TW201821759A - 光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 - Google Patents
光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201821759A TW201821759A TW105140065A TW105140065A TW201821759A TW 201821759 A TW201821759 A TW 201821759A TW 105140065 A TW105140065 A TW 105140065A TW 105140065 A TW105140065 A TW 105140065A TW 201821759 A TW201821759 A TW 201821759A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- image capturing
- optical film
- capturing unit
- width
- zero
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
一種光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法,該測量裝置包含二個影像擷取單元,及一個處理單元。該等影像擷取單元可各自獨立地在該光學膜的兩個測邊間來回移動,並且可樞轉以改變拍攝角度,該等影像擷取單元分別用於擷取該光學膜的該兩側邊的影像。該處理單元依據該等影像擷取單元的移動位置來處理計算得到該光學膜的幅寬。本發明能根據該光學膜之位置而作拍攝方向的調整,使用上非常便利。而且本發明之測量方法利用具有特定邏輯之程式來偵測光學膜側邊並定位,能即時計算並監控光學膜之寬度,測量快速且精確。
Description
本發明是有關於一種幅寬線上測量裝置及測量方法,特別是指一種用於量測光學膜寬度的幅寬線上測量裝置及測量方法。
偏光板為液晶顯示裝置的重要元件,其為多層膜層堆疊結合所構成,因此製程複雜,由前段卷狀生產至後段裁切過程,皆會影響到偏光板的幅寬,為提升裁切利用率,必須嚴格控制製成偏光板之膜材的有效幅寬。偏光板製程為連續生產,並且利用數個滾輪帶動膜材於生產線上傳輸行進,因此利用能於生產線上直接進行幅寬測量之裝置,可以於線上精確地監控膜材幅寬。此外,其他有寬度量測需求的光學膜,也可以採用幅寬測量裝置來量測。
然而,已知的幅寬測量裝置通常僅架設單一個影像擷取元件,並驅動該影像擷取元件來回移動於光學膜的兩側邊來進行幅寬測量,但如此造成測量速度較慢,在測量應用上也較不方便。而有些幅寬測量裝置即使已架設兩個影像擷取元件來搭配使用,但由於該兩影像擷取元件通常為固定角度地架設,最多只能於水平方向上前後左右移動,但無法調整影像擷取元件上下左右樞轉的角度,故測量上仍有不便之處。當光學膜樣品自生產線上的其他不同位置傳送而來時,就必須另外架設其他適當角度的影像擷取元件來偵測,造成麻煩。
因此,本發明之目的,即在提供一種能克服先前技術的至少一個缺點的光學膜幅寬線上測量裝置。
於是,本發明光學膜幅寬線上測量裝置,用於測量該光學膜的幅寬,該光學膜包括相對的一個第一側邊與一個第二側邊,該光學膜幅寬線上測量裝置包含二個影像擷取單元,及一個處理單元。該等影像擷取單元可各自獨立地沿一個通過該第一側邊與該第二側邊的移動方向來回移動,並且可樞轉以改變拍攝角度,該等影像擷取單元分別用於擷取該光學膜的該第一側邊與該第二側邊的影像。該處理單元訊號連接該等影像擷取單元,並依據該等影像擷取單元的移動位置來處理計算得到該光學膜的幅寬。
本發明之另一目的,即在提供一種能克服先前技術的至少一個缺點的光學膜幅寬線上測量方法。
本發明光學膜幅寬線上測量方法,配合一光學膜幅寬線上測量裝置來測量該光學膜之幅寬,該光學膜幅寬線上測量裝置包含二個影像擷取單元,該等影像擷取單元分別為一個第一影像擷取單元與一個第二影像擷取單元,該光學膜包括相對的一個第一側邊與一個第二側邊,定義該第一側邊與該第二側邊的連線方向為一個移動方向。
該光學膜幅寬線上測量方法包含(A)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置;(B)將該第一影像擷取單元的位置歸零;(C)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第一側邊位置;(D)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置;(E)將該第二影像擷取單元的位置歸零;(F)處理與計算該第一影像擷取單元與該第二影像擷取單元的移動位置訊號,以得到該光學膜的幅寬。
本發明的另一種光學膜幅寬線上測量方法,同樣配合該光學膜幅寬線上測量裝置來測量該光學膜之幅寬,且該光學膜幅寬線上測量裝置進一還包含一個固定地位於該等影像擷取單元的移動路徑上的歸零感測件。
所述另一種光學膜幅寬線上測量方法包含(A)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動;(B) 當該歸零感測件感測到該第一影像擷取單元時,將該第一影像擷取單元的位置歸零;(C)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第一側邊位置;(D)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動;(E) 當該歸零感測件感測到該第二影像擷取單元時,將該第二影像擷取單元的位置歸零;(F)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置;(G)處理與計算該第一影像擷取單元與該第二影像擷取單元的移動位置訊號,以得到該光學膜的幅寬。
本發明之功效在於:藉由該兩影像擷取單元相配合,加上各個影像擷取單元的影像擷取元件角度可樞轉,能根據該光學膜之位置而作拍攝方向的調整,使用上非常便利。本發明之方法,利用具有特定邏輯之程式來偵測光學膜側邊並定位,能即時計算並持續監控光學膜之寬度,測量快速且精確。
在本發明被詳細描述之前,應當注意在以下的說明內容中,類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖1、2,本發明光學膜幅寬線上測量裝置之一第一實施例,是於製造該光學膜11的生產線上用於測量該光學膜11的幅寬(也就是光學膜11的寬度),該光學膜11可捲繞於一滾輪12上,並於生產線上沿一傳輸方向前進。該光學膜11例如偏光膜或其他任何需要進行幅寬量測的膜。該光學膜11包括相對的一個第一側邊111與一個第二側邊112,定義該第一側邊111與該第二側邊112的連線方向為一移動方向13。本實施例的測量裝置包含一個軌道2、二個影像擷取單元3、4、一個處理單元5,以及一個歸零感測件6。
該軌道2沿該移動方向13長向延伸。於實施時該軌道2結構無特殊限制,只要能供該等影像擷取單元3、4可移動地架設安裝就可以。該軌道2可以為線性滑軌,並可搭配線性馬達來驅動該等影像擷取單元3、4移動,再結合光學尺或磁性尺來偵測該等影像擷取單元3、4的移動距離。結合高精度的光學尺或磁性尺不僅可以偵測移動距離,還可以提升距離偵測的精準度。
該等影像擷取單元3、4沿該移動方向13左右排列,並且能各自獨立地沿該移動方向13移動,還可上下樞轉以改變拍攝角度,該等影像擷取單元3、4分別用於擷取該光學膜11的該第一側邊111與該第二側邊112的影像。在本實施例中,每一個影像擷取單元3、4包括一個能沿該移動方向13來回移動地安裝在該軌道2上的基座31,以及一個可樞轉地安裝在該基座31上的影像擷取元件32,該影像擷取元件32具有一安裝於基座31上的感光耦合元件(Charge Coupled Device, CCD),及一接設於該感光耦合元件的鏡頭。為了方便說明,該等影像擷取單元3、4的基座31與影像擷取元件32採相同的元件符號。每一影像擷取單元3、4的該影像擷取元件32與該基座31間的結合方式不須限制,只要該影像擷取元件32可相對該基座31樞轉就可以。例如,可以將該影像擷取元件32設置於一可透過一樞軸進行樞轉的座體33上,該座體33再與該基座31結合,以達到影像擷取元件32可相對樞轉的目的。該基座31與該座體33上都可以設置數個不同的安裝部位,使該影像擷取元件32的安裝位置有多個選擇,拍攝角度更廣泛。
該處理單元5訊號連接該等影像擷取單元3、4,並依據該等影像擷取單元3、4的移動位置訊號來處理計算得到該光學膜11的幅寬。該處理單元5例如一台電腦。
該歸零感測件6固定地位於該等影像擷取單元3、4的移動路徑上,並用於校正該等影像擷取單元3、4的零點位置。具體而言,該歸零感測件6可以固定於該軌道2上,其例如一光感應器,可於該等影像擷取單元3、4位置對應到該歸零感測件6時,因為光遮斷原理而偵測感應到影像擷取單元3、4的靠近。於實施時該歸零感測件6也可以是其他種運作原理的感測器。
參閱圖2、3、4,本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第一實施例,配合上述測量裝置使用,並包含以下步驟:
步驟71:為了方便以下的說明,將該等影像擷取單元3、4分為一個第一影像擷取單元3與一個第二影像擷取單元4。首先,該等影像擷取單元3、4是如圖3所示位於該軌道2的同一側,而且位置都鄰近該光學膜11的該第二側邊112,並且相對地位於該第二側邊112左側,也就是說該等影像擷取單元3、4都位於該光學膜11外的範圍。開始測量時,該第一影像擷取單元3可被驅動而沿該移動方向13移動至該光學膜11的該第二側邊112,並拍攝到該第二側邊112而偵測到該第二側邊112位置。
步驟72:在本實施例中,是以該第二側邊112的位置做為零點,故將該第一影像擷取單元3位於該第二側邊112時的位置歸零。
步驟73:驅動該第一影像擷取單元3沿該移動方向13移動至該光學膜11的該第一側邊111,並拍攝到該第一側邊111而偵測到該第一側邊111位置。
步驟74:該第二影像擷取單元4受到驅動而沿該移動方向13移動至該第二側邊112,並拍攝到該第二側邊112而偵測到該第二側邊112位置。
步驟75:將該第二影像擷取單元4的位置歸零。
步驟76:該處理單元5處理與計算該第一影像擷取單元3與該第二影像擷取單元4的移動位置訊號,以得到該光學膜11的幅寬,並持續監控該光學膜11的幅寬。此處主要是將該第一影像擷取單元3偵測到該第一側邊111時的位置,減去該第二影像擷取單元4偵測得到該第二側邊112時的位置,就可以得到該第一側邊111與該第二側邊112的距離,也就是該光學膜11的幅寬。
其中,本發明的方法可加入警示程序,各影像擷取單元3、4在尋找光學膜11的側邊位置時(即步驟71、73、74),若影像擷取單元3、4來回移動的尋找時間、過程太久時,可自動停止作動並發出警報警示,再由人員進行問題排除。
值得一提的是,由於本發明的影像擷取元件32角度可樞轉,因此在步驟71、73、74中,可利用可樞轉的座體33而將各個影像擷取單元3、4的該影像擷取元件32的角度樞轉至所需要的拍攝角度。此種可根據該光學膜11之不同的相對位置而作拍攝方向的調整,使用上非常便利,在應用上也更加廣泛實用,當光學膜11從其他角度或方向傳送而來時(如圖2中假想線所示位置),不僅不需要另外架設軌道2與影像擷取單元3、4,也不需移動該等影像擷取單元3、4,而是只要調整座體33進而帶動影像擷取元件32的角度到圖2中假想線所示位置就能測量,因此,使用上更為方便,還可以同時有效降低安裝成本、減少空間浪費。
實際上光學膜11樣品有大有小,若光學膜11幅寬較大時,並且受限於該等影像擷取單元3、4安裝於該軌道2上的空間有限,並非每一影像擷取單元3、4都能以該第二側邊112作為零點位置,此時可稍微改變測量方法。因此,參閱圖2、5、6、7,本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第二實施例,包含以下步驟:
步驟81:在本實施例中,該光學膜11的寬度較大,該第一影像擷取單元3的影像擷取元件32的起始位置位於該光學膜11的該第一側邊111與該第二側邊112之間,該歸零感測件6位於該第一影像擷取單元3與該第一側邊111之間,該第二影像擷取單元4的影像擷取元件32起始位置位於該光學膜11的該第二側邊112左側之外。在本步驟中,首先驅動該第一影像擷取單元3沿該移動方向13而朝該歸零感測件6移動。
步驟82:當該歸零感測件6感測到該第一影像擷取單元3時,就表示該第一影像擷取單元3已移動到對應該歸零感測件6的位置,此時該歸零感測件6就可將訊號回饋給該處理單元5,該處理單元5就控制該第一影像擷取單元3停止移動,並以該歸零感測件6的位置做為零點,而將該第一影像擷取單元3對準該歸零感測件6時的位置歸零。在本實施例中,是以該歸零感測件6的位置做為零點,以確保當該光學膜11的寬度較大時,該第一、二影像擷取單元3、4仍有共同零點,而且該歸零感測件6是一光感應器,因此,當其發出的光訊號被該第一影像擷取單元3遮斷時,就表示該第一影像擷取單元3已移動到對應該歸零感測件6的位置,故將該第一影像擷取單元3對準該歸零感測件6時的位置歸零。
步驟83:驅動該第一影像擷取單元3沿該移動方向13移動至該第一側邊111(如圖7),以偵測該光學膜11的該第一側邊111位置。
步驟84:驅動該第二影像擷取單元4沿該移動方向13朝該歸零感測件6移動。
步驟85:類似於步驟82,當該第二影像擷取單元4遮斷該歸零感測件6發出的光訊號時,就表示該第二影像擷取單元4已移動到對應該歸零感測件6的位置,進而被該處理單元5控制而停止移動,並將該第二影像擷取單元4的位置歸零。
步驟86:驅動該第二影像擷取單元4沿該移動方向13移動,以偵測該光學膜11的該第二側邊112位置(如圖7)。
步驟87:處理與計算該第一影像擷取單元3與該第二影像擷取單元4的移動位置訊號,以得到該光學膜11的幅寬。
需要說明的是,本發明光學膜幅寬線上測量方法的第二實施例,是利用該歸零感測件6感測該等基座31進行歸零,而每一影像擷取單元3、4的移動距離,則是透過該軌道2上的光學尺或磁性尺來偵測該等基座31的移動距離進行換算,若該等影像擷取單元3、4的影像擷取元件32都位於各基座31上的相同位置,則該等影像擷取元件32與相配合基座31側邊間的間距也相同,因此在計算該光學膜11幅寬時就不需要考量該等影像擷取元件32的位置差值補償。例如,參閱圖5、7,各影像擷取單元3、4的初始位置如圖5所示,當該歸零感測件6感測到各基座31右側邊時,將影像擷取單元3、4的位置歸零,因此該等影像擷取單元3、4的移動距離為歸零感測件6到各基座31右側邊的距離,但另一方面,該等影像擷取單元3、4偵測該光學膜11的第一側邊111、第二側邊112位置,是透過該等影像擷取元件32移動時,持續感測與比較該光學膜11的各部位的影像灰階值,來判斷是否已到達光學膜11的邊緣。故對於影像擷取單元3而言,其移動距離會被多算了距離X,對於影像擷取單元4而言,其移動距離會被少算距離Y,但由於該等影像擷取元件32在各基座31上的安裝位置一致,故多出的距離X等於缺少的距離Y,此時量測到的幅寬W1即為實際幅寬W。
參閱圖8,但若兩影像擷取元件32在相配合的基座31上的位置不同時,例如圖8中的影像擷取單元3的影像擷取元件32鄰近其基座31右側,此時該影像擷取單元3被偵測到的移動距離就僅多出了距離Z(Z值相對於圖7的X值小),而影像擷取單元4的移動距離被少算距離Y,此時就必須將各影像擷取元件32於各基座31上的位置差值進行補償校正,以圖8為例,必須計算出該兩影像擷取元件32的安裝位置差值,可定義為一個位差校正值A,且A=Y-Z,再將量測到的幅寬W2加上A,即為實際幅寬W。因此本發明之測量方法進行時,較佳地還可加入一個關於該等影像擷取元件32的位置差值補償之位差校正步驟,於本實施例中該位差校正步驟是以歸零後的該第一影像擷取單元3的影像擷取元件32偵測該光學膜11的該第一側邊位置111,再以歸零後的該第二影像擷取單元4的影像擷取元件32偵測該光學膜11的該第一側邊位置111,再計算該第一影像擷取單元3的該基座31的移動距離,與該第二影像擷取單元4的該基座31的移動距離的差值而得到該位差校正值A。而步驟87將透過量測該第一影像擷取單元3與該第二影像擷取單元4的移動位置而換算得到的該光學膜1幅寬,與該位差校正值A一併處理計算,以得到該光學膜1的實際幅寬W。實際應用上,該位差校正步驟也可以以歸零後的該第一影像擷取單元3與該第二影像擷取單元4偵測到第二側邊112位置之移動距離的差值為該位差校正值A,只要是以歸零後的該第一影像擷取單元3與該第二影像擷取單元4偵測相同的側邊位置的差值即可獲得該位差校正值A。
參閱圖9,本發明光學膜幅寬線上測量裝置的一第二實施例,也可以用於量測兩個光學膜11的幅寬,該等光學膜11可以捲繞於同一個滾輪12上而位於同一平面,也可以分別捲繞於兩個上下間隔的滾輪12上。由於本發明的影像擷取單元3、4的影像擷取元件32可以自由樞轉角度,因此可因應每一光學膜11所在位置而改變架設角度,以達到最佳的影像擷取效果。該等光學膜11也可以例如是以一台分條機將原本為同一捲的光學膜裁切分成兩捲所述光學膜11。為了測量該兩光學膜11的幅寬,可以於該軌道2上設置兩個左右相鄰的影像擷取組30,每一影像擷取組30包括如該第一實施例所述的兩個影像擷取單元3、4與一個歸零感測件6,每一影像擷取組30的該兩影像擷取單元3、4同樣可分別為一個第一影像擷取單元3與一個第二影像擷取單元4。
繼續參閱圖9,本發明測量方法的一第三實施例,搭配上述第二實施例的測量裝置來測量所述兩個光學膜11幅寬,所述兩光學膜11是以幅寬較小的光學膜11為例,故本實施例的測量方法與該第一實施例的方法大致相同,只是必須進行左右兩組測量。一開始可先驅動該等影像擷取組30分別歸位到左右兩側,接著左側的該影像擷取組30可進行如同該第一實施例之方法的各步驟,以量測左側的該光學膜11幅寬,接續換右側的該影像擷取組30進行如同該第一實施例之方法的各步驟,以量測右側的該光學膜11的幅寬。本實施例各步驟進行時,不以上述順序為例,例如也可以先測量右側的光學膜11,再測量左測的光學膜11。此外,該處理單元5(圖2)可以於每一光學膜11測量完後就進行幅寬計算,或者也可以等到該兩光學膜11都測量完後,再一起計算各光學膜11幅寬。因此,本發明之測量方法,在進行時不須限制步驟順序。
參閱圖10,本發明測量方法的一第四實施例,搭配上述第二實施例的測量裝置來測量所述兩個光學膜11幅寬,本實施例是以幅寬較大的光學膜11為例,故本實施例的測量方法與該第二實施例的方法大致相同,必須搭配各個歸零感測件6使用。本實施例同樣可先驅動該等影像擷取組30分別歸位到左右兩側,接著該兩影像擷取組30分別進行一次如同該第二實施例的測量方法後,就可以分別得到該兩光學膜11的幅寬。
由上述各實施例的說明可知,本發明藉由能各自獨立地沿該移動方向13來回移動,且可樞轉以改變拍攝角度的該等影像擷取單元3、4的配合,對於各種不同尺寸的光學膜11,或者從不同位置傳送而來的光學膜11,都能方便地進行量測,而且測量方式與步驟順序不須限制,只要能達到測量目的即可。應用上也可以依光學膜11的數量,增加影像擷取單元3、4的數量。本發明利用具有特定邏輯之程式方法做校正補償及定位,搭配裝有精密位置回饋元件以及馬達等元件之線性模組軌道2,連結可電動調節偵測角度及距離之影像擷取單元3、4,能即時計算並持續監控光學膜11之寬度,確實達到本發明的目的。
惟以上所述者,僅為本發明之實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
11‧‧‧光學膜
111‧‧‧第一側邊
112‧‧‧第二側邊
12‧‧‧滾輪
13‧‧‧移動方向
2‧‧‧軌道
30‧‧‧影像擷取組
3‧‧‧影像擷取單元
31‧‧‧基座
32‧‧‧影像擷取元件
33‧‧‧座體
4‧‧‧影像擷取單元
5‧‧‧處理單元
6‧‧‧歸零感測件
71~76‧‧‧步驟
81~87‧‧‧步驟
本發明之其他的特徵及功效,將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現,其中: 圖1是一立體圖,說明本發明光學膜幅寬線上測量裝置的一第一實施例、一光學膜與一滾輪的相對關係; 圖2是圖1的側視示意圖; 圖3是一示意圖,說明該第一實施例與該光學膜的元件相對關係; 圖4是一步驟流程圖,說明本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第一實施例; 圖5是一類似圖3的示意圖,說明該第一實施例之裝置與一幅寬較大的光學膜的元件相對關係; 圖6是一步驟流程圖,說明本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第二實施例; 圖7是一類似圖5的示意圖,說明該第一實施例之裝置搭配該第二實施例之方法進行量測後的二個影像擷取單元的位置,且圖7說明每一影像擷取單元的一影像擷取元件位於相配合的一基座上的位置相同; 圖8是一類似圖7的示意圖,說明該等影像擷取單元的該等影像擷取元件位於各基座上的位置不同; 圖9是一類似圖3的示意圖,說明本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第三實施例,用於量測兩個光學膜的幅寬;及 圖10是一類似圖9的示意圖,說明本發明光學膜幅寬線上測量方法的一第四實施例,用於量測兩個較大的光學膜的幅寬。
Claims (11)
- 一種光學膜幅寬線上測量裝置,用於測量該光學膜的幅寬,該光學膜包括相對的一個第一側邊與一個第二側邊,該光學膜幅寬線上測量裝置包含: 二個影像擷取單元,能各自獨立地沿一個通過該第一側邊與該第二側邊的移動方向來回移動,並且可樞轉以改變拍攝角度,該等影像擷取單元分別用於擷取該光學膜的該第一側邊與該第二側邊的影像;及 一個處理單元,訊號連接該等影像擷取單元,並依據該等影像擷取單元的移動位置來處理計算得到該光學膜的幅寬。
- 如請求項1所述的光學膜幅寬線上測量裝置,還包含一個沿該移動方向延伸的軌道,每一個影像擷取單元包括一個能沿該移動方向來回移動地安裝在該軌道上的基座,以及一個可樞轉地安裝在該基座上的影像擷取元件。
- 如請求項1所述的光學膜幅寬線上測量裝置,還包含一個固定地位於該等影像擷取單元的移動路徑上,並用於校正該等影像擷取單元的零點位置的歸零感測件。
- 一種光學膜幅寬線上測量方法,配合一個光學膜幅寬線上測量裝置來測量該光學膜之幅寬,該光學膜幅寬線上測量裝置包含二個影像擷取單元,該等影像擷取單元分別為一個第一影像擷取單元與一個第二影像擷取單元,該光學膜包括相對的一個第一側邊與一個第二側邊,定義該第一側邊與該第二側邊的連線方向為一個移動方向,該光學膜幅寬線上測量方法包含: (A)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置; (B)將該第一影像擷取單元的位置歸零; (C)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第一側邊位置; (D)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置; (E)將該第二影像擷取單元的位置歸零;及 (F)處理與計算該第一影像擷取單元與該第二影像擷取單元的移動位置訊號,以得到該光學膜的幅寬。
- 如請求項4所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,每一個影像擷取單元包括一個可樞轉的影像擷取元件,在步驟(A)、(C)、(D)中,可將各個影像擷取單元的該影像擷取元件的角度樞轉至所需要的拍攝角度。
- 如請求項5所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,該光學膜幅寬線上測量裝置還包含一個沿該移動方向延伸的軌道,每一個影像擷取單元還包括一個能沿該移動方向來回移動地安裝在該軌道上,並供該影像擷取元件安裝的基座。
- 一種光學膜幅寬線上測量方法,配合一個光學膜幅寬線上測量裝置來測量該光學膜之幅寬,該光學膜幅寬線上測量裝置包含二個影像擷取單元,以及一個固定地位於該等影像擷取單元的移動路徑上的歸零感測件,該等影像擷取單元分別為一個第一影像擷取單元與一個第二影像擷取單元,該光學膜包括相對的一個第一側邊與一個第二側邊,定義該第一側邊與該第二側邊的連線方向為一個移動方向,該光學膜幅寬線上測量方法包含: (A)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動; (B)當該歸零感測件感測到該第一影像擷取單元時,將該第一影像擷取單元的位置歸零; (C)該第一影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第一側邊位置; (D)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動; (E)當該歸零感測件感測到該第二影像擷取單元時,將該第二影像擷取單元的位置歸零; (F)該第二影像擷取單元沿該移動方向移動,以偵測該光學膜的該第二側邊位置;及 (G)處理與計算該第一影像擷取單元與該第二影像擷取單元的移動位置訊號,以得到該光學膜的幅寬。
- 如請求項7所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,每一個影像擷取單元包括一個可樞轉的影像擷取元件,在步驟(C)、(F)中,可將各個影像擷取單元的該影像擷取元件的角度樞轉至所需要的拍攝角度。
- 如請求項8所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,該光學膜幅寬線上測量裝置還包含一個沿該移動方向延伸的軌道,每一個影像擷取單元還包括一個能沿該移動方向來回移動地安裝在該軌道上,並供該影像擷取元件安裝的基座。
- 如請求項8所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,在步驟(A)時,該第一影像擷取單元的影像擷取元件的起始位置位於該光學膜的該第一側邊與該第二側邊之間,該歸零感測件位於該第一影像擷取單元與該第一側邊之間,而該第二影像擷取單元與該第一影像擷取單元是沿該移動方向相鄰排列,而且該第一影像擷取單元是位於該第二影像擷取單元與該歸零感測件間。
- 如請求項9所述的光學膜幅寬線上測量方法,其中,步驟(B)是當該歸零感測件感測到該第一影像擷取單元的該基座時,將此時該第一影像擷取單元的位置歸零,步驟(E)是當該歸零感測件感測到該第二影像擷取單元的該基座時,將此時該第二影像擷取單元的位置歸零,而該光學膜幅寬線上測量方法還包含一個位差校正步驟,當該第一影像擷取單元的該影像擷取元件與該第二影像擷取單元的該影像擷取元件位於各自的基座上的位置不同時,將每一影像擷取元件與各基座間的位置差值處理計算得到一個位差校正值,該步驟(G)是將透過量測該第一影像擷取單元與該第二影像擷取單元的移動位置而換算得到的該光學膜幅寬,與該位差校正值一併處理計算,以得到該光學膜的實際幅寬。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105140065A TWI614480B (zh) | 2016-12-05 | 2016-12-05 | 光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW105140065A TWI614480B (zh) | 2016-12-05 | 2016-12-05 | 光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI614480B TWI614480B (zh) | 2018-02-11 |
TW201821759A true TW201821759A (zh) | 2018-06-16 |
Family
ID=62016145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW105140065A TWI614480B (zh) | 2016-12-05 | 2016-12-05 | 光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI614480B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI793006B (zh) * | 2022-05-09 | 2023-02-11 | 住華科技股份有限公司 | 量測裝置、應用其之光學膜製程量測設備及量測方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54161963A (en) * | 1978-06-12 | 1979-12-22 | Mitsubishi Electric Corp | Size measuring apparatus |
US4490617A (en) * | 1979-11-26 | 1984-12-25 | European Electronic Systems Limited | Optical width measuring system using two cameras |
JPS63282607A (ja) * | 1987-05-14 | 1988-11-18 | Kawasaki Steel Corp | 帯状物体の幅測定装置 |
JPH03226609A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Gunze Ltd | シート材の幅測定方法 |
JPH03296606A (ja) * | 1990-04-17 | 1991-12-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 帯状物の幅計測装置 |
CN1061908C (zh) * | 1997-08-28 | 2001-02-14 | 宝山钢铁(集团)公司 | 热轧精轧卷取测宽仪抗干扰方法及装置 |
-
2016
- 2016-12-05 TW TW105140065A patent/TWI614480B/zh active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI793006B (zh) * | 2022-05-09 | 2023-02-11 | 住華科技股份有限公司 | 量測裝置、應用其之光學膜製程量測設備及量測方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI614480B (zh) | 2018-02-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8805052B2 (en) | Apparatus and method for measuring three-dimensional shape of wood block | |
US9826151B2 (en) | Image capture system and image capture method | |
CN107421438B (zh) | 基于机器视觉的涂膜尺寸检测控制系统及其方法 | |
US8878819B2 (en) | Portable optical touch system and operating method thereof | |
CN108243306B (zh) | 光学膜幅宽线上测量方法 | |
CN104052986A (zh) | 检测用具、立体照相机检测装置以及检测方法 | |
CN103163725A (zh) | 相机模组检测装置及检测方法 | |
JP2011237210A (ja) | 位置測定システム | |
CN104949983B (zh) | 物体厚度变化的线扫描相机成像方法 | |
WO2011062178A1 (ja) | 検査方法、複合材部品の製造方法、検査装置、及び複合材部品製造装置 | |
CN108805940B (zh) | 一种变倍相机在变倍过程中跟踪定位的方法 | |
CN103438810A (zh) | 一种宽幅柔性板厚度实时检测装置及方法 | |
JP3946507B2 (ja) | 基板の厚さを測定するためのオンライン測定装置及びその測定方法 | |
CN104154885A (zh) | 一种小圆环零件微翘曲检测方法 | |
CN113324483A (zh) | 一种用于中厚板尺寸的测量装置及其测量方法 | |
TW201821759A (zh) | 光學膜幅寬線上測量裝置及測量方法 | |
CN101408408A (zh) | 一种成像装置及其带材检测方法 | |
TW201446476A (zh) | 光學膜輥狀物的製造系統及光學膜輥狀物的製造方法 | |
CN209894719U (zh) | 一种检测锂电池极片涂布层的检测机 | |
JP2016138761A (ja) | 光切断法による三次元測定方法および三次元測定器 | |
TWI532669B (zh) | A manufacturing system for an optical film roll, and a method for manufacturing an optical film roll | |
TWI541548B (zh) | A manufacturing system for an optical film roll, and a method for manufacturing an optical film roll | |
JP2013044827A (ja) | 撮像装置 | |
JP2020046275A (ja) | プロファイル検出装置、プロファイル検出方法、及び調整冶具 | |
JP2020148738A (ja) | 板材の位置検出方法、板材のデータ補正方法、及び板材の位置検出装置 |