CN113465882A - 显示模块校正方法以及显示模块校正系统 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开一种显示模块校正系统以及显示模块校正方法,显示模块校正系统包括一显示模块检测装置以及一待测显示模块。显示模块检测装置提供一点灯检测信号以及一分屏信号。待测显示模块电性连接显示模块检测装置,接收点灯检测信号以及分屏信号。当待测显示模块发生一亮度非均匀状态时,显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块,将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区,并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息。显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。
Description
技术领域
本发明涉及一种显示模块校正方法以及显示模块校正系统,尤其涉及一种节省测试时间的显示模块校正方法以及显示模块校正系统。
背景技术
显示模块制造厂商在自动化生产过程容易遇到测试过程异常而无法执行缺陷校正的问题,尤其是亮度不均匀(Mura)的情况。然而,多数校正方法都需要大量的计算时间以及调整过程。
因此,提供一种节省测试时间的显示模块校正系统以及显示模块校正模块,已经是业界的一个重要课题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足提供一种显示模块校正方法,包含以下步骤:提供一点灯测试信号至一待测显示模块,以获得待测显示模块的一亮度均匀度信息;依据亮度均匀度信息判断,当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时,提供一分屏信号至待测显示模块,将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区;获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息;以及依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。
本发明还公开了一种显示模块校正系统,其特征在于,包含:一显示模块检测装置,提供一点灯检测信号以及一分屏信号;以及一待测显示模块,电性连接显示模块检测装置,接收点灯检测信号以及分屏信号;当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时,显示模块检测装置提供分屏信号至待测显示模块,将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区,并获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息,显示模块检测装置依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值。
本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法,是撷取待测显示模块部分的像素区块进行亮度平均差异值的计算,以待测显示模块部分区域的像素区块进行补偿,来提高亮度均匀度,同时可以节省计算量以及测试时间。此外,本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法亦可将原本无法修复的分屏缺陷修复成正常效果,有效提升校正的执行率。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而所提供的附图仅用于提供参考与说明,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1是本发明第一实施例的显示模块校正方法的流程图。
图2是应用本发明第一实施例的显示模块校正方法的一显示模块校正系统的示意图。
图3是本发明第一实施例中的显示模块检测装置的结构示意图。
图4是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第一分屏信号进行校正的示意图。
图5是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第二分屏信号进行校正的示意图。
图6是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第三分屏信号进行校正的示意图。
图7是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第四分屏信号进行校正的示意图。
图8是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第五分屏信号进行校正的示意图。
图9是本发明第二实施例中的显示模块检测装置根据另一组分屏信号进行校正的示意图。
具体实施方式
以下是通过特定的具体实施例来说明本发明所提供有关“显示模块校正方法及其系统”的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所提供的内容了解本发明的优点与效果。本发明可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用,在不悖离本发明的构思下进行各种修改与变更。另外,本发明的附图仅为简单示意说明,并非依实际尺寸的描绘,事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本发明的相关技术内容,但所提供的内容并非用以限制本发明的保护范围。
应当可以理解的是,虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号,但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件,或者一信号与另一信号。另外,本文中所使用的术语“或”,应视实际情况可能包含相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。
[第一实施例]
图1是本发明第一实施例的显示模块校正方法的流程图。图2是应用本发明第一实施例的显示模块校正方法的一显示模块校正系统的示意图。
请参阅图1以及图2,本实施例提供一种显示模块校正方法,包括下列步骤:
提供一点灯测试信号至一待测显示模块,以获得待测显示模块的一亮度均匀度信息(步骤S110);
依据亮度均匀度信息判断,当待测显示模块处于一亮度非均匀状态时,提供一分屏信号至待测显示模块,将待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区(步骤S120);
获取第一分屏区以及第二分屏区之间的一亮度平均差异信息(步骤S130);
依据亮度平均差异信息调整待测显示模块的第一分屏区或第二分屏区的一灰阶值(步骤S140);
请继续参阅图1以及图2,显示模块校正系统1包括一显示模块检测装置10以及一待测显示模块11。待测显示模块11是一大尺寸显示模块,包含但不限于,其尺寸例如是32英寸-120英寸。待测显示模块11的分辨率可以是4K分辨率或是8K分辨率。4K分辨率至少包括3840*2160以及4096*2160两种分辨率;8K分辨率则是至少包括7680*4320的分辨率。
待测显示模块11包括多个像素区块11BL。于本案第一实施例中,待测显示模块11是4K分辨率的显示模块,包括3840*2160个像素或是4096*2160个像素,但不以此为限。
图3是本发明第一实施例中的显示模块检测装置的结构示意图。
请参阅图2以及图3,在步骤S110中,显示模块检测装置10会提供一点灯测试信号至待测显示模块11,进行亮度均匀度测试。显示模块检测装置10包括一处理模块10a、一内存模块10b以及一通信模块10c。显示模块检测装置10的处理模块10a利用通信模块10c连接待测显示模块11,提供多个点灯测试信号以及分屏信号给待测显示模块11。处理模块10a电性连接内存模块10b以及通信模块10c。内存模块10b中储存有多个点灯测试程序以及多个校正程序。
在步骤S120中,当待测显示模块11发生亮度非均匀状态的时候,显示模块检测装置10的校正程序会提供一第一分屏信号S1至待测显示模块11。于本案第一实施例中,点灯测试程序用于检测待测显示模块11的全部像素区块11BL的亮度均匀度,点灯测试信号会被传回显示模块检测装置10的处理模块10a,以进行亮度均匀度信息的计算。
请参阅图2,显示模块检测装置10的第一分屏信号S1是首先将待测显示模块11分成两个区域。在本实施例中,第一分屏信号S1是将待测显示模块11自中央处分成左右两个大小均等的区域,包括一第一分屏区11A以及一第二分屏区11B。再者,待测显示模块11的第一分屏区11A以及第二分屏区11B会根据PxP像素的一像素区块11BL分成多个子区域。在本实施例中,P是一自然数,P大于等于2。
在本实施例中,像素区块11BL是一8x8像素的像素区块。当待测显示模块11包括3840*2160个像素时,待测显示模块11的第一分屏区11A会包括NxM个像素区块11BL,待测显示模块11的第二分屏区11B也会包括NxM个像素区块11BL。其中,N等于270,M等于480。在本实施例中,第一分屏区11A与第二分屏区B之间有一分屏基线J。分屏基线J是一虚拟的基线。以分屏基线J为基准,往左则是第一分屏区11A的第一子区域J-1、第二子区域J-2、第三子区域J-3、第四子区域J-4、第五子区域J-5以及第N子区域J-N。第一分屏区11A的第一子区域J-1、第二子区域J-2、第三子区域J-3、第四子区域J-4以及第五子区域J-5是依序相邻的子区域。往右则是第二分屏区11B的第一子区域J+1、第二子区域J+2、第三子区域J+3、第四子区域J+4、第五子区域J+5以及第N子区域J+N。第二分屏区11B的第一子区域J+1、第二子区域J+2、第三子区域J+3、第四子区域J+4以及第五子区域J+5是依序相邻的子区域。
图4是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第一分屏信号进行校正的示意图。请参阅图2以及图4,接下来,在步骤S130中,显示模块检测装置10的校正程序会选择点亮第一分屏区11A的第一子区域J-1以及第二分屏区11B的第一子区域J+1来获得一第一子区域亮度平均差异值D1。第一子区域亮度平均差异值D1是根据第一分屏区11A的第一子区域J-1的多个像素区块A1,1-A1,270以及第二分屏区11B的第一子区域J+1的多个像素区块B1,1-B1,270各自之间的亮度差异值进行加总、平均值等计算。也就是,第一子区域亮度平均差异值D1可以根据下列公式1进行计算。
Dk是子区域亮度平均差异值,k是介于1-M,在本实施例中,k只取1至5。在本实施例中,包含但不限于,Dk可利用查表法,例如灰阶补偿表(Compensation Table)查找来获得一亮度的补偿值,显示模块检测装置10再依据亮度的补偿值对待测显示模块11进行调整补偿。在本实施例中,A1,i则是第一分屏区11A的第一子区域J-1的每一个像素区块11BL的亮度值,i是介于1-N,其中,N是一自然数,N大于等于2。在本实施例中,N是270,也就是纵向的像素数量2160除以每一像素区块11BL的8个像素,也就等于270。B1,i则是第二分屏区11B的第一子区域J+1的每一个像素区块11BL的亮度值,i是介于1-N,N是一自然数,N大于等于2。在本实施例中,N是270,也就是纵向的像素数量2160除以每一像素区块11BL的8个像素,也就等于270。在本实施例中,像素区块11BL的数量可以根据实际需求进行调整,在本发明中不做限制。
根据公式1,第一子区域亮度平均差异值D1是利用相邻的第一分屏区11A的第一子区域J-1以及第二分屏区11B的第一子区域J+1的同一列的像素区块11BL的亮度值的差值加总之后,再进行平均计算。
接着,在步骤S140中,显示模块检测装置10的校正程序会根据第一子区域亮度平均差异值D1对待测显示模块11的第一分屏区11A内的多个像素区块11BL或是待测显示模块11的第二分屏区11B内的多个像素区块11BL的亮度进行调整补偿。调整补偿方式为依据亮度均匀度信息取得一默认灰阶值,对待测显示模块11的第一分屏区11A内的多个像素区块11BL或是待测显示模块11的第二分屏区11B内的多个像素区块11BL,灰阶值超过默认灰阶值的像素区块11BL减去由灰阶补偿表查找得来的补偿值,灰阶值少于默认灰阶值的像素区块11BL则加上由灰阶补偿表查找得来的补偿值。
图5是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第二分屏信号进行校正的示意图。图6是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第三分屏信号进行校正的示意图。图7是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第四分屏信号进行校正的示意图。图8是本发明第一实施例中的显示模块检测装置根据第五分屏信号进行校正的示意图。
请参阅图5至图8,接着,显示模块检测装置10的校正程序依序提供一第二分屏信号S2、一第三分屏信号S3、一第四分屏信号S4以及一第五分屏信号S5至待测显示模块11,并执行上述步骤S130以依序获得一第二子区域亮度平均差异值D2、一第三子区域亮度平均差异值D3、一第四子区域亮度平均差异值D4以及一第五子区域亮度平均差异值D5。最后,校正程序执行上述步骤S140,根据第二子区域亮度平均差异值D2、第三子区域亮度平均差异值D3、第四子区域亮度平均差异值D4以及第五子区域亮度平均差异值D5依序对待测显示模块11的第一分屏区11A内的多个像素区块11BL或是待测显示模块11的第二分屏区11B内的多个像素区块11BL的亮度进行调整补偿。
值得注意的是,第二子区域亮度平均差异值D2是由显示模块检测装置10的校正程序点亮第一分屏区11A的第二子区域J-2以及第二分屏区11B的第二子区域J+2来获得;第三子区域亮度平均差异值D3是由显示模块检测装置10的校正程序点亮第一分屏区11A的第三子区域J-3以及第二分屏区11B的第三子区域J+3来获得;第四子区域亮度平均差异值D4是由显示模块检测装置10的校正程序点亮第一分屏区11A的第四子区域J-4以及第二分屏区11B的第四子区域J+4来获得;以及第五子区域亮度平均差异值D5是由显示模块检测装置10的校正程序点亮第一分屏区11A的第五子区域J-5以及第二分屏区11B的第五子区域J+5来获得。
在校正程序轮流执行步骤S130以及步骤S140的补偿调整之后,待测显示模块11的第一分屏区11A以及第二分屏区11B的多个像素区块11BL的亮度均匀度就可以有效地提高。
[第二实施例]
图9是本发明第二实施例中的显示模块检测装置根据另一组分屏信号进行校正的示意图。
请参阅图9,在本发明第二实施例中,显示模块检测装置10可以提供第一分屏信号S1’至第五分屏信号S5’到待测显示模块11,依序点亮第一分屏区11A的第五子区域J-5、第四子区域J-4、第三子区域J-3、第二子区域J-2、第一子区域J-1以及第二分屏区11B的第五子区域J+5、第四子区域J+4、第三子区域J+3、第二子区域J+2以及第一子区域J+1。也就是,第一分屏信号S1’至第五分屏信号S5’是从第一分屏区11A以及第二分屏区11B的五个子区域的外侧不相邻的两个第五子区域J+5,J-5开始进行子区域亮度平均差异值的计算,依序往内侧的相邻的两个第一子区域J+1,J-1进行子区域亮度平均差异值的计算。也就是,子区域的标号可以从中间区域的内侧开始标记,也可以从第一分屏区11A以及第二分屏区11B中间区域的外侧开始标记。
于本案第一实施例以及第二实施例中,当待测显示模块11根据点灯测试信号进行点灯测试程序,并且发生一亮度非均匀状态时,显示模块检测装置10依序提供多个分屏信号至待测显示模块11。多个分屏信号则是首先将待测显示模块11区分为一第一分屏区11A以及一第二分屏区11B。接着显示模块检测装置10会获取第一分屏区11A的多个子区域J-1-J-5以及第二分屏区11B的多个子区域J+1-J+5的多个子区域亮度平均差异值。待测显示模块11依序地根据多个子区域亮度平均差异值,调整待测显示模块11的第一分屏区11A或是第二分屏区11B的多个像素区块11BL的灰阶值。第一分屏区11A的多个子区域J-1-J-5以及第二分屏区11B的多个子区域J+1-J+5都是位于待测显示模块11的中间部位。
显示模块校正系统1的显示模块检测装置10仅对待测显示模块11进行五次的子区域亮度平均差异值的计算与补偿,在其他实施例中,显示模块检测装置10可以对待测显示模块11进行少于五次或是多于五次的子区域亮度平均差异值的计算与补偿,在本发明中不做限制。也就是,显示模块检测装置10亦可以挑选超过五个以上的子区域计算子区域的亮度平均差异值。
在其他实施例中,显示模块检测装置10挑选的第一分屏区11A的多个子区域可以是相邻或是不相邻。相同地,显示模块检测装置10挑选的第二分屏区11B的多个子区域可以是相邻或是不相邻。对于子区域亮度平均差异值的计算顺序也可以根据实际需求进行调整,在本发明中不做限制。
本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法,是撷取待测显示模块部分的像素区块进行亮度平均差异值的计算,以待测显示模块部分区域的像素区块进行补偿,来提高亮度均匀度,同时可以节省计算量以及测试时间。此外,本发明所提供的显示模块校正系统以及显示模块校正方法亦可将原本无法修复的分屏缺陷修复成正常效果,有效提升校正的执行率。
以上所提供的内容仅为本发明的优选可行实施例,并非因此局限本发明的申请专利范围,所以凡是运用本发明说明书及附图内容所做的等效技术变化,均包含于本发明的申请专利范围内。
Claims (18)
1.一种显示模块校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供一点灯测试信号至一待测显示模块,以获得所述待测显示模块的一亮度均匀度信息;
依据所述亮度均匀度信息判断,当所述待测显示模块处于一亮度非均匀状态时,提供一分屏信号至所述待测显示模块,将所述待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区;
获取所述第一分屏区以及所述第二分屏区之间的一亮度平均差异信息;以及
依据所述亮度平均差异信息调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的一灰阶值。
2.如权利要求1所述的显示模块校正方法,其特征在于,所述待测显示模块具有复数个像素区块以及一位于中央处的分屏基线,所述分屏信号以所述分屏基线将所述待测显示模块区分为大小均等的所述第一分屏区以及所述第二分屏区。
3.如权利要求2所述的显示模块校正方法,其特征在于:
所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有一子区域,所述子区域分别具有部分所述像素区块,所述子区域具有相同数量的像素区块;以及
所述亮度平均差异信息为,先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中,沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和,再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量,进而得到一亮度平均差异值。
4.如权利要求2所述的显示模块校正方法,其特征在于:
所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有复数个子区域,所述子区域分别具有部分所述像素区块,所述子区域具有相同数量的像素区块;以及
将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后,分别获取所述子区域的复数个亮度平均差异信息,所述子区域的所述亮度平均差异信息分别为,先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中,沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和,再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量,进而得到复数个亮度平均差异值。
5.如权利要求4所述的显示模块校正方法,其特征在于,获得所述亮度平均差异信息后,依据所述亮度平均差异信息依序调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的该灰阶值。
6.如权利要求4所述的显示模块校正方法,其特征在于,将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后,自所述分屏基线依序向外分别获取所述子区域的所述亮度平均差异信息。
7.如权利要求4所述的显示模块校正方法,其特征在于,所述第一分屏区的所述子区域彼此相邻设置,所述第二分屏区的所述子区域彼此相邻设置,以及所述第一分屏区以及所述第二分屏区靠近所述分屏基线的所述子区域彼此相邻设置。
8.如权利要求4所述的显示模块校正方法,其特征在于,所述第一分屏区的所述子区域彼此间隔设置,以及所述第二分屏区的所述子区域彼此间隔设置。
9.如权利要求2所述的显示模块校正方法,其特征在于,每一所述像素区块包括PxP个像素,P大于等于2。
10.一种显示模块校正系统,其特征在于,包括:
一显示模块检测装置,提供一点灯检测信号以及一分屏信号;以及
一待测显示模块,电性连接所述显示模块检测装置,接收所述点灯检测信号以及所述分屏信号;
当所述待测显示模块处于一亮度非均匀状态时,所述显示模块检测装置提供所述分屏信号至所述待测显示模块,将所述待测显示模块区分为一第一分屏区以及一第二分屏区,并获取所述第一分屏区以及所述第二分屏区之间的一亮度平均差异信息,所述显示模块检测装置依据所述亮度平均差异信息调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的一灰阶值。
11.如权利要求10所述的显示模块校正系统,其特征在于,所述待测显示模块具有复数个像素区块以及一位于中央处的分屏基线,所述分屏信号以所述分屏基线将所述待测显示模块区分为大小均等的所述第一分屏区以及所述第二分屏区。
12.如权利要求11所述的显示模块校正系统,其特征在于:
所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有一子区域,所述子区域分别具有部分所述像素区块,所述子区域具有相同数量的像素区块;以及
所述亮度平均差异信息为,所述显示模块检测装置先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中,沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和,再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量,进而得到一亮度平均差异值。
13.如权利要求11所述的显示模块校正系统,其特征在于:
所述第一分屏区以及所述第二分屏区分别具有复数个子区域,所述子区域分别具有部分所述像素区块,所述子区域具有相同数量的像素区块;以及
所述显示模块检测装置将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后,分别获取所述子区域的复数个亮度平均差异信息,所述子区域的所述亮度平均差异信息分别为,所述显示模块检测装置先计算所述第一分屏区以及所述第二分屏区的所述子区域中,沿着所述分屏基线相对应的像素区块之间的亮度差异总和,再除以每一所述子区域中所具有的所述像素区块数量,进而得到复数个亮度平均差异值。
14.如权利要求13所述的显示模块校正系统,其特征在于,所述显示模块检测装置获得所述亮度平均差异信息后,依据所述亮度平均差异信息依序调整所述待测显示模块的所述第一分屏区或所述第二分屏区的所述灰阶值。
15.如权利要求13所述的显示模块校正系统,其特征在于,将所述待测显示模块区分为所述第一分屏区以及所述第二分屏区后,自所述分屏基线依序向外分别获取所述子区域的所述亮度平均差异信息。
16.如权利要求13所述的显示模块校正系统,其特征在于,所述第一分屏区的所述子区域彼此相邻设置,所述第二分屏区的所述子区域彼此相邻设置,以及所述第一分屏区以及所述第二分屏区靠近所述分屏基线的所述子区域彼此相邻设置。
17.如权利要求13所述的显示模块校正系统,其特征在于,所述第一分屏区的所述子区域彼此间隔设置,以及所述第二分屏区的所述子区域彼此间隔设置。
18.如权利要求11所述的显示模块校正系统,其特征在于,每一所述像素区块包括PxP个像素,P大于等于2。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109110897 | 2020-03-30 | ||
TW109110897A TWI728767B (zh) | 2020-03-30 | 2020-03-30 | 顯示模組校正方法以及顯示模組校正系統 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113465882A true CN113465882A (zh) | 2021-10-01 |
Family
ID=77036354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011393712.6A Pending CN113465882A (zh) | 2020-03-30 | 2020-12-03 | 显示模块校正方法以及显示模块校正系统 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113465882A (zh) |
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TWI728767B (zh) | 2021-05-21 |
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PB01 | Publication | ||
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