TW201821821A - 電子裝置及檢測方法 - Google Patents
電子裝置及檢測方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201821821A TW201821821A TW105139799A TW105139799A TW201821821A TW 201821821 A TW201821821 A TW 201821821A TW 105139799 A TW105139799 A TW 105139799A TW 105139799 A TW105139799 A TW 105139799A TW 201821821 A TW201821821 A TW 201821821A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- motherboard
- address register
- processing unit
- battery
- random access
- Prior art date
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本揭露文件係揭露一種電子裝置。電子裝置包含主機板、隨機存取記憶體、主機板電池及處理單元。隨機存取記憶體設置於主機板上。主機板電池設置於主機板上,並與隨機存取記憶體電性耦接以供應隨機存取記憶體之電能。處理單元設置於主機板上,並與隨機存取記憶體電性耦接,處理單元用以將檢測值寫入至隨機存取記憶體中的閒置位址暫存器,並用以檢測閒置位址暫存器是否維持檢測值。其中當閒置位址暫存器維持檢測值時,處理單元判定主機板電池為正常,而當閒置位址暫存器回復初始值時,處理單元判定主機板電池為故障。
Description
本揭露文件係關於一種電子裝置,特別係關於一種電子裝置之主機板電池的檢測技術。
一般電腦的主機板上通常需安裝一主機板電池,此主機板電池例如為鋰電池,用以供電給例如時鐘晶片及CMOS隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM)等。在傳統電腦製造過程中,主機板電池的檢測是以人工操作三用電表量測,然此可能存在人為疏失而無法及時發現問題,且也無法檢測到整體供電路徑中是否存在其他的問題。
此外,傳統檢測亦可根據時鐘晶片提供的實時時鐘功能(Real-time clock,RTC)來判斷主機板電池是否正常,因為時鐘晶片將隨著主機板電池供應的電能而運作,故當主機板電池沒電時,實時時鐘會回到出廠預設值(例如回到2010/1/1)。因此,基於系統時間會隨著主機板的實時時鐘調整的特性,當使用者發現系統的時間回復出廠預設值時,即能得知主機板上的電池並未正常供電(沒電或故障)。
然而,在例如微軟作業系統window 8或以後的版本中,系統本身的日期/時間會自動修正或重新記錄主機板的實時時鐘來同步時間,例如當系統時間大於主機板時間時,系統會修正主機板的實時時鐘,而當系統時間小於主機板時間時,系統會重新記錄主機板的實時時鐘,因此,傳統的方法已無法有效判斷主機板電池是否有正常供電。
在本揭露文件之一技術態樣中提出一種檢測方法。檢測方法用以檢測電子裝置的主機板電池。檢測方法包含下列步驟:在電子裝置的隨機存取記憶體的閒置位址暫存器填入檢測值,其中主機板電池用以供應隨機存取記憶體之電能;檢測閒置位址暫存器是否維持檢測值;當閒置位址暫存器維持檢測值時,判定主機板電池為正常;而當閒置位址暫存器回復初始值時,判定主機板電池為故障。
在本揭露文件之另一技術態樣中提出一種電子裝置。電子裝置包含主機板、隨機存取記憶體、主機板電池及處理單元。隨機存取記憶體設置於主機板上。主機板電池設置於主機板上,並與隨機存取記憶體電性耦接以供應隨機存取記憶體之電能。處理單元設置於主機板上,並與隨機存取記憶體電性耦接,處理單元用以將檢測值寫入至隨機存取記憶體中的閒置位址暫存器,並用以檢測閒置位址暫存器是否維持檢測值。其中當閒置位址暫存器維持檢測值時,處理單元判定主機板電池為正常,而當閒置位址暫存器回復初始值時,處理單元判定主機板電池為故障。
本揭露文件利用隨機存取記憶體的依電性特性來判斷主機板電池是否正常供電,不需要透過人工檢測,因此減少了人為疏失的可能性,且亦可適用於windows 8以後的作業系統。
下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明,但所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明,並不用來限定本發明,而結構操作之描述非用以限制其執行之順序,任何由元件重新組合之結構,所產生具有均等功效的裝置,皆為本發明揭示內容所涵蓋的範圍。
在全篇說明書與申請專利範圍所使用之用詞(terms),除有特別註明外,通常具有每個用詞使用在此領域中、在此揭露之內容中與特殊內容中的平常意義。某些用以描述本揭露之用詞將於下或在此說明書的別處討論,以提供本領域技術人員在有關本揭露之描述上額外的引導。
請參閱第1圖,第1圖繪示本揭露文件之一實施例之電子裝置100的示意圖。電子裝置100例如為桌上型電腦,其包含有主機板110、隨機存取記憶體120、主機板電池130、處理單元140、顯示器150及揚聲器160。其中隨機存取記憶體120、主機板電池130及處理單元140皆安裝設置於主機板110上。處理單元140例如為中央處理器(CPU)或系統單晶片(SoC)等具備運算處理功能之組件,其分別與隨機存取記憶體120、顯示器150及揚聲器160電性連接,並可存取或控制隨機存取記憶體120、顯示器150及揚聲器160。詳細來說,處理單元140可讀取隨機存取記憶體120中的資料或寫入資料至隨機存取記憶體120,處理單元140亦可控制顯示器150顯示影像及控制揚聲器160產生聲音。
於一實施例中,隨機存取記憶體120為電腦中與基本輸入/輸出系統(Basic Input/Output System,BIOS)搭配的互補式金屬氧化物半導體隨機存取記憶體(CMOS RAM),CMOS RAM可以用以儲存電子裝置100的基本輸入/輸出系統的設定結果(例如使用者登錄資料、系統環境設置等)。應注意的是,隨機存取記憶體120具有依電性,亦即,隨機存取記憶體120必須保持通電才能持續保存資料,一旦對隨機存取記憶體120的電力供應中止,隨機存取記憶體120所儲存的全部資料都將會自動消失。因此,隨機存取記憶體120必須與主機板電池130電性連接,以維持隨機存取記憶體120自身的電力供應。即使電子裝置100關機或關閉電源,只要主機板電池130電力供應正常,隨機存取記憶體120即能繼續保存資料。
而於此例中,因隨機存取記憶體120為電腦的CMOS RAM,其儲存有基本輸入/輸出系統的設定結果,若隨機存取記憶體120因斷電而無法維持資料,則電子裝置100將無法正常運作。因此,主機板電池130必須經過檢測以確定是否功能正常及有電,此外,當主機板電池130與隨機存取記憶體120之間的電力傳輸路徑存在故障時,則隨機存取記憶體120亦無法接收到穩定的電力而導致其中的資料消失。
請參閱第2圖,第2圖繪示本揭露文件之一實施例之檢測方法200流程圖。檢測方法200可用以判斷主機板電池130是否可正常供電。其中檢測方法200係基於隨機存取記憶體120的依電特性來進一步判別主機板電池130的狀況。亦即是說,當主機板電池130正常供電時,隨機存取記憶體120可保持資料,反之,當主機板電池130並未正常供電時,隨機存取記憶體120的資料將消失。
具體而言,檢測方法200包含步驟S210、S220、S230、S240、S242、S250、S252等。在步驟S210中,可於電子裝置100的隨機存取記憶體120的製造過程中,於隨機存取記憶體120上未被占用/使用的一閒置位址暫存器上填入一檢測值。
舉例來說,請參閱第3A、3B圖繪示的本揭露文件之一實施例之隨機存取記憶體120的記憶體資料區300示意圖。隨機存取記憶體120的記憶體資料區300中包含許多個位址暫存器。記憶體資料區300例如為一陣列方式排列的位址暫存器,其中記憶體資料區300的橫向可區分為0~N個區間,而縱向可區分為0~M個區間,即記憶體資料區300具有M×N個記憶體位址,其中M、N皆為正整數。位在縱向第00區間及橫向第00區間的交集區為第A00
位址,位在縱向第00區間及橫向第01區間的交集區為A01
位址,位在縱向第10區間及橫向第00區間及的交集區為A10
位址,依此類推,則位在縱向第M區間及橫向第N區間及的交集區為AMN
位址,如第3A圖所示。亦即,隨機存取記憶體120的記憶體資料區300中共包含M×N個位址暫存器。
在第3A圖的實施例中,假設隨機存取記憶體120的記憶體資料區300中存在未被占用的一閒置位址暫存器C1,所謂未被占用的閒置位址暫存器C1是指閒置位址暫存器C1當中並未存入有實際意義的資料或有效數值,於一實施例中,未被占用的閒置位址暫存器C1將會儲存一預設的初始值。其中閒置位址暫存器C1例如位在縱向第20區間及橫向第02區間的A22
位址,且其所預設的初始值為”00”。於檢測方法200的步驟S210中,可將閒置位址暫存器C1填入一檢測值”x”,如第3B圖所示,其中x可為初始值”00”以外的任意數值,舉例來說寫入閒置位址暫存器C1的檢測值可為”33”。接著,於例如電子裝置100組裝完成時,隨機存取記憶體120已電性連接上主機板電池130,則進入步驟S220。在步驟S220中,處理單元140將檢測閒置位址暫存器C1的資料數值。
倘若於步驟S230中,處理單元140判斷閒置位址暫存器C1並未維持著檢測值”x”,而是回復了初始值”00”(即回復至第3A圖的資料),則表示主機板電池130無法正常供電,檢測方法200將進入步驟S240判定主機板電池130為故障狀態,並進一步於步驟S242透過電子裝置100的顯示器150以文字或圖像/影像訊息、或者透過電子裝置100的揚聲器160產生提示音來顯示主機板電池130為故障的訊息。
而當步驟S230中,處理單元140判斷閒置位址暫存器C1仍維持著檢測值”x”時,即表示主機板電池130可正常供電、閒置位址暫存器C1之資料並未消失,則進入步驟S250判定主機板電池130為正常,並進一步於步驟S252透過電子裝置100的顯示器150以文字或圖像/影像訊息顯示、或者透過電子裝置100的揚聲器160產生提示音以顯示主機板電池130為正常的訊息。
應理解的是,顯示主機板電池130為正常或故障的提示訊息並不限制僅能透過顯示器150或揚聲器160來顯現,例如任何根據檢測結果而觸發的相應變化機制皆可為本揭露文件的替換做法。
藉由上述揭露的電子裝置100及檢測方法200,主機板電池130不再需要透過人工操作三用電表檢測,系統本身就能顯示主機板電池130的狀況。因此,人為檢測可能產生的誤判或操作疏失因素將被消除,並因為可由電子裝置100自行檢測及顯示結果,更節省了人力成本,且檢測流程更加精確且快速。
雖然本發明之實施例已揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可做些許之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當以後附之申請專利範圍所界定為準。
100‧‧‧電子裝置
110‧‧‧主機板
120‧‧‧隨機存取記憶體
130‧‧‧主機板電池
140‧‧‧處理單元
150‧‧‧顯示器
160‧‧‧揚聲器
200‧‧‧檢測方法
300‧‧‧記憶體資料區
A00~AMN‧‧‧位址
C1‧‧‧閒置位址暫存器
S210、S220、S230、S240‧‧‧步驟
S242、S250、S252‧‧‧步驟
第1圖為本揭露文件之一實施例之電子裝置示意圖。 第2圖為本揭露文件之一實施例之檢測方法流程圖。 第3A~3B圖為本揭露文件之一實施例之記憶體資料區示意圖。
Claims (10)
- 一種檢測方法,用以檢測一電子裝置的一主機板電池,該檢測方法包含: 在該電子裝置的一隨機存取記憶體的一閒置位址暫存器填入一檢測值,其中該主機板電池用以供應該隨機存取記憶體之電能; 檢測該閒置位址暫存器是否維持該檢測值; 當該閒置位址暫存器維持該檢測值時,判定該主機板電池為正常;以及 當該閒置位址暫存器回復一初始值時,判定該主機板電池為故障。
- 如請求項1所述之檢測方法,其中當該閒置位址暫存器維持該檢測值時,顯示該主機板電池為正常的一訊息。
- 如請求項2所述之檢測方法,其中顯示該主機板電池為正常的該訊息為一影像訊息或一聲音訊息。
- 如請求項1所述之檢測方法,其中當該閒置位址暫存器回復該初始值時,顯示該主機板電池為故障的一訊息。
- 如請求項4所述之檢測方法,其中顯示該主機板電池為故障的該訊息為一影像訊息或一聲音訊息。
- 一種電子裝置,包含: 一主機板; 一隨機存取記憶體,設置於該主機板上; 一主機板電池,設置於該主機板上,並與該隨機存取記憶體電性耦接以供應該隨機存取記憶體之電能;以及 一處理單元,設置於該主機板上,並與該隨機存取記憶體電性耦接,該處理單元用以將一檢測值寫入至該隨機存取記憶體中的一閒置位址暫存器,並用以檢測該閒置位址暫存器是否維持該檢測值; 其中當該閒置位址暫存器維持該檢測值時,該處理單元判定該主機板電池為正常,而當該閒置位址暫存器回復一初始值時,該處理單元判定該主機板電池為故障。
- 如請求項6所述之電子裝置,更包含: 一顯示器,與該處理單元電性連接,當該閒置位址暫存器維持該檢測值時,該處理單元控制該顯示器輸出該主機板電池為正常的一影像訊息。
- 如請求項6所述之電子裝置,更包含: 一顯示器,與該處理單元電性連接,當該閒置位址暫存器回復該初始值時,該處理單元控制該顯示器輸出該主機板電池為故障的一影像訊息。
- 如請求項6所述之電子裝置,更包含: 一揚聲器,與該處理單元電性連接,當該閒置位址暫存器維持該檢測值時,該處理單元控制該揚聲器輸出該主機板電池為正常的一提示音。
- 如請求項6所述之電子裝置,更包含: 一揚聲器,與該處理單元電性連接,當該閒置位址暫存器回復該初始值時,該處理單元控制該揚聲器輸出該主機板電池為故障的一提示音。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105139799A TWI619957B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 電子裝置及檢測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105139799A TWI619957B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 電子裝置及檢測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI619957B TWI619957B (zh) | 2018-04-01 |
TW201821821A true TW201821821A (zh) | 2018-06-16 |
Family
ID=62639760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105139799A TWI619957B (zh) | 2016-12-02 | 2016-12-02 | 電子裝置及檢測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI619957B (zh) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI272401B (en) * | 2003-12-19 | 2007-02-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for measuring battery power for battery-backed SRAM |
CN1936850A (zh) * | 2005-09-23 | 2007-03-28 | 英业达股份有限公司 | 基本输入/输出系统的设定值存取方法 |
TWI475364B (zh) * | 2011-10-18 | 2015-03-01 | Wistron Corp | 電腦裝置及其即時時脈信號的重置方法 |
TW201348726A (zh) * | 2012-05-18 | 2013-12-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 電量偵測裝置及方法 |
-
2016
- 2016-12-02 TW TW105139799A patent/TWI619957B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI619957B (zh) | 2018-04-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8635468B2 (en) | Sleep wake event logging | |
US7827445B2 (en) | Fault injection in dynamic random access memory modules for performing built-in self-tests | |
WO2016101411A1 (zh) | 一种服务器显示方法及装置 | |
US8538720B2 (en) | Cold boot test system and method for electronic devices | |
TWI635382B (zh) | 記憶體超頻方法及電腦裝置 | |
KR101067355B1 (ko) | 버스 신호 제어 회로 및 버스 신호 제어 회로를 구비한 신호 처리 회로 | |
US20070168738A1 (en) | Power-on error detection system and method | |
US20090100287A1 (en) | Monitoring Apparatus and a Monitoring Method Thereof | |
TW201301292A (zh) | 伺服器的記憶體測試系統及方法 | |
TW200923658A (en) | Detection system for the peripheral apparatus | |
TWI534707B (zh) | 電腦系統及其開關機方法 | |
WO2021143051A1 (zh) | 服务器的远程定位方法、计算机设备和存储介质 | |
US9442546B2 (en) | Computing system and method for respectively displaying information corresponding to host computer under booting state or standby state | |
TWI492045B (zh) | 檢測治具及電腦裝置的檢測方法 | |
TW201326848A (zh) | 輔助測試裝置 | |
US8250409B2 (en) | Boot test apparatus and method of computer system | |
US11862278B2 (en) | Memory test systems and memory test methods | |
KR930007675B1 (ko) | 확장 유닛이 접속가능한 컴퓨터 유닛의 리쥼처리의 제어 시스템 | |
TWI619957B (zh) | 電子裝置及檢測方法 | |
US8516311B2 (en) | System and method for testing peripheral component interconnect express switch | |
TW201604679A (zh) | 計算機系統 | |
JP4910119B2 (ja) | 測定装置の制御方法 | |
TW201301023A (zh) | 主機板測試系統及方法 | |
CN108089649B (zh) | 电子装置及检测方法 | |
US20040233772A1 (en) | Semiconductor device, semiconductor circuit, electronic equipment, and method of controlling clock-supply |