。 控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 〇 6以將噴嘴 1 0 2從待命位置移動至接合的基底堆疊1 〇 1之中心軸 上的多孔層101b上(S1205)。開始接合的基底 堆疊10 1之第一區的分離。 在第一區分離之後(舉例而言,在預定時間過去後) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 I 本 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -66- 522488 A7 B7 五、發明說明(64 ) ,控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2 移動至待命位置(S 1 2 0 6 )及控制泵以停止噴射噴射 物(S 1 2 0 7 )。控制器1 9 0會控制馬達1 1 0以停 止旋轉接合的基底堆疊101 (S120 8 )。 根據第二實施例,首先以超音波分離第二區(中央部 份),且在相鄰於第二區之週邊部份(稱爲環狀區)之從 開始就易碎的多孔層1 0 1 b會變得更加易碎。在本實施 例中,環狀區會於第一區的分離處理之最後階段分離。因 此,當環狀區變得易碎時,環狀區可由噴射物輕易地分離 且能防止其立即剝落。因此,可以減少任何因上述基本分 離裝置之分離處理而產生的缺陷。 在本實施例中,第一及第二區係由一分離裝置3 0 0 分離。但是,第一及第二區可由不同的分離裝置分離。 (第三實施例) 第三實施例係使用根據圖2 1中所示的第一實施例之 分離裝置3 0且與第一實施例不同處在於分離處理的程序 〇 圖2 5係流程圖,顯示使用分離裝置3 0 0之根據第 三實施例的分離處理之程序。此流程圖中所示的處理係由 控制器1 9 0所控制。在接合的基底堆疊1 0 1設定於分 離裝置3 0 0中之後,執行此流程圖中所示的處理。 在第三實施例中,平行執行使用噴射物之第一區分離 處理及使用超音波的第二區分離處理。藉由此配置,完全 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -67 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7_____ 五、發明說明(65 ) 地分離接合的基底堆疊所需的時間可以縮短,且改進總工 作量。 首先,控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以開始驅 動超音波振盪器1203 (S1301)。超音波振盪器 1 2 0 3會產生賴音波,及開始以此超音波執行第二區的 分離。 接著,控制器1 9 0會控制馬達1 1 0以預定旋轉速 度(S1302)旋轉接合的基底堆疊101。控制器 1 9 0會控制泵1 1 4以從噴嘴1 0 2噴射具有預定壓力 (舉例而言,500kgf/cm2)的噴射物( S 1 3 0 3 )。 控制器1 9 0控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2 從待命位置移動至接合的基底堆疊101之中央軸上的多 孔層101b上(S1304)。開始接合的基底堆疊 1 0 1之第一區分離。 在第一區被分離之後(舉例而言,在預定時間過後) ,控制器1 9 0會控制噴嘴驅動區1 0 6以將噴嘴1 0 2 移動至待命位置(S 1 3 0 5 )及控制泵以停止噴射噴射 物(S 1 3 0 6 )。控制器1 9 0會控制馬達1 1 0以停 止旋轉接合的基底堆疊101 (S1307)。 在第二區被分離之後(舉例而言,在預定時間過後) ,控制器1 9 0會控制振盪器1 2 0 1以停止超音波振盪 器1203 (S1308)的操作。 根據本實施例,由於藉由噴射物之第一區分離處理及 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -68- « an 1« 1« I n §me ί I aa§ 1 ϋ 9 · n atm {請先閱讀背面之注意事項本頁) t: 522488 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___JB7__五、發明說明(66 ) 藉由超音波之第二區分離處理係平行地執行,所以,完全 地分離接合的基底堆疊1 0 1所需的時間可以縮短,及改 進總工作量。 此外,根據本實施例,注入接合的基底堆疊1 〇 1之 噴射介質會作爲傳送超音波的介質,且分離處理會有效率 地進行。 在考慮第一區分離處理所需的時間與第二區分離處理 所需的時間之間的關係下,上述步驟的次序可以改變。 如上所述,根據第三實施例,藉由主要使用超音波以 分離第二區,可以在分離處理中防止缺陷。 (第四實施例) 在第四實施例中,以圖2中所示的分離裝置(第一分 離裝置)1 0 0分離第一區,及以具有超音波槽之分離裝 置(第二分離裝置)分離第二區。可使用圖2 1中所示的 分離裝置3 0 0以取代分離裝置1 〇 〇。 圖2 6係剖面視圖,顯示第二分離裝置的配置。第二 分離裝置4 0 0具有超音波槽4 0 1及超音波源4 0 3。 當第二區是要被分離時,超音波槽4 0 1會塡充液體(舉 例而言,純水)4 0 2作爲超音波傳送介質。儲存有一或 多個第一區被分離之接合的基底堆疊1 〇 1之匣4 1 〇會 浸入超音波槽4 0 1中。在此狀態中,當超音波(振動倉g 量)從超音波源4 0 3經由超音波槽4 0 1及液體4 0 2 傳送至接合的基底堆疊1 〇 1時,接合的基底堆疊1 〇 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ~ (請先閱讀背面之注意事項^ I ·11 本頁) t]: --韓- 522488 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 _B7__五、發明說明(67 ) 之第二區可被分離。 匣4 1 0具有多個支撐板4 1 2及多個分隔部4 1 1 ,多個支撐板412係用以支撐多個接合的基底堆疊 1 0 1,多個分隔部4 1 1係用以分隔藉由分離接合的基 底堆疊1 0 1成爲二基底而取得的基底i分隔部4 1 1係 配置於超音波槽4 0 1的底部上且具有尖上部(遠側端部 份)之楔形,尖上部係朝向下側加寬。爲將接合的基底堆 疊1 0 1設置於匣4 1 0中,每一接合的基底堆疊1 〇 1 之側表面中的溝槽(亦即,二基底被接合以形成接合的基 底堆疊101之部份)會與分隔部411的遠側端部份嚙 合。 圖2 7及2 8係放大視圖,顯示圖2 6中所示的匣 4 1 0之部份。圖2 7係顯示接合的基底堆疊1 〇 1之第 二區被分離之前的狀態。圖2 8係顯示接合的基底堆疊 1 0 1被分離之後的狀態。 當接合的基底堆疊101之第二區由經由超音波傳送 介質4 0 2供應的超音波分離時,接合的基底堆疊1 〇 1 會被完全地分離。如圖2 8所示,分離的基底會因它們自 己的重量而延著分隔部411的側壁掉落且彼此分離。 圖2 9及3 0係視圖,顯示處理系統的配置,此處理 系統係用以執行一系列的分離處理,以將接合的基底堆疊 1 0 1於多孔層1 0 1 b處分離成二基底。圖3 1係流程 圖,顯示圖2 9及3 0中所示的處理系統之控制程序。此 流程圖中所示的處理係由控制器7 0 0控制。 -I--I--— — — — — I-裝 i — {請先閱讀背面之注意Ϋ項再本頁) 訂· ;练- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公* ) -70- 522488 A7 B7 五、發明說明(68 ) 此處理系統包括圖2中所示的第一分離裝置1 〇 〇、 圖2 6中所示的第二分離裝置4 0 0、乾燥爐(舉例而言 ,IPA蒸汽乾燥器單元)5 0 0、控制器7 〇〇、用以 傳送基底之機器人701、 703、及704、及用以傳 送匣410之機器人702。 在由此處理系統處理之前,儲存有一或多個接合的基 底堆疊10 1 (舉例而言,圖1C或2 0 C中所示的基底 )之匣6 0 1及用於儲存分離的基底之匣6 0 2及6 0 3 會設置於預定位置。 在此狀態下,在控制器7 0 0的控制之下,機器人 7 0 1會從匣6 0 1取出一接合的基底堆疊1 〇 1及將接 合的基底堆疊設置於分離裝置100中(S1401)。 接著,在控制器7 0 0的控制之下,分離裝置1 〇 〇會使 用噴射物分離接合的基底堆疊101之第一區(在此情形 中爲週邊部份)(S1402)。在控制器700的控制 之下,機器人7 0 1會從分離裝置1 〇 〇接收接合的基底 堆疊1 0 1及將接合的基底堆疊1 〇 1½存在匣4 1 0中 以致於接合的基底堆疊101的側表面中的溝槽會與匣 410中的分隔部411的遠側端嚙合(S1403)。 控制器7 0 0會決定預定數目的接合基底堆疊1 〇 1 是否已由分離裝置1 0 0處理及儲存於匣4 1 0中( S1404)。假使在步驟S1404中爲否,則重覆步 驟S1401SS1403中的處理。 假使在步驟S 1 4 0 4中爲是,則在控制器7 0 0的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) <請先閲讀背 面之注意事項再本頁, 言 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 8 24 2 5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _____Β7__五、發明說明(69 ) 控制下,機器人7 Ο 2會將儲存有預定數目的接合基底堆 疊1 Ο 1之匣4 1 0浸在第二分離裝置4 0 0的超音波槽 中(S 1 4 0 5 )。 接著,在控制器7 0 0的控制下,第二分離裝置 4 0 0會使用超音.波以分離每一接合的基底堆疊1 〇 1之 第二區(在本情形中爲中央部份)(S1406)。藉由 此處理,每一接合的基底堆疊1 0 1會被完全地分離。 在控制器7 0 0的控制下,機器人7 0 2會從第二分 離裝置4 0 0的超音波槽取出匣4 1 0及將匣4 1 0置於 乾燥爐5 0 0中(S 1 4 0 7 )。接著,在控制器7 0 0 的控制之下,乾燥爐5 0 0會將儲存於匣中的基底乾燥( 5 1 4 0 8 ) ° 在控制器7 0 0的控制之下,機器人7 0 2會從乾燥 爐5 0 0取出匣4 1 0及將匣4 1 0傳送至預定位置( 5 1 4 0 9 )。在控制器700的控制之下,機器人 7 0 3會夾住分離的基底之一(舉例而言,圖1 D中所示 的1 0’)的下表面、從匣中將其取出、及將其儲存在匣 6 0 2中。機器人7 0 4夾住另一分離的基底(舉例而言 ,圖1 Ε中所示的(1 0 ”+ 2 0 )之下表面、將其從匣 410取出、及將其儲存在匣603中(S1410)。 以上述方式分離之二基底之一(舉例而言,圖1 D中 所示的10,),表面上的多孔層會被移除,且使用該基底 作爲形成另一第一基底(舉例而言,圖1 Β中所示的1 〇 )之單晶矽基底11 (圖1Α至1Ε)。另一方面,對於 -J. (請先閱讀背面之注意事項再 裝·! 本頁) 訂- 線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公* ) -72- 522488 A7 B7 五、發明說明(70 ) 另一已分離的基底而言,選擇性地移除表面上的多孔層, 及使用該基底作爲SOI基底(圖1A至1E)。 根據第四實施例,藉由使用超音波以在液體中分離第 二區,則可防止分離時的缺陷。此外,根據第四實施例, 由於多個接合的基底堆疊之第二區會立刻分離,所以,可 以縮短整個處理時間,及改進總工作量。此外,根據第四 實施例,由於第二區會在超音波槽中分離,所以,由第一 區分離處理所產生的灰塵可從基底表面移除。 根據本發明的第二模式,舉例而言,提供裝置及方法 ,以在分離諸如具有分離層之基底等樣品時,防止缺陷。 本發明不限於上述實施例且在本發明的精神及範圍之 內可以產生不同的改變及修改。因此,爲告知公眾本發明 的範圍,提出下述申請專利範圍。 !!-裝·! {請先閱讀背面之注意事項再本頁: 訂· ;線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -73 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 522488 A8 B8 C8 ____ D8 六、申請專利範圍 第8 8 1 1 2 4 8 3號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 民國91年10月9日修正 1.一種處理裝置,用以處理具有分離層之樣品,包 括: 第一分離機構,以在分離層部份地分離樣品並同時留 下預定區的分離層作爲未分離區;及 第二分離機構,是不同於該第一分離機構,用於分離 在樣品的未分離區之分離層的樣品。 2 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中該第一分離 機構具有噴射部份以將流體噴至分離層及使用流體以部份 地分離樣品。 3 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中樣品包括板. 構件’該板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 4 _如申請專利範圍第1項之裝置,其中該第一分離 機構部份地分離樣品並留下實際圓形區作爲未分離區。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 5 ·如申請專利範圍第1項之裝置,其中該第一分離 機構部份地分離樣品並於分離層的實際中央部份留下實際 圓形區作爲未分離區。 6 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中該第一分離 機構包括 驅動機構,用以使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉, 和 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 522488 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 噴射部份,用以將流體噴至分離層’及 於該驅動機構旋轉樣品時,部分地分離樣品。 7 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該驅動機構 會於樣品的部份分離處理初始階段以低速旋轉樣品,接著 以高速旋轉樣品。 8 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該驅動機構 於部份地分離樣品時,逐漸地或逐步地增加樣品的旋轉速 度。 9 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該驅動機構 於部份地分離樣品時改變樣品的旋轉速度。 1 〇 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該噴射部 份於樣品的部份分離處理之初始階段以高壓噴出流體,接 著減少流體壓力。 1 1 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該噴射部· 份會於部份地分離樣品時逐漸地或逐步地減少要噴出的流 體之壓力。 .1 2 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該噴射部 份於部份地分離樣品時改變要噴射的流體之壓力。 1 3 .如申請專利範圍第6項之裝置,其中該噴射部 份於部份地分離樣品時,將流體噴至平面方向上離分離層 的中心預定距離之位置。 1 4 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中未分離區 小於分離層由部份分離處理所分離的區域。 1 5 .如申請專利範圍第1項之裝置,其中,藉由接 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ,裝· 、1T _^· .· 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -2 - 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項之裝置,其中,易碎 層包括多孔層。 1 7 .如申請專利範圍第1 5項之裝置,其中該第一 板構件包括半導體基底。 1 8 ·如申請專利範圍第1 7項之裝置,其中,在半 導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多孔 層以形成該第一板構件。 1 9 .如申請專利範圍第1 8項之裝置,其中非多孔 層包含單晶半導體層。 2 0 · —種處理方法,處理具有分離層的樣品,包括 第一分離步驟,在第一分離條件下於分離層部份地分 離樣品,並同時留下預定區的分離層作爲未分離區;及 第二分離步驟,在不同於第一分離機構條件的第二分 離條件下,分離於樣品的未分離區之分離層的樣品。 2 1 .如申請專利範圍第2 0項之方法,其中第一分 離步驟藉由噴射流體至分離層以部份地分離樣品。 2 2 .如申請專利範圍第2 0項之方法,其中樣品包 括板構件,該板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 2 3 ·如申請專利範圍第2 0項之方法,其中第一分 離步驟包括將樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲未分 離區。 2 4 .如申請專利範圍第2 0項之方法,其中第一分 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ---------孀^-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -3- 522488 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 離步驟包括將樣品部份地分離並在分離層的實際中央部份 留下實際圓形區作爲未分離區。 2 5 .如申請專利範圍第2 0項之方法,其中第一分 離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴射流 體至分離層,以將樣品部分地分離。 2 6 .如申請專利範圍第2 5項之方法,其中,在第 一分離步驟初始階段以低速旋轉樣品,接著以高速旋轉樣 品。 2 7 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟包括逐漸地或逐步地增加樣品的旋轉速度。 2 8 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟包括改變樣品的旋轉速度。 2 9 .如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟包括在初始階段時使用具有高壓的流體,及接著使· 用低壓流體。 3 0 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟逐漸地或逐步地減少要用於分離之流體壓力。 3 1 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟包括改變要用於分離的流體壓力。 3 2 .如申請專利範圍第2 5項之方法,其中第一分 離步驟包括將流體噴至平面方向上離分離層的中心預定距 離之位置。 3 3 .如申請專利範圍第2 〇項之方法,其中未分離 W小在弟一分離步驟中分離層被分離的區域。 本紙張尺度逋用中國國家梂準(CNS ) A4規格(21 Οχ297公釐) ----------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 Ρ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -4- 522488 A8 B8 C8 ______D8 六、申請專利範圍 3 4 .如申請.專利範圍第2 〇項之方法,其中藉由接 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 3 5 ·如申請專利範圍第3 4項之方法,其中易碎層 包括多孔層。 3 6 ·如申請專利範圍第3 4項之方法,其中第一板 構件包括半導體基底。 3 7 .如申請專利範圍第3 6項之方法,其中,在半 導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多孔 層以形成第一板構件。 - 3 8 .如申請專利範圍第3 7項之方法,其中非多孔 層較佳地包含單晶半導體層。 ' 3 9 · —種分離裝置,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: 第一分離機構,用以在分離層部份地分離樣品並留下· 預定區的分離層作爲未分離區;及 第二分離機構,不同於該第一分離機構,用以從預定 方向施加力量至該第一分離機構處理過的樣品之未分離區 以兀全分離樣品。 4 0 ·如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中樣品包 括板構件,該板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 4 1 ·如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中該第一 分離機構將樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲未分離 區。 4 2 .如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中該第一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(21〇Χ297公釐) 一 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 分離機構將樣品部份地分離並於分離層的實際中央部份留 下實際圓形區作爲未.分離區。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 3 ·如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中該第一 分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將流體 噴至分離層,以部分地分離樣品,及 該第二分離機構,會固持樣品不使樣品旋轉並將流體 噴至樣品中由部份分離處理所形成的間隙,以分離餘留在 樣品中的未分離區。 4 4 .如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中該第一 分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將流體 噴至樣品的分離層,‘以部分地分離樣品,及 : 該第二分離機構,會在實際地停止旋轉樣品時,將流 體噴至樣品中由部份分離處理所形成的間隙,以分離餘留 在樣品中的未分離區。 4 5 ·如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中該第二 分離機構會將楔件插入樣品中由部份分離處理所形成的間 隙,以完全地分離樣品。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 6 _如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中由該第 一分離機構處理之後留下的未分離區小於該第一分離機構 所分離的區域。 4 7 .如申請專利範圍第3 9項之裝置,其中藉由接 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 4 8 ·如申請專利範圍第4 7項之裝置,其中易碎層 包括多孔層。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -6 - 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 4 9 ·如申請專利範圍第4 7項之裝置,其中第一板 構件包括半導體基底。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 5 0 ·如申請專利範圍第4 9項之裝置,其中在半導 體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多孔層 以形成第一板構件。 5 1 _如申請專利範圍第5 0項之裝置,其中非多孔 層包含單晶半導體層。 5 2 . —種分離裝置,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: ’ 驅動機構,用以使樣品圍繞著垂直於樣品分離層之軸 旋轉;及 : 噴射部份,用以將流體噴至分離層, 其中,當由該驅動機構旋轉樣品時使用來自該噴射部 份之流體於分離層部份地分離樣品並留下預定區的分離層· 作爲未分離區,及 於實際地停止旋轉樣品時,使用來自該噴射部份之流 體以分離未分離區而完全地分離樣品。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 5 3 .如申請專利範圍第5 2項之裝置,其中樣品包 括板構件,該板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 5 4 .如申請專利範圍第5 2項之裝置,其中在部份 地分離樣品時,留下實際圓形區作爲未分離區。. 5 5 .如申請專利範圍第5 2項之裝置,其中,在部 份地分離樣品時,在分離層的實際中央部份留下實際圓形 區作爲未分離區。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 5 6 ·如申請專利範圍第5 2項之裝置,其中在部份 分離處理之後留下的未分離區小於部份分離處理所分離的 區域。 5 7 ·如申請專利範圍第5 2項之裝置,其中藉由接 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 5 8 ·如申請專利範圍第5 7項之裝置,其中易碎層 包括多孔層。 5 9 ·如申請專利範圍第5 7項之裝置,其中第一板 構件包括半導體基底。 6 〇 .如申請專利範圍第5 9項之裝置,其中在半導 體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多孔層 以形成第一板構件。 6 1 ·如申請專利範圍第6 0項之裝置,其中非多孔 層包含單晶半導體層。 6 2 . —種分離裝置,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: 第一分離機構,用於在分離層部份地分離樣品並留下 預定區的分離層作爲未分離區·;及 第二分離機構,不同於該第一分離機構,用以從預定 方向施加力量至該第一分離機構所執行的分離處理於樣品 中所形成之間隙,以完全分離樣品。 6 3 .如申請專利範圍第6 2項之裝置,其中該第一 分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將流體 噴至分離層以將樣品部份地分離。 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ---------—— (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) *1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -8- 522488 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 6 4 ·如申請專利範圍第6 2項之裝置,其中該第二 分離機構將楔件插入樣品中的間隙以完全地分離樣品。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 6 5 ·如申請專利範圍第6 2項之裝置,又包括 輸送機器人以將該第一分離機構處理過的樣品輸送至 該第二分離機構。 6 6 .如申請專利範圍第6 5項之裝置,又包括 定位機構’用以將樣品相對於該第一分離機構或該第 二分離機構定位。 6 7 ·如申請專利範圍第6 2項之裝置,由該第一分 離機構處理後餘留的未分離區小於該第一分離機構分離的 區域。 6 8 ·如申請專利範圍第6 2項之裝置,其中藉由接 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 6 9 ·如申請專利範圍第6 8項之裝置,其中易碎層· 包括多孔層。 7 0 .如申請專利範圍第6 8項之裝置,其中第一板 構件包括半導體基底。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 7 1 ·如申請專利範圍第7 0項之裝置,其中藉由在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 7 2 .如申請專利範圍第7 1項之裝置,其中非多孔 層包含單晶半導體層。 7 3 . —種分離裝置,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公嫠) -9 - 522488 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 固持機構,用以將在分離層部份 固持並留下預定區的分離層作爲未分 置於實際不動; 分離機構,用以從預定方向施加 固持的樣品之未分離區以完全地分離 7 4 .如申請專利範圍第7 3項 括板構件,板構件具有易碎結構的層 7 5 .如申請專利範圍第7 3項 機構將流體噴至樣品中由部份分離處 完全地分離樣品。 7 6 .如申請專利範圍第7 3項 機構將模件插入樣品中由部份分離處 以完全地分離樣品。 7 7 .如申請專利範圍第7 3項 區小於已分離的區域。 7 8 .如申請專利範圍第7 3項 合具有易碎層之第一板構件至第二板 7 9 .如申請專利範圍第7 8項 包括多孔層。 8 0 .如申請專利範圍第7 8項 構件包括半導體基底。 8 1 .如申請專利範圍第8 0項 地分離之樣品部份地 離區,藉以將樣品設 力量至該固持機構所 樣品。 之裝置 作爲分 之裝置 理所形 其中樣品包 離層。 其中該分離 成的間隙,以 之裝置,其中該分離 理所形成的間隙中, 之裝置,其中未分離 之裝置’其中藉由接 構件以形成樣品。 之裝置,其中易碎層 之裝置,其中第一板 之裝置 體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上 以形成第一板構件。 ’其中在半導 形成非多孔層 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(210X297公釐) 10- 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 8 2 .如申請專利範圍第8 1項之裝置,其中非多孔 層包含單晶半導體層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 8 3 . —種分離方法,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: 第一分離步驟,在第一分離條件下,在分離層部份地 分離樣品並留下預定區的分離層作爲未分離區;及 第二分離步驟,在不同於第一條件的第二條件下完全 分離樣品,其中該第二分離步驟包含從預定方向施加力量 至第一分離步驟中處理過的樣品之未分離區。 8 4 .如申請專利範圍第8 3項之方法,其中樣品包 括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 8 5 ·如申請專利範圍第8 3項之方去,其中第一分 離步驟包括將樣品部份地分離並留下實際圓形區作爲未分 離區。 8 6 .如申請專利範圍第8 3項之方法,其中第一分 離步驟包括將樣品部份地分離並於分離層的實際中央部份 留下實際圓形區作爲未分離區。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 8 7 ·如申請專利範圍第8 3項之方法,其中第一分 離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將流體 噴至分離層,以部分地分離樣品,及 第二分離步驟,包括固持樣品不使樣品旋轉並將流體 噴至樣品中由部份分離處理所形成的間隙,以分離餘留在 樣品中的未分離區。 8 8 ·如申請專利範圍第8 3項之方法,其中第一分 I紙張歧逋用中關家標準(CNS ) ( 21GX297公釐) "" " -11· 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,將流體 噴至樣品的分離層,以部分地分離樣品,及 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第二分離步驟,包括實際地停止旋轉樣品時,將流體 噴至樣品中由部份分離處理所形成的間隙,以分離餘留在 樣品中的未分離區。 8 9 ·如申請專利範圍第8 3項之方法,其中第二分 離步驟包括插入楔件至樣品中由部份分離處理所形成的間 隙,以完全地分離樣品。 9 〇 ·如申請專利範圍第8 3項之方法,其中在第一 分離步驟之後留下的未分離區小於第一分離步驟中所分離 的區域。 9 1 .如申請專利範圍第8 3項之方法,其中藉由接 合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 9 2 ·如申請專利範圍第9 1項之方法,其中易碎層· 包括多孔層。 9 3 .如申請專利範圍第9 1項之方法,其中第一板 構件包括半導體基底。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 9 4 .如申請專利範圍第9 3項之方法,其中在半導 體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多孔層 以形成第一板構件。 9 5 .如申請專利範圍第9 4項之方法,其中非多孔 層較佳地包含單晶半導體層。 9 6 · —種分離方法,用以在分離層分離具有該分離 層之樣品,包括: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) —二^' 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 止動步驟,將在分離層部份地分離之樣品部份地固持 並留下預定區的分離層作爲未分離區,藉以將樣品設置成 實際不動; 分離步驟,從預定方向施加力量至不動的樣品之未分 離區以完全地分離樣品。 9 7 .如申請專利範圍第9 6項之方法,其中樣品包 括板構件,板構件具有易碎結構的層作爲分離層。 9 8 .如申請專利範圍第9 6項之方法,其中分離步 驟包括噴射流體至樣品中由部份分離處理所形成的間_隙, 以完全地分離樣品。 9 9 .如申請專利範圍第9 6項之方法,其中分離步 驟包括插入楔件至樣品中由部份分離處理所形成的間隙中 ,以完全地分離樣品。 1 0 0 .如申請專利範圍第9 6項之方法,其中未分. 離區小於已分離的區域。 1 0 1 ·如申請專利範圍第9 6項之方法,其中藉由 接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 0 2 .如申請專利範圍第1 0 1項之方法,其中易 碎層包括多孔層。 1 0 3 .如申請專利範圍第1 0 1項之方法,其中第 一板構件包括半導體基底。 1 0 4 ·如申請專利範圍第1 0 3項之方法,其中在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) " - -13- 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 0 5 .如申請專利範圍第1 〇 4項之方法,其中非 多孔層包含單晶半導體層。 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 106·—種分離裝置,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 第一分離機構,用以將流體噴至分離層以主要地分離 分離層的第一區,及 第二分離機構,使用振動能量以主要地分離分離層的 第二區, 其中,樣品被該第一及第二分離機構在分離層分離。 1 〇 7 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中樣 品包括板構件,板構件具有易碎結構之層作爲分離層。: 1 0 8 ·如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中第 一區係在分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的中 央之區域。 1 0 9 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中該 第一分離機構在使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴 射流體至分離層,以主要地分離第一區。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 1 0 .如申請專利範圍第1 0 6項之裝置,其中該 裝置又包括支撐機構以在分離處理中支撐該第一及第二分 離機構所處理的樣品,及 該第二分離機構,從該支撐機構接觸樣品之部份供應 振動能量至樣品。 1 1 1 .如申請專利範圍第1 1 0項之裝置,其中該 支撐機構具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -14 - 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 中央部份之部份夾在中間並對該部份施壓以支撐樣品,支 撐表面具有實際圓形。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 1 2 .如申請專利範圍第1 1 1項之裝置,其中第 一區係實際位於支撐表面施壓的區域之外,及 第二區實際上爲支撐表面施壓的區域。 1 1 3 .如申請專利範圍第1 0 6項之裝置,其中該 第二分離機構包括 處理槽,用以處理樣品,及 振動源,用以產生振動能量,及 當該第一分離機構處理的樣品浸在該處理槽中時,該 振動源產生的振動能量會經由該處理槽中的液體供應至樣 品。 1 1 4 _如申請專利範圍第1 1 3項之裝置,其中該 處理槽包括分隔機構以便當樣品由振動能量完全地分離時· 分隔分離的樣品。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 1 5 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中該 第一分離機構主要地首先分離第一區,接著,該第二分離 機構主要地分離第二區。 1 1 6 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中該 第二分離機構主要首先分離第二區,接著,該第一分離機 構主要地分離第一區。 1 1 7 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中由 該第一分離機構執行之分離處理及至少部份由該第二分離 機構執行的分離處理係平行執行。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 1 8 .如申請專利範圍第1 〇 6項之裝置,其中藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 1 1 9 ·如申請專利範圍第1 1 8項之裝置,其中易 碎層包括多孔層。 1 2 0 .如申請專利範圍第1 1 8項之裝置,其中第 一板構件包括半導體基底。 1 2 1 .如申請專利範圍第1 2 0項之裝置,其中在 半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非多 孔層以形成第一板構件。 1 2 2 •如申請專利範圍第1 2 1項之裝置,其中非 多孔層包含單晶半導體層。 12 3. —*種分離裝置’用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 支撐部份,用以支撐樣品; 噴射部份,用以噴射流體至該支撐部份所支撐的樣品 之分離層;及 振動源,用以產生要供應給樣品之振動能量, 其中樣品係由流體及振動能量分離。 1 2 4 •如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中樣 品包括板構件,該板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 1 2 5 •如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中該 支撐部份在樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,支撐樣品 本紙張尺度逋用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ·_^-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) π 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -16 - 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 1 2 6 ·如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,又包括 控制區,用以使該噴射部份噴射流體以由流體主要地 分離第一區分離層及使該振動源產生振動能量以由振動能 量主要地分離第二區分離層。 1 2 7 .如申請專利範圍第1 2 6項之裝置,其中該 控制區控制該噴射部份及該振動源以由流體首先主要地分 離第一區,接著由振動能量主要地分離第二區。 1 2 8 ·如申請專利範圍第1 2 6項之裝置,其中該 控制區控制該噴射部份及該振動源以由振動能量首先主要 地分離第二區及接著由流體主要地分離第一區。 1 2 9 ·如申請專利範圍第1 2 6項之裝置,其中該 控制區控制該噴射部份及該振動源以平行地執行以流體進 行的樣品分離處理及以振動能量進行的至少部份樣品分離 處理。 1 3 0 .如申請專利範圍第1 2 6項之裝置,其中第 一區係分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的中心 〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 3 1 .如申請專利範圍第1 2 6項之裝置,其中該 支擦部份具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的 中央部份之部份夾在中間及對該部份施壓以支撐樣品,支 撐表面具有實際圓形。 1 3 2 ·如申請專利範圍第1 3 1項之裝置,其中第 一區實際位於由支撐表面施壓的區域之外週邊側上,及 第二區實際上爲支撐表面施壓的區域。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -17- 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 3 3 .如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中該 振動源配置於該支撐部份。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 3 4 .如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中該 振動源配置於該支撐部份的遠側端,在該處,支撐部份會 與樣品接觸。 1 3 5 .如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中該 裝置又包括用以處理樣品之處理槽, 爲了使用流體分離樣品,當以該支撐部份支撐樣品時 ,流體會被噴射至樣品的分離層,及 _ 爲了使用振動能量分離樣品,當樣品浸在該處理槽中 時,由該振動源產生的振動能量會經由該處理槽中的液體 供應至樣品。 1 3 6 .如申請專利範圍第1 3 5項之裝置,其中該 處理槽具有分隔構件,當樣品由振動能量完全分離時,用· 以分隔分離的樣品。 1 3 7 .如申請專利範圍第1 3 5項之裝置,又包括 乾燥爐,用以使該處理槽中處理的樣品乾燥。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 3 8 ·如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,又包括 分類機構,用以將分離的樣品分類。 1 3 9 .如申請專利範圍第1 3 5項之裝置,又包括 輸送機構,用以接收來自該支撐部份之樣品及將樣品 輸送至該處理槽。 1 4 0 .如申請專利範圍第1 3 5項之裝置,又包括 輸送機構,用以順序地接收來自支撐部份的眾多樣品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -18- 522488 A8 B8 C8 ___ D8 六、申請專利範圍 、將眾多樣品順序地儲存於一匣中、及將匣置於該處理槽 中。 1 4 1 .如申請專利範圍第1 3 7項之裝置,又包括 輸送機構,用以在該支撐部份、該處理槽與該乾燥爐 之間輸送樣品。 1 4 2 ·如申請專利範圍第1 3 7項之裝置,又包括 輸送機構,用以順序地接收來自該支撐部份的眾多樣 品、將眾多樣品順序地儲存於一匣中、將匣浸於該處理槽 中、及在該處理槽中的處理結束之後自該處理槽接收匣並 將匣輸送至該乾燥爐。 1 4 3 .如申請專利範圍第1 4 2項之裝置,又包括 分類機構,用以在分離的樣品於該乾燥爐中乾燥之後 ,從該乾燥爐中取出分離的樣品及將樣品分類。 1 4 4 .如申請專利範圍第1 2 3項之裝置,其中藉· 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 1 4 5 .如申請專利範圍第1 4 4項之裝置,其中易 碎層包括多孔層。 1 4 6 ·如申請專利範圍第1 4 4項之裝置,其中第 一板構件包括半導體基底。 1 4 7 .如申請專利範圍第1 4 6項之裝置,其中 在半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非 多孔層以形成第一板構件。 1 4 8 .如申請專利範圍第1 4 7項之裝置,其中非 $氏張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) "" " '一 -19- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 .P 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A8 B8 C8 P8 _ . 六、申請專利範圍 多孔層包含單晶半導體層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 4 9 . 一種分離方法,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 第一分離步驟,將流體噴至分離層以主要地分離分離 層的第一區;及 第二分離步驟,使用振動能量以主要地分離分離層的 第二區, 其中,樣品在第一及第二分離步驟中於分離層分離。 1 5 0 ·如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中樣 品包括板構件,該板構件具有易碎結構之層作爲分離層。 1 5 1 .如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中第 一區係在分離層的週邊之區域,而第二區係在分離層的中 央之區域。 1 5 2 ·如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中第· 一分離步驟包括使樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,噴 射流體至分離層,以主要地分離第一區。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 15 3.如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中 第一及第二分離步驟包括以相同的支撐部份支撐樣品,及 第二分離步驟包括從接觸樣品的支撐部份之部份處供 應振動能量給樣品。 1 5 4 .如申請專利範圍第1 5 3項之方法,其中支 撐部份具有相面對的支撐表面對以從二側將接近樣品的中 央部份之部份夾在中間並對該部份施壓以支撐樣品,支撐 表面具有實際圓形。 本紙張尺度適用中國國家標準( CNS ) A4規格(210X297公釐) • 20 - 522488 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 5 5 ·如申請專利範圍第1 5 4項之方法,其中第 一區係實際位於支撐表面施壓的區域之外週圍側上,及 第二區實際上爲支撐表面施壓的區域。 1 5 6 ·如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中第 二分離步驟包括將第一分離步驟中處理的樣品浸於處理槽 中並經由處理槽中的液體將振動能量供應給樣品。 1 5 7 .如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中首 先執行第一分離步驟,接著執行第二分離步驟。 1 5 8 .如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中首 先執行第二分離步驟,接著,執行第一分離步驟。 1 5 9 .如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中平 行執行第一和第二分離步驟中的至少部份。 160.—種分離方法,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 分離步驟,噴射流體至樣品的分離層及同時地供應振 動能量至樣品以分離樣品。 1 6 1 .如申請專利範圍第1 6 0項之方法,其中分 離步驟包括在使樣品圍繞著垂直於分離層的軸旋轉時,分 離樣品。 1 6 2 . —種分離方法,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 分離步驟,噴射流體至樣品的分離層及同時地供應振 動能量至接近樣品的中央部份之部份處以分離:樣品。 163.如申請專利範圍第162項之當使樣 _________ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 w -21 - 522488 A8 B8 C8 _ D8 六、申請專利範圍 品圍繞著垂直於分離層的軸時旋轉,分離樣品。 1 6 4 · —種分離方法,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 分離步驟,噴射流體至樣品的分離層及同時地供應振 動能量至樣品及注入樣品的流體,以分離樣品。 1 6 5 ·如申請專利範圍第1 6 4項之方法,其中分 離步驟包括樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,分離樣品 〇 1 6 6 . —種分離方法,用以在分離層分離具有該分 離層之樣品,包括: 支撐樣品的預定部份時噴射流體至樣品的分離層及:同 時地供應振動能量至樣品的預定部份以分離樣品。 1 6 7 .如申請專利範圍第1 6 6項之方法,其中分 離步驟包括樣品圍繞垂直於分離層的軸旋轉時,分離樣品· 〇 1 6 8 .如申請專利範圍第1 4 9項之方法,其中藉 由接合具有易碎層之第一板構件至第二板構件以形成樣品 〇 1 6 9 ·如申請專利範圍第1 6 8項之方法,其中易 碎層包括多孔層。 1 7 0 ·如申請專利範圍第1 6 8項之方去,其中第 一板構件較佳地包括半導體基底。 1 7 1 _如申請專利範圍第1 7 0項之方法,其中地 在半導體基底的一表面上形成多孔層及在多孔層上形成非 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) "" 一 -22 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一裝· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522488 A8 B8 C8 D8 、申請專利乾圍 多孔層以形成第一板構件。 1 7 2 .如申請專利範圍第1 7 1項之方法,其中非 層 豊 導 半 晶 單 含 包 層 孔 多 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)
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