TW513578B - Tablet with short testing function and method of measuring - Google Patents

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J 丄：)：）/δ 五、發明說明（1) 5 - 1發明領域： 方法與可測試短路的數 天線陣列之各導線間是 本發明是有關於測試數位板的 位板’特別是有關於可以測試形成 否有發生短路的數位板與測試方法

5 - 2發明背景： 現有手寫輸入裝置至少 (wireless)。使用者在數位 作，就如同使用傳統的紙筆 無線筆所傳輸而來的訊號， 用的工作模式。 包含數位板（t a b 1 e t )與無線筆 板上移動無線筆輸入訊息的動 一般。而數位板是用來接收自 藉以判斷無線筆的位置與被使

一 白知技術之數位板的基本構造如第一 a圖與第一 b圖所 示般丄具有位於基板n的處理裝置1 2、多數條導線丨3以及 ，位令點1 4。其中，任一條導線1 3皆一端電性連接至處理 裝置而另一端電性連接至電位零點1 4，並且佈局的方式 系使侍這些導線1 3相互分離但形成一天線陣列，而處理裝 $ 1 2與電位零點1 4則通常位於基板1 1的邊緣。在此，電位 ♦ ’點1 4的作用是讓各條導線1 3有相同的電位，避免處理裝 ϊ 1 26析各導線丨3所接收到來自無線比之訊號時，發生誤 I ° t然’由於這些導線1 3 (或說是天線陣列）必須能判斷

第5頁 513578 五、發明說明（2) 無線筆之位置，這些導線1 3不能僅沿平面直角座標之X方 向延展或僅沿Y方向延展。再者，不只基板11往往是多重 電路板以提供不同導線1 3轉還的空間，而且這些導線工3的 佈局方式（或說夭線陣列的佈局方式）也有許多種不同的變 化。在此，第--A圖與第一 B圖僅顯示一種可能的佈局方式 :由上下兩層分別測量X方向與Y方向訊號之佈局疊合而成 ，當然上下兩層的處理裝置1 2是相同的而且電位零點丨2是 等電位的。

顯然地，如果不同導線1 3之間發生接觸短路，而使得 電信號在這些導線1 3的傳遞途徑與預定的傳遞條件不同^ 不同導線1 3所傳遞的訊號將相互干擾，而使得處理褒i i將 無法利用不同導線1 3所測得來自無線筆之訊號的強度不同 的特性，推求出無線筆的位置。 X 但由於電位零點1 4的存在會使得各條導線丨3原本便是 相互電性搞合的’因此並無法用測量不同導線丨3之間電阻 值是趨近無限大或趨近零的方式，來判斷不同導線丨3之間 是否有發生短路以及是那裏發生短路。習知技術大多是用 人工檢查的方式來確認有無短路的發生以及是那些線路發 生短路’不只耗損而且容意錯誤，特別是多重電路板被應 用來作為基板1 1以及數位板的圖案密度昇^時。 綜上所述，現有的技術並不能有效的判斷數位板是否

第6頁 513578 五、發明說明（3) 有短路，也不能有效地判斷短路發生的地方。因此 要發展新的技術來克服這個缺失 ，有必 5 一 3發明目的及概述： 本發明一主要目的有效地檢測數位板是否有不 生的路。 應該發 本發明的另一主要目的是在儘量不改變數位板 及儘量不改變數位板生產流程的前提下，判斷數位 有短路以及判斷短路發生的位置。 構造以舞 板是否 針對習知技術因為所 使得不同導線間不論有無 導致無法由簡易地測量不 缺失。本發明提出一個解 ’各條導線才必須電性連 線所偵測傳遞的電信號有 運作之前，例如檢查數位 短路時，並不必須將所有 因此，本發明解決習 與電位零點連接的一端裝 有導線都電性連接到電位 短路的發生都會相互電性 同導線間之電阻值來判段 決的關鍵：只有在數位板 接到電位零點，藉以確保 相同的基準。也就是，在 板上各導線之間是否有不 導線都電性連接到電位零 知技術的方式便是在每一 置開關。先將所有的開關 零點， 藕接， 短路的 運作時 不同導 數位板 正常的雜 點。 條導線 都斷路

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513578 五、發明說明（4) 而使得所有導線都與電位零點電性隔離，亦即不同導線之 間也是電性隔離，此時便可以藉由簡單地測試不同導線間 電阻值的方式來判斷有無短路以及短路可能發生在那。在 測試完成後，再將所有的開關都導通，使得所有的導線都 電性連接到電位零點，此時數位板便可以用來接收來自無 線筆的訊號。 5 - 4發明詳細說明： 本發明之一較佳實施例是一種測試數位板的方法。如 第二A圖、第二B圖與第二C圖所示，至少具有下列的基本 步驟。 如提供方塊2 1所示，提供一數位板，這個數位板至少 有處理裝置區域、電位零點以及佈局相互分離的多數條導 線。其中每一條導線皆有電性連接至處理裝置區域的第一 端以及電性連接至電位零點的第二端，並且每一條導線在 臨近第二端處皆有一開關，而這些導線之佈局係在數位板 形成一天線陣列。 如斷路方塊2 2所示，斷路這些開關，使得處理裝置區 域與電位零點電性隔離。

513578 五、發明說明（5) 如依序測試方塊2 3所示，依序對每一條導線進行一測 試程序，藉以測試每一條導線與其它各條導線之間是否導 通。在此，這些導線間發生短路的原因至少有數位板製造 過程的疏失、數位板儲存過程的疏失以及數位板移動過程 的疏失。 顯然地，本實施例與習知技術一大重要差別是斷路方 塊2 2的使用。由於斷路方塊2 2使得所有開關都被斷路，因 此不同導線之間將無法再如習知技術般透過電路零點而相 互電性耦接。此時，由於處理裝置區域可能還沒放置處理 ^ 裝置或是雖已放置處理裝置但未通電運作，因此不同導線 之間也不能經由處理裝置區域而相互導通。換句話說，理 論上此時各條導線是相互電性隔離的，因此在依序測試方 塊2 3中若測到任何不同導線之間的導通，便可以確定是這 些相互導通的導線之間發生了不應該存在的短路了。 當然，就實際的應用而言，在依序測試方塊2 3完成後 ，如果發現有短路發生，尚可以如第二B圖之修理方塊2 4 所示般，對數位板進行修理程序。而如果發現沒有短路發 生，也可以如第二C圖之導通方塊2 5所示般，導通這些開馨 關使得任一第一端皆電性連接至屬於同一導線之第二端， 使得這個經測試過的數位板可以用來接收無線筆的訊號。 必須一提的是在本實施例中開關的種類、修理程序的

第9頁 513578 五、發明說明（6) 細節以及測試程序的細節都並不是重點，只要是可以控制 各導線與電位零點間之導通與否的開關，可以去除生短路 之部份導線的方式，以及可以測量不同導線間是否有短路 的方式即可。 舉例來說，一種可能的對某被選定導線所進行之測試 程序是先施加電信號於此被選定導線與處理裝置區域電性 連接的部份，然後逐一測量其它每一條導線，檢查電信號 是否出現在某一條導線與處理裝置區域電性連接的部份。 顯然地，當電信號出現在某特定導線與處理裝置區域電性 φ 連接的部份，被選定導線與此特定導線之間便發生短路， 否則便沒有短路的存在。 舉例來說，另一種可能的對某被選定導線所進行之測 試程序是先連接一探針於被選定導線與處理裝置區域電性 連接的部份，然後依序連接另一探針至每一條其它導線與 處理裝置區域電性連接的部份，並測量被選定導線與每一 條其它導線之間的電阻值。顯然地，當被選定導線與某特 定導線之間的電阻值趨近於零，被選定導線與此特定導線 之間便發生短路；而當被選定導線與某特定導線之間的電 · 阻值趨近於無窮大，被選定導線與此特定導線之間便沒有 短路。 本發明之另一較佳實施例是一種可測試短路的數位板

第10頁 513578 五、發明說明（7) ，如第三A圖與第三B圖所示，至少具有未於基板3 0之處理 裝置區域3 1、電位零點3 2以及多數條導線3 3。每一條導線 3 3皆有電性連接至處理裝置區域3 1的第一端以及電性連接 至電位零點3 2的第二端，而每一條導線3 3皆有臨近第二端 的開關3 4，並且數位板的佈局中這些導線3 3是相互分離。 在此，為強調本實施例於習知技術之數位板的差別，僅以 第一 A圖與第一 B圖所舉之佈局來說明本實施例的特徵，並 不代表本實施例只能應用在第三A圖與第三B圖所示之佈局 一般而言，由於這些導線3 3是用來形成天線陣列以接 收來自無線筆的訊息，因此這些導線3 3通常係位於數位板 中間，而處理裝置區域3 1 (用以放置處理裝置）與電位零點 3 2通常都是於數位板的邊緣，但透過這些導線3 3而相互電 性連接。 顯然地，由於這些開關是臨近電位零點，因此這些開 關是位於天線陣列與電位零點之間。事實上，由於開關僅 能讓導線位於第一端與開關之間的部份與電位零點相互電 性隔離，而不能使第開關與第二端之間的部份導線與電位 φ 零點相互電性隔離，因此為使本發明可以檢測之導線達到 最多，開關的位置應該儘可能的靠近第二端。當然，由於 各條導線應該相互電性隔離，因此開關之形狀大小等的一 大限制便是任一條導線的開關都不能與其它導線或其它開

第11頁 513578 五、發明說明（8) 關發生電性連接。 除此之外，在未測試這些導線之間是否有短路之前， 這些開關係固定在斷路的狀態，使得任一條導線之第一端 皆與此導線之第二端彼此電性隔離。但在測試完成發現這 些導線之間沒有短路後，這些開關係固定在導通的狀態， 使得任一條導線之第一端皆電性連接至此導線之第二端。 附帶一提的是開關可以是由一組電子線路所控間的電 晶體、繼電器（re 1 ay )或電子開關，經由這組電子線路便 可以控制這些開關的斷路與導通，如此作的優點是開關使 用彈性大。無論如何，為了簡化整體的結構與操作流程， 也可以是在形成各條導線時先使得各導線在臨近電位零點 一端都有一空隙，等測試完成後再子銲接的方式將這些空 隙以銲錫等填滿，使得各導線都電性連接到電位零點。 以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限 定本發明之申請專利範圍；凡其它未脫離本發明所揭示之 精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請 專利範圍中。

第12頁 513578 圖式簡單說明 第一 A圖以及第一 B圖為習知技術之數位板的基本構造 不意圖· 第二A圖、第二B圖與第二C圖為本發明之一較佳實施 例的幾種基本流程圖·和 第三A圖與第三B圖為本發明另一較佳實施例的基本構 造示意圖。 主要部分之代表符號： 11 基 板 12 處 理 裝 置 13 導 線 14 電 位 零 點 21 提 供 方 塊 22 斷 路 方 塊 23 依 序 測試 方 塊 24 修 理 方 塊 25 導 通 方 塊 30 基 板 31 處 理 裝 置 區 域 32 電 位 零 點 33 導 線 34 開 關

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Claims (1)

1. 513578 六、申請專利範圍 1. 一種測試數位板的方法，包含： 提供一數位板，該數位板至少有一處理裝置區域、一 電位零點以及佈局相互分離的多數條導線，每一條該導線 皆有電性連接至該處理裝置區域的一第一端以及電性連接 至該電位零點的一第二端，並且每一條該導線皆有臨近該 第二端的一開關； 斷路該些開關，使得該處理裝置區域與該電位零點電 性隔離：以及 依序對每一條該導線進行一測試程序，測試該導線與 其它該些導線是否彼此導通而發生短路。 U 2. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，對任一被 選定之該導線所進行之該測試程序包含下列的步驟： 施加一電信號於被選定該導線與該處理裝置區域電性 連接的部份；以及 逐一測量每一條其它該些導線，檢查該電信號是否出 現在某一條該導線與該處理裝置區域電性連接的部份。 3. 如申請專利範圍第2項之測試數位板的方法，當該電信 號出現在某特定該導線與該處理裝置區域電性連接的部份I丨 ，被選定該導線與此特定該導線之間便發生短路。 4. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，對任一被 選定之該導線所進行之該測試程序包含下列的步驟：

   第14頁 513578 六、申請專利範圍 連接一探針於被選定該導線與該處理裝置區域電性連 接的部份；以及 依序連接另一探針至每一條其它該些導線與該處理裝 置區域電性連接的部份，並測量被選定該導線與每一條其 它該些導線之間電阻值。 5. 如申請專利範圍第4項之測試數位板的方法，當被選定 該導線與某特定該導線之間的電阻值趨近於零，被選定該 導線與某特定該導線之間便發生短路。 6. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，更包含在 發現有短路發生時，對該數位板進行一修理程序。 7. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，更包含在 發現沒有短路發生時，導通該些開關而使得任一該第一端 皆電性連接至屬於同一該導線之一該第二端。 8. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，該些導線 之佈局係在該數位板形成一天線陣列。 9. 如申請專利範圍第1項之測試數位板的方法，該些導線 間短路的發生原因係為下列之一：該數位板製造過程的疏 失、該數位板儲存過程的疏失以及該數位板移動過程的疏 失。

   第15頁 513578 六、申請專利範圍 1 〇. —種可測試短路的數位板，包含： 一處理裝置區域； 一電位零點；以及 多數條導線，每一條該導線皆有電性連接至該處理裝 置區域的一第一端以及電性連接至該電位零點的一第二端 ，在此每一條該導線皆有臨近該第二端的一開關，並且該 數位板的佈局中該些導線係相互分離。 1 1.如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板，該處 理裝置區域係位於該數位板的邊緣。 1 2 .如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板’該處 理裝置區域透過該些導線而電性連接至該電位零點。 1 3.如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板，該些 導線係在該數位板形成一天線陣列。 1 4 .如申請專利範圍第1 3項之可測試短路的數位板，該些 開關係位於該天線陣列與該電位零點之間。 1 5 .如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板，在未 測試該些導線之間是否有短路之前，該些開關係固定在斷 路的狀態，使得任一條該導線之該第一端皆與該導線之該

   第16頁 513578 六、申請專利範圍 第二端彼此電性隔離。 1 6.如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板，在測 試完成發現該些導線之間沒有短路後，該些開關係固定在 導通的狀態，使得任一條該導線之該第一端皆電性連接至 該導線之該第二端。 1 7.如申請專利範圍第1 6項之可測試短路的數位板，該些 開關係以銲接的方式固定在導通的狀態。 1 8.如申請專利範圍第1 0項之可測試短路的數位板，該些 導線間短路的發生原因係為下列之一：該數位板製造過程 的疏失、該數位板儲存過程的疏失以及該數位板移動過程 的疏失。

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