TW202338150A - 用於熱沉積的氣體分配板 - Google Patents
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- 238000009826 distribution Methods 0.000 title claims description 58
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 title 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 22
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 12
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 14
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 25
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000010146 3D printing Methods 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J8/00—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes
- B01J8/18—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with fluidised particles
- B01J8/1818—Feeding of the fluidising gas
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45565—Shower nozzles
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
- H01J37/32449—Gas control, e.g. control of the gas flow
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/4557—Heated nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/52—Controlling or regulating the coating process
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
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- B01J4/001—Feed or outlet devices as such, e.g. feeding tubes
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
本案描述了用於提供高速氣流噴淋頭供沉積腔室的裝置及方法。噴淋頭具有接觸背板的面板,背板具有凹部,以在背板與面板之間提供充氣室(plenum)。複數個熱元件位於背板的凹部內並延伸以接觸面板。
Description
本案的實施例係關於用於半導體處理腔室的氣體分配板。特定而言,本案的實施例係關於具有表面溫度均勻性的高氣體切換速度的噴淋頭。
氣相沉積製程(例如,化學氣相沉積、原子層沉積)需要快速循環時間以實現高產量。該領域的挑戰是快速引入並去除不相容的前驅物,因此反應性化學物質不會在不對的時間(即,在氣相中)相互作用,從而導致不均勻沉積。通常,使用具有高速與低傳導性的氣體分配組件的沉積會犧牲流動均勻性及沉積均勻性。
此外,需要良好的噴淋頭的熱均勻性,以實現晶片的沉積均勻性。現有的噴淋頭不能提供具有低傳導率或溫度均勻性的高速。因此,本領域需要新的噴淋頭設計,其提供良好的流動均勻性及溫度控制。
本案的一或多個實施例係關於包括面板及背板的氣體分配板。面板具有定義厚度的前表面及後表面。複數個開孔延伸穿過厚度。背板具有定義厚度的前表面及後表面。背板的前表面與面板的後表面相接觸。背板的前表面包括凹部,以形成由該凹部與面板的後表面為界的充氣室。複數個熱元件從凹部延伸以接觸面板的後表面。
本案的另外的實施例係關於處理腔室,其包括具有支撐表面及如本案所述的氣體分配板的基板支撐件。控制器連接到處理腔室及/或氣體分配板。控制器具有選自以下的一或多種配置:用於向氣體分配板提供氣流的配置、用於控制氣體分配板的溫度的配置、用於控制基板支撐件的溫度的配置、或用於移動及/或旋轉基板支撐件的配置。
本案的其他實施例係關於處理基板的方法。控制氣體分配板的溫度。氣體分配板具有面板,面板具有定義厚度的前表面及後表面,以及延伸穿過厚度的複數個開孔。氣體分配板具有背板,背板具有定義厚度的前表面及後表面。背板的前表面與面板的後表面相接觸。背板的前表面包括凹部,以形成由該凹部與面板的後表面為界的充氣室。複數個熱元件從凹部的凹表面延伸並且接觸面板的後表面。氣體流入氣體分配板中的充氣室。
本案的另外的實施例係關於非暫態電腦可讀媒體。非暫態電腦可讀媒體包括指令,當由處理腔室的控制器執行時,使得處理腔室執行以下的一或多個操作:控制氣體分配板的溫度及/或控制流入氣體分配板的充氣室的氣體流。氣體分配板具有面板,面板具有定義出厚度的前表面及後表面,以及延伸穿過厚度的複數個開孔。氣體分配板具有背板,背板具有定義出厚度的前表面及後表面。背板的前表面與面板的後表面相接觸。背板的前表面包括凹部,以形成由該凹部與面板的後表面為界的充氣室。複數個熱元件從凹部的凹表面延伸並接觸面板的後表面。
本案的實施例係關於用於快速循環過程的噴淋頭。本案的實施例提供高氣體流速的噴淋頭,以供具有溫度均勻性的快速氣體切換。這透過整個氣體分配路徑中的低橫截面的流動面積來實現,以獲得高氣體速度。良好的溫度均勻性透過在氣體充氣室週期性地具有高傳導性的傳熱路徑所產生。
整個晶片表面的氣流均勻性,可透過決定通過面板的氣體供給孔的尺寸與數量來產生。溫度均勻性,可透過在薄噴淋頭與噴淋頭面板相鄰(上方)的厚的溫控板之間提供複數個週期性傳熱元件來產生。本案的一些實施例,利用不同數量的孔及/或不同尺寸的孔,來將氣體均勻地分配到晶片。
具有用於快速氣體流速的高速氣流的現有噴淋頭,並不具有可使通常傳遞到面板的熱量能夠流到相鄰的冷卻板的傳熱元件。在向面板增加熱量的情況下,熱量通常沿著薄面板材料水平地傳導。熱量從高溫區域流向低溫區域。這意味著面板的中心比邊緣更熱。若晶片的溫度低於面板的溫度並且熱量正離開面板,則噴淋頭的中心將比邊緣更冷(在沒有熱元件的情況下)。
本案的實施例藉由使用錐形充氣室形狀來平衡傳導率及均勻性,以將氣流均勻地分散到相對大的注入孔。內部傳熱元件用來解決典型充氣室的不利的熱均勻性效應。傳熱元件的尺寸、數量、及圖案將熱量分流到溫度受控制的背板。本設計目前透過將面板擴散結合至(厚的、溫度受控制的、結構上以保持真空產生的力的)背板來製造。此設計還可用硬焊(brazed)或可能以金屬3D列印來製造。
本案的實施例有利地提供高氣體通量的低傳導性。一些實施例有利地提供具有錐形充氣室形狀及氣孔的可變密度或尺寸的良好的流動均勻性。一些實施例透過結合內部傳熱元件,有利地改善了噴淋頭的熱均勻性。一些實施例有利地提供了一種不引入與半導體製程不相容的材料的結合方法。本案的一些實施例係關於具有內部錐形充氣室及複數個週期性內部傳熱元件的經結合的噴淋頭,以改善熱均勻性。
在一些實施例中,傳熱元件包括在噴淋頭面板與結構及溫度受控背板之間的柱狀連接。在使用中,面板平行於晶片而定位,使得面板能將氣體分配到晶片。結構背板可連接到面板上。背板可具有加熱器及/或冷卻功能,以提供溫度控制。
參照圖1與圖2,本案的一或多個實施例係關於氣體分配板100。圖1圖示了氣體分配板100的等距視圖,而圖2圖示了圖1的沿線2-2截取的氣體分配板100的的橫截面視圖。
氣體分配板100包括面板120及背板150。所示實施例圖示了連接至背板150的面板120。一些實施例的面板120透過使用合適的材料(包括但不限於銅與鋅的合金)來硬焊、透過擴散結合、透過焊接、或透過用任何合適的材料的軟焊而結合至背板150。
在所示實施例中的面板120具有外周面121、前表面122、及後表面124。面板120的厚度,由前表面122與後表面124之間的距離所定義。在圖1的實施例的面板中,外周面含有具有密封表面123的台階部分125。一些實施例的台階部分125提供表面以與其他部件(例如,處理腔室蓋)協作地相互作用,以形成更大的結構(例如,處理腔室)。密封表面123可包括一或多個通道(未圖示),以允許包含O形環172(如圖7所示),以幫助保持氣密密封。
面板120包括複數個開孔130,開孔130延伸穿過面板120的厚度。參照圖2與圖3,延伸穿過面板120的複數個開孔130中,具有在前表面122中的開口132,及在後表面124中的開口134。開孔的尺寸及形狀可為均勻的或可改變的,使得每個開孔130的形狀及/或尺寸與相鄰開孔130的形狀及/或尺寸無關。
前表面122中的開口132具有前表面直徑D
FS,而後表面124中的開口134具有後表面直徑D
BS。一些實施例的前表面直徑D
FS與後表面直徑D
BS大致上相同,使得開孔130的側壁133平行。在一些實施例中,開孔130具有平行的側壁,並且以大致上垂直於前表面122及後表面124的方式延伸。開口134的直徑可根據例如氣體分配板100的使用而改變。例如,對於化學氣相沉積(CVD)製程,一些實施例的開口小於用於原子層沉積(ALD)製程的開口。
在一些實施例中,如圖2與圖3所示,前表面直徑與後表面直徑不相同。在所示實施例中,後表面直徑D
BS大於前表面直徑D
FS,使得開孔130從後表面124至前表面122逐漸變細(為直線狀或彎曲狀)。換句話說,在一些實施例中,前表面直徑D
FS小於後表面直徑D
BS。
圖式中所示的開孔130具有後部135及前部136(參照圖3)。過渡部分137位於後部135與前部136之間。在所示實施例中,開孔130的側壁133在後部135中及在前部136中為平行的。在背部135中的開孔130的直徑比在前部136的直徑還大,使得過渡部分137經成形以將前部136連接至後部135。本領域技術人員將理解,過渡部分137的特定形狀可是任何合適的形狀,包括但不限於,漏斗狀線性錐形、橢圓形錐形、或為垂直於側壁133的平坦表面。過渡部分T
AT的長度可基於前部T
AF的長度與後部T
AB的長度而改變。
參照回圖1與圖2,一些實施例的背板150具有外周邊緣151、前表面152、及後表面154。背板的厚度由前表面152至後表面154所定義。圖1中所示的實施例包括複數個開口158,以允許放置感應器、電連接、或緊固件中的一或多者。
參照圖2,在一些實施例中,背板150的前表面152包括位於背板150中心的凹部155。凹部155形成由前表面152的凹部155與面板120的後表面124為界的充氣室157。
複數個熱元件160從凹部155的凹表面延伸,以接觸面板120的後表面124。熱元件160在背板150與面板120之間提供改善的導熱性。在圖2所示的實施例中,圖示了線2-2的平面後方的一些熱元件160。這些熱元件以元件標記160b標示以顯示出差異。
熱元件160的數量,可根據例如凹部155的直徑、被處理的基板、或製程氣體的熱導率而改變。圖2中的熱元件的數量,不應視為限制本案的範圍。在具有經定徑以處理300 mm晶片的背板150的一些實施例中,具有在約50至約750個範圍內的熱元件、或者在約100至約500個範圍內的熱元件、或者在約150至約400個範圍內的熱元件、或者在約200至約300個範圍內的熱元件。
圖4圖示了根據本案的一或多個實施例的背板150的一部分。為描述的目的,凹部155的曲率被誇大,並且不應被視為限制本案的範圍。根據一些實施例,熱元件160具有獨立的長度LT,其中三個熱元件160在圖4中圖示出。為描述的目的,最短的熱元件具有標記為LT1的長度,中間長度的熱元件160具有標記為LT2的長度,而最長的熱元件160具有標記為LT3的長度。將能理解的是,為了描述的原因圖示出了三個長度,而本案不限於三個不同長度的熱元件。
在一些實施例中,位於與一中心線(參照圖5)等距離的熱元件160具有大致上相同的長度LT。以此方式記載時,用語「大致上相同」意味著長度為等距熱元件的平均長度的±5%、±2%、或±1%內。
熱元件160延伸到熱元件160的前表面161。一些實施例的各種熱元件160的前表面161的寬度或直徑D
T大致上相同。以此方式記載時,用語「大致上相同」意味著前表面161的直徑為熱元件160的平均直徑的±5%、±2%、或±1%內。在一些實施例中,熱元件160的前表面161具有獨立的直徑。
根據一些實施例,熱元件160的前表面161大致上是共面的。以此方式記載時,用語「大致上共面」意味著表面在平均所有表面形成的平面的±0.05 mm、±0.04 mm、±0.03 mm、±0.025 mm、±0.02 mm、±0.015 mm、或±0.0125 mm內。
在一些實施例中,如圖4所示,每個熱元件160具有錐形輪廓,在凹部155的凹表面處具有喇叭形基座164,並且在前表面161處具有較窄端。如圖4所示,熱元件具有在凹表面處的直徑D
TC,其大於在前表面161處的直徑D
T。在一些實施例中,凹部155具有凹部直徑D
C,凹部直徑D
C小於背板150的外周直徑D
P,以在外正面環153處提供密封表面。在一些實施例中,密封表面提供與面板120的接觸點。在一些實施例中,背板150在密封表面處結合至面板120。在一些實施例中,背板150在熱元件160的前表面161處結合至面板120。在一些實施例中,背板150在外正面環153的密封表面處以及在熱元件160的前表面161處結合至面板120。
圖9圖示了圖4的區域9的擴展部分,其圖示了背板150(或充氣板310,如以下所述)的替代實施例。在圖9的實施例中,熱元件160具有從凹部155到前表面161的大致均勻的直徑D
T。在一些實施例中,熱元件160直接從凹部155延伸,在延伸點處形成一硬角。在一些實施例中,如圖9所示,熱元件160在凹部155處的熱元件160的部分處具有圓角部分182,使得從凹部155到熱元件160的側壁181的過渡為略微漸縮。
參照圖5與圖6,在一些實施例中,背板150具有外周邊緣151,並且凹部155具有外周邊緣159。在一些實施例中,在外周邊緣151處的背板的直徑D
P大於凹部155的直徑D
C,使得外正面環153形成在背板150的前表面152處。在一些實施例中,外正面環153大致上是平的。以此方式記載時,用語「大致上平坦」意味著由表面形成的平面距外正面環153的表面不超過2 mm、1 mm、或0.5 mm。在一些實施例中,在外正面環153處的背板150的前表面152與熱元件160的前表面161大致上為共面的。
參照圖5,一些實施例的凹部直徑D
C大於或等於約90%的外周直徑D
P。在一些實施例中,凹部直徑D
C大於或等於約70%、75%、80%、85%、95%、或98%的外周直徑D
P。在一些實施例中,凹部直徑D
C小於或等於約100%、99%、98%、95%、90%、85%、或80%的外周直徑D
P。
再參照回圖2,一些實施例的背板150還包括氣體入口170。氣體入口170提供背板150的後表面154與形成在背板150與面板120之間的充氣室157之間的流體連通。在一些實施例中,在氣體入口170周圍形成槽171以用於O形環172(參照圖7)。
在一些實施例中,背板150還包括在背板150的主體內的熱控制部件174。熱控制部件174是本領域技術人員已知的可改變背板150的溫度的任何合適的部件。合適的熱控制部件包括但不限於電阻加熱器、冷卻器(例如,珀耳帖裝置)、或允許加熱或冷卻流體流過背板150的通道。一些實施例的熱控制部件174,因具有熱元件而能控制背板150及面板120的溫度。
背板150與面板120可由相同材料或不同材料製成。在一些實施例中,背板或面板中的一或多者包括鋁。在一些實施例中,背板或面板中的一或多者包括具有氧化物塗層的鋁。
參照圖7,本案的一些實施例係關於包括氣體分配板100的處理腔室200。處理腔室200包括頂部202、底部204、及包圍內部容積205的至少一側壁206。一些實施例的氣體分配板100定位在頂部202中的一開口內,使得面板120的密封表面123在頂部202上。所示的實施例包括位於頂部202與密封表面123之間的O形環234。O形環234可在一槽中,該槽形成於頂部202或密封表面123的一或多者上。入口凸緣179連接至氣體入口170,以提供用於氣體供應的連接。入口凸緣179使用O形環172而與氣體入口170形成氣密密封,O形環172可位於背板150中的槽173中(參照圖2)。
基板支撐件210位於處理腔室200的內部容積205中。一些實施例的基板支撐件210連接到支撐軸214。支撐軸214可與基板支撐件210一體形成,或者可為不同於基板支撐件210的單獨的部件。一些實施例的支撐軸214經配置以圍繞基板支撐件210的中心軸212旋轉213。所示實施例包括在基板支撐件210的支撐表面211上的基板230。基板230具有面向面板120的前表面122的基板表面231。支撐表面211與面板120的前表面122之間的空間可稱為反應空間233。來自內部容積205及/或反應空間233的氣體可藉由排氣口241排出。
在一些實施例中,支撐軸214經配置以使支撐表面211移動217更靠近或遠離面板120的前表面222。為了旋轉213或移動217支撐表面211,一些實施例的處理腔室200包括一或多個馬達219,馬達219經配置用於旋轉或平移運動中的一或多者。儘管圖7中圖示出了單一馬達219,本領域技術人員會熟悉將合適的馬達及適當的部件經配置以執行旋轉或平移運動。
一些實施例的基板支撐件210包括在基板支撐件210內的加熱器245。加熱器245可為本領域技術人員已知的任何合適的加熱器,包括但不限於,電阻加熱器及流動通道。在一些實施例中,基板支撐件210包括冷卻系統。加熱器245或冷卻系統連接至熱控制器247,以控制功率或流速,以控制基板支撐件210的溫度。
處理腔室200的一些實施例包括至少一個控制器290,其耦合到背板150中的處理腔室200、基板支撐件210、支撐軸214、馬達219、氣體入口170、或熱控制部件174中的一或多者。在一些實施例中,有一個以上的控制器290連接到各個部件,並且主控制處理器耦合到每個單獨的控制器或處理器以控制系統。控制器290可為任何形式的通用電腦處理器、微控制器、微處理器等其中一者,其可在工業設置中用以控制各種腔室及子處理器。
至少一控制器290可具有處理器292、耦合到處理器292的記憶體294、耦合到處理器292的輸入/輸出設備296,以及不同電子部件之間的通訊的支持電路298。記憶體294可包括暫態記憶體(例如,隨機存取記憶體)與非暫態記憶體(例如,儲存器)中的一或多者。
處理器的記憶體294或電腦可讀媒體,可為隨即可獲得的記憶體中的一或多者,例如隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、軟碟、硬碟、或任何其他形式的本地的或遠端的數位儲存器。記憶體294可保留可由處理器292操作的指令集,以控制系統的參數及部件。支持電路298耦合到處理器292,以習知方式支持處理器。電路可包括例如緩衝儲存(cache)、電源、時脈電路、輸入/輸出電路、子系統等類似者。
程序通常可為儲存在記憶體中的軟體常式,當由處理器執行該軟體常式時,使得處理腔室執行本案的程序。軟體常式還可由第二處理器(未圖示)儲存及/或執行,該第二處理器位於由處理器所控制的硬體的遠端。本案的一些或所有方法也可用來在硬體中執行。如此,程序可用軟體來實施並使用硬體中的電腦系統來執行成例如特殊應用積體電路或其他類型的硬體實施、或者以軟體與硬體的組合來實施。當由處理器執行時,軟體常式將通用電腦變換為控制腔室操作的特定目的電腦(控制器),以便執行該些程序。
在一些實施例中,控制器290具有一或多個配置以執行各個程序或子程序,以執行本案的實施例。控制器290可連接到中間部件並經配置以操作中間部件來執行方法的功能。例如,控制器290可連接至並經配置以控制氣閥、致動器、馬達、狹縫閥、真空控制等中的一或多者。
一些實施例的控制器290或非暫態電腦可讀媒體具有從以下配置中選擇的一或多個配置或指令:圍繞中心軸212旋轉基板支撐件210;提供流入氣體分配板100的氣體流;控制排氣閥242;控制背板150中的熱控制部件174;測量背板150內的溫度;測量反應空間233中的溫度;或者,測量基板支撐件210的溫度。
本案的另外的實施例係關於處理基板的方法。使用熱控制系統及供溫度反饋的一或多個溫度感應器,來控制具有如本案所述的具有面板120及背板150的氣體分配板100的溫度。氣體流入在氣體分配板100中的充氣室157,並進入處理腔室200的反應空間233。
本案的進一步實施例係關於包括指令的非暫態電腦可讀媒體,該指令在由處理腔室的控制器執行時使得處理腔室執行以下操作中的一或多個的操作:控制氣體分配板的溫度,氣體分配板具有面板,面板具有定義出厚度的前表面及後表面,以及延伸穿過厚度的複數個開孔;以及一背板,背板具有定義出厚度的前表面及後表面,背板的前表面接觸面板的後表面,背板的前表面包括凹部,以形成由凹部與面板的後表面為界的充氣室,以及從凹部的凹表面延伸並接觸面板的後表面的複數個熱元件;或者,控制氣體流入氣體分配板的充氣室。
圖8圖示了氣體分配板300的另一個實施例,其中背板150是兩個單獨的部件;充氣板310及背板蓋320。充氣板310具有後表面312,後表面312接觸背板蓋320的前表面321。如參照以上圖2所述,充氣板310包括氣體入口170、熱元件160、凹部155、及充氣室157。
在一些實施例中,使用機械緊固件將充氣板310連接到背板蓋320。合適的機械緊固件,包括但不限於,螺栓、螺釘、鉚釘、膠帶、膠水、及水泥。在一些實施例中,充氣板310結合至面板120。合適的結合類型,包括但不限於,焊料結合、焊接、及夾壓(crimps)。
在一些實施例中,氣體分配板300是兩個部件。背板蓋320接觸充氣板310,或緊固到充氣板310。充氣板310結合至面板120。習知技藝者將理解到圖2的實施例中的兩個部件的分離,而分離成如圖8中的相應的三個部件的實施例。仍然參照圖8,在一些實施例中,氣體分配板300包括面板120,充氣板310,及背板蓋320。面板120具有定義出厚度的前表面122及後表面124,以及延伸穿過厚度的複數個開孔130。
充氣板310具有定義出充氣板310的厚度的前表面152及後表面312。充氣板的前表面152接觸面板120的後表面124。充氣板310的前表面152包括凹部155,凹部155與面板120形成充氣室。充氣板310的凹部155與面板120的後表面124的組合,形成了作為充氣室157的空腔。氣體入口170允許了充氣板310的後表面312與充氣室157之間的流體連通。充氣板310包括從凹部155的凹表面延伸以接觸面板120的後表面124的熱元件160。
背板蓋320包括定義出背板蓋320的厚度的前表面321及後表面154。如上所述,背板蓋320與充氣板310的組合厚度等於背板150的厚度。
背板蓋320的後表面154是背板150的後表面154,其包括充氣板310及背板蓋320。一些實施例的背板蓋320包括熱控制元件,以改變或控制背板蓋320、充氣板310、及面板120的溫度。熱控制元件包括一或多個加熱器374或一或多個冷卻通道330。背板蓋320包括與充氣板310的氣體入口170對準的氣體入口170a,以允許背板蓋320的後表面154至在充氣板310與背板蓋320之間的充氣室157之間的流體連通。
熱元件160的形狀經配置以平衡通過充氣室157的氣流與面板120的熱均勻性。在一些實施例中,熱元件160具有細長輪廓,以改善從氣體入口170到充氣室157的外周邊緣159的氣流。圖10圖示了充氣板310(或背板150)的仰視圖,顯示了虛線313,其表示從充氣板310的中心的角定向。複數個熱元件160經成形並配置而圍繞凹部155,使得熱元件160具有垂直於來自中心的氣流的較小橫截面積。
圖11A至11C圖示出了兩個示例性熱元件160的前表面161的視圖。在圖11A中,熱元件160具有菱形或鑽石形形狀,其中熱元件160的內邊緣361面向充氣板310的中心。從氣體入口170流出的氣體遇到熱元件160的內邊緣361並且沿著表面362、363流到熱元件160的外邊緣364。一些實施例的內邊緣361與外邊緣364中的每一者,個別具有圓角輪廓(如圖所示)或尖銳輪廓。在一些實施例中,內邊緣361與外邊緣364都具有圓角輪廓,如圖11A所示。在一些實施例中,內邊緣361與外邊緣364都具有尖銳輪廓,如圖11C所示。在一些實施例中,內邊緣361或外邊緣364中的一者具有圓角輪廓,而內邊緣361與外邊緣364中的另一者具有尖銳輪廓。
圖11A中所示的實施例具有類似鑽石的形狀,具有四個不同的表面362、363、367、368。表面362在圓角365處與表面367相交,並且表面363在圓角366處與表面368相交。表面362、363、367、368可在轉角(corners)之間是平坦的或具有圓形輪廓。在圖11B所示的實施例中,熱元件160具有美式足球形的輪廓(長橢球形輪廓),其具有不同的內邊緣361與外邊緣364,以及將內邊緣361與外邊緣364連接的彎曲表面362、363。彎曲表面362、363的轉折點371、372相當於圖11A的圓角365、366。
在一些實施例中,如圖11C所示,熱元件160具有橢圓形輪廓。類似於圖11B,內邊緣361與外邊緣364藉由表面362、363連接。轉折點371、372相當於圖11A的圓角365、366。
在整個說明書中對於「一個實施例」、「某些實施例」、「一或多個實施例」、或「一實施例」的參照,表示著結合該實施例所描述的特定特徵、結構、材料、或特性係包含在本發明的至少一個實施例中。因此,在整個說明書中各處出現的諸如「在一或多個實施例中」、「在某些實施例中」、「在一個實施例中」、或「在一實施例中」的用語,不一定是指本案的相同的實施例。此外,特定的特徵、結構、材料、或特性,可在一或多個實施例中以任何合適的方式組合。
儘管已經參照特定實施例描述了本案的公開內容,但是本領域技術人員將理解,所描述的實施例僅僅是對本案的原理及應用的說明。對於本領域技術人員顯而易見的是,在不脫離本案的精神與範圍的情況下,可對本案的方法及裝置進行各種修改和變化。因此,本案可包括在所附申請專利範圍及其均等物的範圍內的修改和變化。
100:氣體分配板
120:面板
121:外周面
122:前表面
123:密封表面
124:後表面
125:台階部分
130:開孔
132:開口
133:側壁
134:開口
135:後部
136:前部
137:過渡部分
150:背板
151:外周邊緣
152:前表面
153:外正面環
154:後表面
155:凹部
157:充氣室
158:開口
159:外周邊緣
160:熱元件
160b:熱元件
161:前表面
164:喇叭形基座
170:氣體入口
170a:氣體入口
172:O形環
173:槽
174:熱控制部件
179:入口凸緣
181:側壁
182:圓角部分
200:處理腔室
202:頂部
204:底部
205:內部容積
206:側壁
210:基板支撐件
211:支撐表面
212:中心軸
213:旋轉
214:支撐軸
217:移動
219:馬達
230:基板
231:基板表面
233:反應空間
234:O形環
241:排氣口
242:排氣閥
245:加熱器
247:熱控制器
290:控制器
292:處理器
294:記憶體
296:輸入/輸出設備
298:支持電路
300:氣體分配板
310:充氣板
312:後表面
313:虛線
320:背板蓋
321:前表面
330:冷卻通道
361:內邊緣
362:表面
363:表面
364:外邊緣
365:圓角
366:圓角
367:表面
368:表面
371:轉折點
372:轉折點
因此,為詳細地理解本案的上述特徵,可透過參照實施例而得到以上簡要概述的本案的更具體的描述,其中一些實施例在附圖中圖示出。然而,應注意的是,附圖僅圖示了本案的典型實施例,因此不應認為是對其範圍的限制,因為本案可允許其他均等有效的實施例。這裡描述的實施例透過示例的方式圖示出,而非受這些附圖所限制,其中相同的附圖標記表示類似的元件。
圖1是根據本案的一或多個實施例的氣體分配板的立體圖;
圖2是圖1的沿著線2-2截取的氣體分配板的橫截面圖;
圖3是根據一或多個實施例的氣體分配板的一部分的橫截面展開圖;
圖4是根據本案的一或多個實施例的背板的局部橫截面圖;
圖5是根據本案的一或多個實施例的背板的示意性橫截面圖;
圖6是根據本案的一或多個實施例的背板的橫截面底部立體圖;
圖7是根據本案的一或多個實施例的處理腔室的示意圖;
圖8是根據本案的一或多個實施例的氣體分配板的橫截面圖;
圖9是圖4中所示根據本案的一或多個實施例的熱元件的區域9的展開圖;
圖10是根據本案的一或多個實施例的充氣板的示意性前視圖;以及
圖11A至11C是根據本案的一或多個實施例的熱元件的示意性前視圖。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記)
無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記)
無
100:氣體分配板
120:面板
121:外周面
122:前表面
123:密封表面
124:後表面
125:台階部分
130:開孔
132:開口
133:側壁
134:開口
150:背板
151:外周邊緣
152:前表面
154:後表面
155:凹部
157:充氣室
160:熱元件
160b:熱元件
170:氣體入口
173:槽
174:熱控制部件
Claims (18)
- 一種氣體分配背板,包括:一前表面及一後表面,該前表面及該後表面定義出一厚度,該前表面具有一凹部,該凹部具有一凹表面,該複數個熱元件從該凹表面延伸至該熱元件的一前表面,該些熱元件的該些前表面的每一者大致上是共面的。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該些熱元件中的每一者具有一錐形輪廓,該錐形輪廓在該凹部的該凹表面處具有一喇叭形基座,並且在該前表面處具有一較窄端。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該背板具有一外周邊緣,並且該凹部具有一外周邊緣。
- 如請求項3所述的氣體分配背板,其中在該凹部的該外周邊緣與該背板的該外周邊緣之間所定義為該背板的該前表面的一外正面環大致上是平的。
- 如請求項4所述的氣體分配背板,其中在該外正面環處的該背板的該前表面與該些熱元件的該些前表面大致上是共面的。
- 如請求項4所述的氣體分配背板,其中該凹部具有一凹部直徑D C,該凹部直徑D C小於該背板的一外周直徑D P,以在該外正面環處提供一密封表面。
- 如請求項6所述的氣體分配背板,其中該凹部直徑D C大於或等於約70%的該外周直徑D P。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該背板還包括一氣體入口,該氣體入口提供該背板的該後表面與該凹表面之間的流體連通。
- 如請求項8所述的氣體分配背板,其中該氣體入口係位於該凹表面的一中心。
- 如請求項9所述的氣體分配背板,其中位在相距該中心等距的該些熱元件具有大致上相同長度。
- 如請求項8所述的氣體分配背板,其中該背板的該後表面包括一槽,該槽形成在該氣體入口周圍。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該背板還包括一熱控制部件,該熱控制部件在該背板的一主體內以控制該背板與面板的一溫度。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該些熱元件的每一者具有從該凹部到該前表面的一大致均勻的直徑。
- 如請求項13所述的氣體分配背板,其中該些熱元件直接從該凹表面延伸,在相距該凹表面的一延伸點處形成一硬角。
- 如請求項13所述的氣體分配背板,其中該些熱元件具有一圓角部分,該圓角部分位在該凹部處的該熱元件的該部分處,使得從該凹部到該熱元件的一側壁的過渡為略微漸縮。
- 如請求項1所述的氣體分配背板,其中該些熱元件具有一細長輪廓,該些熱元件具有垂直於來自該凹部的一中心的一氣流的一較小的橫截面積。
- 如請求項16所述的氣體分配背板,其中該些熱元件具有一或多個一鑽石形形狀,其中該熱元件的一內邊緣面向該中心。
- 如請求項16所述的氣體分配背板,其中該些熱元件具有一長橢球形輪廓,該長橢球形輪廓具有不同的一內邊緣與一外邊緣,以及彎曲表面,該些彎曲表面將該內邊緣與該外邊緣連接。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862711039P | 2018-07-27 | 2018-07-27 | |
US62/711,039 | 2018-07-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202338150A true TW202338150A (zh) | 2023-10-01 |
Family
ID=69179520
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW112120797A TW202338150A (zh) | 2018-07-27 | 2019-07-26 | 用於熱沉積的氣體分配板 |
TW108126461A TWI805813B (zh) | 2018-07-27 | 2019-07-26 | 用於熱沉積的氣體分配板 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108126461A TWI805813B (zh) | 2018-07-27 | 2019-07-26 | 用於熱沉積的氣體分配板 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11110425B2 (zh) |
KR (1) | KR102590931B1 (zh) |
TW (2) | TW202338150A (zh) |
WO (1) | WO2020023854A1 (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20210005515A (ko) * | 2019-07-03 | 2021-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
KR20210004189A (ko) * | 2019-07-03 | 2021-01-13 | 주식회사 엘지화학 | 방염 플레이트를 구비한 배터리 모듈, 이를 포함하는 배터리 랙 및 전력 저장 장치 |
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US9490149B2 (en) * | 2013-07-03 | 2016-11-08 | Lam Research Corporation | Chemical deposition apparatus having conductance control |
WO2018057396A1 (en) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | Applied Materials, Inc. | Sputtering showerhead |
-
2019
- 2019-07-26 US US16/523,252 patent/US11110425B2/en active Active
- 2019-07-26 TW TW112120797A patent/TW202338150A/zh unknown
- 2019-07-26 WO PCT/US2019/043626 patent/WO2020023854A1/en active Application Filing
- 2019-07-26 TW TW108126461A patent/TWI805813B/zh active
- 2019-07-26 KR KR1020217005532A patent/KR102590931B1/ko active IP Right Grant
-
2021
- 2021-09-03 US US17/466,756 patent/US11583816B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11110425B2 (en) | 2021-09-07 |
KR20210025688A (ko) | 2021-03-09 |
US11583816B2 (en) | 2023-02-21 |
US20200030766A1 (en) | 2020-01-30 |
KR102590931B1 (ko) | 2023-10-19 |
WO2020023854A1 (en) | 2020-01-30 |
KR20230148393A (ko) | 2023-10-24 |
US20210394144A1 (en) | 2021-12-23 |
TW202020214A (zh) | 2020-06-01 |
TWI805813B (zh) | 2023-06-21 |
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