TW201523010A - 檢測系統的運作方法 - Google Patents

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Abstract

一種檢測系統的運作方法，該檢測系統具有一檢測機以及一探針模組，且該探針模組一第一探針組及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組其中之一者可與該檢測機連接；該運作方法包含有下列步驟：先連接該檢測機與該第一探針組，並校正該檢測系統後，將該第一探針組與一待測物接抵，並對該待測物進行電性檢測；而後，將該第一探針組與該待測物分離，並分離該檢測機與該第一探針組；之後，連接該檢測機與該第二探針組，並重新校正該檢測系統，且將該第二探針組與該待測物接抵，以對該待測物進行電性檢測。

Description

檢測系統的運作方法
本發明係與檢測系統有關；特別是指一種檢測系統的運作方法。
按，隨著電子產品發展日漸蓬勃，為確保電子產品出廠時的品質，製造、組裝及出廠前，通常都會透過檢測系統檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實。
而為使檢測能更加準確，檢測系統組裝好探針組後，會先將其探針接抵於一校正片上，進行檢測數值的補償(如歸零)。然而，此種運作方法僅於測試初始時執行，且之後因應不同測試需求而更換探針時，仍以初始的檢測數值進行補償，而易有誤差產生，導致測試結果不夠精準。
有鑑於此，本發明之目的用於提供一種檢測系統的運作方法，可使每次更換探針組後，皆能具有準確的檢測結果。
緣以達成上述目的，本發明有一種提供檢測系統的運作方法，該檢測系統具有一檢測機以及一探針模組，且該探針模組一第一探針組以及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組其中之一者可與該檢測機電性連接；該運作方法包含有下列步驟：A.連接該檢測機與該第一探針組； B.校正該檢測系統；C.將該第一探針組與一待測部位接抵，並對該待測部位進行電性檢測；D.將該第一探針組與該待測物分離；E.分離該檢測機與該第一探針組；F.連接該檢測機與該第二探針組；G.重新校正該檢測系統。
藉此，透過每次更換探針組後，便即時進行校正之設計，便可使該檢測系統所得之檢測結果更加地準確。
10‧‧‧檢測機
12‧‧‧導線
121‧‧‧公接頭
30‧‧‧探針組
34a‧‧‧第一探針組
34b‧‧‧第二探針組
341‧‧‧母接頭
342‧‧‧母接頭
圖1為檢測系統之架構圖。
圖2為本發明之運作方法的流程圖。
為能更清楚地說明本發明，茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1所示，檢測系統包含有依序電性連接之一檢測機10以及一探針模組30，該檢測機10上設有一同軸之導線12，且該導線12一端設有一以導體製成的公接頭121。該探針組30則包含有不同量測間距的一第一探針組34a與一第二探針組34b，且該第一探針組34a與該第二探針組34b上分別設有一以導體製成的母接頭341、342。如此一來，該檢測機10便可依據量測點之間距須求，將該導線12上之公接頭121與該第一探針組34a或該第二探針組34b上的母接頭341、342連接，使得該第一 探針組34a或該第二探針組34b可透過該導線12與該檢測機10電性連接。當然，在其他實施態樣中，除使用可重覆插拔的公母接頭之設計外，亦可透過如夾具或其它可進行重覆結合與分離之結構設計來達到連接之目的。
藉此，請參閱圖2，當該檢測系統欲進行檢測時，便可執行以下運作方法來確保檢測時的準確度，而該運作方法包含有下列步驟：
A.連接該導線12上之公接頭121與該第一探針組34a上的母接頭341，使該導線12與該第一探針組34a電性連接。
B.校正該檢測系統。於本實施例中，係利用將該第一探針組34a的針尖分次接抵於一校正片(圖未示)的短路接點、斷路接點以及阻抗接點上以進行對應短路量測、斷路量測以及阻抗量測，並依據量測所得之數值進行對應之數值校正(如歸零、數值偏移補償等)，以達到校正該檢測系統之目的。
C.將該第一探針組34a的針尖與一待測物之待測部位接抵，而後，該檢測機10產生檢測訊號將透過該導線12傳導予該第一探針組34a，而將檢測訊號輸出至該待測物後，再回傳至該第一探針組34a，並再透過該導線12傳導回該檢測機10而形成一訊號迴路。如此一來，該檢測機10便可依據回傳的測試訊號判定該待測部位電氣特性是否正常，進而達到對該待測物進行電性檢測之目的。
D.檢測完前述之該待測部位後，則將該第一探針組34a的針尖與該待測物分離。
E.而後，當該檢測系統欲檢測該待測物之另一待測部位，而該另一待測部位之量測間距與於步驟C之待測部位之量測間距不同時，則將該第一探針組34a上的母 接頭341與該導線12上之公接頭121分離，使該第一探針組34a與該導線12之間呈現斷路。
F.連接該導線12上之公接頭121與該第二探針組34b，使該導線12與該第二探針組34b電性連接。
G.將該第二探針組34b之針尖分次接抵於該校正片的短路接點、斷路接點以及阻抗接點上以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測，並依據量測所得之數值進行對應之數值校正(如歸零、數值偏移補償等)，藉以重新校正該檢測系統。
H.校正完成後，便可將該第二探針組34b與該待測物之該另一待測部位接抵，而後，該檢測機10產生檢測訊號將透過該導線12傳導予該第二探針組34b，而將檢測訊號輸出至該待測物後，再回傳至該第二探針組34b，並再透過該導線12傳導回該檢測機10而形成一訊號迴路，該檢測機10便可依據回傳的測試訊號判定該另一待測部位電氣特性是否正常，進而達到對該待測物進行電性檢測之目的。
藉此，透過上述之方法設計，檢測系統在每次更換探針組34a、34b後，便可即時地進行數值校正，如此一來，便可避免各探針組34a、34b間的電氣特性差異造成量測結果產生誤差，進而使該檢測系統所得之檢測結果能更加地準確。
當然，在實際實施上，探針組初始的設定通常都是符合標準的，而使得上述之步驟H之電性檢測步驟，亦可在步驟F之後、步驟G之前執行，並當檢測出之良率持續過低時，再進行步驟G之校正流程即可。此外，本發明除適用於兩組探針組34a、34B的檢測系統外，亦可適用於其他具有三組以上探針組的檢測系統。另外，以上所述僅 為本發明較佳可行實施例而已，舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化，理應包含在本發明之專利範圍內。

Claims (10)

  1. 一種檢測系統的運作方法，該檢測系統具有一檢測機以及一探針模組，且該探針模組一第一探針組以及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組其中之一者可與該檢測機電性連接；該運作方法包含有下列步驟：A.電性連接該檢測機與該第一探針組；B.校正該檢測系統；C.將該第一探針組與一待測部位接抵，並對該待測部位進行電性檢測；D.將該第一探針組與該待測物分離；E.電性分離該檢測機與該第一探針組；F.電性連接該檢測機與該第二探針組；G.重新校正該檢測系統。
  2. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，該檢測機上設有一導線，且於步驟A.中，係連接該導線與該第一探針組，使該檢測機與該第一探針組電性連接；且於步驟E.中，係分離該導線與該第一探針組，使該檢測機與該第一探針組電性分離。
  3. 如請求項2所述檢測系統的運作方法，其中，該導線一端具有一公接頭，而該第一探針組具有一對應之母接頭，且於步驟A.中，係連接該公接頭與該母接頭，使該導線與該第一探針組連接；且於步驟E.中，係分離該公接頭與該母接頭，使該導線與該第一探針組分離。
  4. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，於步驟B.中，係利用將該第一探針組接抵於一校正片上以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測至少其中之一者，並依據量測所得之數值進行對應之補償以校正該檢測系統。
  5. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，該檢測機上設有一導線，且於步驟F.中，係連接該導線與該第二探針組，使該檢測機與該第二探針組電性連接。
  6. 如請求項2所述檢測系統的運作方法，其中，該導線一端具有一公接頭，而該第二探針組具有一對應之母接頭，且於步驟F.中，係連接該公接頭與該母接頭，使該導線與該第二探針組連接。
  7. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，於步驟F.中，係利用將該第二探針組接抵於一校正片上以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測至少其中之一者，並依據量測所得之數值進行對應之補償，以校正該檢測系統。
  8. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，於步驟G之後，更包含有一步驟H，係將該第二探針組與另一待測部位接抵，並對該另一待測部位進行電性檢測。
  9. 如請求項1所述檢測系統的運作方法，其中，於步驟F之後，且於步驟G之前，更包含有一步驟H，係將該第二探針組與另一待測部位接抵，並對該另一待測部位進行電性檢測。
  10. 如請求項8或9所述檢測系統的運作方法，其中，該第一探針組以及該第二探針組係適用於不同量測間距，且步驟C與步驟H係量測同一待測物上不同的待測部位。
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