TW514897B - Apparatus for generating seek direction detecting signal for an optical pickup - Google Patents

Description

514897 五、發明說明（1) 發明背景 1 ·發明範圍 本發明有關一種為光學拾光器產生定向檢測信號之裝 置，其目的是在一紋間表面/槽紋結構式隨機存取記憶體 (RAM)型光學碟片中，測定在光學碟片上一聚焦光點的中 心相對一碟片磁軌中心的相對位置，本發明尤其有關一種 利用一主光束與一在徑向上具有預定像差之副光束，為一 光學拾光器產生定向檢測信號之裝置。 2 ·相關技術說明 通常，諸如RAM碟片之光學碟片，被用作記錄/ 資訊的記錄媒體，而光學拾光器裝置則以光學方式記錄 再生光學碟片的資訊，此種目的之光學拾光器裝置包括一 光源，用以發射雷射光；一物鏡’將光源發射的光匯 一光學碟片上，以於光學碟片上形成一光點；一光學 =收從光學碟片反射的光線並檢測一資訊信號與—誤 差#唬；及一信號處理部，用以處理檢測到的信號。、 請參照圖1及圖2，為光學拾光器產生定;檢' 之習式，置，包括一同時照亮一磁軌及其鄰接磁軌以 /再生資訊的光柵（圖中未示），一光學檢 一^策 處理部。 久仏説 請參照圖1，光學碟片工上形成具有紋 槽紋（G)結構之螺旋磁軌’紋間表面（ ^ )與 形成多數資訊記號i a。在光學 己J:(G)上則 時’由光柵發散的光束被聚焦在碟片資訊 ^mm 9003039.ptd 第6頁 514897 五、發明說明（2) "" 疆 光束bm被聚焦在磁軌上用以記錄/再生資訊記號i a外， =有在主光束BM之前或之後達一預定時間的第一與第二副 光束BS1、BS2被聚焦在光學碟片1的磁軌上，但第一及第二 剎光束BS1、BS2在光學碟片1之徑向上偏離主光束B ± J / 2 磁軌節距。 該光學檢測器包括：一主光學檢測器23與第一及第二 副光學檢測器2b、2c，前者用以接收從光學碟片丄反射的 主光束BM，後二者則分別接收第一與第二副光束，此處， 主光學檢測器2a包括二個在光學碟片1徑向上彼此分隔之 板體A、B，彼此獨立地接收光線，此外，第一及第二副光 學檢測器2b、2c分別包括二個在光學碟片i徑向上彼此分 隔之板體C、D及E、F。 該信號處理部包括複數個微分放大器3、4、6，用 以微分與放大被主光學檢測器2a與第一及第二光學副檢測 器2b、2c檢測到的信號，以檢出一磁執誤差信號（tes)與 一磁軌父叉信號（TCS); —軌跡控制單元7，用以接收檢 出的磁軌誤差信號（TES)與磁執交又信號（TCS)，並輸出一 軌跡控制信號；及一物鏡驅動部8，用以根據輸入^軌跡 控制信號致動一物鏡。 磁執誤差信號（TES)使用從主光學檢測器2a輸出 挽信號Md，磁執交叉信號（TCS)使用分別從第一及第二 學副檢測器2b、2c輸出的推挽信號sld、、的差信號s二一 及前述之推挽信號Md，此處，由於第一及第二副光束1 2d Bsz之位置偏離主光束βΜ達± 1 / 2磁執節距，且推挽传^ $

514897 五、發明說明（3) '—- id、&相對推挽信號Md有± 9 0。之相差，所以可使用相差 檢出磁軌交叉信號。 為光學拾光器產生定向檢測信號之習式裝置，如上述 ^構者，其優點在於可使用三種光束相當簡單地檢出磁軌 父又信號，但其問題在於，由於第一與第二副光束的位置 係在主光束BM之前與之後，若使用RAM型光學碟片時，鄰 接的磁軌信號上會發生交又消磁。 發明概要

為了解決上述問題，本發明目的之一在於提供一種為 光學拾光器產生定向檢測信號之裝置，此種裝置利用一主 光束與一在徑向上具有預定像差之副光束，可以在一紋間 表面/槽紋結構式隨機存取記憶體（RAM)型光學碟 測定在光學碟片上一$焦'光點$巾心相對一磁 的相對位置。 T 因此， 光器產生定 可將一入射 上聚焦成至 片反射之光 測到的信號 射光束分成 為了達 向檢測 光束分 少二個 束；及 ;此裝 至少二 片之磁 成上述目 信號之裝 成至少二 置的特徵 道光束， 軌方向上 至少一個具有光 束點之光學像差方向為光學 於一光學碟 一主束點與 置；此裝置 道光束，以 束點；一光學檢測器 一信號處理部，可處 在於：（1 ) 包括一主光 ’聚焦成至 學像差之副 碟片之徑向 提供一 包括一 便可在 ’可接 理由光 該分光 束與一 少二個束點，;(2 ) 種為光學拎 分光單元， 一光學碟片 收從光學硪 學檢測器檢 早元將一入 副光束，β 束點，包拉 而且可使刻 該光學檢昶

514897 五、發明說明（4) 器包括一第一光學檢測器， 收從光學碟片反射之主光束 轉換成電氣信號；及一第二 碟片反射之副光束，並將接 氣#號，及（3 )該信號處理 從第一光學檢測器輪出的信 第二信號處理部，可從第二 定向檢測信號。

向安排的第一與第二内光接 第二内光接收部外侧的第一 號處理部係從第一與第二外 内光接收部檢測到的信號， 此外，為了達成上述目 光器產生定向檢測信號之裝 可將一入射光束分成至少二 上聚焦成至少二個束點；一 片反射之光束；及一信號處 測到的信號，此裝置的特徵 射光束分成至少二道光束， 於一光學碟片之磁軌方向上 一主束點與至少一個具有光 元可使副束點之光學像差與 光學檢測器包括一第一光學 其具有複數個光接收部用以接 ’並將接收光束的各部份分別 光學檢測器，用以接收從光學 收光束的各部份分別轉換成電 部包括一第一信號處理部，可 號檢出一磁軌誤差信號；及一 光學檢測器檢測的信號產生一 較佳包括一對對應光學碟片徑 收部’及一對分別置於第一與 與第二外光接收部；而第二信 光接收部，以及從第一與第二 產生一定向檢測信號。 的’本發明提供一種為光學拾 置’此裝置包括一分光單元， 道光束’以便可在一光學碟片 光學檢測器，可接收從光學碟 理部，可處理由光學檢測器檢 在於：（1)該分光單元將一入 包括一主光束與一副光束，以 ，聚焦成至少二個束點，包括 學像差之副束點，且該分光單 光學碟片之徑向相同；（2 )該 檢測器’其具有複數個光接收

五、發明說明（5) 部用以接收從光學碟片反射之主 部份分別轉換成電氣信號；及束與光束的各 上分成三㈣份?=有收;四在;=!=二線方向 =切向上:成;個部份，==之Ϊ 成電氣信號；及⑺該信號處理部= 及-第二信號處理部，可將差信號； 微:=生=二:i第六光接收部輸出的信號和 施例可附圖所作的較佳實 較佳實施例說明 裝置ΐΐίϊ!，其中顯示使用本發明定向檢測信號產生 裝置之先子杞光器裝置，此光學拾光器裝置包括：一光源 =、-光徑變更裝置，彳變更一入射光束之移動路徑、二 物鏡21，可匯聚入射光束；及一定向檢測信號產生裝置， ，定向檢測信號產生裝置包括一分光單元，位於光源丨丨與 光學碟片1之間；一光學檢測器，可接收從光學碟片j反 射的光束；及一信號處理部，可處理檢測到的光束。 為了使記錄容量大於15GB的光學碟片1具有增進的記 錄容量，本發明中分別使用可發射光波長約41〇nm的光源 1 9003039.ptd 第10頁 514897

與數值孔徑等於或大於〇· 6的物鏡，作為光源1 1與物鏡2l ’從光源11發射的發散光通過一準直透鏡，並被匯聚為 一準直光束，光徑變更裝置設於光源n與物鏡21間的光^ 上，以變更入射光束的移動路徑，亦即，來自光源u的^ 射光束被導向物鏡21 ,而來自物鏡21的入射光束則被 光學檢測器，較佳是，光徑變更裝置包括一光束分離器i ’依預定比率將入射光束分割，讓入射光束的某些部份 過，並反射其餘部份，藉此變更入射光束的路徑。 通

從光源11發射的光束被分光單元發散成至少二道光 ，一主光束1及一副光束11，並形成一主束點SP及 預定光學像差，諸如—形成的副束點sp-有-述之：片i放】ΐ定位而無偏斜時，為了形成如上所 光單元較佳設一τ息光：=學像差的副束麟-，分 階衍射光束的主光束與一丄：便將入射先束分成零 光束11預定的像差，以使；：击光束的副光束，並給與副

束I則無任何像差，由可有預定的像差而主光 Π光轴相對主光束的光軸=形像差，所以所形成的副光束 相對光學碟片i之徑向R…頃斜，且副光束11移動時，係 上形成副束點SPsub，為了H二預定角度，並在光學碟片1 ，該全息光學元件1 5具右、刎光束如上所述之彗形像差 /、有一預定的全息圖案。

514897 五、發明說明（7) 透過分光單元的設計，可在主束點SPmain後方的副束點 SPsub之外，形成另一位於主束點前方的副束點（圖中 未示），此外，透過分光單元的設計，可形成一對副束點 SPsub，其中之一在主束點SPmain前方，另一則在主束點 後方。 物鏡21將全息光學元件15發散的主光束I與副光束II 匯聚，並將主光束I與副光束II聚焦在光學碟片1上，此 處’田彳光束II與主光束I係聚焦在相同的磁軌上。然而， 副光束II有一在徑向R上的像差，是由前述之全息光學元 件1 5產生的。 從光學碟片1反射的主光束I與副光束II於通過物鏡 21與光束分離器17後，被匯聚透鏡23匯聚並被光學檢測器 接收，光學檢測器包括一第一光學檢測器25，用以接收主 光束I，及一第二光學檢測器27或27，，用以接收副光束π ，请參照圖5 ’第一光學檢測器2 5有複數個接收部a、Β、 C及D，用以接收主光束I，並將各光學信號分別轉換成電 氣信號。 请參照圖6，根據第二光學檢測器27之一實施例，其 目的=為了接收副光束丨丨與轉換光學信號成電氣信號，^ 1學檢測器27包括四個接收部’其安排方㈣’對應光學 碟二1之产向R，用以分別執行光學轉換，冑用此種設計的 Ϊ : ί I使用_型光學碟片作為槽紋/紋間表面結構 二钭。二1s己錄媒體時’即使RAM型光學碟片上有徑向 爲斜’亦可檢測到與無徑向偏斜時檢測到的相差信號相類

五、發明說明（8) $的信號，。為此目的，第二光學檢測器2 7有一對第一與 立二内光接收部P2、PS ;及一對位於第一與第二内光接收 、Pa外側的第一與第二外光接收部Ρι、p4 ;此處，為了 產生一定向檢測信號，第一與第二内光接收部p2、p3的寬 f較小於在第二光學檢測器27上聚焦之入射光束的束點半 =，更佳是，第一與第二内光接收部p2、p3的寬度是第二 “學檢測器27上聚焦入射光束束點半徑的〇·2至0.8倍。 音請參照圖5至圖7，信號處理部包括一第一信號處理 ’可根據第一光學檢測器25輸出的信號來檢出一磁執 =差信號；並包括一第二信號處理部4〇，可根據第二光學 柳器2 7檢測的信號，產生一定向檢測信號。 ❿ 與請參照圖5，第一信號處理部3 0加總及微分從第一光 測器四個光接收部輸出的電氣信號，並輸出一磁軌誤 一仏號（TES) ’為了執行此功能，第一信號處理部3〇包括 二加法放大器31，可將二個在方向7，上（對應圖4所示光學 二片切線方向Τ)並列之光接收部a、D所檢測的信號加總； =加法放大器33，可將二個光接收部B、c所檢測的信號加 二’及一微分放大器35，可微分與放大二個加法放大器31 ^3輸出的信號，。亦即，第一信號處理部3〇使用主光束 輸出^推挽信號來輸出磁軌誤差信號。 咕參照圖6，根據本發明一實施例之第二信號處理部 入二^ f 一微分放大器41 ’可微分從第二光學檢測器2 7輸 ⑷“唬，並可輸出一磁軌交叉信號（tcs)，當第一外光 邛匕與第一内光接收部6之輸出信號和為、讲3)時，且

514897 五、發明說明（9) 第一内光接收部己與第二外光接收部匕之輸出信號和為S (m^時，微分放大器41可將信號S(PUP3)與信號S(mp4)微分， 並輸出磁執交叉信號（TCS)，此處，使用第二信號處理部 4〇輸出的磁軌交叉信號（TCS)及前述之磁軌誤差信號（TES) 間的相差’可為一光學拾光器產生一定向檢測信號。 請參照圖7，根據本發明另一實施例之第二信號處理 部50 ’包括：第一及第二微分放大器51、53，可微分從第 一光學檢測器27輸入的信號；一增益調整單元55，可調整 第一及第二微分放大器51、53之輸出信號的增益；及一加 法放大器5 7 ’可加總調整後的信號並輸出一磁軌交叉信號 (TCS)，亦即，當第一與第二外光接收部己、匕之輸出信號 為spi與SP4，而第一與第二内光接收部p2、p3之輸出信號為 SP2與SP3時，第一微分放大器5 1微分信號沪與Sp4，並輸出 4號S(pi_p4);而第二微分放大器53微分信號SP2與SP3，並 輸出一 k说•，增益調整單元55將第二微分放大器53 輸出的信號S(P3_P2)乘以一預定增益係數κ，並輸出一信號

KxS(p3_P2) •，加法放大器57總加信號&卜P4)與信號KxS(P3_P2)， 並輸出一磁軌交叉信號（TCS)，因此，使用加法放大器57 輸出的磁軌交叉信號（TCS)及第一信號處理部3〇輸出的磁 軌誤差信號（TES)間的相差，可產生一定向檢測信號。 根據上述各實施例所顯示之第二信號處理部結構，僅 係副束點SPSUB之位置，如圖4所示情況時的範例，因此， S主束點前方有副束點存在時，或當有一對副束點存在並 分別位於一主束點的前方與後方時，或當副束點之像差方

IHH 9003039.ptd 第14頁 514897 五、發明說明（10) —-- 向改變時’可倒轉第二信號處理部輸出之信號的相位，由 於此種倒相可藉變更微分放大器的輸入端或使用一倒相器 而加以校正，所以略去其詳細說明。 >現在請參照圖8至圖1 2，以下將說明根據本發明一 實施例為光學拾光器產生定向檢測信號之裝置的操作愔 況。 、

、在圖8至圖1 2中，橫轴用光學碟片之磁轨節距（Tp) 代表磁軌位置，縱軸代表在各磁軌位置之輸出信號的大 ^ j此處，磁軌節距（Τρ)是指光學碟片上用於記錄或再生 信號之紋間表面/槽紋式結構中，一紋間表面之中心與一 相鄰槽紋之中心間的距離，或一槽紋之中心與一相鄰紋間 表面之中心間的距離，圖表中沿橫轴（χ轴）的數字1、2、 3......指示對應磁軌節距（Τρ)1倍、2倍、3倍......的距離， 亦即，在橫軸中，當〇、2、4、6指示的各點為各槽紋的中 心時，1、3、5指示的各點則為各紋間表面的中心。 圖8及圖9分別顯示各束點在偏離磁執狀態，且副光 束II在徑向上的像差為〇· 5度時，第二光學檢測器27之第 一及第二内光接收部&、Pa之輸出信號心、&與第一及第 二外光接收部、P4之輸出信號SP1、SP4的波形。

圖1 0顯示位於圖7中點A、B之推挽信號s(pi p4)、s (P3-P2)之波形，與束點在偏離磁軌狀態時第二光學檢測器輸 出的推挽信號Spp之波形，請看圖丨〇，由於副光束在光學碟 ^之徑向上有-預定像差’⑼以推挽信號Sm p4)與s(p3 p2)在 各磁軌中心，亦即，在橫軸之點i、2、3……顯示最大差

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，，此外’當信號s(P1刊與s(p3_p2)經過微分時，其結果 11所示的磁軌交又信號sTC ;同時可以看出，磁軌交叉信 STC相對推挽信號SPP有-9G。《相差，此處 ^ 可根據徑向上給予副光束的像差的方向加以倒轉，而= 的大小則根據副光束之徑向偏斜，隨像差值而異。 〜 圖1 2顯示一磁軌交叉信號sTc與一磁軌誤差信號Ste在 束點偏離磁軌狀態，且副光束在徑向上的像差為1〇度時 的波形’㈣’這些波形顯示光學拾光器之數值孔徑為〇 65、光源波長為40〇nm、紋間表面與槽紋之磁軌寬度為.

〇.3?mm，且副光束相對記錄表面具有徑向偏斜〇5度之 差時的信號值。 請看圖1 2，從其中可看出在橫軸之各點i、2、3··· …處，信號STC為峰值，而信號STE之值則為〇，由於二信號 間有一相差，所以可產生一信號；執行定向操作時，亦即 ，將雷射束點移至一目標磁軌時，檢測束點相對錄有所要 資訊之磁軌的相對位置與束點之移動方向時，均可使用此 信號。

請參照圖1 3，根據本發明另一實施例之第二光學檢 測器2 7 ，係為了接收圖3所示的副光束π，並將接收的光 學信號轉換成電氣信號，此第二光學檢測器27，有六個光 接收部；形成此六個光接收部時，係在對應光學碟片丨徑 向R之方向R’上，將第二光學檢測器27,分成二個部份， 再於對應圖4所示切線方向τ之方向τ，，將第二光學檢測 器27’分成三個部份，使用此種設計的目的，是為了使用

514897 五、發明說明（12) RAM型光學碟片作為槽紋/紋間表面結構式可記錄光學記 錄媒體時，即使RAM型光學碟片上有徑向偏斜，亦可檢測 到與無徑向偏斜時檢測到的相差信號相類似的信號，為此 目的，第二光學檢測器27,包括在方向τ，上分成三部份的 第:第一及第二光接收部Ριι、P12、P13，及在方向T，上 分成三部#，並於方向R，上分別與第一、第二及第三光接 收部Pu、P1Z、匕3鄰接的第四、第五及第六光接收部p2i、p 22、，在此情況時，上述第二信號處理部包括一微分放 〇器61，肖以微分從第二光學檢測器27，輸入的信號並輸 出一磁軌交叉信號（TCS)，如圖13所示，當第一、第三及 Γ光；：=、Pl3、P22輸出之信號…一)：而 第一第四及第六光接收部Pi2 A A輸出之信號和為§ (咖ΓΓ出磁微拙分^放大1161微分信號8(仙仙咖與3⑽⑽⑽） 波乂又信號(TCS);此磁軌交又信號(TCS)之 器心耠ί::不之信號STC相同’此處，制微分放大 “磁= t父又信號（Tcs)與第一信號處理部30輸出 (見圖5)間的相差，可產生-光學碟片之 檢測LV4:示二磁轨交又信號’是如上述使用第二光學 變量的磁軌交叉信號亦即 之徑向偏斜：〇置度相時對光學碟片有一徑向偏斜分量而主光束 的大小，請看圖u，λ軌中父可叉以\號現在不根同/向偏斜值下 攸，、〒了以發現，根據徑向偏斜值的

9003039.ptd 第17頁 11^ 五、發明說明 轨交又信號其大小呈給a 4至線性變化 廟1 5夕展|主π _ ^ ,u 磁 圖1 5之圖表顧+ ± 出之切線；r向偏斜變量所示第二信號處理部輸 中可以發現，當光學雄y 、軌交叉信號，請看圖15，從其 度内時，所產生的磁：2切線方向之偏斜度在土0.5。 斜度影響。 乂又“號通常不受切線方向上的偏 使用本發明時，士 光學蹀Η μ取隹t田於在紋間表面/槽紋結構式之RAM变 in 的束點中心，其相對-碟片磁執中心的相 之5,、>，可用位於相同磁軌内的主光束與徑向上具有像差 4光束加以識別，所以可從根本解決習用技術中因使用 第一與第二副光束而發生交又消磁的問題；此外，由於主 光束與副光束係位於同一直線上，所以具有可高速存取之 優點。 ------ 圖式簡單說明 1^簡要 圖1為一概要圖，顯示由習4 片上聚焦的光點； •員丁由$式光學拾光器在一光學碟 號之概要圖’顯示為光學拾光器產生定向檢測信 本發=3一為實施光學拾光器裝置之光學配置圖，其中係使用 赞月實施例之定向檢測信號產生 圖4為一概教願，酿一各 ^ , 讣‘及副束點二圖帛不在一光學碟片上形成的主束點 sub , 學檢=構概Π理發明-實施例之第-光 號處理部； 先予檢測器輸出信號之第一信 學檢概ΐ: ’顯示根據本發明-實施例之第二光 镜=卩:實=理第二光學檢測器輸出信號之第二信 之另圖ίί;概要圖，顯示根據本發明之第二信號處理部 圖8顯示圖7所示第二光學檢 接收部於束點偏離磁軌狀離拉 “ 及第一内光 執狀μ時輸出的信號波形； Μ ί : ·ί 7所示第二光學檢測器之第-及第1光 接收=點偏離磁軌狀態時輸出的信號波形；第-外先 圖^ ◦顯示在Α、Β點之推挽信號波形 學點偏離磁軌狀態時的推挽信號波i ，、’、不在束點偏離磁軌狀態時的磁軌交又信號波

第19頁 514897 圖式簡單說明 形； 圖1 2顯示在束點偏離磁軌狀態時的磁執交叉信號與 磁軌誤差信號波形； 圖1 3為一概要圖，顯示根據本發明另一實施例之第 二光學檢測器結構，及處理第二光學檢測器輸出信號之第 二信號處理部之另一實施例； 圖1 4之圖表，係根據圖1 3所示第二信號處理部輸 出之徑向偏斜變量而顯示的磁執交叉信號；及 圖1 5之圖表，係根據圖1 3所示第二信號處理部輸 出之切線方向偏斜變量而顯示的磁軌交叉信號。 元件圖號對照表 1光學碟片 1 a資訊記號 11光源 13準直透鏡 1 5全息光學元件 1 7光束分離器 2a主光學檢測器 2b第一副光學檢測器 2c第二副光學檢測器 2 1物鏡 23匯聚透鏡 2 5第一光學檢測器 27第二光學檢測器

9003039.ptd 第20頁 514897 圖式簡單說明 27’第二光學檢測器 3微分放大器 3 0第一信號處理部 3 1加法放大器 3 3加法放大Is 3 5微分放大器 4微分放大器 40第二信號處理部 41微分放大器 5微分放大器 5 0第二信號處理部 5 1第一微分放大器 53第二微分放大器 55增益調整單元 5 7加法放大器 6微分放大器 6 1微分放大器 7軌跡控制器 8物鏡驅動部 A、B主光學檢測器板體 C、D第一副光學檢測器板體 E、F第二副光學檢測器板體 A、B、C、D第一光學檢測器之接收部（此四個標號與 A、B主光學檢測器板體及

9003039.ptd 第21頁 514897 圖式簡單說明 C、D第一副光學檢測器板體的標號重覆） bm主光束

Bsi第一副光束 BS2第二副光束 G槽紋（圖中無此標號） K增益係數 L紋間表面（圖中無此標號）

Md推挽信號 I主光束 11副光束

Pi、P4第一、第二外光接收部 P2、P3第一、第二内光接收部

Pu第一光接收部 P12第二光接收部 P13第三光接收部 P21第四光接收部 P22第五光接收部

Pm第六光接收部 R光學碟片徑向 R’對應光學碟片徑向之方向 sld推挽信號 s2d推挽信號 sld-s2d差信號 SP1、SP4第一、第二外光接收部之輸出信號

9003039.ptd 第22頁 514897 圖式簡單說明 sP2、sP3第一、第二内光接收部之輸出信號 S(P卜P4)第一微分放大器51之輸出信號 S(P3-P2)第二微分放大器53之輸出信號 S(P11+P13+P22)和信號（圖中無此標號） S(P12+P21+P23)和信號（圖中無此標號）

Spp推挽信號 SK磁執交叉信號 STE磁軌誤差信號 SRt (圖1 4中出現，但文中未用到此標號） STt (圖1 5中出現，但文中未用到此標號） SPmaiii主束點 SPsub副束點 T光學碟片之切線方向 τ’對應光學碟片切線方向之方向 Τ ρ磁執節距 TCS磁軌交叉信號 TES磁執誤差信號

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Claims (1)

1. 514897 六、申請專利範圍 1. 一種為光 光單元、 可將一入 上至少可 學碟片反 測器檢測 該分 學拾光器 一光學檢 射光束分 有二個聚 射之光束 的信號； 光單元將 產生定向 測器、及 成至少二 焦的束點 ;而該信 其特徵在 檢測信號 一信號處 之裝置，包括一分 理部；該分光單元 以便在一光學碟片 檢测器可接收從光 可處理由該光學檢 少二道光束，包括 在一光學碟片之磁執方向上 ，包括一主束點與至少一個 副束點之光學像差方向可為 道光束， ，該光學 號處理部 於： 入射光束分成至 主光束與一副光束，以便 焦的束點 點；且該 ，至少可 具光學像 光學碟片 該光 器；第一 學碟片反 換成電氣 之副光束 號；以及 有二個聚 差之副束 之徑向； 學檢測器 光學檢測 射之主光 信號；第 ，並將接 包括第一光學檢測器與第二光學檢測 器具有複數個光接收部，可 束，並將接收之光束的各部份分別轉 一光學檢測器可接收從光學碟片反射 收之光束的各部份分別轉換成電氣信 該信號處理部包括第一信號處理部與第二信號處理 部；第一信號處理部可從第一光學檢測器輪出的信號檢 ，一磁執誤差信號，第二信號處理部可從第二光學檢測 器檢測出的信號產生一定向檢測信號。 請專利範圍第1項所述之裝置，其中該第二光學檢 測器包括一對對應光學碟片徑向之方向安排的第一與第 一内光接收部，與一對分別位於第一與第二内光接收部

   M4897 、申请專利範圍 外侧 部係 出的 3.如申 光接 半徑 4·如申 光接 直徑 5 ·如申 中該 收部 一内 4)時 微分 交又 的相 6 ·如申 中， 而第 第二 出一 的第一與第二外 從第一與第二外 k號，產生一定 請專利範圍第2 收部的寬度，小 〇 請專利範圍第3 收部的寬度總和 的〇· 2至〇· 8倍。 請專利範圍第2 第二信號處理部 與第二内光接收 光接收部與第二 ’該微分放大器 ’並輸出一磁軌 該第二信號處理 信號，與該第一 差’產生一定向 請專利範圍第2 當第一與第二外 一與第二内光接 信號處理部包括 一第一微分放大 信號S(P卜P4); 至第4 包括一 部之輪 外光接 可將信 交叉信 部可使 信號處 檢測信 至第4 光接收 收部輸 光接收部；以及，該第二信號處理 光接收部與第一與第二光接收部檢 向檢測信號。 項所述之裝置，其中該第一與第二 於在光學碟片上聚焦之入射束點之 項所述之裝置，其中該第一與第二 ’是在光學碟片上聚焦之入射束點 項中任一項所述之裝置，其 微分放大器；當第一外光接 出信號和為S(P1+P3)，且第 收部之輸出信號和為S(P2 + P 號S(Pi+p3)與信號s(p2 + p4) 說；以及 用該微分放大器輸出的磁軌 理部輪出之磁軌誤差信號間 號。 ，中佐一項所述之裝置，其 =輪出的信號為SP1與3[>4， 的信號為SP2與SP3時，該 器 用以Y 做刀信號SP1與SP4，並輸

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   一第二微分放大器，用以微分信號SP2與SP3，並輪 出一信號S(P3-P2); 一增盈調整單元，可將第二微分放大器輸出之信號 乘以一預定增益係數κ，並可輸出一信號KxS (p3—p2); 及 一加法放大器，可總加信號S(P1—p4)與信號KxS(p3 -P2)，並輸出一磁執交叉信號；及

   其中，該第二信號處理部可使用該加法放大器輸出 的磁軌交叉信號，與該第一信號處理部輸出之磁軌誤差 信號間的相差，產生一定向檢測信號。 7· —種為光學拾光器產生定向檢測信號之裝置，包括一分 光單元、一光學檢測器、及一信號處理部；該分光單元 可將一入射光束分成至少二道光束，以便在一光學碟片 上至少可有一個聚焦的束點；該光學檢測器可接收從光 學碟片反射之光束，而該信號處理部可處理由該光學檢 測器檢測的信號；其特徵在於：

   該分光單元將一入射光束分成至少二道光束，包括 一主光束與一副光束，以便在一光學碟片之磁軌方向上 ，至少可有二個聚焦的束點，包括一主束點與至少一個 具光學像差之副束點；且該副束點之光學像差方向可為 光學碟片之徑向； 該光學檢測器包括第一光學檢測器與第二光學檢測 器；第一光學檢測器具有複數個光接收部，可接收從光 學碟片反射之主光束，並將接收之光束的各部份分別轉

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   換成電氣信號；第二光學檢測器具有第一、 光接收部，其係在對應光學碟片之切線: ς ::方：具：第四、第五及第六光接收部i:::; 線方向之方向上分成三個部份，並在對應徑向之方向 鐵刀別鄰接第一、第二及第三光接收部，用以接收從 =予碟片反射之副光束，並將接收之光束的各部份分別 #換成電氣信號；及

   立 該信號處理部包括第一信號處理部及第二信號處理 部；第一信號處理部可從第一光學檢測器輸出的信號檢 出一磁軌誤差信號；第二信號處理部可將第一、第三及 第五光接收部輸出的信號和，與第二、第四及第六光接 收部輪出的信號和微分，以產生一定向檢測信號。

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