TW201606323A - 滾筒式晶片燒錄檢測設備 - Google Patents

Abstract

一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，其包含：燒錄設備，該燒錄設備內設有第一工作平台、第二工作平台、滾筒式燒錄裝置及取料裝置，又該第一工作平台設有第一置料部，該第一工作平台設有進料裝置，又該第二工作平台設有送料裝置，該滾筒式燒錄裝置軸設於第一工作平台與第二工作平台之間，又該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，該每一平面部設有至少一燒錄器；藉由該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，又該每一平面部設有至少一燒錄器，並藉由該滾筒式燒錄裝置可軸設於第一工作平台與第二工作平台間，而可供進料裝置將未燒錄之IC依序放置，再透過該送料裝置依序將燒錄完成之IC取起，進而可藉由該滾筒式燒錄裝置達到IC放置數量增加之功效，俾以達到生產數量提升之效果，又可達到生產速度提升之目的。

Description

滾筒式晶片燒錄檢測設備

本發明係有關於一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，尤指一種該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，又該每一平面部設有至少一燒錄器，並藉由該滾筒式燒錄裝置可軸設於第一工作平台與第二工作平台間，而可供進料裝置將未燒錄之IC依序放置，再透過該送料裝置依序將燒錄完成之IC取起，進而可藉由該滾筒式燒錄裝置達到IC放置數量增加之功效，俾以達到生產數量提升之效果，又可達到生產速度提升之目的。

習用之燒錄設備於機械手臂取放IC時，係由直線運動X軸搭載直線運動Y軸，執行水平座標定位後，再由Y軸搭載的直線運動Z軸執行垂直取起或放置IC後，X與Y運動軸便再移動至另一水平座標，之後Z軸又再執行垂直取起或放置IC，如此循序動作，因三軸共構無法並行處理操作程序，影響生產速度甚巨，且該習用之燒錄設備置為檢知IC在置入燒錄器前的位置偏移的情形，皆引用影像辨識組件，不僅加重Z軸機構的複雜度，間接也加劇X與Y運動軸的轉矩負荷，造成該製造成本增加之缺失，是故，習用之燒錄設備在各部位之進料、燒錄與送料等動作流程上皆有改進的空間；按，一般IC燒錄設備，係包含；一進料部，該進料部上設有 一進料吸嘴，以達到吸取未燒錄之IC，又該進料部係由一伺服馬達帶動，而使得該進料部可橫向移動輸送IC至置料部；一置料部，該置料部上有一置料座，該置料座係用於置放待燒錄之IC；複數燒錄器，其中燒錄器可卡扣IC；一位移臂，該位移臂係由伺服馬達帶動移位，又該位移臂具有一第一送料吸嘴，因此，當該置料座上置放IC時，該位移臂之第一送料吸嘴會向置料座轉動，準備吸取未燒錄之IC，當該第一送料吸嘴吸取置料座之未燒錄IC並依序移動至燒錄器上方置放，即等待燒錄完成，再透過該第一送料吸嘴將燒錄完成之IC吸取，並依序移動放置於置料座內，不斷重覆動作不斷進行燒錄與送出之工作，進而可達到IC燒錄之功效。

習用之IC燒錄設備，其雖可達到IC燒錄之功效，然卻因該位移臂係為單臂且平面式轉動，而使得該每一燒錄器需等待位移臂將IC放置後才可以達到燒錄之功效，進而造成燒錄時間大幅提升之缺失，且該位移臂可放置之燒錄器數量易受到空間之限制而造成燒錄器數量無法提升之缺失，進而使得習用之IC燒錄設備之IC放置數量有不足之情形，俾以導致IC生產數量無法提升、生產速度下降之情況；是故，如何將上述缺失加以摒除，即為本案發明人欲解決技術困難點之所在。

有鑑於現有之IC燒錄設備，因該有燒錄器數量無法提升、生產速度下降之缺失，因此本發明之目的在於提供一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，藉由該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，又該每一平面部設有至少一燒錄器，並藉由該滾筒式燒錄裝置可軸設於第一工作平台與第二工作 平台間，而可供進料裝置將未燒錄之IC依序放置，再透過該送料裝置依序將燒錄完成之IC取起，進而可藉由該滾筒式燒錄裝置達到IC放置數量增加之功效，俾以達到生產數量提升之效果，又可達到生產速度提升之目的。

為達成以上之目的，本發明係提供一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，其包含：燒錄設備，該燒錄設備內設有第一工作平台、第二工作平台、滾筒式燒錄裝置及取料裝置，又該第一工作平台設有第一置料部，該第一工作平台設有進料裝置，又該進料裝置設有橫向位移裝置，該位移裝置設有縱向位移裝置，又該縱向位移裝置設有第一取料吸嘴，該第二工作平台設有第二置料部，又該第二工作平台設有送料裝置，該送料裝置設有橫向位移裝置，又該位移裝置設有縱向位移裝置，該縱向位移裝置設有第二取料吸嘴，又該滾筒式燒錄裝置設有轉軸部，該滾筒式燒錄裝置軸設於第一工作平台與第二工作平台之間，又該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，該每一平面部設有至少一燒錄器，又該取料裝置位設於滾筒式燒錄裝置上方；本發明所提供滾筒式晶片燒錄檢測設備，藉由該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，又該每一平面部設有至少一燒錄器，並藉由該滾筒式燒錄裝置可軸設於第一工作平台與第二工作平台間，而可供進料裝置將未燒錄之IC依序放置，再透過該送料裝置依序將燒錄完成之IC取起，進而可藉由該滾筒式燒錄裝置達到IC放置數量增加之功效，俾以達到生產數量提升之效果，又可達到生產速度提升之目的。

10‧‧‧燒錄設備

20‧‧‧第一工作平台

201‧‧‧暫存置料座

202‧‧‧置料座位移裝置

203‧‧‧橫向位移裝置

204‧‧‧升降裝置

21‧‧‧第一置料部

22‧‧‧進料裝置

221‧‧‧橫向位移裝置

222‧‧‧縱向位移裝置

23‧‧‧第一取料吸嘴

30‧‧‧第二工作平台

301‧‧‧暫存置料座

31‧‧‧第二置料部

32‧‧‧送料裝置

321‧‧‧橫向位移裝置

322‧‧‧縱向位移裝置

33‧‧‧第二取料吸嘴

40‧‧‧滾筒式燒錄裝置

41‧‧‧平台部

42‧‧‧燒錄器

43‧‧‧轉軸部

50‧‧‧置料座

60‧‧‧未燒錄之IC

61‧‧‧燒錄完成之IC

70‧‧‧進料輸送帶

80‧‧‧送料輸送帶

90‧‧‧取料裝置

91‧‧‧橫向位移裝置

911‧‧‧取料吸嘴

第一圖係本發明之立體示意圖。

第二圖係本發明之內部立體示意圖。

第三圖係本發明其滾筒式燒錄裝置之立體示意圖。

第四圖係本發明其進料裝置之立體分解示意圖。

第五圖係本發明其置料座位移裝置之立體示意圖。

第六圖係本發明動作時之方塊示意圖。

第七圖係本發明其進料裝置動作時之使用狀態示意圖。

第八圖係本發明其橫向位移裝置的取料吸嘴取料時之動作示意圖。

第九圖係本發明其橫向位移裝置的取料吸嘴取料時之動作示意圖。

第十圖係本發明其送料裝置動作時之使用狀態示意圖。

第十一圖係本發明其置料座位移裝置動作前之使用狀態示意圖。

第十一圖係本發明其置料座位移裝置動作後之使用狀態示意圖。

第十三圖係本發明第二實施例之立體示意圖。

請參閱第一圖、第二圖所示，本發明係提供一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，其包含：燒錄設備10，該燒錄設備10內設有第一工作平台20、第二工作平台30、滾筒式燒錄裝置40、取料裝置90，又該第一工作平台20內設有置料座位移裝置202，且該第一工作平台20設有第一置料部21，該第一置料部21可設置於置料座位移裝置202上，而如第五圖所示，該第一工作平台20設有進料裝置22，又該進料裝置22設有橫向位移裝置221，該位移裝置設有 縱向位移裝置222，又該縱向位移裝置222設有第一取料吸嘴23，而如第四圖所示，該第二工作平台30內也可設有置料座位移裝置202，又該第二工作平台30設有第二置料部31，且該第二置料部31可設置於第二工作平台30其置料座位移裝置202上，又該第二工作平台30設有送料裝置32，該送料裝置32設有橫向位移裝置321，又該位移裝置設有縱向位移裝置322，該縱向位移裝置322設有第二取料吸嘴33，又該燒錄設備10內設有滾筒式燒錄裝置40，該滾筒式燒錄裝置40設有轉軸部43，又該滾筒式燒錄裝置40其轉軸部43軸設於第一工作平台20與第二工作平台30之間，該滾筒式燒錄裝置40環設有數個平面部，又該每一平面部插設有至少一燒錄器42，而如第三圖所示，該取料裝置90位設於滾筒式燒錄裝置40上方，又該取料裝置90設有橫向位移裝置91，又該橫向位移裝置91設有取料吸嘴911；請參閱第六圖所示，若使用者欲透過本發明進行IC燒錄時，請配合參閱第七圖、第八圖所示，即藉由本發明利用進料裝置22設有第一取料吸嘴23，而使得該第一取料吸嘴23可利用真空吸取將未燒錄之IC60由第一置料部21所放置之外部置料座50內取出，並藉由該第一工作平台20所設之進料裝置22設有橫向位移裝置221，又該橫向位移裝置221設有縱向位移裝置222，而使得該第一取料吸嘴23可上下移動吸取或放置IC，藉以移動未燒錄之IC60至第一平台20其暫存置料座201上，再透過該取料裝置90其橫向位移裝置91所設置之取料吸嘴911將未燒錄之IC60放置於滾筒式燒錄裝置40其燒錄器42上，以達到將未燒錄之IC60放置定位之功效，且藉由該滾筒式燒錄裝置40可自動轉動並定位，而使得該未燒錄之IC60可分別設於滾筒式燒錄裝置40其每一平台部41的燒錄器42上之效果，進而達到3D立體環 設有燒錄IC之效果，俾以達到IC放置數量增加，又可改善習用係將平面型運動方式，修改為本發明其滾筒式燒錄裝置40係摺疊成圓筒狀，以達到滾動式工作之功效，進而可使平移之進料裝置22與送料裝置32的手臂同動並行工作，以達到大幅減少取放料之距離及取放時間，再者，請參閱第九圖、第十圖所示，當該未燒錄之IC60經由燒錄器42完成燒錄行程燒錄完成之IC61時，再藉由該取料裝置90其橫向位移裝置91所設置之取料吸嘴911可將燒錄完成之IC61由滾筒式燒錄裝置40其燒錄器42以真空吸取方式吸起後，透過橫向位移裝置91橫向移動至第二平台30其暫存置料座301放置，並藉由本發明其第二工作平台30設有送料裝置32，該送料裝置32設有第二取料吸嘴33，即透過該第二取料吸嘴33可透過該送料裝置32其橫向位移裝置321與縱向位移裝置322達到第二取料吸嘴33上下移動之功效，而使得位設於第二平台30其暫存置料座301上燒錄完成之IC61可透過該第二取料吸嘴33利用真空吸取方式吸起，並將該燒錄完成之IC61可由滾筒式燒錄裝置40移動至第二置料部31上所設置之外部置料座50內，並重複動作不斷進行燒錄與送出之工作，而使得本發明可為多軸同動，並透過該滾筒式燒錄裝置40達到圓型運動之功效，進而縮短進料裝置22與送料裝置32的手臂移動時間，俾以達到生產速度、數量提升、效率增加之效果，又可使本發明可達到2D平面轉3D立體之立體化工作區域方式，以達到縮小工作面積之功效，因此，即可提供使用者增加工作機台放置數量提升之空間效果；請參閱第十一圖、第十二圖所示，藉由本發明其置料座位移裝置202的第一置料部21上可供置料座50放置，並藉由該置料座位移裝置202底端設有橫向位移裝置203，又該橫向位移裝置203設有升降裝置204， 且該置料座50係設置於升降裝置204上方，而使得當置料座50上所設置之未燒錄之IC60取完時，即可透過橫向位移裝置203可橫向移動置料座50，進而使得該置料座50可移動置另一處，此時，再藉由該橫向位移裝置203設有升降裝置204，而可供置料座50向上升起之功效，俾供作業人員取起置料座50空盤之效果，以達到自動化運作；請參閱第十三圖所示，係為本發明第二實施例，本發明其燒錄設備10進一步設有進料輸送帶70與送料輸送帶80，該進料輸送帶70可供進料裝置22其第一取料吸嘴23以真空吸取將未燒錄之IC60，又該送料輸送帶80可供送料裝置32其第二取料吸嘴33以真空吸取燒錄完成之IC61，而使得使用者欲透過本發明進行IC燒錄時，即可透過該第一取料吸嘴23可利用真空吸取將未燒錄之IC60由進料輸送帶70取出，進而將該未燒錄之IC60移動至暫存置料座201上，再透過該取料裝置90其橫向位移裝置91所設置之取料吸嘴911將未燒錄之IC60放置於滾筒式燒錄裝置40其燒錄器42上，以達到將未燒錄之IC60放置定位之功效，當該未燒錄之IC60經由燒錄器42完成燒錄行程燒錄完成之IC61時，再藉由該取料裝置90其橫向位移裝置91所設置之取料吸嘴911可將燒錄完成之IC61由滾筒式燒錄裝置40其燒錄器42以真空吸取方式吸起後，透過橫向位移裝置91橫向移動至第二平台30其暫存置料座301放置，即可透過該送料裝置32其第二取料吸嘴33將第二平台其暫存置料座301上所設置之燒錄完成之IC61可利用真空吸取方式吸起，並將該燒錄完成之IC61移動至送料輸送帶80上，並重複動作不斷進行燒錄與送出之工作，而使得該燒錄完成之IC61可藉由該送料輸送帶80後達到收集之功效，進而可達到生產速度、數量提升之效果； 惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例，當不能用以限定本發明可實施之範圍，凡習於本業之人士所明顯可作的變化與修飾，皆應視為不悖離本發明之實質內容。

為使本發明更加顯現出其進步性與實用性，茲與習用作一比較分析如下：

習用技術：

1、易受到空間之限制而造成燒錄器數量無法提升。

2、IC生產數量無法提升、生產速度下降。

本發明優點：

1、IC放置數量增加。

2、生產速度、數量提升。

10‧‧‧燒錄設備

20‧‧‧第一工作平台

30‧‧‧第二工作平台

40‧‧‧滾筒式燒錄裝置

Claims (9)

1. 一種滾筒式晶片燒錄檢測設備，其包含：燒錄設備，該燒錄設備內設有第一工作平台、第二工作平台、滾筒式燒錄裝置與取料裝置，又該第一工作平台設有第一置料部，該第一工作平台設有進料裝置，又該進料裝置設有橫向位移裝置，該位移裝置設有縱向位移裝置，又該縱向位移裝置設有第一取料吸嘴，該第二工作平台設有第二置料部，又該第二工作平台設有送料裝置，該送料裝置設有橫向位移裝置，又該位移裝置設有縱向位移裝置，該縱向位移裝置設有第二取料吸嘴，又該燒錄設備內設有滾筒式燒錄裝置，該滾筒式燒錄裝置設有轉軸部，又該滾筒式燒錄裝置其轉軸部軸設於第一工作平台與第二工作平台之間，該滾筒式燒錄裝置環設有數個平面部，又該每一平面部插設有至少一燒錄器，該取料裝置位設於滾筒式燒錄裝置上方，又該取料裝置設有橫向位移裝置，該橫向位移裝置設有取料吸嘴。
2. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該第一取料吸嘴、第二取料吸嘴與取料吸嘴利用真空吸取IC。
3. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該第一置料部進一步設有置料座。
4. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該第二置料部進一步設有置料座。
5. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該燒錄設備進一步設有進料輸送帶與送料輸送帶。
6. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該第一工作平台進一步設有置料座位移裝置。
7. 如請求項6所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該置料座位移裝置設有橫向位移裝置，又該橫向位移裝置設有升降裝置。
8. 如請求項1所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該第二工作平台進一步設有置料座位移裝置。
9. 如請求項8所述之滾筒式晶片燒錄檢測設備，其中該置料座位移裝置設有橫向位移裝置，又該橫向位移裝置設有升降裝置。