TW201820084A - 觸控筆觸碰位置偵測方法及系統 - Google Patents

Abstract

本發明提出一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統，係用以偵測一觸控筆在一觸碰偵測面板上之實際觸碰位置，該方法首先使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據。再於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰座標。又於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算以獲得一輔助資料組。最後依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，計算獲得一實際觸碰座標。

Description

觸控筆觸碰位置偵測方法及系統

本發明係關於觸碰位置偵測之技術領域，尤指一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統。

圖1A係一習知電容觸控裝置100之外觀示意圖。電容觸控裝置100可以選擇搭配一觸控筆110使用。電容觸控裝置100具有一顯示面板120以及一觸碰感測層130。觸碰感測層130位於顯示面板120下方，其具有複數個觸碰感測節點131，用來感測觸控筆110觸碰顯示面板120時觸控筆110的位置。當觸控筆110觸碰顯示面板120時，觸碰感測層130可感測電容變化強弱程度，以判斷書寫位置、筆跡、壓力等資訊。觸控筆110具有一方向軸111。方向軸111係平行於觸控筆110的筆身。如圖1A所示，方向軸111與顯示面板120的表面形成一夾角角度θ。當一使用者手持觸控筆110且以90∘方式觸碰顯示面板120時(θ等於90∘)，觸控筆110係觸碰感測節點133的區域。故其可偵測出觸控筆110係觸碰感測節點133的區域。

圖1B係一習知電容觸控裝置100之使用示意圖。如圖1B所示，當使用者手持觸控筆110且以非垂直方式觸碰顯示面板120時(θ不等於90∘)，由於觸控筆110本身為金屬導體，故其筆身亦會使觸碰感測層130產生電容變化。亦即除了觸碰感測節點133感測到電容變化外，觸碰感測節點135亦會感測到電容變化。因此會使偵測出的觸碰點位置向觸控筆110本身傾斜的方向偏移。圖2係一習知觸控筆110觸碰位置誤差的示意圖。如圖2所示，虛線210表示觸控筆110觸碰顯示面板120的實際位置，而實線220表示觸控筆110觸碰該顯示面板120時所感測出的位置。此觸碰的實際位置與感測位置的誤差會讓使用者在使用上產生許多困擾。因此，習知觸控筆觸碰位置偵測技術實仍有改善的空間。

本發明之目的主要係在提供一種觸控筆觸碰位置偵測方法及系統，其可修正觸控筆傾斜時的觸控座標偏移，並可偵測觸控筆的傾斜角度與傾斜程度。於實際應用時，可以解決觸控筆傾斜的時候所產生感應訊號的重心偏移之問題，進而可改善使用者的使用經驗。

依據本發明之一特色，本發明提出一種觸控筆觸碰位置偵測方法，係用以偵測一觸控筆在一觸碰偵測面板上之實際觸碰位置，該方法包括步驟：(A) 使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據；(B) 於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰座標；(C) 於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算以獲得一輔助資料組；以及 (D) 依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，計算獲得一實際觸碰座標。

依據本發明之另一特色，本發明提出一種具有觸控筆觸碰位置偵測的系統，該系統包括一觸碰偵測面板、及一處理單元。該處理單元連接至該觸碰偵測面板，該處理單元接收該觸碰偵測面板的觸碰原始數據。該處理單元於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算獲得一第一偵測觸碰座標。該處理單元於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算獲得一輔助資料組。依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，該處理單元進行一計算以獲得一實際觸碰座標。

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，並不用於限定本發明。

圖3係本發明之具有觸控筆觸碰位置偵測的系統300之示意圖。該具有觸控筆觸碰位置偵測的系統300包括一觸控筆310、一觸碰偵測面板320、及一處理單元330。

觸碰偵測面板320包含一顯示螢幕321、一第一觸碰偵測層323、及一第二觸碰偵測層325。該第一觸碰偵測層323具有多數個沿第一方向(X軸方向)排列的透明電極3231。該第二觸碰偵測層325具有多數個沿第二方向(Y軸方向)排列的透明電極3251。

當執行電容觸碰偵測，以取得二維原始數據(touch raw data)時，可以是使用互電容觸碰偵測的方式。例如，透明電極3251為觸控感測訊號(TX)電極，透明電極3231為感測(RX)電極。亦即處理單元330會依序將觸控感測訊號(TX)提供透明電極3251，並依序讀取透明電極3231的感測訊號，以獲得該觸碰偵測面板320的觸碰原始數據。此時該觸碰原始數據係為二維的數據。

當執行電容觸碰偵測，例如是以自電容觸偵測獲取一維原始數據的實施例中，可以是沿第一方向排列的透明電極3231及沿第二方向排列的透明電極3251均執行驅動及感測功能。亦即處理單元330會依序將觸控感測訊號(TX)提供透明電極3231，並依序讀取透明電極3231的感測序號，且處理單元330也依序將觸控感測訊號(TX)提供透明電極3251，再依序讀取透明電極3251的感測序號，以獲得該觸碰偵測面板320的觸碰原始數據(touch raw data)。此時該觸碰原始數據為二個一維的數據。

圖4係本發明之具有觸控筆觸碰位置偵測的系統300之另一示意圖。其與圖3的差異在於：圖4中的觸碰偵測面板320包含一顯示螢幕321、及一觸碰偵測層327。該觸碰偵測層327具有多數個沿第一方向(X軸方向)及第二方向(Y軸方向)排列的透明電極3271。透明電極3271係為區塊狀的設計，可為長方形或是正方形。當執行電容觸碰偵測，例如是以自電容觸偵測獲取二維原始數據的實施例中，可以是對透明電極3271均執行驅動及感測功能。亦即處理單元330會依序將觸控感測訊號(TX)提供透明電極3271，並依序讀取透明電極32711的感測序號，以獲得該觸碰偵測面板320的觸碰原始數據(touch raw data)。亦即，使用自電容偵測的方式，搭配單層多個觸碰區塊的設計，以獲得二維的原始數據。

處理單元330連接至該觸碰偵測面板320。該處理單元330接收該觸碰偵測面板320的觸碰原始數據。該處理單元330於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算獲得一第一偵測觸碰座標。該處理單元330於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算獲得一輔助資料組。依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，該處理單元330進行一計算以獲得一實際觸碰座標。值得一提的是，在其它實施例中，也可以使用奈米銀絲作為觸碰偵測層，且觸碰可以是主動式或被動式用來與觸控面板互動的媒介。因此，上述用來說明本發明的實施例中並不用以限制本發明的範圍。

圖5係本發明一種觸控筆觸碰位置偵測方法的流程圖。於步驟(A)中，該處理單元330使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據(touch raw data)。該電容觸碰偵測可為互電容觸碰偵測、或自電容觸碰偵測。

於步驟(B)中，於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰座標。

於步驟(C)中，從該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算以獲得一輔助資料組。

於步驟(D)中，依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，計算獲得一實際觸碰座標。

圖6係本發明互電容觸碰偵測時觸碰原始數據的示意圖。如圖6所示，圖6上邊係一三度空間XYZ座標的示意圖，圖6下邊係一二度空間XY座標的示意圖。該三度空間XYZ座標可視為觸碰偵測面板320及觸控筆310所在的空間，亦可視為觸碰偵測面板的觸碰原始數據所形成的數據空間。XY座標係對應於觸碰偵測面板320，而觸碰原始數據則可視為Z軸方向的大小。其中，P0點係為觸控筆310在觸碰偵測面板320上之實際觸碰座標。

當觸控筆310有傾斜時，觸控筆310與Z軸形成一夾角θ，且在二度空間XY座標上，與Y軸形成一夾角μ。觸控筆310的筆身會使觸碰偵測面板320產生電容變化。因此於步驟(B)中，該處理單元330從該觸碰原始數據中選取一第一區域510，且由第一區域510的觸碰原始數據計算觸控筆310的第一偵測觸碰座標。該處理單元330係計算第一區域510的觸碰原始數據的重心，以獲得第一偵測觸碰座標(X1,Y1)。如圖6所示，該第一偵測觸碰座標為圖6中的P1點。

而於步驟(C)中，該處理單元330從該觸碰原始數據中選取一至少一第二區域520，該至少一第二區域520係為一包含且大於該第一區域510的輔助區域，該輔助資料組係為由該輔助區域計算所獲得的一第二偵測觸碰座標。

請一併參照圖7係本發明以互電容觸碰偵測之一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。在這個例子中，第一區域510的範圍可選取為3Ï3，至少一第二區域520的範圍可選取為7Ï7。亦即在本例子中，該至少一第二區域520為一個單一區域，且包含該第一區域510。該處理單元330依據至少一第二區域520的觸碰原始數據計算該輔助資料組。該輔助資料組係計算該至少一第二區域520（輔助區域）的重心。亦即，該處理單元330依據該輔助區域計算以獲得一第二偵測觸碰座標(X2,Y2)，該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)係為該輔助區域的重心。如圖6所示，該第二偵測觸碰座標為圖6中的P2點。

圖8係本發明計算實際觸碰座標的一示意圖。一併參照圖5和圖8，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)之間的距離，藉由查詢一預先儲存的表格以獲得一組對應的補償係數(α,β)，再由該組補償係數(α,β)、該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)來計算該觸控筆310的實際觸碰座標(X0,Y0)。該處理單元330係利用以下公式以計算實際觸碰座標(X0,Y0)： X0= X1-α(X2- X1)， Y0= Y1-β(Y2- Y1)， 其中α、β為該組補償係數。

圖9A、圖9B、圖9C係本發明產生補償係數的示意圖。如圖9A所示，其可利用一測試平台上的一機器手臂夾持該觸控筆310，先於A點處以垂直方式觸碰該觸碰偵測面板320，依據前述步驟(A)、步驟(B)、及步驟(C)計算第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及第二偵測觸碰座標(X2,Y2)。再於圖9B所示，該機器手臂將該觸控筆310傾斜一小角度θ1，並於A點處以傾斜θ1角度方式觸碰該觸碰偵測面板320，依據前述步驟(A)、步驟(B)、及步驟(C)計算第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)。圖9C亦如前面，只是將傾斜角度改為θ2。

於A點處以不同角度觸碰該觸碰偵測面板320，可獲得A點、傾斜角度、第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)的相關資料。再將該觸控筆310對A點旁的B點進行相關測試。重覆前述步驟，最後可獲得觸碰偵測面板320每一點、每一傾斜角度、多數個第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及多數個第二偵測觸碰座標(X2,Y2)的相關測試資料。據此可產生一表格，其紀錄該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標之間的距離與補償係數之間的關係，並預先儲存以供後續使用查詢。亦即可依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)之間的距離，藉由查表以獲得一組補償係數(α,β)，再由該組補償係數(α,β)、該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)計算該觸控筆的實際觸碰座標(X0,Y0)。

相關測試資料除了可以產生表格外，亦可利用曲線擬合(Curve Fitting)方法，產生該組補償係數(α,β)與該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)之間距離的函數。該處理單元330可利用該函數，依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)之間距離計算出該組補償係數(α,β)。亦即該處理單元330可利用函數眏射獲得一組補償係數(α,β)。使用表格方法，需將該表格燒錄至唯讀記憶體(ROM)或其他非揮發性記憶體中，會佔據一些硬體資源。而利用函數眏射方法，則可節省表格所佔據的硬體資源。

圖10係本發明以互電容觸碰偵測之另一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。在這個例子中，第一區域510的範圍可選取為3Ï3，該至少一第二區域520係為該第一區域510週遭的四個輔助區域520-1、520-2、520-3及520-4。該四個輔助區域520-1、520-2、520-3及520-4係分別位於該第一區域510的左邊、右邊、上邊、及下邊。在本例子中，四個輔助區域520-1、520-2、520-3及520-4的範圍分別為3Ï2、3Ï2、2Ï3、及2Ï3。亦即在步驟(C)中，該處理單元330計算該四個輔助區域520-1、520-2、520-3、及520-4的權值(weighting)，以產生該輔助資料組。該處理單元330將輔助區域520-1範圍內的觸碰原始數據相加，以產生輔助區域520-1的權值L。如圖10所示，該輔助區域520-1的權值L為45(=6+8+7+11+7+6)。其他輔助區域的權值，亦是依此計算，故不再贅述。

該處理單元330於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該四個輔助區域520-1、520-2、520-3及520-4的權值的比例，藉由查表以獲得一組補償係數(α,β)，再由該組補償係數(α,β)、該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該四個輔助區域的權值之比例來計算該觸控筆310的實際觸碰位置(X0,Y0)。該處理單元330係利用以下公式以計算實際觸碰座標(X0,Y0)： X0= X1-α(L/R)， Y0= Y1-β(U/D)， 其中α、β為該組補償係數，L為輔助區域520-1的權值，R為輔助區域520-2的權值，U為輔助區域520-3的權值，D為輔助區域520-4的權值。

圖11係本發明以自電容觸碰偵測之一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。由於在這個例子中之該電容觸碰偵測為自電容觸碰偵測，故該觸碰原始數據為二個一維的數據。於步驟(B)中，該第一區域係由一第一方向(X)的一個一維第一觸碰原始數據(touch raw data)區域101及一第二方向(Y)的一個一維第二觸碰原始數據區域102所組成。於本範例中，可藉由分別計算第一觸碰原始數據區域101及第二觸碰原始數據區域102的重心而產生該第一偵測觸碰座標的X軸座標值及Y軸座標值。例如第一觸碰原始數據區域101的重心為X1=(XbÎ35+XaÎ154+XcÎ106)/(35+154+106)，當Xb=1、Xa=2、Xc=3時，X1=2.241。第二觸碰原始數據區域102的重心為Y1=(YbÎ17+YaÎ127+YcÎ67)/(17+127+67)，當Yb=1、Ya=2、Yc=3時，Y1=2.237。由於觸碰的解析度小於顯示的解析度，因此處理單元330可將第一偵測觸碰座標(2.241,2.237)回傳至一應用處理器(圖未示)，應用處理器可依據觸碰解析度與顯示解析度的比例，找出對應的顯示像素或是顯示像素群，因此第一偵測觸碰座標(2.241,2.237)係以有小數之值的型式呈現。

故於步驟(C)中，該至少一第二區域係由一第一方向的一個一維第三觸碰原始數據區域103及一第二方向的一個一維第四觸碰原始數據區域104所組成。該第三觸碰原始數據區域103包含且大於該第一觸碰原始數據區域101，該第四觸碰原始數據區域104包含且大於該第二觸碰原始數據區域102。該輔助資料組係為由該第三觸碰原始數據區域103及該第四觸碰原始數據區域104計算所獲得的一第二偵測觸碰座標(X2,Y2)。該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)可視為為該第三觸碰原始數據區域103及該第四觸碰原始數據區域104的重心。

如圖11所示，第一觸碰原始數據區域101的範圍可選取為1Ï3，第二觸碰原始數據區域102的範圍可選取為3Ï1，第三觸碰原始數據區域103的範圍可選取為1Ï7，第四觸碰原始數據區域104的範圍可選取為7Ï1。亦即在步驟(C)中，該處理單元330計算該第三觸碰原始數據區域103及第四觸碰原始數據區域104的重心，其相似於先前所述，故不再贅述。

該處理單元330於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該 第二偵測觸碰座標(X2,Y2)，以查表方式獲得一組補償係數(α,β)，再由該組補償係數(α,β)、該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該第二偵測觸碰座標(X2,Y2)計算該觸控筆310的實際觸碰位置(X0,Y0)。該處理單元330係利用以下公式來計算實際觸碰座標(X0,Y0)： X0= X1-α(X2- X1)， Y0= Y1-β(Y2- Y1)， 其中α、β為該組補償係數。

圖12係本發明以自電容觸碰偵測之另一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。在這個例子中，該第一區域係由一第一方向的一個一維第一觸碰原始數據(touch raw data)區域101及一第二方向的一個一維第二觸碰原始數據區域102所組成。於本範例中，該第一偵測觸碰座標的X軸座標值及Y軸座標值可分別計算第一觸碰原始數據區域101及第二觸碰原始數據區域102的重心而產生。其與圖11的重心計算類似，故不再贅述。

故於步驟(C)中，該至少一第二區域包含該第一方向的之二個輔助區域、及該第二方向之二個輔助區域。亦即，該至少一第二區域包含該第一觸碰原始數據區域101的左邊及右邊之二個輔助區域105、106、及該第二觸碰原始數據區域102的上邊、及下邊之二個輔助區域107、108。

於本範例中，輔助區域105、106的範圍分別為1Ï2，輔助區域107、108的範圍分別為2Ï1。亦即在步驟(C)中，該處理單元330計算該四個輔助區域105、106、107、108的權值(weighting)比例，以產生該輔助資料組。該處理單元330將輔助區域105範圍內的觸碰原始數據相加，以產生輔助區域105的權值L。如圖12所示，該輔助區域105的權值L為4(=1+3)。其他輔助區域的權值亦是依此計算，故不再贅述。

因此，於步驟(D)中，該處理單元330係依據該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該四個輔助區域105、106、107及108的權值的比例，藉由查表以獲得一組補償係數(α,β)，再由該組補償係數(α,β)、該第一偵測觸碰座標(X1,Y1)及該四個輔助區域105、106、107及108的權值的比例來計算該觸控筆的實際觸碰位置(X0,Y0)。該處理單元330係利用以下公式來計算實際觸碰座標(X0,Y0)： X0= X1-α(L/R)， Y0= Y1-β(U/D)， 其中α、β為該組補償係數，L為輔助區域105的權值的比例，R為輔助區域106的權值的比例，U為輔助區域107的權值的比例，D為輔助區域108的權值的比例。

圖13係本發明之觸控筆310在XY座標上與Y軸形成一夾角μ之示意圖。依據三角公式，處理單元330可計算該夾角μ。如圖13所示，當第一偵測觸碰座標P1點作為原點，第二偵測觸碰座標P2點位於第一象限時，夾角μ等於μ’，當中μ’等於tan^-1 (△X/△Y)，△X=X2-X1，△Y=Y2-Y1，其中，(X1,Y1)為第一偵測觸碰座標，(X2,Y2)為第二偵測觸碰座標。

當第一偵測觸碰座標P1點作為原點，第二偵測觸碰座標P2點位於第二象限時，夾角μ等於360∘-μ’。 當第一偵測觸碰座標P1點作為原點，第二偵測觸碰座標P2點位於第三象限時，夾角μ等於180∘+μ’。 當第一偵測觸碰座標P1點作為原點，第二偵測觸碰座標P2點位於第四象限時，夾角μ等於180∘-μ’。 處理單元330將該夾角μ回傳至應用處理器(圖未示)，應用處理器可依據夾角μ來計算觸控筆310的筆觸、力量大小等相關資料。

於前述例子中，各個區域的選取範圍僅是作為說明使用，非用於限制本案之權利範圍。該領域之相關技術人員，可依據本發明之揭露變更，各個區域的選取範圍。

由前述說明可知，本發明技術利用座標點以外的資訊，使用不同範圍重複計算的座標，可以得到偏移量。當觸控筆310是垂直的狀態時，則第一偵測觸碰座標P1、第二偵測觸碰座標P2點、實際觸碰座標(X0,Y0)三點會重合，使用不同範圍計算出的座標位置也不會有差異。但如果觸控筆310是傾斜的狀態，則不同範圍計算的座標，會因傾斜程度而有所差異。本發明技術利用此現像，可修正傾斜時的座標偏移，並可偵測傾斜角度與傾斜程度。故本發明技術可以解決實際應用時，因觸控筆310傾斜所產生感應訊號的重心偏移之問題，而可改善使用者的使用經驗。

上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

100‧‧‧電容觸控裝置
110‧‧‧觸控筆
120‧‧‧顯示面板
130‧‧‧觸碰感測層
131‧‧‧觸碰感測節點
111‧‧‧方向軸
150‧‧‧像素
M2‧‧‧第二電晶體
133‧‧‧觸碰感測節點
135‧‧‧觸碰感測節點
210‧‧‧虛線
220‧‧‧實線
300‧‧‧具有觸控筆觸碰位置偵測的系統
310‧‧‧觸控筆
320‧‧‧觸碰偵測面板
330‧‧‧處理單元
321‧‧‧顯示螢幕
323‧‧‧第一觸碰偵測層
325‧‧‧第二觸碰偵測層
3231‧‧‧透明電極
3251‧‧‧透明電極
327‧‧‧觸碰偵測層
3271‧‧‧透明電極
(A)~ (D)‧‧‧步驟
θ‧‧‧夾角
μ‧‧‧夾角
510‧‧‧第一區域
520‧‧‧第二區域
520-1、520-2、520-3、520-4‧‧‧輔助區域
101‧‧‧第一觸碰原始數據區域
102‧‧‧第二觸碰原始數據區域
103‧‧‧第三觸碰原始數據區域
104‧‧‧第四觸碰原始數據區域
105、106、107、108‧‧‧輔助區域

圖1A係一習知為電容觸控裝置之外觀示意圖。 圖1B係一習知為電容觸控裝置之使用示意圖。 圖2係一習知觸控筆觸碰位置誤差的示意圖。 圖3係本發明之具有觸控筆觸碰位置偵測的系統之示意圖。 圖4係本發明之具有觸控筆觸碰位置偵測的系統之另一示意圖。 圖5係本發明一種觸控筆觸碰位置偵測方法的流程圖。 圖6係本發明互電容觸碰偵測時觸碰原始數據的示意圖。 圖7係本發明以互電容觸碰偵測之一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。 圖8係本發明計算實際觸碰座標的示意圖。 圖9A、圖9B、圖9C係本發明產生補償係數的示意圖。 圖10係本發明以互電容觸碰偵測之另一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。 圖11係本發明以自電容觸碰偵測之一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。 圖12係本發明以自電容觸碰偵測之另一範例的觸碰原始數據的部分示意圖。 圖13係本發明觸控筆在XY座標上與Y軸形成一夾角之示意圖。

Claims (11)

1. 一種觸控筆觸碰位置偵測方法，係用以偵測一觸控筆在一觸碰偵測面板上之實際觸碰位置，該方法包括步驟： (A) 使用一電容觸碰偵測，以獲得該觸碰偵測面板的觸碰原始數據； (B) 於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算以獲得一第一偵測觸碰座標； (C) 於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算以獲得一輔助資料組；以及 (D) 依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，計算獲得一實際觸碰座標。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，，於步驟(B)中，該第一偵測觸碰座標係為該第一區域的重心，於步驟(C)中，該至少一第二區域係為一包含且大於該第一區域的輔助區域，該輔助資料組係為由該輔助區域計算所獲得的一第二偵測觸碰座標，該第二偵測觸碰座標係為該輔助區域的重心。
3. 如申請專利範圍第2項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標之間的距離，藉由查表以獲得一組補償係數，再由該組補償係數、該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標計算該觸控筆的實際觸碰座標。
4. 如申請專利範圍第2項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標之間的距離，以函數眏射獲得一組補償係數，再由該組補償係數、該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標計算該觸控筆的實際觸碰座標。
5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(B)中，該第一偵測觸碰座標係為該第一區域的重心，於步驟(C)中，該至少一第二區域係為該第一區域週遭的四個輔助區域。
6. 如申請專利範圍第5項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標及該四個輔助區域的權值，藉由查表以獲得一組補償係數，再由該組補償係數、該第一偵測觸碰座標及該四個輔助區域的權值比例計算該觸控筆的實際觸碰位置。
7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(B)中，該第一區域係由第一方向的一個一維第一觸碰原始數據區域及第二方向的一個一維第二觸碰原始數據區域所組成，於步驟(C)中，該至少一第二區域係由第一方向的一個一維第三觸碰原始數據區域及第二方向的一個一維第四觸碰原始數據區域所組成，該輔助資料組係為由該第三觸碰原始數據區域及該第四觸碰原始數據區域計算所獲得的一第二偵測觸碰座標。
8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標，以查表方式獲得一組補償係數，再由該組補償係數、該第一偵測觸碰座標及該第二偵測觸碰座標來計算該觸控筆的實際觸碰位置。
9. 如申請專利範圍第1項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(A)中，該第一區域係由第一方向的一個一維第一觸碰原始數據區域及第二方向的一個一維第二觸碰原始數據區域所組成，於步驟(C)中，該至少一第二區域包含該第一方向的之二個輔助區域、及該第二方向之二個輔助區域。
10. 如申請專利範圍第9項所述之觸控筆觸碰位置偵測方法，其中，於步驟(D)中，係依據該第一偵測觸碰座標及該四個輔助區域的權值比例，以查表方式獲得一組補償係數，再由該組補償係數、該第一偵測觸碰座標及該四個輔助區域的比例計算該觸控筆實際觸碰位置。
11. 一種觸控筆觸碰位置的偵測系統，該偵測系統包括： 一觸控筆； 一觸碰偵測面板；以及 一處理單元，連接至該觸碰偵測面板，該處理單元接收該觸碰偵測面板的觸碰原始數據；該處理單元於該觸碰原始數據中選取一第一區域，並由該第一區域計算獲得一第一偵測觸碰座標；該處理單元於該觸碰原始數據中選取至少一第二區域，並由該至少一第二區域計算獲得一輔助資料組；且依據該第一偵測觸碰座標及該輔助資料組，該處理單元進行一計算以獲得一實際觸碰座標。