TW319829B - Device and method of detecting test mode - Google Patents

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TW319829B TW85115920A TW85115920A TW319829B TW 319829 B TW319829 B TW 319829B TW 85115920 A TW85115920 A TW 85115920A TW 85115920 A TW85115920 A TW 85115920A TW 319829 B TW319829 B TW 319829B
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Gwo-Cherng Yu
Bao-Shyang Suen
Rong-Tzong Tsay
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Holtek Microelectronics Inc
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A7 319829 B7 五、發明説明(1 ) 本案係關於一種偵測裝置與方法:尤指一種關於測試 模式之偵測裝置與方法.。 積體電路於量產過程中之品質良窳,通常需藉由量產 * 測試來加以區分、是以,.爲於量產測試之程序中提高所量 測得致數據之準確性與提髙測試速度,即於積體電路中包 含若干部份測試線路,.俾達前述量產測試時,.確認量產品 質之目的。. 然而,.爲避免積體電路於處於正常工作模式時誤入測 式模式中.,導致測試線路影響到實際電路之正常運作,,電 路設計師即採用種種分辨積體電路處於正常工作模式與測 試模式之方法,.以於積體電路可提供遂行量產測試之情況 下,,確保測試線路不致影響積體電路之正常運作.:不過., 因習知辨別正常工作模式與測試模式之方式各有其缺失., 本案之創作要旨,即在於提供一種更穩定且可靠度更髙之 辨別正常工作模式與測試模式之裝置與方法.,俾以改善習 知作法之缺失。 於習知作法中:最常見實施測試模式偵測方式之作 法,.係爲增加一隻或多隻測試腳位(test pin)來切換正 常工作模式_與測試模式.,甚至用以區分多種測試模式態樣 中之特定測試模式;舉例而言/一測試腳位平時將其固定 於高電準位(/低電準位)狀態:一旦,,自外部強迫該測試 腳位轉換爲處於低電準位(/髙電準位)狀態時,,即使積體 電路由正常工作模式切換到測試模式中.,且積體電路即開 始將其內部信號透過測試線路予以導出,.並允許由外部直 ^ u H 0Ί. ί —Μ I^衣 I I I 訂— I I— n ^ (t先閲讀背面之注意事JI4 寫本頁;! ( 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 319829 A7 B7 五、發明説明(2 ) 接控制該等內部信號:亦即,.外部測試機台.便可利用此特 性據以量測位於積體電路內部之該等內部信號,以及輸入控 制信號: 前述習知作法之優點,.在於正常工作模式與測試模式 之間劃分的相當明確:是以.,並不會產生自正常工作模式 誤入測試模式之情事.,惟.,其缺失則在於必須規劃多餘腳 位以作爲切換之用.,此等作法於小包裝之積體電路上常常 形成困擾,.其原因在於小包裝積體電路上之腳位往往各有 用途,.實難空出多餘之特定腳位供作爲測試之用.;再則., 由於使用者僅只需於該等供測試用之特定接腳處施以固定 電準位之信號/即能進入測試模式而將內部訊息予以導 出,.故於電路保密上很難具有適當之防範,。 爲改善前述需多設置測試腳位之缺失I習知另一作 法,.即係改採用自某一特定腳位處輸入特殊組合之串列(或 並列)信號,.俾以區分欲使積體電路進入正常工作模式或測 試模式之動作.;該等作法之優點在於不需增加腳位即可達 成辨別正常工作模式或測試模式,.然相對地:其缺失即在 於應規劃產生何等種類之特殊組合之串列(或並列)信號,, 使之在積體電路處於正常工作模式時不會發生,.否則原本 處於正常操作之積體電路,,其正常工作信號即可能因與該 等特殊組合信號相同而使積體電路誤切換至測試模式中 反造成誤動作易言之,.由於稹體電路之正常工作信號千 奇百種,,很難確保不會發生與該等特殊組合信號相同之情 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2i〇X 297公釐) I n n iHi Ji I ~ I 裝 11 訂 (t先閲讀背面之注意事項f -1V--3本頁·) ( 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 318829 A7 B7__ 五、發明説明(3 ) 事,.是以I習知採用自某一特定腳位處輸入特殊組合信號 之作法實不甚可靠.。 此外,.尙有利用偵測振盪器是否振盪.,俾以辨別積體 電路係爲處於正常工作模式抑或處於測試模式之習知作 法:然該等作法亦與前述採用自某一特定腳位處輸入特殊 組合信號之習知作法般\都同樣難以避免誤入測試模式之 狀況發生 % '本案之主要目的,.即在於提供一種可使積體電路避免 誤入測試模式之測試模式之偵測裝置與方法/ |本案之另一目的,.即在於提供一種具高保密性之測試 模式之偵測裝置與方法β ~本案之又一目的,τ即在於提供一種於不增加測試腳位 之情況下達成量測積體電路之測試模式之偵測裝置與方 法。. 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本案係關於一種測試模式之偵測裝置,.其係可應用於 一積體電路:且該裝置係可用以配合一產生第一重組信號 之測試裝置U該測試模式之偵測裝置係可包含.:一信號重 組電路:其具一特定信號輸入端,.該信號重組電路係用以 輸入一特定信號且將該特定信號予以遂行重組:並產生一 第二重組信號輸出;以及一判別電路:其係用以輸入該第 一與第二重組信號:俾以判別是否使該積體電路進入該測 試模式 依據上述槪念.,其中該積體電路更可包含一啓動信號 輸入端,.該信號重組電路與該判別電路皆電連接於該啓動 0 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(4 ) 信號輸入端,且該啓動信號輸入端係用以供輸入一啓動信 4 號之用 依據上述槪念,,其中該啓動信號輸入端係可爲一重置 (re set)信號輸入端,.而該啓動信號則係可爲一重置信 號: 依據上述槪念,.其中該信號重組電路與該判別電路係 皆可因應該啓動信號處於一致能(enable)狀態而產生一 致能動作V且於該啓動信號處於一禁能(disable)狀態 時,.停止致能該信號重組電路與該判別電路之動作^ 依據上述槪念,.其中該致能狀態係可爲一髙電準位狀 態? 依據上述槪念,.其中該致能狀態係可爲一低電準位狀 態。. 依據上述槪念,.其中該測試裝置係可爲一積體電路測 試機台,.其係用以量測該積體電路之內部特性與品質/ 依據上述槪念,,其中於該測試裝置中係可包含另一信 號重組電路,.其具另一特定信號輸入端,,該另一信號重組 電路係可自該另一特定信號輸入端處輸入另一特定信號., 且予以重組產生該第一重組信號輸出、。 依據上述槪念,.其中該另一信號重組電路更可包含另 一延遲編碼電路’•其係用以將該另一特定信號中之全部或 部份信號予以遂行分割、.重組,,俾得致該第一重組信號.·> 依據上述槪念’,其中該另一信號重組電路係可包含: 一第一正反器,.其用以輸入該另一特定信號,.並將該另一 5 本紙浪尺度適用中國國家標準(CNS M4規格(210X^7公楚) ----Ί.--;----裝------訂------線 r - ^ (請先聞讀背面之注意事項4 巧本頁) 一 319829 A7 B7 五、發明説明(5 ) 特定信號作爲其時脈信號之用j 一第二正反器,.電連接於 該第一正反器該第二正反器係用以將該第一正反器之輸 出信號作爲其時脈信號之用.;以及一第三正反器:電連接 於該第二正反器:該第三正反器係用以將該第二正反器之 輸出信號作爲其時脈信號之用I。 依據上述槪念,.其中該第一.、第二與第三正反器係皆 可爲一丁型正反器,.且該第一:第二與第三正反器之輸出 信號係用以作爲該第一重組信號之用.。 依據上述槪念,.其中該第一重組信號係可爲一串列形 式之重組信號/ 依據上述槪念.,其中該第一重組信號係可爲一並列形 式之重組信號.。 依據上述槪念,.其中該信號重組電路更可包含一延遲 編碼電路,.其係用以將該特定信號中之全部或部份信號予 以遂行分割)重組,.俾得致該第二重組信號,。 經濟部中央標準局貝工消費合作社印裂 依據上述槪念,%其中該信號重組電路係可包含.:一第 四正反器,>其用以輸入該特定信號:並將該特定信號作爲 其時脈信號之用.;一第五正反器:電連接於該第四正反 器,,該第五正反器係用以將該第四正反器之輸出信號作爲 其時脈信號之用J以及一第六正反器:電連接於該第五正 反器,•該第六正反器係用以將該第五正反器之輸出信號作 爲其時脈信號之用,,且該第四:第五與第六正反器之輸出 信號係用以作爲該第二重組信號之用_。 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐> A7 B7五、發明説明U ) 經濟部中央標準局員X消費合作社印製 依據上述槪念.,其中該第四、.第五與第六正反器係皆 可爲一 丁型正反器。 * 依據上述槪念:其中該第二重組信號係可爲一串列形 式之重組信號, 依據上述槪念:其中該第二重組信號係可爲一並列形 式之重組信號;》 依據上述槪念,,其中該判別電路係可爲一比較器。 依據上述槪念.,其中於該比較器比較該第一與第二重 組信號相同時,•即可產生一測試模式信號.,以驅動設於該 積體電路內部之一測試線路而進入該測試模式中.,否則該 積體電路仍將維持處於一正常工作模式中,。 依據上述槪念,,其中該測試模式之偵測裝置係可設於 該積體電路之內部。 t 依據上述槪念:其中該測試模式之偵測裝置更可包 含:.一信號產生電路,,其係用以產生該另一特定信號與該 特定信號,,俾供另一信號重組電路與該信號重組電路分別 產生該第一與第二重組信號,。 依據上述槪念i其中該信號產生電路係可包含:一信 號產生器:其係用以產生一原始信號輸出;一狀態產生 Μ 器,•電連接於該信號產生器,.該狀態產生器係用以將該原 始信號轉爲一狀態信號輸出丨以及一信號編碼器:電連接 於該狀態產生器;該信號編碼器係用以將該狀態信號予以 遂行編碼,.俾以產生該另一特定信號或該特定信號輸出.。 7 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2I0X297公釐} (請先閔讀背面之注意事項f'-J-i-寫本頁) 裝 線 ^19829五、發明説明(7 ) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 依據上述槪念,.其中該另一特定信號或該特定信號係 可爲一串列形式之特定信號。 鲁 依據上述槪念,.其中該另一特定信號或該特定信號係 可爲一並列形式之特定信號 依據上述槪念,,其中該信號產生電路係可電連接於該 啓動信號輸入端.,以因應該啓動信號處於該致能狀態時產 生一致能動作,.且於該啓動信號處於該禁能狀態時停止致 能該信號產生電路之動作,。 依據上述槪念/其中該另一特定信號與該特定信號係 可爲相同之特定信號 依據上述槪念,.其中該信號產生電路係可設於該積體 電路內部中*·而該測試模式之偵測裝置更可包含.:一多工 裝置,·其係用以使該特定信號與該積體電路之一正常工作 信號可共用該積體電路之一輸出接腳端。 t 依據上述槪念,.其中該多工裝置係可爲一二對一之多 工器,.該多工器之選擇信號端係用以因應自該信號產生電 路處所輸入之一多工致能選擇信號,,以將該特定信號或該 正常工作信號輸出至該輸出接腳端.,俾對應該積體電路所 處之工作模式係爲該測試模式或該正常工作模式,。 依據上述槪念,.其中該正常工作信號係可爲該積體電 路中系統振盪器之系統振盪輸出信號.,而該輸出接腳端則 係可爲該系統振盪器之輸出接腳端。 本案亦關於一種測試模式之偵測方法/其係可應用於 一積體電路中:且該方法係可用以配合一產生第一重組信 請_ 先 閱姣. 背 面 之 Λ 裝 頁 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS > Α4規格(210>;297公釐) 五、發明説明(8 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 號之測試裝置,該方法係可包含下列步驟:a)輸入一特定 信號,•使該積體電路因應該特定信號而予以遂行分割.、重 組,並產生一第二重組信號;b)輸入該第一重組信號至該 積體電路中;以及c)將該第一與第二重組信號遂行一判別 動作,俾以判別是否使該積體電路進入該測試模式 依據上述槪念.,其中於該步驟(a )之前更可包含步 驟:d)提供一啓動信號予該積體電路.。 依據上述槪念.,其中於該啓動信號處於一致能 (enable)狀態時,·方遂行該步驟(a)至該步驟(c).,且 於該啓動信號處於一禁能(disable )狀態時,停止遂行該 步驟(a )至該步驟(c 依據上述槪念:其中該致能狀態係可爲一高電準位狀態: 依據上述槪念,,其中該致能狀態係可爲一低電準位狀 態。· 依據上述槪念:其中該啓動信號係可爲一重置(reset 信號% 依據上述槪念,.(其中該測試裝置係可爲一積體電路測 試機台\其係用以量測該積體電路之內部特性與品質P 依據上述槪念\其中該測試裝置係可輸入另一特定信 號,.且予以遂行分割、,重組,.俾得致產生該第一重組信號 輸出: 依據上述槪念,,其中該第一重組信號係可爲一串列形 式之重組信號。. © 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X297公釐) 請. 先 閱 面 之 注 Λ t 裝 訂 線 五、發明説明(9 ) A7 B7 經濟部中央標毕局—工消費合作社印製 依據上述槪念•’其中該第一重組信號係可爲一並列形 式之重組信號' 依據上述槪念:其中於該步驟(a )中之該第二重組信 號係可爲一串列形式之重組信號^ 依據上述槪念其中於該步驟(a )中之該第二重組信 號係可爲一並列形式之重組信號。 * 依據上述槪念’·其中於該步驟(c)中判別比較該第一 與第二重組信號相同時:即可產生一測試模式信號,,以驅 動設於該積體電路內部之一測試線路而進入該測試模式 中,*否則該積體電路仍將維持處於一正常工作模式中 依據上述槪念,.其中該另一特定信號或該特定信號係 可爲一串列形式之特定信號.。 依據上述槪念,.其中該另一特定信號或該特定信號係 可爲一並列形式之特定信號.。 依據上述槪念,.其中該另一特定信號與該特定信號係 可爲相同之特定信號,。 依據上述槪念.,其中於該步驟(a )之後更可包括步 驟:e)因應該啓動信號與一多工致能選擇信號•,使該積體 電路自其輸出一正常工作信號之處,.轉爲輸出該特定信 號;以及f)輸入該特定信號至該測試裝置中.,以得致產生 該第一重組信號 本案得藉由下列圖式及詳細說明,.俾得一更深入之了解:. 10 本紙張尺度適用中國國家檁隼(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱#.背面之注意事項(^艿本頁) 裝 訂 線 A7 319829 B7 五、發明説明(1〇 ) 第一圖:其係爲本案之第一較佳實施例之測試模式之 偵測裝置方塊示意圖.; 第二圖(a)、(b):其係爲本案第一較佳實施例中該 信號重組電路與該另一信號重組電路之內部示例a; 第二圖(C):其係爲本案第一/較佳實施例中該信號重 組電路之波形示例圖; * 第三圖:其係爲本案之第二/較佳實施例之測試模式之 偵測裝置方塊示意圖; 參 第四圖:其係爲本案第二較佳實施例中該信號產生電 路之內部示例圖,; 第五圖:其係爲本案之第三^佳實施例之測試模式之 偵測裝置方塊示意圖; _ 第六圖:.其係爲本案之一第一較佳實施例之測試模式 之偵測方法流程示意圖.; 第七圖:其係爲本案之一第二較佳實施例之測試模式 之偵測方法流程示意圖.。 請參閱第一圖I其係爲本案之第一較佳實施例之測試 模式之偵測裝置方塊示意圖,.於圖一中係可包含Y—積體 電路10與一測試裝置11;其中,,於該積體電路10中係包 含:,一測試模式之偵測裝置1 0 1與一測試線路1 02」而該測 試模式之偵測裝置101則包含.:具一特定信號輸入端P11之 信號重組電路10 11與一判別電路10 12.(較佳者,該判別電 路1012係可爲一比較器).;另外.,該積體電路1〇更可包含 一啓動信號輸入端P12 :其係用以供輸入一啓動信號S15之 11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) n n H ΙΊ n I n '訂 ... u 务 (.請先聞讀背面之注意事il茶?本頁) 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(11 ) 用;,其中該啓動信號輸入端P12係可爲一重置(reset)信 號輸入端,、而該啓動信號S15則係可爲一重置信號,;至於於 該測試裝置11中則可包含具另一特定信號輸入端P13之信 號重組電路111.» 較佳者,.該測試裝置11係可爲一積體電路測試機台., 其係用以量測該積體電路1 G之內部特性與品質.。 現茲進一步將圖一所示之工作原理:掲示如后所述 者,: 首先,.爲確保該積體電路不會任意進入測試模 式,.係可設計使該啓動信號S15於確實處於一致能 (enable)狀態時,.方將驅動該測試模式之偵測裝置1Q1中 之電路,.俾以決定是否進入測試模式中.:易言之.,由於該 信號重組電路1011與該判別電路1012係皆電連接於該啓 動信號輸入端P1 2是以,.該信號重組電路1011與該判別 電路1012係皆顯將因應該啓動信號S15處於該致能狀態而 產生一致能動作.;當然,,如該啓動信號S15處於一禁能 (disable)狀態時:則將停止致能該信號重組電路1011 與該判別電路1012之動作:亦即,,此時當可確保該積體電 路10不致任意進入測試模式而產生誤動作,。 再則,,該信號重組電路1011可自該特定信號輸入 端P11處輸入一特定信號S11 :且於因應該啓動信號S15處 於該致能狀態而產生一致能動作時:將該特定信號S11予以 遂行一重組動作,,或篩選出該特定信號S11之部份(或全部) 信號,.俾以產生一第二重組信號S12輸出至該判別電路 12 本紙張尺度適用中國國家標準< CNS ) A4規格(210X297公釐) Ί ^ 裝 訂 線 { (诗先閱讀背面之注意事il供寫本頁) 一 經濟部中央標隼局員工消费合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(12.) 1012中J另一方面:該另一信號重組電路111係可自該另 一特定信號輸入端P13處輸入之另一特定信號S13,以產生 # 一第一重組信號s 1 4 :並予以輸出至該判別電路1 0 1 2中_; 之後,.於該判別電路1C112因應該啓動信號S15處於該致能 狀態而產生一致能動作.,且判別比較該第一與第二重組信 號S14 'S12爲相同時/即可產生一測試模式信號S16輸 出乂並驅動設於該積體電路1G內部之該測試線路102進入 該測試模式中/否則,.如信號不同或該啓動信號S15回到該 禁能狀態時,,該積體電路1D將維持處於一正常工作模式 中,.以達成該積體電路10原先之正常電路功能/ 較佳者、該判別電路1 0 12係可接受比較爲串列 (或並列)形式之該第一或第二重組信號S14、. S12,;當 然,.該判別電路1012亦可任意單獨地選擇比較該第一或第 二重組信號S14、. S12中之一個或複數個位元信號: 當然,.不論係該信號重組電路1011或該另一信號 重組電路111 :其目的皆係爲加強積體電路的保密功能,,t亦 即,.唯有該測試裝置11採用與設於該積體電路10內部中之 該測試模式之偵測裝置相同之信號重組電路:方可組出 相同之比對信號\當然{關於另一種增加保密度之作法., 則係可採用互補觀念:即將該信號重組電路1011與該另一 信號重組電路丨11設計爲一互補電路丨而該特定信號S11與 該另一特定信號S13則爲一互補信號,.此時:透週該另一信 號重組電路111與該信號重組電路1011分別處理該另一特 定信號S13與該特定信號S11之後:當可獲得相同一致之該 (〇> 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) ----Ί--------装------ΪΓ------0 (秦先閲讀*背面之注意事項{ 寫本頁i ( 經濟部中央標準局負工消費合作社印装 A7 B7__ 五、發明説明(13 ) 第一與第二重組信號S14、, S12,.俾以使該測試模式之偵測 裝置10可於正確時機產生出該測試模式信號S16,,進而驅 動該測試線路102進入該測試模式中,。 又:一旦該積體電路10不同:則設於該積體電路 10內部中之該測試模式之偵測裝置10:其內部之該信號重 組電路1011顯亦將可有所改變或調整,.如此一來.,該測試 裝置11內部之該另一信號重組電路111顯亦需進行相對應 之變化或調整:而此等改變或調整該另一信號重組電路111 之工作丨對於設計者而言實係極爲簡易之事:然對於抄襲 者而言,.則必須經過種種複雜程序(例如,實施還原工程程 序等)方能瞭解,,職是之故.,對於積體電路之保護當可提供 更深一層之保障。. 又,.關於該另一信號重組電路111與該信號重組電 路1011,.於簡易作法中,.其係可分別將該另一特定信號 S13與該特定信號S11予以直接傳送至該判別電路1012 中,<或於複雜設計時.,與以任意篩選若干位元信號加以延 遲、.編碼後,.再予以傳送至該判別電路1G1 2中,;另外/該 另一信號重組電路111與該信號重組電路1011係可分別接 受串列(或並列)形式之該另一特定信號S13與該特定信號 S11,.同時:該另一信號重組電路111與該信號重組電路 101 1亦係可分別輸出爲串列(或並列)形式之該第一與第二 重組信號S14 : S12 ,。 至於該另一信號重組電路111與該信號重組電路1011 之內部電路示例圖(以將串列信號重組爲並列信號爲例),, 14 本纸張尺度適用中國國家標準i CNS ) A4規格(210X297公釐) I---1——Γ;---裝------訂------線 {先閱t*.背面之注意事ilM本頁) ( 經濟部中央標準局貞工消費合作社印裝 A7 _B7 五、發明説明(14 ) 則可請分別參閱圖二(a)、.(b)所示者,.其中丨圖二(a) 中所示之該另一信號重組電路111係可包含一第一正反器 FF1 ’·其用以輸入該另一特定信號S13 :並將該另一特定信 號S1 3作爲其時脈信號之用.;一第二正反器FF 2 :電連接於 該第一正反器FF1.,該第二正反器FF2係用以將該第一正反 器FF1之輸出信號QG作爲其時脈信號之用以及一第三正 反器FF3,.電連接於該第二正反器FF2,該第三正反器FF3 係用以將該第二正反器FF2之輸出信號(^作爲其時脈信號 之用,•而該第三正反器FF3之輸出信號則爲Q2;當然.,將 該另一特定信號S13予以重組後之信號(Q〇、Qi、Q2):即 用以輸出作爲該第一重組信號S14使用,之後,透過該積體 » 電路10原本即已具備之正常信號輸入接腳f,便可輕易地將 該第一重組信號S14予以輸入至該積體電路10中.;又:該 第一 \第二 第三正反器F F 1、,F F 2 : F F 3之致能動作皆係 受到一正反器致能信號SE之控制,而該正反器致能信號SE 則可來自於該測試裝置11之內部f 同理'於圖二(b)中所示之該信號重組電路1011亦係 可與於圖二(a)中所示之該另一信號重組電路111具有相 同功能之正反器(即爲一第四;第五.、第六正反器FF4·、 FF5 'FF6)與電連接關係、且其可將該特定信號S11予以 重組後之信號(Q3、Q4、Q5),,用以輸出作爲該第二重組信 號S12使用L至於該第四:第五:第六正反器FF4:FF5、 FF6之致能動作,則皆將受到該啓動信號S15之控制.。
I 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I Ml Mu 裝 It i 線 (贫先閲说背面之注意事it听寫本页-) ( 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 3 J. 9829 A7 B7 五、發明説明Ο5) 當然’,於圖二(a) : Cb)中所示之該第--第六正反 器FF1〜FF6,.係皆可爲一丁型正反器:而該任一丁型正 反器皆可包含·:一信號輸入端T : 一時脈輸入端CK.、一信 號輸入端Q以及一正反器致能端E/ 舉例而言:設若該特定信號S11爲如圖二(c )中所 示:.(11 0 0 10 10)之此等串列信號.,則作爲該第二重組信 號S12之正反器FF4〜FF6輸出信號之波形:即爲如圖二 (c )中標示(Q3、Q4、Qs)所示之並列信號般,.如此結果 顯將可提供較習知技術更具保密性之積體電路測試功能,。 職是之故:由於圖一所示之測試用接腳僅佔用一隻(即 用以輸入該特定信號S11之用),.故本案顯可於不必增加習 知積體電路腳位數目之情況下,提供一種可使積體電路避 舞 免誤入測試模式_且具髙保密性輿髙可靠度之測試模式之偵 測裝置,俾以順利達成量測積體電路之目標) 關於本案測試模式之偵測裝置之另一較佳實施例:請 參閱第三圖,,其係爲本案第二較佳實施例之測試模式之偵 測裝置方塊示意圖,.於圖三中,,其中所包含之一測試裝置 21、,一測試線路202 :具一特定信號輸入端P21之信號重 組電路2 G 1 1、,一判別電路2 01 2 (較佳者,.該判別電路 2012係可爲一比較器),、一啓動信號輸入端P22與具另一 特定信號輸入端P23之信號重組電路211以及一啓動信號 S25之功能,,係皆可等同於圖一中所示之該測試裝置11,、 該測試線路102、具該特定信號輸入端P11之信號重組電路 1011、,該判別電路10 12(較佳者,該判別電路10 12係可 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^ ^ 裝 訂 線 f (免先閱讀•背面之注意事項{ 太頁) 經濟部t央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(16 ) 爲一比較器)、該啓動信號輸入端P12與具該另一特定信號 輸入端P13之另一信號重組電路111以及該啓動信號S15 者,.在此即不再予以赘述。( 然%於圖三中所示之測試模式之偵測裝置201與圖一中 所示之該測試模式之偵測裝置101兩者間之差異係在於,,該 測試模式之偵測裝置201更可包含一設於該積體電路外部之 信號產生裝置2013/其係用因應該啓動信號S25處於該致 能狀態而產生輸出另一特定信號S23與一特定信號S21.,俾 供該另一信號重組電路211與該信號重組電路2011可分別 因應產生輸出具相同之一第一與第二重組信號S24、. S2 2., 如此一來,.於該判別電路2012因應該啓動信號S25處於該 致能狀態而產生一致能動作.,且判別比較該第一與第二重 組信號S24 * S2 2爲相同時.,·即可產生一測試模式信號S26 輸出,、並驅動設於該積體電路20內部之該測試線路202進 入該測試模式中:否則:如信號不同或該啓動信號S25回到 該禁能狀態時,.該積體電路20將維持處於一正常工作模式 中,.以達成該積體電路20原先之正常電路功能_。 其中,關於該信號產生裝置2013之內部電路較佳實施 例,.則可請參聞第四圖所示者,,於圖四中t該信號產生裝 置2Q13係可包含一信號產生器2D131、一狀態產生電路 20132以及一信號編碼電路20133 ;其中.,該信號產生器 20131,.其係用以產生一原始信號S27輸出,、該狀態產生 器2G132係用以將該原始信號S27轉爲一狀態信號S28輸 出,•而該信號編碼器2G133則係用以將該狀態信號S28予 (t先閱讀•背面之注意事靖|¥-本頁i 裝 -一° 線 17 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 319829 A7 B7 _ 五、發明説明(17 ) 以遂行編碼;俾以產生該另—特定信號S23或該特定信號 S21輸出;.當然,,該另一特定信號S23與該特定信號S21係 可爲相同之特定信號.。 關於本案測試模式之偵測裝置之又一較佳實施例,請 參閱第五圖,,其係爲本案第三較佳實施例之測試模式之偵 測裝置方塊示意圖.,於圖五中,,其中所包含之一測試裝置 31、.一測試線路302:具一特定信號輸入端P31之信號重 組電路3 Ο 1 1、一判別電路3 G 1 2 (較佳者,該判別電路 4 3012係可爲一比較器)、,一啓動信號輸入端P3 4,、具另一 特定信號輸入端P33之信號重組電路311與一信號產生裝置 3013以及一啓動信號S36之功能,,係皆可等同於圖三中所 示之該測試裝置21 ;該測試線路202.、具該特定信號輸入 端P21之信號重組電路2011、該判別電路2012(較佳者., 該判別電路2012係可爲一比較器)該啓動信號輸入端 P22、.具該另一特定信號輸入端P23之另一信號重組電路 211與該信號產生裝置2013以及該啓動信號S25者在此 即不再予以贅述.。 然:於圖五中所示之測試模式之偵測裝置301與圖三中 所示之該測試模式之偵測裝置201兩者間之差異係在於.,圖 五中該測試模式之偵測裝置3 01係將圖三中設於該積體電路 外部之該信號產生裝置2013,.予以改成設置於該積體電路 30內部中之該信號產生裝置3013.,且/利用增加一多工裝 置3014(較佳者,係可爲一多工器)、以使由該信號產生裝 置301 3所產生之一特定信號S31可與該積體電路30之一正 18 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X 297公釐) ---Ί---Ί---¾------1T------線、 f (♦先閲济背面之注意事歲犋寫本瓦) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 經濟部中央標準局貝工消費合作社印掣 A7 _____B7 五、發明説明(18 ) 常工作信號S34共同使用積體電路輸出接腳端P32/如此一 來,,當可更加節省該積體電路30之接腳數目.。 申言之:該多工裝置3014係可爲一二對一之多工器,, 該多工器3014之選擇信號端S則係用以因應自該信號產生 電路3013處所輸入之一多工致能選擇信號S33,.以將該特 定信號S31或該正常工作信號S34輸出至該輸出接腳端 P32俾對應該積體電路30所處之工作模式係爲該測試模 式或該正常工作模式.;當然:如於該輸出接腳端P32處所輸 出者係爲該特定信號S31時:該特定信號S31顯將供該另一 信號重組電路311用以產生一第一重組信號S35且予以輸入 至該判別電路3 0 1 2中,.同時,該信號重組電路3 0 1 1即係 因應該特定信號S31而產生一第二重組信號S32 :是以,,該 判別電路3012顯將因應該啓動信號S36處於該致能狀態而 產生一致能動作、且判別比較該第一與第二重組信號S3 5、 S32爲相同時,.即可產生一測試模式信號S37輸出:並驅動 設於該積體電路30內部之該測試線路302進入該測試模式 中;否則:如信號不同或該啓動信號S36回到該禁能狀態 時,.該信號產生電路3G 13將停止輸出或改變該多工致能選 擇信號S33之狀態,.以使該多工器3014切換回可於該輸出 接腳端P32處輸出該正常工作信號S34之模式.,亦即.,該積 體電路30將維持處於一正常工作模式中/以達成該積體電 路30原先之正常電路功能: 19 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) . : 裝 訂 線 f Γ 請先閱请背面之注意事4 填艿本瓦) 一 A7 _B7___ 五、發明説明(19 ) 一較佳作法,該正常工作信號S34係可爲該積體電路 30中系統振盪器之系統振盪輸出信號,而該輸出接腳端 P32則係可爲該系統振盪器之輸出接腳端。 當然,關於本案測試模式之偵測方法之流程示意圖, 則可請參閱第六、七圖所示者,圖六、七分別爲本案之一 第一與第二較佳實施例測試模式之偵測方法流程示意圖; 其中,關於圖六與圖七之差異點,當係可藉由圖一與圖五 (或圖三與圖五)兩者所示電路之動作原理而得一淸楚之瞭 解,在此即不再予以贅述。 綜上所述,透過本案之作法,顯可於不致增加過多成 本之條件下,大幅且有效地改善習知作法浪費積體電路接 腳數、低保密性與低可靠度之缺失,是以,本案確爲一極 具產業價値之作。 本案得由熟悉本技藝之人士任施匠思而爲諸般修飾, 然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。 --I J ; 裝 訂 線 (免先M#背面之注意事ii菩3本頁.) f 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 20 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(2丨0X297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 319829 as Βδ C8 _ D8六、申請專利範圍 1 * 一種測試模式之偵測裝匱,^其係可應用於一積體電 路,、且該裝置係可用以配合一產生第一重組信號之測試裝 置:該測試模式之偵測裝置係可包含: 一信號重組電路,,其具一特定信號輸入端,該信號重 組電路係用以輸入一特定信號且將該特定信號予以遂行重 組,.並產生一第二重組信號輸出;以及 一判別電路,、其係用以輸入該第一與第二重組信號., 俾以判別是否使該積體電路進入該測試模式.。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝置., 其中該積體電路更可包含一啓動信號輸入端.,該信號重組 電路與該判別電路皆電連接於該啓動信號輸入端且該啓 動信號輸入端係用以供輸入一啓動信號之用/ 3 _如申請專利範圍第2項所述之測試模式之偵測裝置/ 其中該啓動信號輸入端係可爲一重置(reset)信號輸入 端,,而該啓動信號則係可爲一重置信號 4·如申請專利範圍第2項所述之測試模式之偵測裝置, 其中該信號重組電路與該判別電路係皆可因應該啓動信號 處於一致能(enable)狀態而產生一致能動作,.且於該啓 動信號處於一禁能(disable)狀態時停止致能該信號重 組竜路與該判別電路之動作/ 5 如申請專利範圍第4項所述之測試模式之偵測裝置., 其中該致能狀態係可爲一髙電準位狀態/ 6 ·如申請專利範圍第4項所述之測試模式之偵測裝置-, 其中該致能狀態係可爲一低電準位狀態.。 (請先閱讀背面之注意事!'長填寫本頁) 裝 -1T Γ 線 21 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 申請專利範圍 7·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝置, » 其中該測試裝置係可爲一積體電路測試機台:其係用以量 測該積體電路之內部特性與品質.。 8 ·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝置., 其中於該測試裝置中係可泡含另一信號重組電路:其具另 一特定信號輸入端:該另一信號重組電路係可自該另一特 定信號輸入端處輸入另一特定信號.,且予以重組產生該第 一重組信號輸出。 « 9 _如申請專利範圍第8項所述之測試模式之偵測裝置, « 其中該另一信號重組電路更可包含另一延遲編碼電路.,其 係用以將該另一特定信號中之全部或部份信號予以遂行分 割:重組:俾得致該第一重組信號: 1 0 ·如申請專利範圍第8項所述之測試模式之偵測裝 置,.其中該另一信號重組電路係可包含: 一第一正反器:其用以輸入該另一特定信號:並將該 另一特定信號作爲其時脈信號之用 一第二正反器,.電連接於該第一正反器.,該第二正反 器係用以將該第一正反器之輸出信號作爲其時脈信號之 用;%以及 '一第三正反器,.電連接於該第二正反器:該第三正反 器係用以將該第二正反器之輸出信號作爲其時脈信號之 用。V 1 1 ·如申請專利範圍第1 0項所述之測試模式之偵測裝 置,/其中該第一、.第二與第三正反器係皆可爲一丁型正反 22 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 閲 讀- 背 面 之 注 意 裝 頁 訂 線 319829 六、申請專利範圍 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 器:且該第一、,第二與第三正反器之輸出信號係用以作爲 該第一重組信號之用.。 1 2 ·如申請專利範圍第i項所述之測試模式之偵測裝 置’·其中該第一重組信號係可爲一串列形式之重組信號, 1 3 ·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 匱:其中該第一重組信號係可爲一並列形式之重組信號。 1 4 ·如申請尊利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 置,,其中該信號重組電路更可包含一延遲編碼電路_,其係 用以將該特定信號中之全部或部份信號予以遂行分割.、重 組,,俾得致該第二重組信號。 _ 1 5 ·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 置,其中該信號重組電路係可包含.: 一第四正反器,.其用以輸入該特定信號:並將該特定 信號作爲其時脈信號之用.; 一第五正反器,.電連接於該第四正反器該第五正反 器係用以將該第四正反器之輸出信號作爲其時脈信號之 用匕以及 一第六正反器,電連接於該第五正反器.,該第六正反 器係用以將該第五正反器之輸出信號作爲其時脈信號之 用:且該第四:第五與第六正反器之輸出信號係用以作爲 該第二重組信號之用》 * 1 6 _如申請專利範圍第1 5項所述之測試模式之偵測裝 置,.其中該第四、第五與第六正反器係皆可爲一T型正反 器。· 23 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 1¾ 之 注 意 事 f 裝 訂 Αδ Β8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 申請專利範圍 1 7 _%申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 S ’,#中該第二重組信號係可爲一串列形式之重組信號, 18'如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 fi ’其中該第二重組信號係可爲一並列形式之重組信號 1 9 ·如申請專利範圍第1項所述之測試模式之偵測裝 ® ’其中該判別電路係可爲一比較器.。 2 〇 *如申請專利範圍第1 9項所述之測試模式之偵測裝 ®,·其中於該比較器比較該第一與第二重組信號相同時/ W可產生一測試模式信號丨以驅動設於該積體電路內部之 —測試線路而進入該測試模式中:否則該積體電路仍將維 持處於一正常工作模式中? 21·如申請專利範圍第i項所述之測試模式之偵測裝 置’.其中該測試模式之偵測裝置係可設於該積體電路之內 部。 * 2 2 *如申請專利範圍第3或第8項中之任一項所述之測 試模式之偵測裝置,,其中該測試模式之偵測裝置更可包 含:, 一信號產生電路_,其係用以產生該另一特定信號與該 特定信號\俾供另一信峰重組電路與該信號重組電路分別 產生該第一與第二重組信號。 2 3 *如申請專利範圍第2 2項所述之測試模式之偵測裝 置:其中該信號產生電路係可包含:. 一信號產生器,其係用以產生一原始信號輸出; 24 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210x297公釐) I,^--------Γ.---裝------訂-----線 »- (請先閱讀背面之注意事1丨填寫本頁) A8 B8 C8 D8 i、申請專利範圍 一狀態產生器,.電連接於該信號產生器(,該狀態產生 器係用以將該原始信號轉爲一狀態信號輸出:以及 一信號編碼器:電連接於該狀態產生器,,該信號編碼 器係用以將該狀態信號予以遂行編碼,,俾以產生該另一特 定信號或該特定信號輸出? 2 4 ·如申請專利範圍第2 3項所述之測試模式之偵測裝 置’、其中該另一特定信號或該特定信號係可爲一串列形式 之特定信號,。 2 5 ·如申請專利範圍第2 3項所述之測試模式之偵測裝 置,,其中該另一特定信號或該特定信號係可爲一並列形式 之特定信號^ 2 6 ·如申請專利範圍第2 2項所述之測試模式之偵測裝 置,,其中該信號產生電路係可電連接於該啓動信號輸入 端、,以因應該啓動信號處於該致能狀態時產生一致能動 作.,且於該啓動信號處於該禁能狀態時停止致能該信號產 生電路之動作.。 2 7 ·如申請專利範圍第2 2項所述之測試模式之偵測裝 置,、其中該另一特定信號與該特定信號係可爲相同之特定 信號·。 28·如申請專利範圍第27項所述之測試模式之偵測裝 置I其中該信號產生電路係可設於該積體電路內部中、,而 該測試模式之偵測裝置更可包含:. —多工裝置、其係用以使該特定信號與該積體電路之 一正常工作信號可共用該積體電路之一輸出接腳端, 25 本紙張尺度適用中國國家標準i CNS ) A4規格(2〖0X297公釐) 請先閱讀背面之注意事項-f^%寫本頁 裝 Τ 經濟部中央標準局員工消費合作社印袋 經濟部中央標準局員工消費合作社印繁 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 29 如申請專利範圍第2 8項所述之測試模式之偵測裝 置,其中該多工裝置係可爲一二對一之多工器.,該多工器 之選擇信號端係用以因應自該信號產生電路處所輸入之一 多工致能選擇信號:以將該特定信號或該正常工作信號輸 出至該輸出接腳端”俾對應該積體電路所處之工作模式係 爲該測試模式或該正常工作模式β * ' 30_如申請專利範圍第29項所述之測試模式之偵測裝 置,,其中該正常工作信號係可爲該積體電路中系統振盪器 之系統振盪輸出信號,而該輸出接腳端則係可爲該系統振 » 盪器之輸出接腳端义 3 1 · —種測試模式之偵測方法.,其係可應用於一積體電 路中,.且該方法係可用以配合一產生第一重組信號之測試 裝置,,該方法係可包含下列步驟: a) 輸入一特定信號.,使該積體電路因應該特定信號而 予以遂行分割.、重組,並產生一第二重組信號; , % b) 輸入該第一重組信號至該積體電路中.;以及 c )將該第一與第二重組信號遂行一判別動作.,俾以判 別是否使該積體電路進入該測試模式: 3 2 ·如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法,.其中於該步驟(a )之前更可包含步驟: d )提供一啓動信號予該積體電路.。 3 3 ·如申請專利範圍第3 2項所述之測試模式之偵測方 法”其中於該啓動信號處於一致能(enable).狀態時/方 遂行該步驟(a)至該步驟(c)·,且於該啓動信號處於一禁 26 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 請先閱讀背面之注意事項IV%寫本頁) 裝 ----訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 π'申請專利範圍 能(disable)狀態時;停止遂行該步驟(a )至該步驟 C c ) 〇 3 4 ·如申請專利範圍第3 2項所述之測試模式之偵測方 法’其中該致能狀態係可爲一高電準位狀態。. 3 5 ·如申請專利範圍第3 2項所述之測試模式之偵測方 法’其中該致能狀態係可爲厂低電準位狀態.。 3 6 _如申請專利範圍第3 2項所述之測試模式之偵測方 法’其中該啓動信號係可爲一重置(reset)信號,。 3 7 _如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 & ’其中該測試裝置係可爲一積體電路測試機台.,其係用 以量測該積體電路之內部特性與品質,。 3 8 ·如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法’其中該測試裝置係可輸入另一特定信號.,且予以遂行 分割、.重組.,俾得致產生該第一重組信號輸出.。 3 9 ·如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法,其中該第一重組信號係可爲一串列形式之重組信號.。 40·如申請專利範圍第31項所述之測試模式之偵測方 法,其中該第一重組信號係可爲一並列形式之重組信號,。 4 1 _如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法,其中於該步驟(a)中之該第二重組信號係可爲一串列 形式之重組信號。· 4 2 ·如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法:其中於該步驟(a)中之該第二重組信號係可爲一並列 形式之重組信號。 ♦ 27 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨0Χ297公釐) — ί-II------扣衣-------、玎------^ ^ (請先閱讀背面之注意事項Ρ填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8力、申請專利範圍 4 3 ·如申請專利範圍第3 1項所述之測試模式之偵測方 法’其中於該步驟(c)中判別比較該第一與第二重組信號 相同時:即可產生一測試模式信號,.以驅動設於該積體電 路內部之一測試線路而進入該測試模式中,否則該積體電 路仍將維持處於一正常工作模式中/ •4 4 _如申請專利範圍第3 3或第3 8項中之任一項所述 之測試模式之偵測方法,.其中該另一特定信號或該特定信 號係可爲一串列形式之特定信號.。 4 5 ·如申請專利範圍第3 3或第3 8項中之任一項所述 之測試模式之偵測方法.,其中該另一特定信號或該特定信 號係可爲一並列形式之特定信號。 4 6 ·如申請專利範圔第3 3或第3 8項中之任一項所述 之測試模式之偵測方法.,其中該另一特定信號與該特定信 號係可爲相同之特定信號·。 47 ·如申請專利範圍第4 6項所述之測試模式之偵測方 法,其中於該步驟(a )之後更可包括步驟: e )因應該啓動信號與一多工致能選擇信號,使該積體 電路自其輸出一正常工作信號之處:轉爲輸出該特定信 號;以及 ί )輸入該特定信號至該測試裝置中.,以得致產生該第 一重組信號。. (請先閱讀背面之注意事項Ρ蜞寫本頁) 裝 訂 Τ 威 28 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X207公嫠)
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