TW202137181A - 顯示模組校正方法以及顯示模組校正系統 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種顯示模組校正系統,包括一顯示模組檢測裝置以及一待測顯示模組。顯示模組檢測裝置提供一點燈檢測訊號以及一分屏訊號。待測顯示模組電性連接顯示模組檢測裝置,接收點燈檢測訊號以及分屏訊號。當待測顯示模組發生一亮度非均勻狀態時,顯示模組檢測裝置提供分屏訊號至待測顯示模組,將待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區,並獲取第一分屏區以及第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊。顯示模組檢測裝置依據亮度平均差異資訊調整待測顯示模組的第一分屏區或第二分屏區的一灰階值。
Description
本發明涉及一種顯示模組校正方法以及顯示模組校正系統,特別是涉及一種節省測試時間的顯示模組校正方法以及顯示模組校正系統。
顯示模組製造廠商在自動化生產過程容易遇到測試過程異常而無法執行缺陷校正的問題,尤其是亮度不均勻(Mura)的情況。然而,多數校正方法都需要大量的計算時間以及調整過程。
因此,提供一種節省測試時間的顯示模組校正系統以及顯示模組校正模組,已經是業界的一個重要課題。
本發明所要解決的技術問題在於,針對現有技術的不足提供一種顯示模組校正方法。顯示模組校正方法包含以下步驟:提供一點燈測試訊號至一待測顯示模組,以獲得待測顯示裝置的一亮度均勻度資訊;依據亮度均勻度資訊判斷,當待測顯示模組處於一亮度非均勻狀態時,提供一分屏訊號至待測顯示模組,將待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區;獲取第一分屏區以及第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊;以及依據亮度平均差異資訊調整待測顯示模組的第一分屏區或第二分屏區的一灰階值。
本發明還公開了一種顯示模組校正系統,包括:一顯示模組檢測裝置以及一待測顯示模組。顯示模組檢測裝置提供一點燈檢測訊號以及一分屏訊號。待測顯示模組電性連接顯示模組檢測裝置,並接收點燈檢測訊號以及分屏訊號。當待測顯示模組處於一亮度非均勻狀態時,顯示模組檢測裝置提供分屏訊號至待測顯示模組,將待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區,並獲取第一分屏區以及第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊。顯示模組檢測裝置依據亮度平均差異資訊調整待測顯示模組的第一分屏區或第二分屏區的一灰階值。
本發明的其中一有益效果在於,本發明所提供的顯示模組校正系統以及顯示模組校正方法,是擷取待測顯示模組部分區域進行亮度均勻度資訊的計算,以待測顯示模組部分區域的亮度均勻度資訊進行補償,來提高亮度均勻度,同時還可以節省計算量以及測試時間。此外,本發明所提供的顯示模組校正系統以及顯示模組校正方法亦可將原本無法修復的分屏缺陷修復成正常效果,有效提升校正的執行率。
為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容,請參閱以下有關本發明的詳細說明與圖式,然而所提供的圖式僅用於提供參考與說明,並非用來對本發明加以限制。
以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所提供有關“顯示模組校正方法及其系統”的實施方式,本領域技術人員可由本說明書所提供的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用,本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用,在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外,本發明的附圖僅為簡單示意說明,並非依實際尺寸的描繪,事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容,但所提供的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
應當可以理解的是,雖然本文中可能會使用到 “第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號,但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件,或者一信號與另一信號。另外,本文中所使用的術語“或”,應視實際情況可能包含相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。
[第一實施例]
圖1是本發明第一實施例的顯示模組校正方法的流程圖。圖2是應用本發明第一實施例的顯示模組校正方法的一顯示模組校正系統的示意圖。
請參閱圖1以及圖2,本實施例提供一種顯示模組校正方法,包括下列步驟:
提供一點燈測試訊號至一待測顯示模組,以獲得待測顯示裝置的一亮度均勻度資訊(步驟S110);
依據亮度均勻度資訊判斷,當待測顯示模組處於一亮度非均勻狀態時,提供一分屏訊號至待測顯示模組,將待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區(步驟S120);
獲取第一分屏區以及第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊(步驟S130);
依據亮度平均差異資訊調整待測顯示模組的第一分屏區或第二分屏區的一灰階值(步驟S140);
請繼續參閱圖1以及圖2,顯示模組校正系統1包括一顯示模組檢測裝置10以及一待測顯示模組11。待測顯示模組11是一大尺寸顯示模組,包含但不限於,其尺寸例如是32吋-120吋。待測顯示模組11的解析度可以是4K解析度或是8K解析度。4K解析度至少包括3840*2160以及4096*2160兩種解析度;8K解析度則是至少包括7680*4320的解析度。
待測顯示模組11包括多個畫素區塊11BL。於本案第一實施例中,待測顯示模組11是4K解析度的顯示模組,包括3840*2160個畫素或是4096*2160個畫素,但不以此為限。
圖3是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置的結構示意圖。
請參閱圖2以及圖3,在步驟S110中,顯示模組檢測裝置10會提供一點燈測試訊號至待測顯示模組11,進行亮度均勻度測試。顯示模組檢測裝置10包括一處理模組10a、一記憶體模組10b以及一通訊模組10c。顯示模組檢測裝置10的處理模組10a利用通訊模組10c連接待測顯示模組11,提供多個點燈測試訊號以及分屏訊號給待測顯示模組11。處理模組10a電性連接記憶體模組10b以及通訊模組10c。記憶體模組10b中儲存有多個點燈測試程序以及多個校正程序。
在步驟S120中,當待測顯示模組11發生亮度非均勻狀態的時候,顯示模組檢測裝置10的校正程序會提供一第一分屏訊號S1至待測顯示模組11。於本案第一實施例中,點燈測試程序用於檢測待測顯示模組11的全部畫素區塊11BL的亮度均勻度,點燈測試訊號會被傳回顯示模組檢測裝置10的處理模組10a,以進行亮度均勻度資訊的計算。
請參閱圖2,顯示模組檢測裝置10的第一分屏訊號S1是首先將待測顯示模組11分成兩個區域。在本實施例中,第一分屏訊號S1是將待測顯示模組11自中央處分成左右兩個大小均等的區域,包括一第一分屏區11A以及一第二分屏區11B。再者,待測顯示模組11的第一分屏區11A以及第二分屏區11B會根據PxP畫素的一畫素區塊11BL分成多個子區域。其中,P是一自然數,P大於等於2。
在本實施例中,畫素區塊11BL是一8x8畫素的畫素區塊。當待測顯示模組11包括3840*2160個畫素時,待測顯示模組11的第一分屏區11A會包括NxM個畫素區塊11BL,待測顯示模組11的第二分屏區11B也會包括NxM個畫素區塊11BL。其中,N等於270,M等於480。在本實施例中,第一分屏區11A與第二分屏區B之間有一分屏基準線J。分屏基準線J是一虛擬的基準線。以分屏基準線J為基準,往左則是第一分屏區11A的第一子區域J-1、第二子區域J-2、第三子區域J-3、第四子區域J-4、第五子區域J-5以及第N子區域J-N。第一分屏區11A的第一子區域J-1、第二子區域J-2、第三子區域J-3、第四子區域J-4以及第五子區域J-5是依序相鄰的子區域。往右則是第二分屏區11B的第一子區域J+1、第二子區域J+2、第三子區域J+3、第四子區域J+4、第五子區域J+5以及第N子區域J+N。第二分屏區11B的第一子區域J+1、第二子區域J+2、第三子區域J+3、第四子區域J+4以及第五子區域J+5是依序相鄰的子區域。
圖4是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第一分屏訊號進行校正的示意圖。請參閱圖2以及圖4,接下來,在步驟S130中,顯示模組檢測裝置10的校正程序會選擇點亮第一分屏區11A的第一子區域J-1以及第二分屏區11B的第一子區域J+1來獲得一第一子區域亮度平均差異值D1
。第一子區域亮度平均差異值D1
是根據第一分屏區11A的第一子區域J-1的多個畫素區塊A1,1
-A1,270
以及第二分屏區11B的第一子區域J+1的多個畫素區塊B1,1
-B1,270
各自之間的亮度差異值進行加總、平均值等計算。也就是,第一子區域亮度平均差異值D1
可以根據下列公式1進行計算。
其中,Dk
是子區域亮度平均差異值,k是介於1-M,在本實施例中,k只取1至5。在本實施例中,包含但不限於,Dk
可利用查表法,例如灰階補償表(Compensation Table)查找來獲得一亮度的補償值,顯示模組檢測裝置10再依據亮度的補償值對待測顯示模組11進行調整補償。在本實施例中,A1,i
則是第一分屏區11A的第一子區域J-1的每一個畫素區塊11BL的亮度值,i是介於1-N,其中,N是一自然數,N大於等於2。在本實施例中,N是270,也就是縱向的畫素數量2160除以每一畫素區塊11BL的8個畫素,也就等於270。B1,i
則是第二分屏區11B的第一子區域J+1的每一個畫素區塊11BL的亮度值,i是介於1-N,其中,N是一自然數,N大於等於2。在本實施例中,N是270,也就是縱向的畫素數量2160除以每一畫素區塊11BL的8個畫素,也就等於270。在本實施例中,畫素區塊11BL的數量可以根據實際需求進行調整,在本發明中不做限制。
根據公式1,第一子區域亮度平均差異值D1
是利用相鄰的第一分屏區11A的第一子區域J-1以及第二分屏區11B的第一子區域J+1的同一列的畫素區塊11BL的亮度值的差值加總之後,再進行平均計算。
接著,在步驟S140中,顯示模組檢測裝置10的校正程序會根據第一子區域亮度平均差異值D1
對待測顯示模組11的第一分屏區11A內的多個畫素區塊11BL或是待測顯示模組11的第二分屏區11B內的多個畫素區塊11BL的亮度進行調整補償。調整補償方式為依據亮度均勻度資訊取得一預設灰階值,對待測顯示模組11的第一分屏區11A內的多個畫素區塊11BL或是待測顯示模組11的第二分屏區11B內的多個畫素區塊11BL,灰階值超過預設灰階值的畫素區塊11BL減去由灰階補償表查找得來的補償值,灰階值少於預設灰階值的畫素區塊11BL則加上由灰階補償表查找得來的補償值。
圖5是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第二分屏訊號進行校正的示意圖。圖6是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第三分屏訊號進行校正的示意圖。圖7是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第四分屏訊號進行校正的示意圖。圖8是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第五分屏訊號進行校正的示意圖。
請參閱圖5至圖8,接著,顯示模組檢測裝置10的校正程序依序提供一第二分屏訊號S2、一第三分屏訊號S3、一第四分屏訊號S4以及一第五分屏訊號S5至待測顯示模組11,並執行上述步驟S130以依序獲得一第二子區域亮度平均差異值D2
、一第三子區域亮度平均差異值D3
、一第四子區域亮度平均差異值D4
以及一第五子區域亮度平均差異值D5
。最後,校正程序執行上述步驟S140,根據第二子區域亮度平均差異值D2
、第三子區域亮度平均差異值D3
、第四子區域亮度平均差異值D4
以及第五子區域亮度平均差異值D5
依序對待測顯示模組11的第一分屏區11A內的多個畫素區塊11BL或是待測顯示模組11的第二分屏區11B內的多個畫素區塊11BL的亮度進行調整補償。
值得注意的是,第二子區域亮度平均差異值D2
是由顯示模組檢測裝置10的校正程序點亮第一分屏區11A的第二子區域J-2以及第二分屏區11B的第二子區域J+2來獲得;第三子區域亮度平均差異值D3
是由顯示模組檢測裝置10的校正程序點亮第一分屏區11A的第三子區域J-3以及第二分屏區11B的第三子區域J+3來獲得;第四子區域亮度平均差異值D4
是由顯示模組檢測裝置10的校正程序點亮第一分屏區11A的第四子區域J-4以及第二分屏區11B的第四子區域J+4來獲得;以及第五子區域亮度平均差異值D5
是由顯示模組檢測裝置10的校正程序點亮第一分屏區11A的第五子區域J-5以及第二分屏區11B的第五子區域J+5來獲得。
在校正程序輪流執行步驟S130以及步驟S140的補償調整之後,待測顯示模組11的第一分屏區11A以及第二分屏區11B的多個畫素區塊11BL的亮度均勻度就可以有效地提高。
[第二實施例]
圖9是本發明第二實施例中的顯示模組檢測裝置根據另一組分屏訊號進行校正的示意圖。
請參閱圖9,在本發明第二實施例中,顯示模組檢測裝置10可以提供第一分屏訊號S1’至第五分屏訊號S5’到待測顯示模組11,依序點亮第一分屏區11A的第五子區域J-5、第四子區域J-4、第三子區域J-3、第二子區域J-2、第一子區域J-1以及第二分屏區11B的第五子區域J+5、第四子區域J+4、第三子區域J+3、第二子區域J+2以及第一子區域J+1。也就是,第一分屏訊號S1’至第五分屏訊號S5’是從第一分屏區11A以及第二分屏區11B的五個子區域的外側不相鄰的兩個第五子區域J+5, J-5開始進行子區域亮度平均差異值的計算,依序往內側的相鄰的兩個第一子區域J+1, J-1進行子區域亮度平均差異值的計算。也就是,子區域的標號可以從中間區域的內側開始標記,也可以從第一分屏區11A以及第二分屏區11B中間區域的外側開始標記。
於本案第一實施例以及第二實施例中,當待測顯示模組11根據點燈測試訊號進行點燈測試程序,並且發生一亮度非均勻狀態時,顯示模組檢測裝置10依序提供多個分屏訊號至待測顯示模組11。多個分屏訊號則是首先將待測顯示模組11區分為一第一分屏區11A以及一第二分屏區11B。接著顯示模組檢測裝置10會獲取第一分屏區11A的多個子區域J-1-J-5以及第二分屏區11B的多個子區域J+1-J+5的多個子區域亮度平均差異值。待測顯示模組11依序地根據多個子區域亮度平均差異值,調整待測顯示模組11的第一分屏區11A或是第二分屏區11B的多個畫素區塊11BL的灰階值。第一分屏區11A的多個子區域J-1-J-5以及第二分屏區11B的多個子區域J+1-J+5都是位於待測顯示模組11的中間部位。
顯示模組校正系統1的顯示模組檢測裝置10僅對待測顯示模組11進行五次的子區域亮度平均差異值的計算與補償,在其他實施例中,顯示模組檢測裝置10可以對待測顯示模組11進行少於五次或是多於五次的子區域亮度平均差異值的計算與補償,在本發明中不做限制。也就是,顯示模組檢測裝置10亦可以挑選超過五個以上的子區域計算子區域的亮度平均差異值。
在其他實施例中,顯示模組檢測裝置10挑選的第一分屏區11A的多個子區域可以是相鄰或是不相鄰。相同地,顯示模組檢測裝置10挑選的第二分屏區11B的多個子區域可以是相鄰或是不相鄰。對於子區域亮度平均差異值的計算順序也可以根據實際需求進行調整,在本發明中不做限制。
本發明所提供的顯示模組校正系統以及顯示模組校正方法,是擷取待測顯示模組部分的畫素區塊進行亮度平均差異值的計算,以待測顯示模組部分區域的畫素區塊進行補償,來提高亮度均勻度,同時可以節省計算量以及測試時間。此外,本發明所提供的顯示模組校正系統以及顯示模組校正方法亦可將原本無法修復的分屏缺陷修復成正常效果,有效提升校正的執行率。
以上所提供的內容僅為本發明的優選可行實施例,並非因此侷限本發明的申請專利範圍,所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化,均包含於本發明的申請專利範圍內。
1:顯示模組校正方法
10:顯示模組檢測裝置
11:待測顯示模組
10a:處理模組
10b:記憶體模組
10c:通訊模組
11A:第一分屏區
11B:第二分屏區
N、M、P:自然數
11BL:畫素區塊
A1,1-
A1,N
、B1,1-
B1,N
:第一子區域的多個畫素區塊
A2,1-
A2,N
、B2,1-
B2,N
:第二子區域的多個畫素區塊
A3,1-
A3,N
、B3,1-
B3,N
:第三子區域的多個畫素區塊
A4,1-
A4,N
、B4,1-
B4,N
:第四子區域的多個畫素區塊
A5,1-
A5,N
、B5,1-
B5,N
:第五子區域的多個畫素區塊
J-1:第一分屏區的第一子區域
J-2:第一分屏區的第二子區域
J-3:第一分屏區的第三子區域
J-4:第一分屏區的第四子區域
J-5:第一分屏區的第五子區域
J+1:第二分屏區的第一子區域
J+2:第二分屏區的第二子區域
J+3:第二分屏區的第三子區域
J+4:第二分屏區的第四子區域
J+5:第二分屏區的第五子區域
S1-S5、S1’-S5’:第一分屏訊號至第五分屏訊號
S110-S140:步驟
J:分屏基準線
圖1是本發明第一實施例的顯示模組校正方法的流程圖。
圖2是應用本發明第一實施例的顯示模組校正方法的一顯示模組校正系統的示意圖。
圖3是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置的結構示意圖。
圖4是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第一分屏訊號進行校正的示意圖。
圖5是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第二分屏訊號進行校正的示意圖。
圖6是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第三分屏訊號進行校正的示意圖。
圖7是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第四分屏訊號進行校正的示意圖。
圖8是本發明第一實施例中的顯示模組檢測裝置根據第五分屏訊號進行校正的示意圖。
圖9是本發明第二實施例中的顯示模組檢測裝置根據另一組分屏訊號進行校正的示意圖。
1:顯示模組校正方法
10:顯示模組檢測裝置
11:待測顯示模組
11A:第一分屏區
11B:第二分屏區
N、M、P:自然數
11BL:畫素區塊
J-1:第一分屏區的第一子區域
J-2:第一分屏區的第二子區域
J-3:第一分屏區的第三子區域
J-4:第一分屏區的第四子區域
J-5:第一分屏區的第五子區域
J+1:第二分屏區的第一子區域
J+2:第二分屏區的第二子區域
J+3:第二分屏區的第三子區域
J+4:第二分屏區的第四子區域
J+5:第二分屏區的第五子區域
S1-S5:第一分屏訊號至第五分屏訊號
J:分屏基準線
Claims (24)
- 一種顯示模組校正方法,包含以下步驟: 提供一點燈測試訊號至一待測顯示模組,以獲得該待測顯示裝置的一亮度均勻度資訊; 依據該亮度均勻度資訊判斷,當該待測顯示模組處於一亮度非均勻狀態時,提供一分屏訊號至該待測顯示模組,將該待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區; 獲取該第一分屏區以及該第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊;以及 依據該亮度平均差異資訊調整該待測顯示模組的該第一分屏區或該第二分屏區的一灰階值。
- 如請求項1所述的顯示模組校正方法,其中,該待測顯示模組具有複數個畫素區塊以及一位於中央處的分屏基準線,該分屏訊號以該分屏基準線將該待測顯示模組區分為大小均等的該第一分屏區以及該第二分屏區。
- 如請求項2所述的顯示模組校正方法,其中,該第一分屏區以及該第二分屏區分別具有一子區域,該些子區域分別具有部分該些畫素區塊,該些子區域具有相同數量的畫素區塊。
- 如請求項3所述的顯示模組校正方法,其中,該亮度平均差異資訊為,先計算該第一分屏區以及該第二分屏區的該些子區域中,沿著該分屏基準線相對應的畫素區塊之間的亮度差異總和,再除以每一該些子區域中所具有的該些畫素區塊數量,進而得到一亮度平均差異值。
- 如請求項2所述的顯示模組校正方法,其中,該第一分屏區以及該第二分屏區分別具有複數個子區域,該些子區域分別具有部分該些畫素區塊,該些子區域具有相同數量的畫素區塊。
- 如請求項5所述的顯示模組校正方法,其中,將該待測顯示模組區分為該第一分屏區以及該第二分屏區後,分別獲取該些子區域的複數個亮度平均差異資訊,該些子區域的該些亮度平均差異資訊分別為,先計算該第一分屏區以及該第二分屏區的該些子區域中,沿著該分屏基準線相對應的畫素區塊之間的亮度差異總和,再除以每一該些子區域中所具有的該些畫素區塊數量,進而得到複數個亮度平均差異值。
- 如請求項6所述的顯示模組校正方法,其中,獲得該些亮度平均差異資訊後,依據該些亮度平均差異資訊依序調整該待測顯示模組的該第一分屏區或該第二分屏區的該灰階值。
- 如請求項6所述的顯示模組校正方法,其中,將該待測顯示模組區分為該第一分屏區以及該第二分屏區後,自該分屏基準線依序向外分別獲取該些子區域的該些亮度平均差異資訊。
- 如請求項5所述的顯示模組校正方法,其中,該第一分屏區的該些子區域彼此相鄰設置,該第二分屏區的該些子區域彼此相鄰設置,以及該第一分屏區以及該第二分屏區靠近該分屏基準線的該些子區域彼此相鄰設置。
- 如請求項5所述的顯示模組校正方法,其中,該第一分屏區的該些子區域彼此間隔設置,以及該第二分屏區的該些子區域彼此間隔設置。
- 如請求項2所述的顯示模組校正方法,其中,每一該些畫素區塊包括PxP個畫素,P大於等於2。
- 如請求項11所述的顯示模組校正方法,其中,每一該些畫素區塊包括8x8個畫素。
- 一種顯示模組校正系統,包含: 一顯示模組檢測裝置,提供一點燈檢測訊號以及一分屏訊號;以及 一待測顯示模組,電性連接該顯示模組檢測裝置,接收該點燈檢測訊號以及該分屏訊號; 其中,當該待測顯示模組處於一亮度非均勻狀態時,該顯示模組檢測裝置提供該分屏訊號至該待測顯示模組,將該待測顯示模組區分為一第一分屏區以及一第二分屏區,並獲取該第一分屏區以及該第二分屏區之間的一亮度平均差異資訊,該顯示模組檢測裝置依據該亮度平均差異資訊調整該待測顯示模組的該第一分屏區或該第二分屏區的一灰階值。
- 如請求項13所述的顯示模組校正系統,其中,該待測顯示模組具有複數個畫素區塊以及一位於中央處的分屏基準線,該分屏訊號以該分屏基準線將該待測顯示模組區分為大小均等的該第一分屏區以及該第二分屏區。
- 如請求項14所述的顯示模組校正系統,其中,該第一分屏區以及該第二分屏區分別具有一子區域,該些子區域分別具有部分該些畫素區塊,該些子區域具有相同數量的畫素區塊。
- 如請求項15所述的顯示模組校正系統,其中,該亮度平均差異資訊為,該顯示模組檢測裝置先計算該第一分屏區以及該第二分屏區的該些子區域中,沿著該分屏基準線相對應的畫素區塊之間的亮度差異總和,再除以每一該些子區域中所具有的該些畫素區塊數量,進而得到一亮度平均差異值。
- 如請求項14所述的顯示模組校正系統,其中,該第一分屏區以及該第二分屏區分別具有複數個子區域,該些子區域分別具有部分該些畫素區塊,該些子區域具有相同數量的畫素區塊。
- 如請求項17所述的顯示模組校正系統,其中,該顯示模組檢測裝置將該待測顯示模組區分為該第一分屏區以及該第二分屏區後,分別獲取該些子區域的複數個亮度平均差異資訊,該些子區域的該些亮度平均差異資訊分別為,該顯示模組檢測裝置先計算該第一分屏區以及該第二分屏區的該些子區域中,沿著該分屏基準線相對應的畫素區塊之間的亮度差異總和,再除以每一該些子區域中所具有的該些畫素區塊數量,進而得到複數個亮度平均差異值。
- 如請求項18所述的顯示模組校正系統,其中,該顯示模組檢測裝置獲得該些亮度平均差異資訊後,依據該些亮度平均差異資訊依序調整該待測顯示模組的該第一分屏區或該第二分屏區的該灰階值。
- 如請求項18所述的顯示模組校正系統,其中,將該待測顯示模組區分為該第一分屏區以及該第二分屏區後,自該分屏基準線依序向外分別獲取該些子區域的該些亮度平均差異資訊。
- 如請求項17所述的顯示模組校正系統,其中,該第一分屏區的該些子區域彼此相鄰設置,該第二分屏區的該些子區域彼此相鄰設置,以及該第一分屏區以及該第二分屏區靠近該分屏基準線的該些子區域彼此相鄰設置。
- 如請求項17所述的顯示模組校正系統,其中,該第一分屏區的該些子區域彼此間隔設置,以及該第二分屏區的該些子區域彼此間隔設置。
- 如請求項14所述的顯示模組校正系統,其中,每一該些畫素區塊包括PxP個畫素,P大於等於2。
- 如請求項23所述的顯示模組校正系統,其中,每一該些畫素區塊包括8x8個畫素。
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