TW202023725A - 雷射加工頭以及雷射加工裝置 - Google Patents
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Abstract
一種雷射加工頭,係具備:框體;入射部,係設於框體,使雷射光入射至框體內;調整部,係配置於框體內,調整雷射光;以及聚光部,係安裝於框體,將雷射光聚光並出射至框體外;在第2方向彼此對向的第3壁部與第4壁部的距離,係比在第1方向彼此對向的第1壁部與第2壁部的距離更小,框體,係構成為在使第1壁部、第2壁部、第3壁部及第5壁部之至少1者配置於雷射加工裝置的安裝部側的狀態下,將框體安裝於安裝部。聚光部,係配置於第6壁部,於第2方向偏靠第4壁部側。
Description
本揭示,係關於雷射加工頭以及雷射加工裝置。
於專利文獻1揭示有一種雷射加工裝置,其具備:保持機構,係保持工件;以及雷射照射機構,係對於保持機構所保持的工件照射雷射光。於專利文獻1所記載之雷射加工裝置中,具有聚光透鏡的雷射照射機構對於基台被固定,藉由保持機構使工件沿著垂直於聚光透鏡的光軸的方向移動。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特許第5456510號公報
[發明所欲解決的技術課題]
如前述般之雷射加工裝置中,若考慮到對於各種加工的應用,有適合於使聚光透鏡沿著垂直於聚光透鏡的光軸的方向移動的構成之情形。然而,就專利文獻1所記載之雷射加工裝置而言,係使從雷射振盪器至聚光透鏡之雷射光的光路上的各構成配置於框體內而藉此構成雷射照射機構,故難以使聚光透鏡沿著垂直於聚光透鏡的光軸的方向移動。即便藉由某種手段,使框體沿著垂直於聚光透鏡的光軸的方向移動,亦有框體與其他構成產生物理性干涉之虞。
本揭示係以提供一種能夠恰當地使聚光部沿著垂直於其光軸的方向移動之雷射加工頭,以及具備如此之雷射加工頭的雷射加工裝置為目的。
[用以解決課題的技術方案]
本揭示之一形態,係:一種雷射加工頭,係具備:框體,係具有在第1方向彼此對向的第1壁部及第2壁部,在垂直於第1方向的第2方向彼此對向的第3壁部及第4壁部,以及,在垂直於第1方向及第2方向的第3方向彼此對向的第5壁部及第6壁部;入射部,係設於框體,使雷射光入射至框體內;調整部,係配置於框體內,調整從入射部入射的雷射光;以及聚光部,係安裝於框體,將藉由調整部調整的雷射光聚光並出射至框體外;第3壁部與第4壁部的距離,係比第1壁部與第2壁部的距離更小,框體,係構成為在使第1壁部、第2壁部、第3壁部及第5壁部之至少1者配置於雷射加工裝置的安裝部側的狀態下,將框體安裝於安裝部,聚光部,係配置於第6壁部,於第2方向偏靠第4壁部側。
於該雷射加工頭中,因輸出雷射光的光源並不設置於框體內,故能夠達成框體的小型化。並且,於框體中,第3壁部與第4壁部的距離,係比第1壁部與第2壁部的距離更小,且配置於第6壁部的聚光部,係於第2方向偏靠第4壁部側。藉此,在使框體沿著第3壁部及第4壁部彼此對向的第2方向(垂直於聚光部的光軸的方向)移動的情形下,例如,即便於第4壁部側存在有其他構成,亦能夠使聚光部接近該其他構成。並且,因第3壁部與第4壁部的距離比第1壁部與第2壁部的距離更小,故在使框體沿著第3壁部及第4壁部彼此對向的第2方向移動的情形下,能夠使框體所佔的空間更小。藉此,該雷射加工頭,能夠恰當地使聚光部沿著垂直於其光軸的方向移動。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:入射部,係設於第5壁部,於第2方向偏靠第4壁部側。藉此,能夠在該框體內的區域當中相對於調整部在第3壁部側的區域配置其他構成等,將該區域作有效利用。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:在框體內,進一步具備相對於調整部配置在第3壁部側的電路部。藉此,能夠將在該框體內的區域當中相對於調整部在第3壁部側的區域作有效利用。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:於框體內,設有將框體內的區域分隔為第3壁部側的區域與第4壁部側的區域之分隔壁部,調整部,係於框體內相對於分隔壁部配置在第4壁部側,電路部,係於框體內相對於分隔壁部配置在第3壁部側。藉此,因電路部所產生的熱不易傳達至調整部,故能夠抑制電路部所產生的熱導致調整部產生歪曲,而能夠恰當地調整雷射光。藉此,例如能夠藉由空冷或水冷等,在框體內的區域當中第3壁部側的區域效率良好地冷卻電路部。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:調整部,係安裝於分隔壁部。藉此,能夠將調整部於框體內確實且穩定地支承。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:電路部,係自分隔壁部遠離。藉此,能夠更為確實地抑制電路部所產生的熱經由分隔壁部傳達至調整部。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:進一步具備:測定部,係輸出用以測定對象物的表面與聚光部的距離之測定光,並透過聚光部檢測出被對象物的表面反射的測定光;以及分光鏡,係反射測定光,並使雷射光穿透;電路部,係處理從測定部輸出的訊號,分光鏡,係於框體內,配置在調整部與聚光部之間。藉此,能夠有效利用框體內的區域,並且,雷射加工裝置能夠根據對象物的表面與聚光部的距離之測定結果來進行加工。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:聚光部,係於第1方向偏靠第1壁部或第2壁部之其中一方的壁部側。藉此,在使框體沿著垂直於聚光部的光軸的方向移動的情形下,例如,即便於該其中一方的壁部側存在有其他構成,亦能夠使聚光部接近該其他構成。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:入射部,係設於第5壁部,於第1方向偏靠其中一方的壁部側。藉此,能夠在該框體內的區域當中相對於調整部在與其中一方的壁部側為相反側的區域配置其他構成等,將該區域作有效利用。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:測定部,係於框體內相對於調整部配置為與其中一方的壁部側為相反側。藉此,能夠更為有效地利用框體內的區域,並且,雷射加工裝置能夠根據對象物的表面與聚光部的距離之測定結果來進行加工。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:進一步具備:觀察部,係輸出用以觀察對象物的表面之觀察光,並透過聚光部檢測出被對象物的表面反射的觀察光;觀察部,係於框體內相對於調整部配置為與其中一方的壁部側為相反側。藉此,能夠有效利用框體內的區域,並且,雷射加工裝置能夠根據對象物的表面的觀察結果來進行加工。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:進一步具備:驅動部,係使聚光部沿著第3方向移動;電路部,係根據從測定部輸出的訊號控制驅動部。藉此,能夠根據對象物的表面與聚光部的距離之測定結果來調整雷射光的聚光點的位置。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:調整部,係具有:反射鏡,係反射從入射部入射的雷射光;反射型空間光調變器,係調變被反射鏡反射的雷射光;以及成像光學系,係構成反射型空間光調變器的反射面與聚光部的入瞳面為成像關係之兩側遠心光學系;入射部及反射鏡,係配置於沿著第3方向延伸的第1直線上,反射型空間光調變器、成像光學系及聚光部,係配置於沿著第3方向延伸的第2直線上。藉此,能夠使具有反射型空間光調變器及成像光學系的調整部小巧。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:聚光部,係於第1方向偏靠第1壁部或第2壁部之其中一方的壁部側,入射部,係於第1方向偏靠其中一方的壁部側,第1直線,係相對於第2直線位於其中一方的壁部側。藉此,在該框體內的區域當中相對於調整部在與其中一方的壁部側為相反側的區域中,構成使用聚光部的其他光學系的情形下,能夠使該其他光學系的構成的自由度提升。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:調整部,係進一步具有使雷射光的直徑擴大的光束擴展器,光束擴展器,係於第1直線上,配置在入射部與反射鏡之間。藉此,能夠使進一步具有光束擴展器的調整部小巧。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:入射部、調整部及聚光部,係配置於沿著第3方向延伸的直線上。藉此,能夠使調整部小巧。
本揭示之一形態之雷射加工頭,亦可為:調整部,係具有:衰減器,係調整雷射光的輸出;以及光束擴展器,係擴大雷射光的直徑。藉此,能夠使具有衰減器及光束擴展器的調整部小巧。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,係具備:分別為前述之雷射加工頭的第1雷射加工頭及第2雷射加工頭;第1安裝部,係安裝有第1雷射加工頭的框體的安裝部;第2安裝部,係安裝有第2雷射加工頭的框體的安裝部;光源單元,係輸出分別入射至第1雷射加工頭的入射部及第2雷射加工頭的入射部之雷射光;以及支承部,係支承對象物;第1安裝部及第2安裝部,係分別沿著第2方向移動,作為第1雷射加工頭的框體之第1框體,係以使第1框體的第4壁部相對於第1框體的第3壁部位於第2雷射加工頭側,且第1框體的第6壁部相對於第1框體的第5壁部位於支承部側的方式,安裝於第1安裝部,作為第2雷射加工頭的框體之第2框體,係以使第2框體的第4壁部相對於第2框體的第3壁部位於第1雷射加工頭側,且第2框體的第6壁部相對於第2框體的第5壁部位於支承部側的方式,安裝於第2安裝部。
於該雷射加工裝置中,第1雷射加工頭的聚光部係於第1框體中偏靠第2雷射加工頭側,第2雷射加工頭的聚光部係於第2框體中偏靠第1雷射加工頭側。藉此,在使第1雷射加工頭及第2雷射加工頭分別沿著第2方向(垂直於聚光部的光軸的方向)移動的情形下,能夠使第1雷射加工頭的聚光部與第2雷射加工頭的聚光部彼此接近。並且,在使第1雷射加工頭及第2雷射加工頭分別沿著第2方向移動的情形下,能夠使第1雷射加工頭及第2雷射加工頭各自所佔的空間較小。藉此,依據該雷射加工裝置,能夠效率良好地加工對象物。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,亦可為:第1安裝部及第2安裝部,係分別沿著第3方向移動。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,亦可為:支承部,係沿著第1方向移動,且以平行於第3方向之軸線作為中心線旋轉。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,係具備:前述之雷射加工頭;安裝部,係安裝有雷射加工頭的框體;光源單元,係輸出入射至雷射加工頭的入射部之雷射光;以及支承部,係支承對象物;安裝部,係沿著第2方向移動。
該雷射加工裝置,於雷射加工頭的框體中,第3壁部與第4壁部的距離,係比第1壁部與第2壁部的距離更小,且配置於第6壁部的聚光部,係於第2方向偏靠第4壁部側。藉此,在使框體沿著垂直於聚光部的光軸的第2方向移動的情形下,例如,即便於第4壁部側存在有其他構成,亦能夠使聚光部接近該其他構成。並且,在使框體沿著第2方向移動的情形下,能夠使框體所佔的空間更小。藉此,依據該雷射加工裝置,能夠效率良好地加工對象物。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,亦可為:安裝部,係沿著第3方向移動。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物。
本揭示之一形態之雷射加工裝置,亦可為:支承部,係沿著第1方向移動,且以平行於第3方向之軸線作為中心線旋轉。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物。
[發明之效果]
依據本揭示,可提供一種能夠恰當地使聚光部沿著垂直於其光軸的方向移動之雷射加工頭,以及具備如此之雷射加工頭的雷射加工裝置。
以下,針對本揭示之實施形態,參照圖式進行詳細說明。又,於各圖中,對於相同或相當部分係賦予相同符號,並省略重複之說明。
[雷射加工裝置的構成]
如圖1所示,雷射加工裝置1,係具備:複數個移動機構5、6,支承部7,1對雷射加工頭(第1雷射加工頭、第2雷射加工頭)10A、10B,光源單元8,控制部9。以下,將第1方向稱為X方向,將垂直於第1方向的第2方向稱為Y方向,將垂直於第1方向及第2方向的第3方向稱為Z方向。於本實施形態中,X方向及Y方向係水平方向,Z方向係垂直方向。
移動機構5,係具有固定部51、移動部53、安裝部55。固定部51,係安裝於裝置框架1a。移動部53,係安裝在設於固定部51的軌道,並能夠沿著Y方向移動。安裝部55,係安裝在設於移動部53的軌道,並能夠沿著X方向移動。
移動機構6,係具有固定部61,1對移動部(第1移動部、第2移動部)63、64,1對安裝部(第1安裝部、第2安裝部)65、66。固定部61,係安裝於裝置框架1a。1對移動部63、64,係分別安裝在設於固定部61的軌道,並能夠分別獨立沿著Y方向移動。安裝部65,係安裝在設於移動部63的軌道,並能夠沿著Z方向移動。安裝部66,係安裝在設於移動部64的軌道,並能夠沿著Z方向移動。亦即,對於裝置框架1a,1對安裝部65、66,係能夠分別沿著Y方向及Z方向各自移動。
支承部7,係安裝在設於移動機構5的安裝部55的旋轉軸,並以平行於Z方向的軸線作為中心線旋轉。亦即,支承部7,係能夠分別沿著X方向及Y方向移動,並能夠以平行於Z方向之軸線作為中心線旋轉。支承部7,係支承對象物100。對象物100,係例如為晶圓。
如圖1及圖2所示,雷射加工頭10A,係安裝於移動機構6的安裝部65。雷射加工頭10A,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,係對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光(第1雷射光)L1。雷射加工頭10B,係安裝於移動機構6的安裝部66。雷射加工頭10B,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光(第2雷射光)L2。
光源單元8,係具有1對光源81、82。1對光源81、82,係安裝於裝置框架1a。光源81,係輸出雷射光L1。雷射光L1,係從光源81的出射部81a出射,並藉由光纖2被導光至雷射加工頭10A。光源82,係輸出雷射光L2。雷射光L2,係從光源82的出射部82a出射,並藉由別的光纖2被導光至雷射加工頭10B。
控制部9,係控制雷射加工裝置1的各部分(複數個移動機構5、6,1對雷射加工頭10A、10B,以及光源單元8等)。控制部9,係構成為包含處理器、記憶體、儲存體及通訊裝置等之電腦裝置。於控制部9中,係藉由處理器執行記憶體所讀取的軟體(程式),並藉由處理器控制記憶體及儲存體之資料的讀出及寫入,以及通訊裝置所進行之通訊。藉此,控制部9能夠實現各種功能。
針對如以上般構成之雷射加工裝置1所進行之加工之一例進行說明。該加工之一例,係為了將作為晶圓的對象物100切斷為複數個晶片,而分別沿著設定為格子狀的複數個線於對象物100的內部形成改質區域之例。
首先,以使支承對象物100的支承部7於Z方向與1對雷射加工頭10A、10B對向的方式,移動機構5令支承部7分別沿X方向及Y方向移動。接著,以使於對象物100往單一方向延伸的複數個線沿著X方向的方式,移動機構5令支承部7以平行於Z方向的軸線作為中心線旋轉。
接著,以使雷射光L1的聚光點位於往單一方向延伸的一條線上的方式,移動機構6令雷射加工頭10A沿著Y方向移動。另一方面,以使雷射光L2的聚光點位於往單一方向延伸的其他線上的方式,移動機構6令雷射加工頭10B沿著Y方向移動。接著,以使雷射光L1的聚光點位於對象物100的內部的方式,移動機構6令雷射加工頭10A沿著Z方向移動。另一方面,以使雷射光L2的聚光點位於對象物100的內部的方式,移動機構6令雷射加工頭10B沿著Z方向移動。
接著,光源81輸出雷射光L1而雷射加工頭10A對於對象物100照射雷射光L1,並且,光源82輸出雷射光L2而雷射加工頭10B對於對象物100照射雷射光L2。與此同時,以使雷射光L1的聚光點沿著往單一方向延伸的一條線相對移動且使雷射光L2的聚光點沿著往單一方向延伸的其他線相對移動的方式,移動機構5令支承部7沿著X方向移動。如此,雷射加工裝置1,係分別沿著於對象物100往單一方向延伸的複數個線,於對象物100的內部形成改質區域。
接著,以使於對象物100往與單一方向正交的其他方向延伸的複數個線沿著X方向的方式,移動機構5令支承部7以平行於Z方向的軸線作為中心線旋轉。
接著,以使雷射光L1的聚光點位於往其他方向延伸的一條線上的方式,移動機構6令雷射加工頭10A沿著Y方向移動。另一方面,以使雷射光L2的聚光點位於往其他方向延伸的其他線上的方式,移動機構6令雷射加工頭10B沿著Y方向移動。接著,以使雷射光L1的聚光點位於對象物100的內部的方式,移動機構6令雷射加工頭10A沿著Z方向移動。另一方面,以使雷射光L2的聚光點位於對象物100的內部的方式,移動機構6令雷射加工頭10B沿著Z方向移動。
接著,光源81輸出雷射光L1而雷射加工頭10A對於對象物100照射雷射光L1,並且,光源82輸出雷射光L2而雷射加工頭10B對於對象物100照射雷射光L2。與此同時,以使雷射光L1的聚光點沿著往其他方向延伸的一條線相對移動且使雷射光L2的聚光點沿著往其他方向延伸的其他線相對移動的方式,移動機構5令支承部7沿著X方向移動。如此,雷射加工裝置1,係分別沿著於對象物100往與單一方向正交的其他方向延伸的複數個線,於對象物100的內部形成改質區域。
又,於前述之加工之一例中,光源81,係例如藉由例如脈衝振盪方式,輸出對於對象物100具有穿透性的雷射光L1,光源82,係例如藉由脈衝振盪方式,輸出對於對象物100具有穿透性的雷射光L2。當如此之雷射光聚光至對象物100的內部,特別會在對應於雷射光的聚光點的部分吸收雷射光,而在對象物100的內部形成改質區域。改質區域,係密度、折射率、機械強度或其他物理特性與周圍的非改質區域不同的區域。作為改質區域,係例如有熔融處理區域、裂隙區域、絕緣破壞區域、折射率變化區域等。
若將藉由脈衝振盪方式所輸出的雷射光照射至對象物100,且使雷射光的聚光點沿著設定於對象物100的線相對移動,則複數個改質點會以沿著線排成1列的方式形成。1個改質點,係藉由1脈衝的雷射光的照射所形成。1列改質區域,係排成1列的複數個改質點的集合。相鄰的改質點,視雷射光的聚光點對於對象物100之相對移動速度及雷射光之重複頻率,有彼此連接的情形,亦有彼此分開的情形。
[雷射加工頭的構成]
如圖3及圖4所示,雷射加工頭10A,係具備框體11、入射部12、調整部13、聚光部14。
框體11,係具有第1壁部21及第2壁部22、第3壁部23及第4壁部24、第5壁部25及第6壁部26。第1壁部21及第2壁部22,係於X方向彼此對向。第3壁部23及第4壁部24,係於Y方向彼此對向。第5壁部25及第6壁部26,係於Z方向彼此對向。
第3壁部23與第4壁部24的距離,係比第1壁部21與第2壁部22的距離更小。第1壁部21與第2壁部22的距離,係比第5壁部25與第6壁部26的距離更小。又,第1壁部21與第2壁部22的距離,亦可相同於第5壁部25與第6壁部26的距離,或是亦可比第5壁部25與第6壁部26的距離更大。
於雷射加工頭10A中,第1壁部21係位於移動機構6的固定部61側,第2壁部22係位於與固定部61相反側。第3壁部23係位於移動機構6的安裝部65側,第4壁部24係位於與安裝部65相反側且雷射加工頭10B側(參照圖2)。第5壁部25係位於與支承部7相反側,第6壁部26係位於支承部7側。
框體11,係構成為在使第3壁部23配置於移動機構6的安裝部65側的狀態下,將框體11安裝於安裝部65,具體而言,係如以下所述。安裝部65,係具有底板65a、安裝板65b。底板65a,係安裝在設於移動部63的軌道(參照圖2)。安裝板65b,係豎設於底板65a之雷射加工頭10B側的端部(參照圖2)。框體11,係在使第3壁部23接觸於安裝板65b的狀態下,透過台座27將螺栓28螺合於安裝板65b,藉此安裝於安裝部65。台座27,係於第1壁部21及第2壁部22分別設置。框體11,係能夠對於安裝部65裝卸。
入射部12,係安裝於第5壁部25。入射部12,係使雷射光L1入射至框體11內。入射部12,係於X方向偏靠第2壁部22側(其中一方的壁部側),於Y方向偏靠第4壁部24側。亦即,X方向之入射部12與第2壁部22的距離,係比X方向之入射部12與第1壁部21的距離更小,Y方向之入射部12與第4壁部24的距離,係比Y方向之入射部12與第3壁部23的距離更小。
入射部12,係構成為能夠連接光纖2的連接端部2a。於光纖2的連接端部2a,設有將從光纖的出射端出射的雷射光L1進行準直的準直透鏡,且並未設有抑制返回光的隔離器。該隔離器,係設置於比連接端部2a更靠光源81側之光纖的中途。藉此,能夠達成連接端部2a的小型化,從而能夠達成入射部12的小型化。又,亦可於光纖2的連接端部2a設置隔離器。
調整部13,係配置於框體11內。調整部13,係調整從入射部12入射的雷射光L1。調整部13,係於框體11內相對於分隔壁部29配置在第4壁部24側。調整部13,係安裝於分隔壁部29。分隔壁部29係設於框體11內,將框體11內的區域分隔為第3壁部23側的區域與第4壁部24側的區域。分隔壁部29,係與框體11成為一體。調整部13所具有的各構成,係於第4壁部24側安裝在分隔壁部29。分隔壁部29,係發揮作為支承調整部13所具有的各構成之光學基部的功能。針對調整部13所具有的各構成的詳情係後述。
聚光部14,係配置於第6壁部26。具體而言,聚光部14,係在插通於形成在第6壁部26的孔26a的狀態下,配置於第6壁部26。聚光部14,係將藉由調整部13調整的雷射光L1聚光並出射至框體11外。聚光部14,係於X方向偏靠第2壁部22側(其中一方的壁部側),於Y方向偏靠第4壁部24側。亦即,X方向之聚光部14與第2壁部22的距離,係比X方向之聚光部14與第1壁部21的距離更小,Y方向之聚光部14與第4壁部24的距離,係比Y方向之聚光部14與第3壁部23的距離更小。
如圖5所示,調整部13,係具有衰減器31、光束擴展器32、反射鏡33。入射部12,以及調整部13的衰減器31、光束擴展器32、反射鏡33,係配置於沿著Z方向延伸的直線(第1直線)A1上。衰減器31及光束擴展器32,係於直線A1上,配置在入射部12與反射鏡33之間。衰減器31,係調整從入射部12入射的雷射光L1的輸出。光束擴展器32,係擴大被衰減器31調整了輸出的雷射光L1的直徑。反射鏡33,係反射被光束擴展器32擴大了直徑的雷射光L1。
調整部13,係進一步具有反射型空間光調變器34、成像光學系35。調整部13的反射型空間光調變器34及成像光學系35,以及聚光部14係配置於沿著Z方向延伸的直線(第2直線)A2上。反射型空間光調變器34,係將被反射鏡33反射的雷射光L1調變。反射型空間光調變器34,係例如反射型液晶(LCOS:Liquid Crystal on Silicon)的空間光調變器(SLM:Spatial Light Modulator)。成像光學系35,係構成反射型空間光調變器34的反射面34a與聚光部14的入瞳面14a為成像關係之兩側遠心光學系。成像光學系35,係以3個以上的透鏡構成。
直線A1及直線A2,係位在垂直於Y方向的平面上。直線A1,係相對於直線A2位於第2壁部22側(其中一方的壁部側)。以雷射加工頭10A而言,雷射光L1,係從入射部12入射至框體11內而於直線A1上行進,被反射鏡33及反射型空間光調變器34依序反射之後,於直線A2上行進而從聚光部14出射至框體11外。又,衰減器31及光束擴展器32的排列順序亦可相反。並且,衰減器31,係亦可配置於反射鏡33與反射型空間光調變器34之間。並且,調整部13,係亦可具有其他光學零件(例如,配置於光束擴展器32的前方的操縱反射鏡等)。
雷射加工頭10A,係進一步具備分光鏡15、測定部16、觀察部17、驅動部18、電路部19。
分光鏡15,係於直線A2上,配置在成像光學系35與聚光部14之間。亦即,分光鏡15,係於框體11內,配置在調整部13與聚光部14之間。分光鏡15,係於第4壁部24側安裝在分隔壁部29。分光鏡15,係使雷射光L1穿透。分光鏡15,以抑制像散的觀點而言,例如立方體型或以具有歪斜的關係的方式配置的2枚之板型者為佳。
測定部16,係於框體11內相對於調整部13配置在第1壁部21側(與其中一方的壁部側為相反側)。測定部16,係於第4壁部24側安裝在分隔壁部29。測定部16,係輸出用以測定對象物100的表面(例如,雷射光L1入射之側的表面)與聚光部14的距離之測定光L10,並透過聚光部14檢測出被對象物100的表面反射的測定光L10。亦即,從測定部16輸出的測定光L10,係透過聚光部14照射至對象物100的表面,被對象物100的表面反射的測定光L10,會透過聚光部14被測定部16檢測出。
更具體而言,從測定部16輸出的測定光L10,係被在第4壁部24側安裝於分隔壁部29的分光鏡20及分光鏡15依序反射,而從聚光部14出射至框體11外。被對象物100的表面反射的測定光L10,會從聚光部14入射至框體11內而被分光鏡15及分光鏡20依序反射,入射至測定部16,而被測定部16檢測出。
觀察部17,係於框體11內相對於調整部13配置在第1壁部21側(與其中一方的壁部側為相反側)。觀察部17,係於第4壁部24側安裝在分隔壁部29。觀察部17,係輸出用以觀察對象物100的表面(例如,雷射光L1入射之側的表面)的觀察光L20,並透過聚光部14檢測出被對象物100的表面反射的觀察光L20。亦即,從觀察部17輸出的觀察光L20,係透過聚光部14照射至對象物100的表面,被對象物100的表面反射的觀察光L20,會透過聚光部14被觀察部17檢測出。
更具體而言,從觀察部17輸出的觀察光L20,係穿透分光鏡20並被分光鏡15反射,而從聚光部14出射至框體11外。被對象物100的表面反射的觀察光L20,會從聚光部14入射至框體11內而被分光鏡15,穿透分光鏡20入射至觀察部17,而被觀察部17檢測出。又,雷射光L1、測定光L10及觀察光L20之各自的波長係彼此不同(至少各自的中心波長彼此偏差)。
驅動部18,係於第4壁部24側安裝在分隔壁部29。驅動部18,係例如藉由壓電元件的驅動力,使配置於第6壁部26的聚光部14沿著Z方向移動。
電路部19,係於框體11內相對於分隔壁部29配置在第3壁部23側。亦即,電路部19,係於框體11內相對於調整部13、測定部16及觀察部17配置在第3壁部23側。電路部19,係自分隔壁部29遠離。電路部19,係例如為複數個電路基板。電路部19,係處理從測定部16輸出的訊號,以及輸入至反射型空間光調變器34的訊號。電路部19,係根據從測定部16輸出的訊號控制驅動部18。作為一例,電路部19,係根據從測定部16輸出的訊號,以使對象物100的表面與聚光部14的距離維持一定的方式(亦即,以使對象物100的表面與雷射光L1的聚光點的距離維持一定的方式),控制驅動部18。又,於框體11,係設有連接了用以將電路部19電性連接至控制部9(參照圖1)等的配線的連接器(省略圖示)。
雷射加工頭10B,係與雷射加工頭10A相同,具備框體11、入射部12、調整部13、聚光部14、分光鏡15、測定部16、觀察部17、驅動部18、電路部19。然而,雷射加工頭10B的各構成,係如圖2所示,以對於通過1對安裝部65、66之間的中點且垂直於Y方向的假想平面,與雷射加工頭10A的各構成為具有面對稱的關係的方式配置。
例如,雷射加工頭10A的框體(第1框體)11,係以使第4壁部24相對於第3壁部23位於雷射加工頭10B側,且第6壁部26相對於第5壁部25位於支承部7側的方式,安裝於安裝部65。相對於此,雷射加工頭10B的框體(第2框體)11,係以使第4壁部24相對於第3壁部23位於雷射加工頭10A側,且第6壁部26相對於第5壁部25位於支承部7側的方式,安裝於安裝部66。
雷射加工頭10B的框體11,係構成為在使第3壁部23配置於安裝部66側的狀態下,將框體11安裝於安裝部66。具體而言,係如以下所述。安裝部66,係具有底板66a、安裝板66b。底板66a,係安裝在設於移動部63的軌道。安裝板66b,係豎設於底板66a之雷射加工頭10A側的端部。雷射加工頭10B的框體11,係在使第3壁部23接觸於安裝板66b的狀態下,安裝於安裝部66。雷射加工頭10B的框體11,係能夠對於安裝部66裝卸。
[作用及效果]
於雷射加工頭10A中,因輸出雷射光L1的光源並不設置於框體11內,故能夠達成框體11的小型化。並且,於框體11中,第3壁部23與第4壁部24的距離,係比第1壁部21與第2壁部22的距離更小,且配置於第6壁部26的聚光部14,係於Y方向偏靠第4壁部24側。藉此,在使框體11沿著第3壁部23及第4壁部24彼此對向的Y方向移動的情形下,例如,即便於第4壁部24側存在有其他構成(例如,雷射加工頭10B),亦能夠使聚光部14接近該其他構成。並且,因第3壁部23與第4壁部24的距離比第1壁部21與第2壁部22的距離更小,故在使框體11沿著第3壁部23及第4壁部24彼此對向的Y方向移動的情形下,能夠使框體11所佔的空間更小。藉此,雷射加工頭10A,能夠恰當地使聚光部14沿著垂直於其光軸的方向移動。
並且,於雷射加工頭10A中,入射部12,係設於第5壁部25,於Y方向偏靠第4壁部24側。藉此,能夠在該框體11內的區域當中相對於調整部13在第3壁部23側的區域配置其他構成(例如電路部19)等,將該區域作有效利用。
並且,於雷射加工頭10A中,電路部19,係於框體11內相對於調整部13配置在第3壁部23側。藉此,能夠將在該框體11內的區域當中相對於調整部13在第3壁部23側的區域作有效利用。
並且,於雷射加工頭10A中,調整部13係於框體11內相對於分隔壁部29配置在第4壁部24側,電路部19係於框體11內相對於分隔壁部29配置在第3壁部23側。藉此,因電路部19所產生的熱不易傳達至調整部13,故能夠抑制電路部19所產生的熱導致調整部13產生歪曲,而能夠恰當地調整雷射光L1。藉此,例如能夠藉由空冷或水冷等,在框體11內的區域當中第3壁部23側的區域效率良好地冷卻電路部19。
另外,於雷射加工頭10A中,調整部13,係安裝於分隔壁部29。藉此,能夠將調整部13於框體11內確實且穩定地支承。
並且,於雷射加工頭10A中,電路部19,係自分隔壁部29遠離。藉此,能夠更為確實地抑制電路部19所產生的熱經由分隔壁部29傳達至調整部13。
並且,於雷射加工頭10A中,聚光部14,係於X方向偏靠第2壁部22側。藉此,在使框體11沿著垂直於聚光部14的光軸的方向移動的情形下,例如,即便於第2壁部22側存在有其他構成,亦能夠使聚光部14接近該其他構成。
並且,於雷射加工頭10A中,入射部12,係設於第5壁部25,於X方向偏靠第2壁部22側。藉此,能夠在該框體11內的區域當中相對於調整部13在第1壁部21側的區域配置其他構成(例如測定部16及觀察部17)等,將該區域作有效利用。
並且,於雷射加工頭10A中,測定部16及觀察部17,係於框體11內的區域當中相對於調整部13配置在第1壁部21側的區域,電路部19,係於框體11內的區域當中相對於調整部13配置在第3壁部23側的區域,分光鏡15,係於框體11內配置在調整部13與聚光部14之間。藉此,能夠將框體11內的區域作有效利用。並且,雷射加工裝置1能夠根據對象物100的表面與聚光部14的距離之測定結果來進行加工。並且,雷射加工裝置1能夠根據對象物100的表面的觀察結果來進行加工。
並且,於雷射加工頭10A中,電路部19,係根據從測定部16輸出的訊號控制驅動部18。藉此,能夠根據對象物100的表面與聚光部14的距離之測定結果來調整雷射光L1的聚光點的位置。
並且,於雷射加工頭10A中,入射部12,以及調整部13的衰減器31、光束擴展器32、反射鏡33,係配置於沿著Z方向延伸的直線A1上,調整部13的反射型空間光調變器34、成像光學系35、聚光部14,以及聚光部14,係配置於沿著Z方向延伸的直線A2上。藉此,能夠使具有衰減器31、光束擴展器32、反射型空間光調變器34及成像光學系35的調整部13小巧。
並且,於雷射加工頭10A中,直線A1係相對於直線A2位於第2壁部22側。藉此,在該框體11內的區域當中相對於調整部13在與第1壁部21側為相反側的區域中,構成使用聚光部14的其他光學系(例如測定部16及觀察部17)的情形下,能夠使該其他光學系的構成的自由度提升。
以上的作用及效果,能夠同樣藉由雷射加工頭10B達成。
並且,於雷射加工裝置1中,雷射加工頭10A的聚光部14,係於雷射加工頭10A的框體11中偏靠雷射加工頭10B側,雷射加工頭10B的聚光部14,係於雷射加工頭10B的框體11中偏靠雷射加工頭10A側。藉此,在使1對雷射加工頭10A、10B分別沿著Y方向移動的情形下,能夠使雷射加工頭10A的聚光部14與雷射加工頭10B的聚光部14彼此接近。並且,在使1對雷射加工頭10A、10B分別沿著Y方向移動的情形下,能夠使1對雷射加工頭10A、10B各自所佔的空間較小。藉此,藉由雷射加工裝置1,能夠效率良好地加工對象物100。
並且,於雷射加工裝置1中,1對安裝部65、66,係分別沿著Y方向及Z方向各自移動。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物100。
並且,於雷射加工裝置1中,支承部7,係分別沿著X方向及Y方向移動,並能夠以平行於Z方向之軸線作為中心線旋轉。藉此,能夠更加效率良好地加工對象物100。
[變形例]
本揭示,係不限於前述之實施形態。例如,如圖6所示,入射部12、調整部13及聚光部14,係配置於沿著Z方向延伸的直線A上。藉此,能夠使調整部13小巧。此時,調整部13亦可不具有反射型空間光調變器34及成像光學系35。並且,調整部13,亦可具有衰減器31及光束擴展器32。藉此,能夠使具有衰減器31及光束擴展器32的調整部13小巧。又,衰減器31及光束擴展器32的排列順序亦可相反。
並且,框體11,係構成為在使第1壁部21、第2壁部22、第3壁部23及第5壁部25之至少1者配置於雷射加工裝置1的安裝部65(安裝部66)側的狀態下,將框體11安裝於安裝部65(安裝部66)即可。並且,聚光部14,係於Y方向偏靠第4壁部24側即可。藉此,在使框體11沿著Y方向移動的情形下,例如,即便於第4壁部24側存在有其他構成,亦能夠使聚光部14接近該其他構成。並且,在使框體11沿著Y方向移動的情形下,能夠使框體11所佔的空間更小。並且,在使框體11沿著Z方向移動的情形下,例如,能夠使聚光部14接近對象物100。
並且,聚光部14,亦可於X方向偏靠第1壁部21側。藉此,在使框體11沿著垂直於聚光部14的光軸的方向移動的情形下,例如,即便於第1壁部21側存在有其他構成,亦能夠使聚光部14接近該其他構成。在此情形,入射部12,亦可於X方向偏靠第1壁部21側。藉此,能夠在該框體11內的區域當中相對於調整部13在第2壁部22側的區域配置其他構成(例如測定部16及觀察部17)等,將該區域作有效利用。
電路部19,不限於處理從測定部16輸出的訊號及/或輸入至反射型空間光調變器34的訊號,處理雷射加工頭中之任意訊號即可。
並且,亦可藉由反射鏡實施將雷射光L1從光源單元8的出射部81a導光至雷射加工頭10A的入射部12,以及將雷射光L2從光源單元8的出射部82a導光至雷射加工頭10B的入射部12之至少任一者。圖7係雷射光L1被反射鏡導光之雷射加工裝置1的一部分的正視圖。於圖7所示之構成中,光源81,係以於Y方向位於移動部63的側面方(與移動部64為相反側)的方式安裝於固定部61。光源81的出射部81a,係朝向移動部63側。於移動部63,安裝反射雷射光L1的反射鏡3。反射鏡3,係以於Y方向與光源81的出射部81a對向且於Z方向與雷射加工頭10A的入射部12對向的方式,安裝於移動部63。從光源81的出射部81a出射的雷射光L1,係被反射鏡3反射,並入射至雷射加工頭10A的入射部12。又,光源81,係安裝於裝置框架1a。
於圖7所示之構成中,即便移動部63沿著Y方向移動,亦能夠維持反射鏡3於Y方向與光源81的出射部81a對向的狀態。並且,即便安裝部65沿著Z方向移動,亦能夠維持反射鏡3於Z方向與雷射加工頭10A的入射部12對向的狀態。因此,無論雷射加工頭10A的位置,皆能夠使從光源81的出射部81a出射的雷射光L1確實入射至雷射加工頭10A的入射部12。並且,能夠利用難以藉由光纖2導光之高輸出長短脈衝雷射等之光源。
並且,於圖7所示之構成中,反射鏡3,亦可以能夠進行角度調整及位置調整之至少任一者的方式,安裝於移動部63。藉此,能夠使從光源81的出射部81a出射的雷射光L1更為確實地入射至雷射加工頭10A的入射部12。
並且,光源單元8,亦可具有1個光源。在此情形,光源單元8,亦可構成為使從1個光源輸出的雷射光的一部分從出射部81a出射且使該雷射光的剩餘部分從出射部82a出射。
並且,雷射加工裝置1亦可具備1個雷射加工頭10A。即便是具備1個雷射加工頭10A的雷射加工裝置1,在使框體11沿著垂直於聚光部14的光軸的Y方向移動的情形下,例如,即便於第4壁部24側存在有其他構成,亦能夠使聚光部14接近該其他構成。並且,在使框體11沿著Y方向移動的情形下,能夠使框體11所佔的空間更小。因此,藉由具備1個雷射加工頭10A的雷射加工裝置1,亦能夠效率良好地加工對象物100。並且,具備1個雷射加工頭10A的雷射加工裝置1,只要使安裝部65沿著Z方向移動,便能夠效率良好地加工對象物100。並且,藉由於具備1個雷射加工頭10A的雷射加工裝置1,支承部7只要沿著X方向移動,並以平行於Z方向的軸線作為中心線旋轉,便能夠效率良好地加工對象物100。
並且,雷射加工裝置1亦可具備3個以上的雷射加工頭。圖8,係具備2對雷射加工頭之雷射加工裝置1的立體圖。圖8所示之雷射加工裝置1,係具備:複數個移動機構200、300、400,支承部7,1對雷射加工頭10A、10B,1對雷射加工頭10C、10D,光源單元(省略圖示)。
移動機構200,係使支承部7分別沿著X方向、Y方向及Z方向移動,並能夠使支承部7以平行於Z方向之軸線作為中心線旋轉。
移動機構300,係具有固定部301,以及1對安裝部(第1安裝部、第2安裝部)305、306。固定部301,係安裝於裝置框架(省略圖示)。1對安裝部305、306,係分別安裝在設於固定部301的軌道,並能夠分別獨立沿著Y方向移動。
移動機構400,係具有固定部401,以及1對安裝部(第1安裝部、第2安裝部)405、406。固定部401,係安裝於裝置框架(省略圖示)。1對安裝部405、406,係分別安裝在設於固定部401的軌道,並能夠分別獨立沿著X方向移動。又,固定部401的軌道,係以與固定部301的軌道立體地交叉的方式配置。
雷射加工頭10A,係安裝於移動機構300的安裝部305。雷射加工頭10A,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光。從雷射加工頭10A出射的雷射光,係從光源單元(省略圖示)被光纖2導光。雷射加工頭10B,係安裝於移動機構300的安裝部306。雷射加工頭10B,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光。從雷射加工頭10B出射的雷射光,係從光源單元(省略圖示)被光纖2導光。
雷射加工頭10C,係安裝於移動機構400的安裝部405。雷射加工頭10C,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光。從雷射加工頭10C出射的雷射光,係從光源單元(省略圖示)被光纖2導光。雷射加工頭10D,係安裝於移動機構400的安裝部406。雷射加工頭10D,係在於Z方向與支承部7對向的狀態下,對於支承部7所支承的對象物100照射雷射光。從雷射加工頭10D出射的雷射光,係從光源單元(省略圖示)被光纖2導光。
圖8所示之雷射加工裝置1之1對雷射加工頭10A、10B的構成,係與圖1所示之雷射加工裝置1之1對雷射加工頭10A、10B的構成相同。圖8所示之雷射加工裝置1之1對雷射加工頭10C、10D的構成,係與在將圖1所示之雷射加工裝置1之1對雷射加工頭10A、10B以平行於Z方向的軸線作為中心線90度旋轉的情形之1對雷射加工頭10A、10B的構成相同。
例如,雷射加工頭10C的框體(第1框體)11,係以使第4壁部24相對於第3壁部23位於雷射加工頭10D側,且第6壁部26相對於第5壁部25位於支承部7側的方式,安裝於安裝部65。並且,於雷射加工頭10C中,聚光部14,係於Y方向偏靠第4壁部24側(亦即,雷射加工頭10D側)。
例如,雷射加工頭10D的框體(第2框體)11,係以使第4壁部24相對於第3壁部23位於雷射加工頭10C側,且第6壁部26相對於第5壁部25位於支承部7側的方式,安裝於安裝部66。並且,於雷射加工頭10D中,聚光部14,係於Y方向偏靠第4壁部24側(亦即,雷射加工頭10C側)。
藉由以上構成,於圖8所示之雷射加工裝置1中,在使1對雷射加工頭10A、10B分別沿著Y方向移動的情形下,能夠使雷射加工頭10A的聚光部14與雷射加工頭10B的聚光部14彼此接近。並且,在使1對雷射加工頭10A、10B分別沿著Y方向移動的情形下,能夠使1對雷射加工頭10A、10B各自所佔的空間較小。並且,在使1對雷射加工頭10C、10D分別沿著X方向移動的情形下,能夠使雷射加工頭10C的聚光部14與雷射加工頭10D的聚光部14彼此接近。並且,在使1對雷射加工頭10C、10D分別沿著X方向移動的情形下,能夠使1對雷射加工頭10C、10D各自所佔的空間較小。
並且,本揭示之雷射加工頭及雷射加工裝置,不限於用以在對象物100的內部形成改質區域者,亦可為用以實施其他雷射加工者。
最後,針對雷射加工裝置1的動作之例進行說明。針對雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。於對象物100,係設定有與往X方向延伸並且排列於Y方向的複數個線。在如此之狀態下,控制部9,係以在至少一部分的時間重複執行使雷射光L1對於一條線往X方向掃描的第1掃描處理,以及使雷射光L2對於別的線往X方向掃描的第2掃描處理。特別是,控制部9,係能夠一邊從位於對象物100的Y方向的其中一方的端部之線往Y方向的內側之線依序執行第1掃描處理,一邊從位於對象物100的Y方向的另一方的端部之線往Y方向的內側之線依序執行第2掃描處理。藉此,能夠達成產率的提升。
針對雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。於雷射加工裝置1中,控制部9,係執行:第1掃描處理,係於雷射加工頭10A、10B排列於一條線上的第1狀態下,一邊使雷射光L1的聚光點位於Z方向的第1位置,一邊使雷射光L1對於該一條線往X方向掃描;以及第2掃描處理,係於第1狀態下,一邊使雷射光L2的聚光點位於Z方向的第2位置(比第1位置更位於入射面側的位置),一邊使雷射光L2對於該一條線往X方向掃描。此時,控制部9,係一邊使雷射光L2的聚光點位於比雷射光L1的聚光點更往X方向的相反方向遠離預定距離以上,一邊執行第1掃描處理及第2掃描處理。預定距離,係例如300μm。藉此,能夠使產率提升,並且能夠使龜裂從改質區域充分進展。
針對雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。控制部9,係以在至少一部分的時間重複執行使雷射光L1對於一條線往X方向掃描的第1掃描處理,以及使雷射光L2對於別的線往X方向掃描的第2掃描處理,並且,在僅執行第2掃描處理時,執行:攝影處理,係將包含加工完成的線之對象物100的區域,藉由與雷射加工頭10A一起移動的攝影單元進行攝影。於攝影處理中,係使用穿透對象物100的光(例如近紅外線區域的光)。藉此,能夠利用未進行第1掃描處理的時間,以非破壞的方式確認雷射加工的可否。
針對雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。雷射加工裝置1,係於對象物100實施剝離一部分的剝離加工。例如於剝離加工中,一邊使支承部7旋轉,一邊從雷射加工頭10A、10B分別照射雷射光L1、L2,並且控制該雷射光L1、L2的聚光點各自之水平方向的移動,藉此於對象物100的內部沿著假想面形成改質區域。因此,能夠以跨越假想面的該改質區域作為邊界,將對象物100的一部分剝離。
雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。雷射加工裝置1,係於對象物100實施去除無用部分的修整加工。例如,於修整加工中,係在一邊使支承部7旋轉,一邊使聚光點位於沿著對象物100之有效區域的周緣的位置的狀態下,根據支承部7的旋轉資訊來控制雷射加工頭10A、10B之雷射光L1、L2的照射之開始及停止,藉此於對象物100之有效區域的周緣形成改質區域。因此,能夠藉由例如夾具或空氣,將該改質區域作為邊界去除無用部分。
雷射加工裝置1的動作之一例,係如以下所述。對於在表面側具有功能元件層的對象物100,從對象物100的裏面,沿著線將雷射光L1照射至功能元件層,而沿著線於功能元件層形成弱化區域。從對象物100的裏面,沿著線以相對於雷射光L1後發的方式,將具有比雷射光L1的脈衝寬度更短的脈衝寬度之雷射光L2照射至對象物100的內部。藉由照射雷射光L2,利用該弱化區域,能夠沿著線確實形成到達對象物100的表面的龜裂。
1:雷射加工裝置
7:支承部
8:光源單元
10A,10B,10C,10D:雷射加工頭(第1雷射加工頭、第2雷射加工頭)
11:框體(第1框體、第2框體)
12:入射部
13:調整部
14:聚光部
14a:入瞳面
15:分光鏡
16:測定部
17:觀察部
18:驅動部
19:電路部
21:第1壁部
22:第2壁部
23:第3壁部
24:第4壁部
25:第5壁部
26:第6壁部
29:分隔壁部
31:衰減器
32:光束擴展器
33:反射鏡
34:反射型空間光調變器
34a:反射面
35:成像光學系
65,66,305,306,405,406:安裝部(第1安裝部、第2安裝部)
[圖1]圖1係一實施形態之雷射加工裝置的立體圖。
[圖2]圖2係圖1所示之雷射加工裝置的一部分的正視圖。
[圖3]圖3係圖1所示之雷射加工裝置的雷射加工頭的正視圖。
[圖4]圖4係圖3所示之雷射加工頭的側視圖。
[圖5]圖5係圖3所示之雷射加工頭的光學系的構成圖。
[圖6]圖6係變形例之雷射加工頭的光學系的構成圖。
[圖7]圖7係變形例之雷射加工裝置的一部分的正視圖。
[圖8]圖8係變形例之雷射加工裝置的立體圖。
2:雷射加工裝置
2a:連接端部
21:第1壁部
22:第2壁部
23:第3壁部
24:第4壁部
25:第5壁部
26:第6壁部
10A,10B:雷射加工頭(第1雷射加工頭、第2雷射加工頭)
11:框體(第1框體、第2框體)
12:入射部
14:聚光部
6:移動機構
61:固定部
63,64:移動部
65,66:安裝部(第1安裝部、第2安裝部)
65a,66a:底板
65b,66b:安裝板
L1,L2:雷射光(第1雷射光、第2雷射光)
Claims (23)
- 一種雷射加工頭,係具備: 框體,係具有在第1方向彼此對向的第1壁部及第2壁部,在垂直於前述第1方向的第2方向彼此對向的第3壁部及第4壁部,以及,在垂直於前述第1方向及前述第2方向的第3方向彼此對向的第5壁部及第6壁部; 入射部,係設於前述框體,使雷射光入射至前述框體內; 調整部,係配置於前述框體內,調整從前述入射部入射的前述雷射光;以及 聚光部,係安裝於前述框體,將藉由前述調整部調整的前述雷射光聚光並出射至前述框體外; 前述第3壁部與前述第4壁部的距離,係比前述第1壁部與前述第2壁部的距離更小, 前述框體,係構成為在使前述第1壁部、前述第2壁部、前述第3壁部及前述第5壁部之至少1者配置於雷射加工裝置的安裝部側的狀態下,將前述框體安裝於前述安裝部, 前述聚光部,係配置於前述第6壁部,於前述第2方向偏靠前述第4壁部側。
- 如請求項1所述之雷射加工頭,其中, 前述入射部,係設於前述第5壁部,於前述第2方向偏靠前述第4壁部側。
- 如請求項1或2所述之雷射加工頭,其中, 在前述框體內,進一步具備相對於前述調整部配置在前述第3壁部側的電路部。
- 如請求項3所述之雷射加工頭,其中, 於前述框體內,設有將前述框體內的區域分隔為前述第3壁部側的區域與前述第4壁部側的區域之分隔壁部, 前述調整部,係於前述框體內相對於前述分隔壁部配置在前述第4壁部側, 前述電路部,係於前述框體內相對於前述分隔壁部配置在前述第3壁部側。
- 如請求項4所述之雷射加工頭,其中, 前述調整部,係安裝於前述分隔壁部。
- 如請求項4或5所述之雷射加工頭,其中, 前述電路部,係自前述分隔壁部遠離。
- 如請求項3至6中任一項所述之雷射加工頭,其中, 進一步具備:測定部,係輸出用以測定對象物的表面與前述聚光部的距離之測定光,並透過前述聚光部檢測出被前述對象物的前述表面反射的前述測定光;以及 分光鏡,係反射前述測定光,並使前述雷射光穿透; 前述電路部,係處理從前述測定部輸出的訊號, 前述分光鏡,係於前述框體內,配置在前述調整部與前述聚光部之間。
- 如請求項7所述之雷射加工頭,其中, 前述聚光部,係於前述第1方向偏靠前述第1壁部或前述第2壁部之其中一方的壁部側。
- 如請求項8所述之雷射加工頭,其中, 前述入射部,係設於前述第5壁部,於前述第1方向偏靠前述其中一方的壁部側。
- 如請求項9所述之雷射加工頭,其中, 前述測定部,係於前述框體內相對於前述調整部配置為與前述其中一方的壁部側為相反側。
- 如請求項9或10所述之雷射加工頭,其中, 進一步具備:觀察部,係輸出用以觀察對象物的表面之觀察光,並透過前述聚光部檢測出被前述對象物的前述表面反射的前述觀察光; 前述觀察部,係於前述框體內相對於前述調整部配置為與前述其中一方的壁部側為相反側。
- 如請求項7至11中任一項所述之雷射加工頭,其中, 進一步具備:驅動部,係使前述聚光部沿著前述第3方向移動; 前述電路部,係根據從前述測定部輸出的前述訊號控制前述驅動部。
- 如請求項1至12中任一項所述之雷射加工頭,其中, 前述調整部,係具有:反射鏡,係反射從前述入射部入射的前述雷射光;反射型空間光調變器,係調變被前述反射鏡反射的前述雷射光;以及成像光學系,係構成前述反射型空間光調變器的反射面與前述聚光部的入瞳面為成像關係之兩側遠心光學系; 前述入射部及前述反射鏡,係配置於沿著前述第3方向延伸的第1直線上, 前述反射型空間光調變器、前述成像光學系及前述聚光部,係配置於沿著前述第3方向延伸的第2直線上。
- 如請求項13所述之雷射加工頭,其中, 前述聚光部,係於前述第1方向偏靠前述第1壁部或前述第2壁部之其中一方的壁部側。 前述入射部,係於前述第1方向偏靠前述其中一方的壁部側, 前述第1直線,係相對於前述第2直線位於前述其中一方的壁部側。
- 如請求項13或14所述之雷射加工頭,其中, 前述調整部,係進一步具有使前述雷射光的直徑擴大的光束擴展器, 前述光束擴展器,係於前述第1直線上,配置在前述入射部與前述反射鏡之間。
- 如請求項1至12中任一項所述之雷射加工頭,其中, 前述入射部、前述調整部及前述聚光部,係配置於沿著前述第3方向延伸的直線上。
- 如請求項16所述之雷射加工頭,其中, 前述調整部,係具有:衰減器,係調整前述雷射光的輸出;以及光束擴展器,係擴大前述雷射光的直徑。
- 一種雷射加工裝置,係具備: 分別為請求項1至17所述之雷射加工頭的第1雷射加工頭及第2雷射加工頭; 第1安裝部,係安裝有前述第1雷射加工頭的前述框體的前述安裝部; 第2安裝部,係安裝有前述第2雷射加工頭的前述框體的前述安裝部; 光源單元,係輸出分別入射至前述第1雷射加工頭的前述入射部及前述第2雷射加工頭的前述入射部之前述雷射光;以及 支承部,係支承對象物; 前述第1安裝部及前述第2安裝部,係分別沿著前述第2方向移動, 作為前述第1雷射加工頭的前述框體之第1框體,係以使前述第1框體的前述第4壁部相對於前述第1框體的前述第3壁部位於前述第2雷射加工頭側,且前述第1框體的前述第6壁部相對於前述第1框體的前述第5壁部位於前述支承部側的方式,安裝於前述第1安裝部, 作為前述第2雷射加工頭的前述框體之前述第2框體,係以使前述第2框體的前述第4壁部相對於前述第2框體的前述第3壁部位於前述第1雷射加工頭側,且前述第2框體的前述第6壁部相對於前述第2框體的前述第5壁部位於前述支承部側的方式,安裝於前述第2安裝部。
- 如請求項18所述之雷射加工裝置,其中, 前述第1安裝部及前述第2安裝部,係分別沿著前述第3方向移動。
- 如請求項18或19所述之雷射加工裝置,其中, 前述支承部,係沿著前述第1方向移動,且以平行於前述第3方向之軸線作為中心線旋轉。
- 一種雷射加工裝置,係具備: 請求項1至17中任一項所述之雷射加工頭; 前述安裝部,係安裝有前述雷射加工頭的前述框體; 光源單元,係輸出入射至前述雷射加工頭的前述入射部之前述雷射光;以及 支承部,係支承對象物; 前述安裝部,係沿著前述第2方向移動。
- 如請求項21所述之雷射加工裝置,其中, 前述安裝部,係沿著前述第3方向移動。
- 如請求項21或22所述之雷射加工裝置,其中, 前述支承部,係沿著前述第1方向移動,且以平行於前述第3方向之軸線作為中心線旋轉。
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