TW201801107A - 電容器檢測系統及其被動式分腳座模組 - Google Patents

Abstract

本發明公開一種電容器檢測系統及其被動式分腳座模組。被動式分腳座模組包括一基座結構以及一可轉動結構。可轉動結構可轉動地設置在基座結構上。可轉動結構具有一弧形表面。電容器的兩個導電引腳分別穿過一座板的兩個貫穿孔。每一個導電引腳具有一接觸側面。電容器的兩個導電引腳的兩個接觸側面同時滑動地接觸可轉動結構的弧形表面，以使得兩個導電引腳彼此岔開，並使得座板被兩個已岔開的導電引腳所限位而避免脫離電容器。藉此，電容器的兩個導電引腳通過接觸側面與弧形表面之間的接觸，以降低導電引腳與可轉動結構之間的摩擦阻力。

Description

電容器檢測系統及其被動式分腳座模組

本發明涉及一種檢測系統及其分腳座模組，特別是涉及一種電容器檢測系統及其被動式分腳座模組。

現有技術中，捲繞型固態電解電容器包含有電容器元件、收容構件以及封口構件。電容器元件隔著分離器捲繞有電性連接陽極端子的陽極箔與電性連接陰極端子的陰極箔，且於陽極箔與陰極箔之間形成有電解質層。收容構件具有開口部且可收容電容器元件。封口構件具有一可供陽極端子與陰極端子貫穿的貫貫穿孔以及一可密封收容構件的開口部。另外，封口構件與電容器元件之間存有預定間隔，並且陽極端子與陰極端子兩者其中之任一者設有用以確保間隙的擋止構件。然而，現有技術的捲繞型固態電解電容器的陽極端子與陰極端子在進行分腳時，會因為所產生的摩擦力過大而造成較大的反作用力，進而造成漏電流增加，甚至產生短路的嚴重缺失。故，如何通過結構設計的改良，來克服上述的缺失，已成為該項事業所欲解決的重要課題之一。

本發明所要解決的技術問題在於，針對現有技術的不足提供一種電容器檢測系統及其被動式分腳座模組，以解決現有技術中「捲繞型固態電解電容器的陽極端子與陰極端子在進行分腳時，會因為所產生的摩擦力過大而造成較大的反作用力，進而造成漏 電流增加，甚至產生短路」的缺失。

為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是，提供一種被動式分腳座模組，其用於將一電容器的兩個導電引腳彼此岔開，所述被動式分腳座模組包括：一基座結構以及一可轉動結構。所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，其中所述可轉動結構具有一弧形表面。其中，所述電容器的兩個所述導電引腳分別穿過一座板的兩個貫穿孔，每一個導電引腳具有一接觸側面，所述電容器的兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得所述座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器。其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述弧形表面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述可轉動結構之間的摩擦阻力。

為了解決上述的技術問題，本發明所採用的另外一技術方案是，提供一種電容器檢測系統，其包括：一引腳打扁模組、一被動式分腳座模組、一引腳定位模組以及一電氣性能檢測模組。所述引腳打扁模組用於將一電容器的兩個導電引腳進行打扁。所述被動式分腳座模組鄰近所述引腳打扁模組，其中所述被動式分腳座模組包括一基座結構以及一可轉動結構。所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，其中所述可轉動結構具有一弧形表面，所述電容器的兩個所述導電引腳分別穿過一座板的兩個貫穿孔，每一個導電引腳具有一接觸側面，所述電容器的兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得所述座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器。所述引腳定位模組鄰近所述被動式分腳座模組，以用於將所述電容器的兩個所述導電引腳彎折且定位在所述座板上。所述電氣性能檢測模組鄰近所述引腳定位模組，以用於檢測所述電容器的電 氣性能。

為了解決上述的技術問題，本發明所採用的另外再一技術方案是，提供一種被動式分腳座模組，其包括：一基座結構以及一可轉動結構。所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，且所述可轉動結構具有一弧形表面。其中，一電容器的兩個導電引腳滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得一座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器。

更進一步地，所述基座結構包括一第一基座本體以及一可分拆卸地連接於所述第一基座本體的第二基座本體，所述第一基座本體具有一第一底座以及一設置在所述第一底座上的第一樞接座，所述第二基座本體具有一可分拆卸地連接於所述第一底座的第二底座以及一設置在所述第二底座上的第二樞接座，且所述可轉動結構樞接地設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間。

更進一步地，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾輪。其中，所述弧形表面為所述樞接滾輪的一圓弧面，且兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾輪的所述圓弧面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度。其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述圓弧面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾輪之間的摩擦阻力。

更進一步地，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾球。其中，所述弧形表面為所述樞接滾球的一球面，且兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾球 的所述球面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度。其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述球面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾球之間的摩擦阻力。

更進一步地，所述電容器檢測系統還進一步包括：一熱產生模組，所述熱產生模組設置於所述引腳定位模組與所述電氣性能檢測模組之間，其中所述熱產生模組施加一預定熱量至所述電容器，以釋放積存在所述電容器內的應力。

本發明的有益效果在於，本發明技術方案所提供的電容器檢測系統及其被動式分腳座模組，其可通過“所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，且所述可轉動結構具有一弧形表面”以及“一電容器的兩個導電引腳的兩個接觸側面滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面”的設計，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開或者分叉，並且使得所述座板被兩個已岔開或者分叉的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器。再者，所述電容器的兩個所述導電引腳可以通過所述接觸側面與所述弧形表面之間的接觸，以有效降低所述導電引腳與所述可轉動結構之間的摩擦阻力。由於所述導電引腳與所述可轉動結構之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個所述接觸側面滑動地接觸所述弧形表面時所施加在兩個所述導電引腳以及所述電容器上的反作用力可以被降低(或者是所述導電引腳與所述電容器結合之處的結構變異可以被降低，並減少所述電容器的內部結構受力的情況)，藉此以避免所述電容器產生漏電流增加或者短路的問題。

為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，然而所提供的附圖僅提供參考與說明用，並非用來對本發明加以限制。

S‧‧‧電容器檢測系統

1‧‧‧引腳打扁模組

2‧‧‧被動式分腳座模組

20‧‧‧基座結構

201‧‧‧第一基座本體

2011‧‧‧第一底座

2012‧‧‧第一樞接座

202‧‧‧第二基座本體

2021‧‧‧第二底座

2022‧‧‧第二樞接座

21‧‧‧可轉動結構

2100‧‧‧弧形表面

211‧‧‧樞接軸

212‧‧‧樞接滾輪

2120‧‧‧圓弧面

213‧‧‧樞接滾球

2130‧‧‧球面

214‧‧‧滾動球體

2140‧‧‧球面

3‧‧‧引腳定位模組

4‧‧‧熱產生模組

5‧‧‧電氣性能檢測模組

C‧‧‧電容器

P、P’‧‧‧導電引腳

P10‧‧‧接觸側面

θ‧‧‧預定角度

B‧‧‧座板

B10‧‧‧貫穿孔

B11‧‧‧定位凹槽

圖1為本發明第一實施例的電容器檢測系統的功能方塊圖。

圖2為本發明第一實施例的電容器的兩個導電引腳被打扁前的側視示意圖。

圖3為本發明第一實施例的電容器的兩個導電引腳被打扁後的側視示意圖。

圖4為本發明第一實施例的電容器檢測系統的被動式分腳座模組的立體分解示意圖。

圖5為本發明第一實施例的電容器檢測系統的被動式分腳座模組的側視組合示意圖。

圖6為本發明第一實施例的電容器的兩個導電引腳通過被動式分腳座模組進行分腳的示意圖。

圖7為本發明第一實施例的電容器的兩個導電引腳被岔開或者分叉後的側視示意圖。

圖8為本發明第一實施例的電容器的兩個導電引腳被彎折且定位在座板上的側視示意圖。

圖9為本發明第二實施例的電容器檢測系統的被動式分腳座模組的側視組合示意圖。

圖10為本發明第二實施例的電容器的兩個導電引腳通過被動式分腳座模組進行分腳的示意圖。

圖11為本發明第三實施例的電容器檢測系統的被動式分腳座模組的立體組合示意圖。

圖12為本發明第三實施例的電容器的兩個導電引腳通過被動式分腳座模組進行分腳的示意圖。

圖13為本發明第四實施例的電容器檢測系統的功能方塊圖。

以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“電容器檢測系統及其被動式分腳座模組”的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的 各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的精神下進行各種修飾與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，予以聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的技術範圍。

[第一實施例]

請參閱圖1至圖8所示，本發明第一實施例提供一種電容器檢測系統S，其包括：一引腳打扁模組1、一被動式分腳座模組2、一引腳定位模組3以及一電氣性能檢測模組5，其中被動式分腳座模組2所定義的「被動式」所指的是：被動式分腳座模組2會被動地被電容器C的兩個導電引腳P所接觸，以進行電容器C的兩個導電引腳P的分腳動作。

首先，配合圖1至圖3所示，引腳打扁模組1可用於將一電容器C的兩個導電引腳P’進行打扁，以使得兩個圓柱狀的導電引腳P’被打扁成兩個扁狀的導電引腳P。舉例來說，電容器C可以是捲撓型的固態電解電容器，圖2是顯示出電容器C的兩個導電引腳P’被打扁前的側視示意圖，圖3則是顯示出電容器C的兩個導電引腳P被打扁後的側視示意圖。換言之，電容器C的兩個圓柱狀的導電引腳P’可以通過引腳打扁模組1來進行打扁。並且，如圖3所示，當電容器C的兩個圓柱狀的導電引腳P’被打扁而形成兩個扁狀的導電引腳P時，每一個導電引腳P的內側端就會產生一被打扁的接觸側面P10。

再者，配合圖1以及圖4至圖6所示，被動式分腳座模組2鄰近引腳打扁模組1，以用於將一電容器C的兩個導電引腳P彼此岔開或者分叉，並且被動式分腳座模組2包括一基座結構20以及一可轉動結構21。另外，可轉動結構21可轉動地設置在基座結構20上，並且可轉動結構21具有一弧形表面2100。舉例來說，弧形表面2100可以是規則曲面或是不規則曲面。

藉此，配合圖5以及圖6所示，電容器C的兩個導電引腳P分別穿過一座板B的兩個貫穿孔B10。電容器C的兩個導電引腳P的兩個接觸側面P10可以同時滑動地接觸可轉動結構21的弧形表面2100，以使得兩個導電引腳P彼此岔開或者分叉，並且使得座板B被兩個已岔開或者分叉的導電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個導電引腳P可以通過接觸側面P10與弧形表面2100之間的接觸，以有效降低導電引腳P與可轉動結構21之間的摩擦阻力。由於導電引腳P與可轉動結構21之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個接觸側面P10同時滑動地接觸弧形表面2100時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導電引腳P與電容器C結合之處的結構變異可以被降低，並減少電容器C的內部結構受力的情況)，藉此以避免電容器C產生漏電流增加或者短路的問題。

舉例來說，配合圖4至圖6所示，基座結構20包括一第一基座本體201以及一可分拆卸地連接於第一基座本體201的第二基座本體202。另外，第一基座本體201具有一第一底座2011以及一可垂直地設置在第一底座2011上的第一樞接座2012，第二基座本體202具有一可分拆卸地連接於第一底座2011的第二底座2021以及一可垂直地設置在第二底座2021上的第二樞接座2022，並且可轉動結構21可樞接地設置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間。

承上所述，可轉動結構21包括一可拆卸地連接於第一樞接座2012與第二樞接座2022之間的樞接軸211(例如可以是一般固定軸或是滾珠軸承固定軸)以及一設置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間且樞接地套設在樞接軸211上的樞接滾輪212(例如可以是一般的滾輪或是滾珠軸承)。另外，弧形表面2100可為樞接滾輪212的一圓弧面2120，並且兩個導電引腳P的兩個接觸側面P10可同時滑動地接觸樞接滾輪212的圓弧面2120，以使兩 個導電引腳P彼此岔開且相對於座板B的底端傾斜一預定角度θ，並且使得座板B被兩個已岔開或者分叉的導電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個導電引腳P可以通過接觸側面P10與圓弧面2120之間的線接觸，以有效降低導電引腳P與樞接滾輪212之間的摩擦阻力。由於導電引腳P與樞接滾輪212之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個接觸側面P10同時滑動地接觸圓弧面2120時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導電引腳P與電容器C結合之處的結構變異可以被降低，並減少電容器C的內部結構受力的情況)，藉此以避免電容器C產生漏電流增加或者短路的問題。

此外，配合圖1、圖7以及圖8所示，引腳定位模組3鄰近被動式分腳座模組2，以用於將電容器C的兩個導電引腳P彎折且定位在座板B上。舉例來說，電容器C的兩個導電引腳P會被彎折且定位在座板B的兩個定位凹槽B11內。另外，電氣性能檢測模組5鄰近引腳定位模組3，以用於檢測電容器C的電氣性能，藉此以判斷電容器C的電氣性能是否符合要求。舉例來說，電氣性能檢測模組5可以提供兩個檢測探針(圖未示)，並且電氣性能檢測模組5可以通過兩個檢測探針分別電性接觸電容器C的兩個導電引腳P，以進行電容器C的電氣性能的檢測。

[第二實施例]

請參閱圖9以及圖10所示，本發明第二實施例提供一種被動式分腳座模組2，其用於將一電容器C的兩個導電引腳P彼此岔開或者分叉，並且被動式分腳座模組2包括一基座結構20以及一可轉動結構21。另外，可轉動結構21可轉動地設置在基座結構20上，並且可轉動結構21具有一弧形表面2100。

更進一步來說，可轉動結構21包括一可拆卸地連接於第一樞接座2012與第二樞接座2022之間的樞接軸211以及一設置在第一樞接座2012與第二樞接座2022之間且樞接地套設在樞接軸211 上的樞接滾球213。另外，弧形表面2100可為樞接滾球213的一球面2130，並且兩個導電引腳P的兩個接觸側面P10可以同時滑動地接觸樞接滾球213的球面2130，以使兩個導電引腳P彼此岔開且相對於座板B的底端傾斜一預定角度θ，並且使得座板B被兩個已岔開或者分叉的導電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個導電引腳P可以通過接觸側面P10與球面2130之間的點接觸，以有效降低導電引腳P與樞接滾球213之間的摩擦阻力。由於導電引腳P與樞接滾球213之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個接觸側面P10同時滑動地接觸球面2130時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導電引腳P與電容器C結合之處的結構變異可以被降低，並減少電容器C的內部結構受力的情況)，藉此以避免電容器C產生漏電流增加或者短路的問題。

[第三實施例]

請參閱圖11以及圖12所示，本發明第三實施例提供一種被動式分腳座模組2，其用於將一電容器C的兩個導電引腳P彼此岔開或者分叉，並且被動式分腳座模組2包括一基座結構20以及一可轉動結構21。另外，可轉動結構21可轉動地設置在基座結構20上，並且可轉動結構21具有一弧形表面2100。

更進一步來說，可轉動結構21包括一滾動球體214。另外，弧形表面2100可為滾動球體214的一球面2140，並且兩個導電引腳P的兩個接觸側面P10可以同時滑動地接觸滾動球體214的球面2140，以使兩個導電引腳P彼此岔開且相對於座板B的底端傾斜一預定角度θ，並且使得座板B被兩個已岔開或者分叉的導電引腳P所限位而避免脫離電容器C。值得一提的是，電容器C的兩個導電引腳P可以通過接觸側面P10與球面2140之間的點接觸，以有效降低導電引腳P與滾動球體214之間的摩擦阻力。由於導電引腳P與滾動球體214之間的摩擦阻力被降低，所以因著 兩個接觸側面P10同時滑動地接觸球面2140時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導電引腳P與電容器C結合之處的結構變異可以被降低，並減少電容器C的內部結構受力的情況)，藉此以避免電容器C產生漏電流增加或者短路的問題。

[第四實施例]

請參閱圖13所示，本發明第四實施例提供一種電容器檢測系統S，其包括：一引腳打扁模組1、一被動式分腳座模組2、一引腳定位模組3以及一電氣性能檢測模組5。由圖13與圖1的比較可知，本發明第四實施例與第一實施例最大的差別在於，在第四實施例中，電容器檢測系統S還進一步包括：一熱產生模組4，熱產生模組4設置於引腳定位模組3與電氣性能檢測模組5之間，其中熱產生模組4施加一預定熱量至電容器C，以釋放積存在電容器C內的應力，此應力是因著兩個接觸側面P10同時滑動地接觸弧形表面2100時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力所造成的應力。舉例來說，熱產生模組4可以採用能夠提供熱源的熱風產生裝置、紅外線產生裝置或者是紫外光產生裝置等等。

[實施例的有益效果]

綜上所述，本發明的有益效果在於，本發明技術方案所提供的電容器檢測系統S及其被動式分腳座模組2，其可通過“可轉動結構21可轉動地設置在基座結構20上，且可轉動結構21具有一弧形表面2100”以及“一電容器C的兩個導電引腳P的兩個接觸側面P10滑動地接觸可轉動結構21的弧形表面2100”的設計，以使得兩個導電引腳P彼此岔開或者分叉，並且使得座板B被兩個已岔開或者分叉的導電引腳P所限位而避免脫離電容器C。再者，電容器C的兩個導電引腳P可以通過接觸側面P10與弧形表面2100之間的接觸，以有效降低導電引腳P與可轉動結構21之間的 摩擦阻力。由於導電引腳P與可轉動結構21之間的摩擦阻力被降低，所以因著兩個接觸側面P10同時滑動地接觸弧形表面2100時所施加在兩個導電引腳P以及電容器C上的反作用力可以被降低(或者是導電引腳P與電容器C結合之處的結構變異可以被降低，並減少電容器C的內部結構受力的情況)，藉此以避免電容器C產生漏電流增加或者短路的問題。

以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例，並非因此侷限本發明的申請專利範圍，故凡運用本發明說明書及附圖內容所做的等效技術變化，均包含於本發明的申請專利範圍內。

2‧‧‧被動式分腳座模組

20‧‧‧基座結構

21‧‧‧可轉動結構

2100‧‧‧弧形表面

211‧‧‧樞接軸

212‧‧‧樞接滾輪

2120‧‧‧圓弧面

C‧‧‧電容器

P‧‧‧導電引腳

P10‧‧‧接觸側面

θ‧‧‧預定角度

B‧‧‧座板

B10‧‧‧貫穿孔

B11‧‧‧定位凹槽

Claims (10)

1. 一種被動式分腳座模組，其用於將一電容器的兩個導電引腳彼此岔開，所述被動式分腳座模組包括：一基座結構；以及一可轉動結構，所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，其中所述可轉動結構具有一弧形表面；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳分別穿過一座板的兩個貫穿孔，每一個導電引腳具有一接觸側面，所述電容器的兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得所述座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述弧形表面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述可轉動結構之間的摩擦阻力。
2. 如請求項1所述的被動式分腳座模組，其中，所述基座結構包括一第一基座本體以及一可分拆卸地連接於所述第一基座本體的第二基座本體，所述第一基座本體具有一第一底座以及一設置在所述第一底座上的第一樞接座，所述第二基座本體具有一可分拆卸地連接於所述第一底座的第二底座以及一設置在所述第二底座上的第二樞接座，且所述可轉動結構樞接地設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間。
3. 如請求項2所述的被動式分腳座模組，其中，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾輪；其中，所述弧形表面為所述樞接滾輪的一圓弧面，且兩個所述導電引腳的兩 個所述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾輪的所述圓弧面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述圓弧面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾輪之間的摩擦阻力。
4. 如請求項2所述的被動式分腳座模組，其中，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾球；其中，所述弧形表面為所述樞接滾球的一球面，且兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾球的所述球面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述球面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾球之間的摩擦阻力。
5. 一種電容器檢測系統，其包括：一引腳打扁模組，所述引腳打扁模組用於將一電容器的兩個導電引腳進行打扁；一被動式分腳座模組，所述被動式分腳座模組鄰近所述引腳打扁模組，其中所述被動式分腳座模組包括：一基座結構；以及一可轉動結構，所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，其中所述可轉動結構具有一弧形表面，所述電容器的兩個所述導電引腳分別穿過一座板的兩個貫穿孔，每一個導電引腳具有一接觸側面，所述電容器的兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得所述座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而 避免脫離所述電容器；一引腳定位模組，所述引腳定位模組鄰近所述被動式分腳座模組，以用於將所述電容器的兩個所述導電引腳彎折且定位在所述座板上；以及一電氣性能檢測模組，所述電氣性能檢測模組鄰近所述引腳定位模組，以用於檢測所述電容器的電氣性能。
6. 如請求項5所述的電容器檢測系統，其中，所述基座結構包括一第一基座本體以及一可分拆卸地連接於所述第一基座本體的第二基座本體，所述第一基座本體具有一第一底座以及一設置在所述第一底座上的第一樞接座，所述第二基座本體具有一可分拆卸地連接於所述第一底座的第二底座以及一設置在所述第二底座上的第二樞接座，且所述可轉動結構樞接地設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間。
7. 如請求項6所述的電容器檢測系統，其中，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾輪；其中，所述弧形表面為所述樞接滾輪的一圓弧面，且兩個所述導電引腳的兩個所述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾輪的所述圓弧面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述圓弧面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾輪之間的摩擦阻力。
8. 如請求項6所述的電容器檢測系統，其中，所述可轉動結構包括一可拆卸地連接於所述第一樞接座與所述第二樞接座之間的樞接軸以及一設置在所述第一樞接座與所述第二樞接座之間且樞接地套設在所述樞接軸上的樞接滾球；其中，所述弧形表面為所述樞接滾球的一球面，且兩個所述導電引腳的兩個所 述接觸側面同時滑動地接觸所述樞接滾球的所述球面，以使兩個所述導電引腳彼此岔開且相對於所述座板的底端傾斜一預定角度；其中，所述電容器的兩個所述導電引腳通過所述接觸側面與所述球面之間的接觸，以降低所述導電引腳與所述樞接滾球之間的摩擦阻力。
9. 如請求項6所述的電容器檢測系統，還進一步包括：一熱產生模組，所述熱產生模組設置於所述引腳定位模組與所述電氣性能檢測模組之間，其中所述熱產生模組施加一預定熱量至所述電容器，以釋放積存在所述電容器內的應力。
10. 一種被動式分腳座模組，其包括：一基座結構；以及一可轉動結構，所述可轉動結構可轉動地設置在所述基座結構上，其中所述可轉動結構具有一弧形表面；其中，一電容器的兩個導電引腳滑動地接觸所述可轉動結構的所述弧形表面，以使得兩個所述導電引腳彼此岔開，並使得一座板被兩個已岔開的所述導電引腳所限位而避免脫離所述電容器。