TW201704818A - 液晶測試板定位方法 - Google Patents

液晶測試板定位方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201704818A
TW201704818A TW104123967A TW104123967A TW201704818A TW 201704818 A TW201704818 A TW 201704818A TW 104123967 A TW104123967 A TW 104123967A TW 104123967 A TW104123967 A TW 104123967A TW 201704818 A TW201704818 A TW 201704818A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test board
test
liquid crystal
probe
lens
Prior art date
Application number
TW104123967A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI581035B (zh
Inventor
閻怡天
張士愈
蔡陽豪
洪育民
Original Assignee
惠特科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 惠特科技股份有限公司 filed Critical 惠特科技股份有限公司
Priority to TW104123967A priority Critical patent/TWI581035B/zh
Publication of TW201704818A publication Critical patent/TW201704818A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI581035B publication Critical patent/TWI581035B/zh

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

一種液晶測試板定位方法,包括:對第一測試板探針Z軸及座標調整,記錄馬達第一測試板第一次位置,確認位置正確性,檢測液晶面板。第一測試板測完換第二測試板,對第二測試板探針Z軸及座標調整,記錄馬達第二測試板第一次位置,確認位置正確性,檢測液晶面板。第二測試板測完換第一測試板,對第一測試板探針Z軸及座標調整,記錄馬達第一測試板第二次位置,以馬達第一測試板第一次位置減去馬達第一測試板第二次位置等於補償值,以馬達第一測試板第二次位置加上補償值等於第一測試板第二次位置的實際測試位置,以快速定位對液晶面板測試。

Description

液晶測試板定位方法
本發明係有關一種液晶測試板,尤指一種用以測液晶面板的液晶測試板定位方法。
智慧型電話(smartphone),指具有獨立的行動作業系統,可透過安裝應用軟體、遊戲等程式來擴充手機功能,運算能力及功能均優於傳統功能型手機的一類手機。
而智慧型手機上的液晶面板在組裝後,由於組裝後的液晶面板上具有許多IC零組件,為了確保液晶面板能正常的運作下,因此在液晶面板組裝完成後,都會進行液晶面板的測試。在測試液晶面板時,將多個液晶面板放置於測試機台的平台上,再將測試板安裝於具有 前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道的置放架上,在前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將測試板移動平台上,以該測試板上的探針與該液晶面板上的接觸點接觸後,即可測試該液晶面板上的IC是否能正常運作。
由於液晶面板測試機台在測試時,在型號1xxx的液晶面板測試完成後,再以原機台進行另一型號2xxx的液晶面板測試,在型號2xxx的液晶面板測試完成後,再將原先測試型號1xxx的測試板在安裝在置放架上後,該測試板的探針位置會與原先第一次測試的位置產生誤差,此誤差就會導致測試板探針在移動後無法再次對準原先型號1xxx的液晶面板的接觸點接觸,因此在測試不同型號的液晶面板後,要再測試先前所測試過同型號的液晶面板時,該測試板探針的定位都要重新定位調整過,因此造成測試板在定位上的麻煩及困擾。
因此,本發明之主要目的,在於解決傳統缺失,避免缺失存在,本發明是在對第一測試板探針Z軸平行及座標位置調整,記錄馬達的第一測試板第一次位置,進行液晶面板測試,並確認位置正確性後,開始檢測液晶面板。第一測試板測完後,換上第二測試板,對第二測試板探針Z軸平行及座標位置調整,記錄馬達的第二測試板第一次位置,進行液晶面板測試,並確認位置正確性後,開始檢測液晶面板。在第二測試板測完後,換上第一測試板,對第一測試板探針Z軸平行及座標位置調整,記錄馬達的第一測試板第二次位置,以馬達的第一測試板第一次位置減去馬達的第一測試板第二次位置等於補償值,以馬達的第一測試板第二次位置加上補償值等於第一測試板第二次位置的實際測試位置,以達到快速的定位方法。
為達上述之目的,本發明提供一種液晶測試板定位方法,係安裝於具有一平台、一前後移動軌道、一左右移動軌道、一上下移動軌道及一置放架的機台上,並對平台上的液晶面板進行測試,包括:將第一測試板安裝於該置放架上,該第一測試板上具有複數個探針,對第一測試板探針的Z軸平行進行調整,將該第一測試板的探針移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板第一次位置的數據,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第一測試板第一次位置正確性
,而後開始進行檢測液晶面板。在第一測試板測試完成後,換上第二測試板,將第二測試板安裝於該置放架上,以進行Z軸平行的調整,在將該第二測試板的探針移動到對準座標位置,記錄馬達的第二測試板第一次位置,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第二測試板第一位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板。在第二測試板檢測完成後,換上第一測試板,將第一測試板安裝於置放架上,對第一測試板的探針的Z軸平行的調整,在將第一測試板的探針移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板的第二次位置的數據,再以馬達的第一測試板的第一次位置的數據減去馬達的第一測試板的第二次位置的數據等於補償值,以馬達的第一測試板的第二次位置的數據加上補償值等於第一測試板的第二次位置的實際測試位置的數據,即可直接進行液晶面板測試,以達到快速的第一測試板第二次安裝快速定位的方法。
在本發明之一實施例中,以機台上的前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將該置放架移到位於該機台一側的一調整區上進行調整。
在本發明之一實施例中,該調整區上具有相互呈垂直狀態設置的一第一鏡頭及一第二鏡頭,該第一鏡頭讀取影像方向則是由下往上照
,在該置放架的旋轉轉動時,以該第一鏡頭讀取該第一測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的一顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
在本發明之一實施例中,將第一測試板移動到調整區的第二鏡頭上
,以該第二鏡頭讀取該第一測試板探針的第一探針對準X,Y軸的座標位置。
在本發明之一實施例中,該第一鏡頭及第二鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
在本發明之一實施例中,以該前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將第二測試板移到調整區上以該第一鏡頭讀取該第二測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
在本發明之一實施例中,將該第二測試板移動到調整區的第二鏡頭上,以該第二鏡頭讀取該第二測試板的探針對準到X,Y軸的座標位置。
100~116‧‧‧步驟
10‧‧‧液晶面板測試機台
1‧‧‧平台
2、2’‧‧‧前後移動軌道
3‧‧‧左右移動軌道
4‧‧‧上下移動軌道
5‧‧‧置放架
6‧‧‧調整區
61‧‧‧第一鏡頭
62‧‧‧第二鏡頭
7‧‧‧液晶面板
20‧‧‧液晶測試板
201‧‧‧探針
圖1,係本發明之液晶測試板定位方法流程示意圖。
圖2,係本發明之液晶面板測試機台俯視示意圖。
圖3,係本發明之液晶面板測試機台側視示意圖。
圖4,係本發明之液晶面板測試機台的置放架的局部放大示意圖。
圖5,係本發明之液晶面板測試機台的第一鏡頭讀取液晶測試板的探針的影像畫面示意圖。
圖6,係本發明之液晶面板測試機台的第二鏡頭讀取液晶測試板的探針對準X、Y軸座標位置的影像畫面示意圖。
圖7,係本發明之液晶面板測試機台的置放架移動至平台上對液晶面板進行測試示意圖。
茲有關本發明之技術內容及詳細說明,現在配合圖式說明如下:
請參閱圖1,係本發明之液晶測試板定位方法流程示意圖。如圖所示:本發明之液晶測試板定位方法,在機台的帶動下,使該液晶測試板對行動裝置的液晶面板進行測試,以測試液晶面板上的IC零件是否正常。
首先,如步驟100,將第一測試板安裝於上下移動軌道的置放架上,該第一測試板上具有複數個探針。
步驟102,在第一測試板安裝後,先調整該第一測試板的探針的Z軸平行。以機台上的X軸軌道(前後移動軌道)、Y軸軌道(左右移動軌道)及Z軸軌道(上下移動軌道)將該置放架移到位於該機台一側的調整區上進行調整,該調整區上具有相互呈垂直狀態設置的一第一鏡頭及一第二鏡頭,該第一鏡頭讀取影像方向則是由下往上照,在置放架的旋轉轉動時,以該第一鏡頭讀取該第一測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的顯示器上,以進行Z軸平行的調整。在本圖式中,該第一鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
步驟104,在探針的Z軸平行調整後,將第一測試板移動到調整區的第二鏡頭上,以該第二鏡頭讀取該第一測試板的探針的第一探針是否有對準到X,Y軸的(0,0)座標位置,若是探針的第一探針未對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,將進行X,Y軸的(0,0)座標位置對準,若是探針的第一探針已對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,並記錄馬達的第一測試板第一次位置的數據。在本圖式中,該第一鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
步驟106,在記錄馬達的第一測試板第一次位置後,再進行液晶面板測試,以該X軸軌道(前後移動軌道)、Y軸軌道(左右移動軌道)及Z軸軌道(上下移動軌道)將置放架移動到該平台上,以進行液晶面板測試,以確認馬達的第一測試板第一次位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板。
步驟108,在第一測試板測試完成後,換上第二測試板,將第二測試板安裝於該置放架上。
步驟110,以該前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將第二測試板移到調整區上以該第一鏡頭讀取該第二測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
步驟112,在第二測試板的探針Z軸平行調整後,將該第二測試板移動到調整區的第二鏡頭上,以該第二鏡頭讀取該探針的第一探針是否有對準到X,Y軸的(0,0)座標位置,若是探針的第一探針未對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,將進行X,Y軸的(0,0)座標位置對準,若是探針的第一探針已對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,記錄馬達的第二測試板第一次位置,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第二測試板第一位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板。
步驟114,在第二測試板檢測完成後,換上第一測試板,將第一測試板安裝於置放架上,在如前述的動作在對第一測試板的探針的Z軸平行的調整,在將探針移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板的第二次位置的數據。
步驟116,再以馬達的第一測試板的第一次位置的數據減去馬達的第一測試板的第二次位置的數據等於補償值,以馬達的第一測試板的第二次位置的數據加上補償值等於第一測試板的第二次位置的實際測試位置的數據,就可以直接進行液晶面板測試,以達到快速的第一測試板第二次安裝快速定位的方法。
上述在進行測試時,例如,在第一測試板安裝了是測試同型號AAA的液晶面板,第二測試板安裝了是測試同型號BBB的液晶面板,在第三測試板安裝了是測試同型號CCC的液晶面板。因此,當再次測試同型號AAA的液晶面板時,就必須裝上第一測試板,再加上補償值就是實際測試的位置。
請參閱圖2,係本發明之液晶面板測試機台俯視示意圖。同時一併參閱圖3~圖7所示:本發明之液晶面板測試機台10,該機台10上具有一可移動式的平台1,該平台1的上方具有一可前後移動軌道2、2’,該前後移動軌道2、2’之間具有一可左右移動軌道3,該左右移動軌道3上具有一可上下移動軌道4,該上下移動軌道4上具有一可轉動的置放架5。
在進行測試時,將第一測試板20安裝於上下移動軌道4的置放架5上,該第一測試板20上具有複數個探針201,先調整該第一測試板20的探針201的Z軸平行。以機台10上的前後移動軌道2、2’,左右移動軌道3及上下移動軌道4將該置放架5移到位於該機台10一側的調整區6上進行調整,該調整區6上具有相互呈垂直狀態設置的一第一鏡頭61及一第二鏡頭62(如圖3),該第一鏡頭61讀取影像方向則是由下往上照,在置放架5的旋轉轉動時,以該第一鏡頭61讀取該第一測試板20的探針201的影像畫面,並顯示於外部的顯示器(圖中未示)上,以進行Z軸平行的調整。在本圖式中,該第一鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
在探針201的Z軸平行調整後,將第一測試板20移動到調整區6的第二鏡頭62上,以該第二鏡頭62讀取該第一測試板20的探針201的第一探針2011是否有對準到X,Y軸的(0,0)座標位置,若是探針201的第一探針2011未對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,將進行X,Y軸的(0,0)座標位置對準,若是探針201的第一探針2011已對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,並記錄馬達的第一測試板20第一次位置的數據。在本圖式中,該第一鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
在記錄馬達的第一測試板第一次位置後,再進行液晶面板測試,以該前後移動軌道2、2’,左右移動軌道3及上下移動軌道4將置放架5移動到該平台1上,以進行液晶面板測試,以確認馬達的第一測試板20第一次位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板。在第一測試板20測試完成後,換上第二測試板,將第二測試板(圖中未示)安裝於該置放架上(如同前述動作),以該前後移動軌道2、2’,左右移動軌道3及上下移動軌道4將第二測試板移到調整區6上,以該第一鏡頭61讀取該第二測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
在第二測試板的探針Z軸平行調整後,將該第二測試板移動到調整區6的第二鏡頭62上,以該第二鏡頭62讀取該探針的第一探針是否有對準到X,Y軸的(0,0)座標位置,若是探針的第一探針未對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,將進行X,Y軸的(0,0)座標位置對準,若是探針的第一探針已對準X,Y軸的(0,0)座標位置時,記錄馬達的第二測試板第一次位置,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第二測試板第一位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板。在第二測試板檢測完成後,換上第一測試板20,將第一測試板20安裝於置放架5上,在如前述的動作在對第一測試板20的探針201的Z軸平行的調整,在將探針201移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板的第二次位置的數據,再以馬達的第一測試板20的第一次位置的數據減去馬達的第一測試板20的第二次位置的數據等於補償值,以馬達的第一測試板20的第二次位置的數據加上補償值等於第一測試板20的第二次位置的實際測試位置的數據,就可以直接進行液晶面板測試,以達到快速的第一測試板第二次安裝快速定位的方法。
上述在進行液晶面板測試時,例如,在第一測試板安裝了是測試同型號AAA的液晶面板,第二測試板安裝了是測試同型號BBB的液晶面板,在第三測試板安裝了是測試同型號CCC的液晶面板。因此,當再次測試同型號AAA的液晶面板時,就必須裝上第一測試板,再加上補償值就是實際測試的位置。
上述僅為本發明之較佳實施例而已,並非用來限定本發明實施之範圍。即凡依本發明申請專利範圍所做的均等變化與修飾,皆為本發明專利範圍所涵蓋。
 
100~116‧‧‧步驟

Claims (7)

  1. 一種液晶測試板定位方法,係安裝於具有一平台、一前後移動軌道、一左右移動軌道、一上下移動軌道及一置放架的機台上,並對平台上的液晶面板進行測試,包括:
    a)、將第一測試板安裝於該置放架上,該第一測試板上具有複數個探針;
    b)、對第一測試板探針的Z軸平行進行調整;
    c)、在將該探針移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板第一次位置的數據;
    d)、在記錄馬達的第一測試板第一次位置後,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第一測試板第一次位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板;
    e)在第一測試板測試完成後,換上第二測試板,將第二測試板安裝於該置放架上,以進行Z軸平行的調整;
    f)、將該第二測試板的探針移動到對準座標位置,記錄馬達的第二測試板第一次位置,再進行液晶面板測試,以確認馬達的第二測試板第一位置正確性,而後開始進行檢測液晶面板;
    g)、在第二測試板檢測完成後,換上第一測試板,將第一測試板安裝於置放架上,對第一測試板的探針的Z軸平行的調整,在將第一測試板的探針移動到對準座標位置,並記錄馬達的第一測試板的第二次位置的數據;
    h)、再以馬達的第一測試板的第一次位置的數據減去馬達的第一測試板的第二次位置的數據等於補償值,以馬達的第一測試板的第二次位置的數據加上補償值等於第一測試板的第二次位置的實際測試位置的數據,即可直接進行液晶面板測試,以達到快速的第一測試板第二次安裝快速定位的方法。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之液晶測試板定位方法,其中,在步驟b中以機台上的前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將該置放架移到位於該機台一側的一調整區上進行調整。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之液晶測試板定位方法,其中,在該調整區上具有相互呈垂直狀態設置的一第一鏡頭及一第二鏡頭,該第一鏡頭讀取影像方向則是由下往上照,在該置放架的旋轉轉動時,以該第一鏡頭讀取該第一測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的一顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之液晶測試板定位方法,其中,在步驟c將第一測試板移動到調整區的第二鏡頭上,以該第二鏡頭讀取該第一測試板探針的第一探針對準X,Y軸的座標位置。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之液晶測試板定位方法,其中,該第一鏡頭及第二鏡頭為CCD鏡頭或CMOS鏡頭。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之液晶測試板定位方法,其中,在步驟e中以該前後移動軌道、左右移動軌道及上下移動軌道將第二測試板移到調整區上以該第一鏡頭讀取該第二測試板的探針的影像畫面,並顯示於外部的顯示器上,以進行Z軸平行的調整。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之液晶測試板定位方法,其中,在步驟f中將該第二測試板移動到調整區的第二鏡頭上,以該第二鏡頭讀取該第二測試板探針的第一探針對準到X,Y軸的座標位置。
TW104123967A 2015-07-24 2015-07-24 液晶測試板定位方法 TWI581035B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW104123967A TWI581035B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 液晶測試板定位方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW104123967A TWI581035B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 液晶測試板定位方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201704818A true TW201704818A (zh) 2017-02-01
TWI581035B TWI581035B (zh) 2017-05-01

Family

ID=58609167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW104123967A TWI581035B (zh) 2015-07-24 2015-07-24 液晶測試板定位方法

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI581035B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109991448A (zh) * 2019-04-19 2019-07-09 南京微桥检测技术有限公司 显示屏幕模组精密测试治具

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4461159B2 (ja) * 2007-06-14 2010-05-12 ヤマハファインテック株式会社 プリント基板の検査装置および検査方法
JP5631020B2 (ja) * 2009-05-01 2014-11-26 株式会社日本マイクロニクス 平板状被検査体の試験装置
TWI416144B (zh) * 2011-05-06 2013-11-21 Fu Lai Yao The method and device for detecting the touch point of the substrate line with the probe
JP6273131B2 (ja) * 2013-11-27 2018-01-31 株式会社日本マイクロニクス 検査装置、及び検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109991448A (zh) * 2019-04-19 2019-07-09 南京微桥检测技术有限公司 显示屏幕模组精密测试治具
CN109991448B (zh) * 2019-04-19 2022-04-15 南京微桥检测技术有限公司 显示屏幕模组精密测试治具

Also Published As

Publication number Publication date
TWI581035B (zh) 2017-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101625519B (zh) 一种摄像头检测设备及系统
CN100431128C (zh) 探测卡与载置台的平行度调整方法和检查装置
KR102229364B1 (ko) 표시장치의 테스트 장치 및 그 장치를 이용한 테스트 방법
TWI512302B (zh) Detection system and its detection method
TWI416144B (zh) The method and device for detecting the touch point of the substrate line with the probe
TW201400789A (zh) 工件外觀測量裝置及其操作方法
CN101424519A (zh) 平整度的检测装置及检测方法
CN103363928A (zh) 用于检测pcb板件平整性的方法和装置
CN104215195A (zh) 玻璃面板自动翘曲度测量仪
KR20080015557A (ko) 평판 디스플레이 기판 회로의 리페어 장치
TW201906055A (zh) 基板搬出方法
WO2018028032A1 (zh) 一种半成品触摸屏测试机
CN103529048A (zh) 基板检查装置
CN114441942A (zh) Pcb板的飞针测试方法、系统、设备及存储介质
TWI581035B (zh) 液晶測試板定位方法
CN103075970A (zh) 测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置
CN203101022U (zh) 一种中继镜检测装置
CN201653364U (zh) 晶圆固定框检测装置
CN202120002U (zh) 用于液晶面板的自动光学测量仪
WO2015085659A1 (zh) 垫料高度测量机自动补正方法及系统
CN201287289Y (zh) 探针研磨装置
US20150010205A1 (en) Apparatus and method for inspecting pins on a probe card
US7019549B2 (en) Apparatus and method for electrical contact testing of substrates
CN203364760U (zh) 直插型电子元器件引脚检测机
CN208238665U (zh) 一种检测工件的检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees