TW201535108A - 電腦檢測系統及方法 - Google Patents

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TW201535108A
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TW103105016A
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Min Yang
Xin-Shu Wang
Jian-Hung Hung
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Abstract

本發明提供一種電腦檢測系統，該系統包括一主機板及一顯示裝置，主機板包括第一電子元件、第二電子元件及控制處理晶片，控制處理晶片包括一檢測模組、一分析模組、一存儲模組及一上電模組，存儲模組存儲有對應不同上電狀態之代碼資料，上電模組於主機板接收到一開機訊號後對第一電子元件及第二電子元件上電，檢測模組檢測第一電子元件及第二電子元件之上電狀態並將上電狀態發送給分析模組，分析模組於根據存儲模組存儲之代碼資料判斷上電狀態異常後將對應上電狀態之代碼資料發送給顯示裝置進行顯示。本發明還提供一種電腦檢測方法。

Description

電腦檢測系統及方法
本發明涉及檢測領域，特別是關於一種電腦檢測系統及方法。
當前電腦應用廣泛，長時間之使用，電腦亦會出現一些故障，電腦如何檢修，則為現今面臨之一大問題。
業界出現許多用以偵測電腦工作狀態之調試系統，其中有一種調試卡，該卡插接於主機板之PCI(Peripheral Component Interconnection)插槽上，其包括一顯示裝置，該顯示裝置為複數發光二極體構成，該顯示裝置可顯示測試過程之數位記號，比如資料(Data)、位元址(Address)、指令(Command)及位元元組使能(BE#)等。然而，該調試卡無法檢測出哪些元件是否上電，這樣對電腦檢測不夠完整。
鑒於以上內容，有必要提供一種能檢測元件是否上電之電腦檢測系統及方法。
一種電腦檢測系統，包括一主機板及一顯示裝置，所述主機板包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理晶片，所述第一電子元件及一第二電子元件連接所述控制處理晶片，所述控制處理晶片包括一檢測模組、一分析模組、一存儲模組及一上電模組，所述存儲模組存儲有對應不同上電狀態之代碼資料，所述上電模組於所述主機板接收到一開機訊號後對所述第一電子元件及所述第二電子元件上電，所述檢測模組檢測所述第一電子元件及所述第二電子元件之上電狀態並將所述上電狀態發送給所述份分析模組，所述分析模組於根據所述存儲模組存儲之代碼資料判斷所述上電狀態異常後將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置進行顯示。
一種電腦檢測方法，應用於一電腦中，所述電腦包括一主機板及一顯示裝置，所述主機板包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理晶片，所述電腦檢測方法包括如下步驟：所述控制處理晶片於所述主機板接收到一開機訊號後對所述第一電子元件及所述第二電子元件上電；所述控制處理晶片檢測所述第一電子元件及所述第二電子元件之上電狀態；所述控制處理晶片根據存儲之對應不同上電狀態之代碼資料判斷所述上電狀態異常後將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置進行顯示。
與習知技術相比，於上述電腦檢測系統中，所述控制處理晶片對所述電子元件上電，並檢測電子元件之上電狀態，當電子元件上電異常時，將對應上電異常之代碼資料顯示於顯示裝置上。所述電腦檢測系統能顯示電子元件之上電狀態，從而給檢測者更多之檢測資訊。
圖1是本發明電腦檢測系統較佳實施方式之原理框圖。
圖2是本發明電腦檢測方法較佳實施方式之流程圖。
請參閱圖1，一電腦檢測系統，應用於一電腦中，包括一主機板20及一顯示裝置30。所述主機板20包括一主機板本體21、一電性連接所述主機板本體21之BIOS晶片23、一電性連接所述主機板本體21之第一電子元件25、一電性連接所述主機板本體21之第二電子元件27及一控制處理晶片29。於本實施例中，所述顯示裝置30為一數位管組合，所述顯示裝置30可以設置於一插接卡上，所述插接卡插接於所述主機板20上並與所述控制處理晶片29電性連接。
所述控制處理晶片29包括一檢測模組291、一分析模組293、一存儲模組295及一上電模組297。所述第一電子元件25及一第二電子元件27連接所述控制處理晶片29。
所述存儲模組295存儲有對應不同上電狀態之代碼資料，所述上電模組297用在於所述主機板20接收到一開機訊號後對所述第一電子元件25及所述第二電子元件27進行上電，所述檢測模組291用於檢測所述第一電子元件25及所述第二電子元件27之上電狀態，並將上電狀態發送給所述分析模組293，所述分析模組293根據所述存儲模組295存儲之代碼資料判斷所述上電狀態是否正常，若異常，將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置13進行顯示。
所述BIOS晶片23存儲有開機自檢程式，所述主機板20接收到開機訊號後進行運行所述開機自檢程式進行開機自檢，當檢查出問題時，所述分析模組293從所述BIOS晶片23獲取自檢錯誤代碼並於所述顯示裝置13上顯示。
請參閱圖2，一種電腦檢測方法，包括如下步驟：
S201，所述控制處理晶片29之上電模組297於所述主機板20接收到開機訊號後對所述第一電子元件25及所述第二電子元件27上電；
S202，所述檢測模組291檢測所述第一電子元件25及所述第二電子元件27之上電狀態，並將上電狀態發送給所述分析模組293；
S203，所述分析模組293根據所述存儲模組295存儲之代碼資料判斷所述上電狀態是否正常，若異常，將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置30進行顯示。
於所述檢測方法中，所述主機板20接收到開機訊號後進行開機自檢，當檢查出問題時，所述控制處理晶片29之分析模組293從所述BIOS晶片23獲取自檢錯誤代碼並於所述顯示裝置30上顯示。
對本領域之技術人員來說，可以根據本發明之發明方案和發明構思結合生產之實際需要做出其他相應之改變或調整，而該等改變和調整均應屬於本發明權利要求之保護範圍。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之請求項。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下請求項內。
20‧‧‧主機板
21‧‧‧主機板本體
23‧‧‧BIOS晶片
25‧‧‧第一電子元件
27‧‧‧第二電子元件
29‧‧‧控制處理晶片
291‧‧‧檢測模組
293‧‧‧分析模組
295‧‧‧存儲模組
297‧‧‧上電模組
30‧‧‧顯示裝置
無
20‧‧‧主機板
21‧‧‧主機板本體
23‧‧‧BIOS晶片
25‧‧‧第一電子元件
27‧‧‧第二電子元件
29‧‧‧控制處理晶片
291‧‧‧檢測模組
293‧‧‧分析模組
295‧‧‧存儲模組
297‧‧‧上電模組
30‧‧‧顯示裝置

Claims (7)

  1. 一種電腦檢測系統，包括一主機板及一顯示裝置，所述主機板包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理晶片，所述第一電子元件及一第二電子元件連接所述控制處理晶片，所述控制處理晶片包括一檢測模組、一分析模組、一存儲模組及一上電模組，所述存儲模組存儲有對應不同上電狀態之代碼資料，所述上電模組用於所述主機板接收到一開機訊號後對所述第一電子元件及所述第二電子元件上電，所述檢測模組用於檢測所述第一電子元件及所述第二電子元件之上電狀態並將所述上電狀態發送給所述份分析模組，所述分析模組於根據所述存儲模組存儲之代碼資料判斷所述上電狀態異常後將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置進行顯示。
  2. 如請求項第1項所述之電腦檢測系統，其中所述電腦檢測系統還包括一存儲有開機自檢程式之BIOS晶片，於所述主機板接收到所述開機訊號後進行開機自檢，所述分析模組於所述主機板檢查出問題時從所述BIOS晶片獲取自檢錯誤代碼並將所述自檢錯誤代碼顯示於所述顯示裝置上。
  3. 如請求項第1項所述之電腦檢測系統，其中所述顯示裝置包括一數位管組合。
  4. 如請求項第1項所述之電腦檢測系統，其中所述主機板包括一主機板本體，所述第一電子元件、所述第二電子元件及所述控制處理晶片均電性連接所述主機板本體。
  5. 一種電腦檢測方法，應用於一電腦中，所述電腦包括一主機板及一顯示裝置，所述主機板包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理晶片，所述電腦檢測方法包括如下步驟：
    所述控制處理晶片於所述主機板接收到一開機訊號後對所述第一電子元件及所述第二電子元件上電；
    所述控制處理晶片檢測所述第一電子元件及所述第二電子元件之上電狀態；
    所述控制處理晶片根據存儲之對應不同上電狀態之代碼資料判斷所述上電狀態異常後將對應所述上電狀態之代碼資料發送給所述顯示裝置進行顯示。
  6. 如請求項第5項所述之電腦檢測方法，其中所述主機板接收到所述開機訊號後進行開機自檢，所述控制處理晶片於所述主機板檢查出問題時從所述主機板之BIOS晶片獲取自檢錯誤代碼並將所述自檢錯誤代碼顯示於所述顯示裝置上。
  7. 如請求項第5項所述之電腦檢測方法，其中所述顯示裝置包括一數位管組合。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI727323B (zh) * 2019-01-30 2021-05-11 鴻齡科技股份有限公司 返修板檢測裝置、方法及電腦可讀取存儲介質

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