TW201506754A - 觸控檢測裝置、附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 - Google Patents

觸控檢測裝置、附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 Download PDF

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Abstract

本發明係可維持觸控檢測之良好之檢測感度及良好之位置檢測精度，且可謀求檢測速度之提高。 本發明揭示之觸控檢測裝置1包含：複數個驅動區域L、R，其等具有複數個驅動電極COML、及複數個觸控檢測電極TDL，該等複數個驅動電極COML朝向X方向延伸，且朝向與X方向交叉之Y方向排列，並且被施加用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之驅動信號Vcom，該等複數個觸控檢測電極TDL朝向Y方向延伸，且朝向X方向排列，並且輸出對應於與驅動電極COML之間產生之靜電電容之變化之觸控檢測信號Vdet；以及控制部11，其於對存在於干涉部66之驅動電極COML施加驅動信號Vcom之時序，停止對存在於複數個驅動區域L、R中之與干涉部66鄰接之驅動區域且除被施加驅動信號Vcom之驅動電極COML外之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。

Description

觸控檢測裝置、附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器
本揭示係關於一種可檢測自外部接近之對象物之觸控檢測裝置、附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，被稱為所謂之觸控面板之可將自外部接近之物體檢測為對象物之觸控檢測裝置受到關注。觸控檢測裝置可被用作如下之裝置：例如藉由與顯示裝置組合使各種輸入用圖像等顯示於顯示裝置，而用來輸入資訊。如此，藉由將觸控檢測裝置與顯示裝置組合，可不使用如鍵盤、滑鼠或鍵板之輸入裝置而實現資訊之輸入。
作為觸控檢測裝置之方式，存在光學式、電阻式、靜電電容式等。靜電電容式觸控檢測裝置為相對簡單之構造，且可實現低耗電。對觸控檢測裝置要求儘可能確實地檢測對象物之接近或接觸。作為觸控檢測裝置，例如已知有專利文獻1中所記載者。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2007-172028號公報
於觸控檢測裝置中，檢測感度、位置檢測精度、及檢測速度(報告速率)分別呈取捨之關係。即，為了提高檢測感度，必須設置儘可能多之檢測電路，為了提高位置檢測精度，必須設置儘可能多之電 極。若設置較多之檢測電路及電極，則存在檢測時間及驅動時間變長，檢測速度變慢之可能性。
本揭示之目的在於維持觸控檢測之良好之檢測感度及良好之位置檢測精度，且謀求檢測速度之提高。
本揭示之觸控檢測裝置包含：第1驅動區域及第2驅動區域，其等具有複數個驅動電極、及複數個檢測電極，該等複數個驅動電極朝向第1方向延伸，且朝向與上述第1方向交叉之上述第2方向排列，被施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號，該等複數個檢測電極朝向上述第2方向延伸，且朝向上述第1方向排列，輸出作為對應於與上述驅動電極之間產生之靜電電容之變化之信號的檢測信號，且該等第1驅動區域及第2驅動區域排列於第2方向且鄰接；鄰接之上述第1驅動區域與上述第2驅動區域之間之邊界；以及包含於上述第1驅動區域之第1特定區域及包含於上述第2驅動區域之第2特定區域；且上述第1特定區域與上述第2特定區域隔著上述邊界而面對，於對存在於上述第1特定區域之驅動電極施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第2驅動區域之驅動電極施加驅動信號，於對上述第2特定區域施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第1驅動區域之驅動電極施加驅動信號。又，本揭示之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器包括該觸控檢測裝置。
本揭示之觸控檢測裝置、及包括該觸控檢測裝置之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器於對屬於第1驅動區域之第1特定區域、或屬於第2驅動區域之第2特定區域之一者之驅動電極施加驅動信號時，即便在該驅動電極之電場超過邊界之情形時，其他驅動區域亦處於停止中，故可降低對其他驅動區域之觸控檢測動作造成影響之可能性。其結果，本揭示可維持觸控檢測之良好之檢測感度及良好之位置 檢測精度。又，本揭示可於相同之時序對存在於第1驅動區域及第2驅動區域之各個驅動電極施加驅動信號。其結果，本揭示可縮短觸控檢測裝置整體之觸控檢測所需之時間，因此可謀求檢測速度之提高。
根據本揭示，可維持觸控檢測之良好之檢測感度及良好之位置檢測精度，且謀求檢測速度之提高。
1‧‧‧觸控檢測裝置
1A‧‧‧觸控檢測裝置
1B‧‧‧觸控檢測裝置
1C‧‧‧觸控檢測裝置
1D‧‧‧觸控檢測裝置
1E‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1H‧‧‧1顯示水平期間
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
9‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
10‧‧‧顯示部
10E‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示部
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
14‧‧‧驅動電極驅動器
19‧‧‧COG
19A‧‧‧COG
19B‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示部
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
30‧‧‧觸控檢測部
31‧‧‧玻璃基板
32‧‧‧濾色器
32B、32G、32R‧‧‧顏色區域
35A‧‧‧偏光板
35B‧‧‧入射側偏光板
40‧‧‧觸控檢測處理部
42‧‧‧類比LPF部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標擷取部
46‧‧‧檢測時序控制部
51‧‧‧第1驅動區域
52‧‧‧第2驅動區域
53‧‧‧驅動部
53A‧‧‧第1驅動部
53B‧‧‧第2驅動部
55‧‧‧區塊
56‧‧‧區塊
57‧‧‧區塊
60‧‧‧驅動IC
65‧‧‧邊界
66‧‧‧干涉部
67L‧‧‧獨立部
67R‧‧‧獨立部
70‧‧‧邊界
71‧‧‧干涉部
72‧‧‧干涉部
73‧‧‧干涉部
75‧‧‧干涉部
76‧‧‧獨立部
77‧‧‧獨立部
78‧‧‧第1驅動區域
79‧‧‧第2驅動區域
80‧‧‧邊界
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧閃光用發光部
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單開關
524‧‧‧快門按鈕
531‧‧‧本體部
532‧‧‧被攝體拍攝用透鏡
533‧‧‧開始/停止開關
534‧‧‧顯示部
541‧‧‧本體
542‧‧‧鍵盤
543‧‧‧顯示部
551‧‧‧上側殼體
552‧‧‧下側殼體
553‧‧‧連結部
554‧‧‧顯示器
601‧‧‧殼體
602‧‧‧觸控面板
A‧‧‧觸控檢測期間
B‧‧‧顯示期間
C1‧‧‧電容元件
C1'‧‧‧電容元件
C2‧‧‧靜電電容
COML‧‧‧驅動電極
D‧‧‧介電體
DET‧‧‧電壓檢測器
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧觸控檢測電極
GCL‧‧‧掃描信號線
I0‧‧‧電流
I1‧‧‧電流
L、R‧‧‧驅動區域
L‧‧‧長邊方向
L0~Lm、R0~Rn‧‧‧區塊
LC‧‧‧液晶元件
OUT_L、OUT_R‧‧‧輸出
Pix‧‧‧像素
Reset‧‧‧設置期間
S‧‧‧交流信號源
S‧‧‧短邊方向
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧像素信號線
SPix‧‧‧副像素
T‧‧‧端子部
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Tr‧‧‧TFT元件
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
Vcom‧‧‧驅動信號
Vcom(m-1)‧‧‧驅動信號
Vcomt‧‧‧觸控驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vpix‧‧‧像素信號
Vout‧‧‧輸出信號
Vscan、Vscan(n-1)‧‧‧掃描信號
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
Z‧‧‧方向
|△V|‧‧‧絕對值
圖1係實施形態1之觸控檢測裝置之圖。
圖2係分解表示實施形態之觸控檢測裝置之立體圖。
圖3係表示為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指未接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之說明圖。
圖4係表示圖3所示之手指未接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖5係表示為了說明檢測觸控動作之原理，手指接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之說明圖。
圖6係表示圖5所示之手指接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖7係表示觸控檢測用信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
圖8A係表示實施形態1之觸控檢測裝置之干涉部之一例的圖。
圖8B係表示實施形態1之觸控檢測裝置之干涉部之另一例的圖。
圖9係表示驅動電極之各區塊之驅動順序之圖。
圖10係表示驅動實施形態1之觸控檢測裝置之各驅動區域中之一驅動區域的干涉部之情況之圖。
圖11係表示驅動實施形態1之觸控檢測裝置之各驅動區域之另一驅動區域的干涉部之情況之圖。
圖12係表示於實施形態2之觸控檢測裝置中，複數個區塊同時被 驅動之情況之圖。
圖13係表示於實施形態2之觸控檢測裝置中，複數個區塊同時被驅動之情況之圖。
圖14係表示實施形態3之觸控檢測裝置之圖。
圖15係表示實施形態4之觸控檢測裝置之圖。
圖16係表示實施形態5之觸控檢測裝置之圖。
圖17係表示實施形態5之觸控檢測裝置之圖。
圖18係實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之方塊圖。
圖19係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖20係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖21係表示附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖22係表示附有觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。
圖23係表示實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。
圖24係表示安裝有變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖25係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
圖26係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
圖27係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
圖28係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的 圖。
圖29係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
圖30係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
圖31係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。
一面參照圖式，一面按照以下所示之順序詳細地對用以實施本揭示之形態(實施形態)進行說明。
1.實施形態
1-1.實施形態1
1-2.實施形態2
1-3.實施形態3
1-4.實施形態4
1-5.實施形態5
1-6.實施形態6
2.應用例
3.本揭示之構成
1.實施形態 <1-1.實施形態1>
圖1係實施形態1之觸控檢測裝置之圖。圖2係分解表示實施形態之觸控檢測裝置之立體圖。觸控檢測裝置1係所謂之靜電電容方式之觸控檢測裝置。觸控檢測裝置1包含複數個驅動電極COML、及與複數個驅動電極COML交叉(包含立體交叉)設置之複數個作為檢測電極之觸控檢測電極TDL。複數個驅動電極COML排列於1個平面。複數 個觸控檢測電極TDL排列於與排列複數個驅動電極COML之平面不同之平面。將配置複數個驅動電極COML之平面、及與排列複數個驅動電極COML之平面平行之平面設為X-Y平面。X-Y平面係以X軸及Y軸為座標軸且由該等X軸及Y軸界定之平面。X軸與Y軸正交。將與X軸及Y軸正交之軸設為Z軸。
各個驅動電極COML係朝向第1方向(於本實施形態中為X軸方向)延伸，且朝向與第1方向交叉之第2方向(於本實施形態中為Y軸方向)排列。各個驅動電極COML被施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號Vcom。驅動信號Vcom係由與各個驅動電極COML電性連接之驅動部53施加。驅動部53被控制部11控制。於本實施形態中，第1方向與第2方向正交，但並不限定於此，兩者只要交叉即可。
複數個觸控檢測電極TDL朝向第2方向(於本實施形態中為Y軸方向)延伸，且朝向第1方向(於本實施形態中為X軸方向)排列。各個觸控檢測電極TDL與複數個驅動電極COML保持特定之間隔而交叉、即立體交叉。複數個觸控檢測電極TDL輸出作為對應於與驅動電極COML之間產生之靜電電容之變化之信號的檢測信號(以下，稱為觸控檢測信號)Vdet。以下，將第1方向適當地稱為X方向，將第2方向適當地稱為Y方向。
於本實施形態中，各個驅動電極COML及各個觸控檢測電極TDL於俯視時即自Z軸方向觀察之情形時為長方形。驅動電極COML之X方向之尺寸大於Y方向之尺寸。觸控檢測電極TDL之Y方向之尺寸大於X方向之尺寸。驅動電極COML及觸控檢測電極TDL之形狀並不限定於長方形。
於驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之電極圖案交叉之部分，產生靜電電容。各個觸控檢測電極TDL分別電性連接於觸控檢測處理 部40之輸入部。於圖1中，為了方便說明，觸控檢測處理部40分為2個，但可為1個，亦可為複數個。觸控檢測處理部40被控制部11控制。觸控檢測電極TDL與驅動電極COML交叉之部分之靜電電容之變化被作為觸控檢測信號Vdet而輸入至觸控檢測處理部40。觸控檢測處理部40係基於觸控檢測信號Vdet，檢測驅動電極COML與觸控檢測電極TDL交叉之部分中之靜電電容已發生變化之部分。觸控檢測處理部40係基於觸控檢測信號Vdet，特定出對象物接觸或接近觸控檢測裝置1之位置。以下，將對象物接觸或接近觸控檢測裝置1之情形適當地稱為觸控。
本實施形態中，驅動電極COML與觸控檢測電極TDL立體交叉，基於兩者對向之部分之靜電電容之變化而檢測觸控，但產生靜電電容之位置並不限定於兩者對向之部分。例如，觸控檢測裝置1亦可將自驅動電極COML引出之導體、及自觸控檢測電極TDL引出之導體配置於同一平面，基於產生於兩個導體之間之靜電電容而檢測觸控。即，觸控檢測裝置1只要基於產生於驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之靜電電容而檢測觸控即可。其次，對觸控檢測裝置1檢測觸控之原理之一例進行說明。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
圖3係表示為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，手指未接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之說明圖。圖4係表示圖3所示之手指未接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。圖5係表示為了說明檢測觸控動作之原理，手指接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之說明圖。圖6係表示圖5所示之手指接觸或接近觸控檢測裝置之狀態之等效電路之例的說明圖。圖7係表示觸控檢測用信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。觸控檢測部30基於靜電電容型觸控檢測之基本原理而進行動作，輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，對本實施形態之 觸控檢測裝置1之觸控檢測之基本原理進行說明。
例如，如圖3及圖5所示，電容元件C1包括隔著介電體D而彼此對向配置之一對電極即驅動電極E1、及觸控檢測電極E2。如圖4及圖6所示，電容元件C1之一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端連接於電壓檢測器(觸控檢測處理部)DET。電壓檢測器DET例如為積分電路。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定之頻率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則經由連接於觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側之電壓檢測器DET而出現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。再者，該交流矩形波Sg相當於下文將述之觸控驅動信號Vcomt。
如圖3及圖4所示，於手指未接觸(或接近)之狀態(非接觸狀態)下，伴隨對電容元件C1之充放電而流通與電容元件C1之電容值對應之電流I0。如圖7所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I0之變動轉換為電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，如圖5所示，於手指接觸(或接近)之狀態(接觸狀態)下，因手指而形成之靜電電容C2與觸控檢測電極E2相接或處於其附近，藉此遮斷處於驅動電極E1與觸控檢測電極E2之間之邊緣部分之靜電電容，而作為電容值小於電容元件C1之電容值之電容元件C1'而發揮作用。而且，若根據圖6所示之等效電路而觀察，則電流I1流入至電容元件C1'。如圖7所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換為電壓之變動(虛線之波形V1)。於該情形時，波形V1之振幅與上述波形V0相比變小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差之絕對值|△V|根據手指等自外部接近之物體之影響而變化。再者，電壓檢測器DET為了精度良好地檢測波形V0與波形V1之電壓差之絕對值|△V|，更佳為藉由電路內之切換，進行設置有根據交流矩形波Sg之 頻率而重設電容器之充放電之期間Reset之動作。觸控檢測裝置1檢測觸控之原理並不限定於此。
圖18所示之觸控檢測部30係根據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(下文將述之觸控驅動信號Vcomt)，以1檢測區塊為單位依次掃描或同時掃描複數個區塊而進行觸控檢測。
觸控檢測部30係自複數個下文將述之觸控檢測電極TDL經由圖4或圖6所示之電壓檢測器DET而輸出觸控檢測信號Vdet，並將其供給至觸控檢測處理部40之類比LPF(Low Pass Filter，低通濾波器)部42。
A/D(Analog to Digital，類比/數位)轉換部43係如下之電路：於與驅動信號Vcom同步之時序，分別對自類比LPF部42輸出之類比信號進行取樣並將其轉換為數位信號。
信號處理部44包括減少包含於A/D轉換部43之輸出信號之除對驅動信號Vcom進行取樣之頻率外之頻率成分(雜訊成分)之數位濾波器。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號而檢測有無對觸控檢測部30之觸控之邏輯電路。信號處理部44進行僅取出因手指產生之電壓之差量之處理。該因手指產生之電壓之差量為上述波形V0與波形V1之差之絕對值|△V|。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值|△V|平均化之運算而求出絕對值|△V|之平均值。藉此，信號處理部44可減少因雜訊產生之影響。信號處理部44將檢測到之因手指產生之電壓之差量與特定之閾值電壓進行比較，若電壓之差量為該閾值電壓以上，則判斷為自外部接近之外部接近物體為接觸狀態，若電壓之差量未達閾值電壓，則判斷為外部接近物體之非接觸狀態。以此方式，觸控檢測處理部40可實現觸控檢測。
座標擷取部45係於在信號處理部44檢測到觸控時，求出其觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46係以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標擷取部45同步地動作之方式進行控制。座標擷取部45 將觸控面板座標作為信號輸出Vout而輸出。
其次，對觸控檢測裝置1包含之複數個驅動區域L、R進行說明。於本實施形態中，觸控檢測裝置1包含2個驅動區域L、R，但該等驅動區域L、R之數量並不限定於2個。各個驅動區域L、R具有複數個驅動電極COML、及複數個觸控檢測電極TDL。驅動區域L具有以符號L0~Lm(m為整數)表示之複數個驅動電極COML。驅動區域R具有以符號R0~Rn(n為整數)表示之複數個驅動電極COML。以下，將驅動電極COML適當地稱為區塊L0~Lm、R0~Rn。驅動區域L、R及觸控檢測電極TDL之數量並無限定。
驅動區域L、R係朝向Y方向並排。驅動區域L與驅動區域R被邊界65劃分。邊界65係配置於驅動區域L之與驅動區域R鄰接之部分之區塊L11、與配置於驅動區域R之與驅動區域L鄰接之部分之區塊R11之間的部分。驅動區域L、R藉由控制部11而分別獨立地被驅動。控制部11係經由驅動部53而個別獨立地對驅動區域L、R施加驅動信號Vcom。而且，控制部11係針對每個驅動區域L、R而獨立地驅動存在於各個驅動區域L、R之驅動電極COML之區塊L0~Lm、R0~Rn。例如，控制部11經由驅動部53而自驅動區域L之區塊L0向L11依次施加驅動信號Vcom，並且自驅動區域R之區塊R0向R11依次施加驅動信號Vcom。此時，控制部11同時對驅動區域L之區塊L0及驅動區域R之區塊R0施加驅動信號Vcom。
觸控檢測裝置1於觸控檢測時對驅動區域R及驅動區域L之各區塊R0~Rn及各區塊L0~Lm依次驅動。然而，若控制部11對存在於驅動區域R與驅動區域L之邊界65之附近之區塊(例如，區塊Lm、Rm等，以下將區塊Lm、Rm適當地稱為區塊L11、R11)施加驅動信號Vcom，則存在如下情形：如圖1之箭頭所示，驅動區域R與驅動區域L之邊界65附近之區塊(於本例中為區塊L11、R11)之電場超過驅動區域R與驅 動區域L之邊界65。其結果，存在如下可能性：觸控檢測處理部40及控制部11難以特定出為與驅動電極COML之哪一區塊對應之觸控檢測信號Vdet。
例如，於控制部11驅動圖1所示之驅動區域R之區塊R11及驅動區域L之區塊L11的情形時，如圖1中之箭頭所示，區塊R11之電場亦對相同之驅動區域R之區塊R10及鄰接之驅動區域L之區塊L11造成影響。存在如下情形：於觸控檢測處理部40及控制部11檢測區塊L11之觸控之情形時，因來自鄰接於區塊L11之區塊R11之電場之影響，而即便不存在對區塊L11之觸控，驅動區域L之觸控檢測電極TDL亦輸出信號。接收到該信號之觸控檢測處理部40及控制部11存在如下可能性：即便不存在對區塊L11之觸控，亦判斷為有對區塊L11之觸控。如此，獨立地驅動2個驅動區域L、R而同時於2個驅動區域L、R檢測觸控之觸控檢測裝置1於檢測對配置於邊界65之附近之區塊L11、R11等之觸控時，難以特定出為驅動區域L、R中之哪一靜電電容之變化，結果存在誤檢測觸控之可能性。於對圖1所示之驅動區域L之區塊L11施加驅動信號Vcom之情形時亦相同。
觸控檢測裝置1包含：干涉部66，其為存在於驅動區域(第1驅動區域)L與驅動區域(第2驅動區域)R之邊界65附近之驅動電極COML，且處於其他驅動電極COML的電場之影響波及之範圍內；及獨立部67L、67R，其等為除干涉部66外之驅動電極COML。干涉部66係自鄰接之驅動區域L、R彼此之邊界65朝向第2方向即Y方向之特定區域。即，干涉部66存在於各個驅動區域L、R。驅動區域L之干涉部66相當於第1特定區域，驅動區域R之干涉部66係與第2特定區域對應。驅動區域L側之干涉部66與驅動區域R側之干涉部66隔著邊界65而面對。
於圖1所示之例中，觸控檢測裝置1係以驅動區域L、R之邊界65為基準，將存在於驅動區域R側之特定範圍及驅動區域L側之特定範 圍內之共計6個驅動電極COML設為干涉部66。具體而言，觸控檢測裝置1係將驅動區域R之驅動電極COML中之位於邊界65附近之區塊R9~區塊R11之共計3個區塊設為干涉部66。又，觸控檢測裝置1係將區塊R0~區塊R8設為獨立部67R。同樣地，觸控檢測裝置1係將驅動區域L之驅動電極COML中之位於邊界65附近之區塊L9~區塊L11之共計3個區塊設為干涉部66，且將區塊L0~區塊L8設為獨立部67L。
於該例中，觸控檢測裝置1係針對各驅動區域L、R，將以各驅動區域L、R之邊界65為基準之共計6個驅動電極COML設為干涉部66，即針對各驅動區域L、R，將各3個驅動電極COML設為干涉部66，但干涉部66之Y方向上之範圍係根據邊界65附近之驅動電極COML之電場波及影響之範圍而決定。例如，於存在於邊界65附近之驅動電極COML被施加驅動信號Vcom之情形時，可將被施加有驅動信號Vcom之驅動電極COML產生之電場超過邊界65而對鄰接之驅動區域波及影響之範圍設為干涉部66之Y方向上之範圍。所謂驅動電極COML產生之電場對鄰接之驅動區域波及影響之範圍可設為如下之範圍：例如，混入至存在於鄰接之驅動區域之觸控檢測電極TDL輸出之觸控檢測信號Vdet中之因驅動電極COML產生之電場而產生之信號阻礙觸控檢測處理部40及控制部11檢測與觸控對應之觸控檢測信號Vdet。驅動電極COML產生之電場對鄰接之驅動區域波及影響之範圍可設為例如以邊界65為基準，於各個驅動區域L、R內，自邊界65向Y方向離開之方向上的2個驅動電極COML。
圖8A係表示實施形態1之觸控檢測裝置之干涉部之一例的圖。圖8B係表示實施形態1之觸控檢測裝置之干涉部之另一例的圖。干涉部66只要於1個驅動區域內，至少為作為第2方向之Y方向上之驅動電極COML之尺寸之1/2以上即可。例如，可如圖8A所示，將例如以邊界65為基準，於各個驅動區域L、R內，在自邊界65向Y方向離開之方向 上的2個驅動電極COML設為干涉部66。又，例如，亦可如圖8B所示，將例如以邊界65為基準，於各個驅動區域L、R內，在自邊界65向Y方向離開之方向上的1.5個驅動電極COML設為干涉部66。於集中驅動複數個驅動電極COML之情形時，干涉部66只要為被同時驅動之複數個驅動電極COML之Y方向上之尺寸之1/2以上即可。
驅動區域L、R較佳為分別設為相同之大小(相同之面積)。又，驅動區域L、R之邊界65較佳為相對於各區塊L0~Lm及R0~Rn平行、或相對於觸控檢測電極TDL正交。將各驅動區域L、R分別設為相同之大小，又，使邊界65相對於各區塊L0~Lm及R0~Rn平行，且使邊界65相對於觸控檢測電極TDL正交，藉此於設計觸控檢測裝置1之電路之情形時，可設為相對於邊界65而對稱之電路設計，因此可合理地設計觸控檢測裝置1。
於鄰接之驅動區域L、R彼此中，屬於各個驅動區域L、R之各個觸控檢測電極TDL較佳為於邊界65側之作為第2方向之Y方向上之位置相同。以此方式，於將距各個觸控檢測電極TDL固定距離之範圍設為干涉部66時，可使干涉部66最少，且獨立部67L、67R最大。又，亦可最高效率地進行報告速率之改善。其次，對觸控檢測裝置1之動作進行說明。
圖9係表示驅動電極之各區塊之驅動順序之圖。圖10係表示驅動實施形態1之觸控檢測裝置之各驅動區域中之一驅動區域的干涉部之情況之圖。圖11係表示驅動實施形態1之觸控檢測裝置之各驅動區域中之另一驅動區域的干涉部之情況之圖。於本實施形態中，控制部11於對存在於自鄰接之驅動區域L、R彼此之邊界65朝向Y方向之干涉部66的驅動電極COML施加驅動信號Vcom之時序，停止對存在於複數個驅動區域L、R中之與干涉部66鄰接之驅動區域且除施加驅動信號Vcom之驅動電極外之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。更具體地 對該動作進行說明。
於圖1所示之觸控檢測裝置1之情形時，驅動區域R之區塊R0~區塊R8為獨立部67R，區塊R9~區塊R11為干涉部66。驅動區域L之區塊L0~區塊L8為獨立部67L，區塊L9~區塊L11為干涉部66。控制部11於觸控檢測時，對存在於各驅動區域L、R之獨立部67L、67R之區塊R0~區塊R8及區塊L0~區塊L8，按照圖9所示之順序進行驅動、即施加驅動信號Vcom。
其次，例如若成為將驅動區域L之干涉部66之區塊(於本實施形態中為區塊L9、L10、L11)驅動之順序，則控制部11停止存在於與驅動區域L之干涉部66鄰接之驅動區域R之所有區塊(於本實施形態中為區塊R0~Rn)之驅動，即停止驅動信號Vcom之施加。觸控檢測裝置1於停止驅動區域R之驅動、即停止對驅動區域R具有之所有驅動電極COML施加驅動信號Vcom後，如圖10所示般依序對驅動區域L之干涉部66之區塊L9、區塊L10、區塊L11進行驅動。
藉由此種動作，於將驅動區域L之干涉部66之區塊L9~L11驅動之時序，在停止驅動區域R之驅動後，僅將驅動區域L之干涉部66之區塊L9~L11驅動。如圖11所示，若成為干涉部66之驅動區域L之區塊L9~區塊L11之驅動完成，則控制部11及驅動部53驅動存在於已停止驅動之驅動區域R之干涉部66之各區塊R9、R10、R11。以此方式，若將驅動區域L之獨立部67L及干涉部66、以及驅動區域R之獨立部67R及干涉部66之各區塊L0~Lm、R0~Rn驅動，則控制部11自驅動區域L之獨立部67L之區塊L0及驅動區域R之獨立部67R之區塊R0依次進行驅動。
於該例中，控制部11係於將驅動區域L之獨立部67L及驅動區域R之獨立部67R之各區塊L0~L8、R0~R8並行驅動後，將驅動區域L之干涉部66之各區塊L9、L10、L11驅動，此後驅動各區塊R9、R10、 R11。控制部11並不限定於此種驅動順序，亦可將驅動區域R之干涉部66之各區塊R9、R10、R11驅動之後，將驅動區域L之干涉部66之各區塊L9、L10、L11驅動。
如此，控制部11係於驅動獨立部67L、67R時，分別針對每個驅動區域L、R而個別地驅動各驅動區域L、R之各區塊L0~Lm、R0~Rn。而且，控制部11於驅動存在於任一驅動區域之干涉部66之區塊之時序，停止存在於另一驅動區域之區塊之驅動。而且，觸控檢測裝置1係於存在於一驅動區域之干涉部66之區塊之驅動完成後，驅動存在於另一干涉部66之區塊。因此，觸控檢測裝置1於在一驅動區域內鄰接於驅動區域L、R之邊界65之干涉部66之區塊被驅動時，即便在被驅動之區塊之電場超過邊界65之情形時，另一驅動區域亦處於停止中，故亦可降低對另一驅動區域之觸控檢測動作帶來影響之可能性。其結果，觸控檢測裝置1可準確地特定出正在驅動之區塊及靜電電容之值發生變化之位置而檢測出觸控之位置。又，觸控檢測裝置1係針對各驅動區域L、R而分別並行地驅動獨立部67L、67R之各區塊，故即便分時地依次驅動各區塊，亦能夠以高速完成所有區塊之驅動。因此，可謀求觸控檢測之報告速率之提高。
於本實施形態中，如圖9所示，於對於相當於各驅動區域L、R之獨立部67L、67R之各區塊L0~L8、R0~R8，自各個驅動區域L、R之觸控檢測電極TDL獲得輸出OUT_L、OUT_R之情形時，控制部11針對各個驅動區域L、R而將該等輸出OUT_L、OUT_R用作觸控檢測信號Vdet。控制部11於分別驅動存在於驅動區域L之干涉部66之各區塊L9、L10、L11之情形時，將驅動區域L之觸控檢測電極TDL之輸出OUT_L與驅動區域R之觸控檢測電極TDL之輸出OUT_R相加所得之值用作觸控檢測信號Vdet。又，控制部11於分別驅動存在於驅動區域R之干涉部66之各區塊R9、R10、R11之情形時，亦將驅動區域R之觸控 檢測電極TDL之輸出與驅動區域L之觸控檢測電極TDL之輸出相加所得之值用作觸控檢測信號Vdet。以此方式，可消除被施加驅動信號Vcom之驅動電極COML之電場之影響而提高觸控的檢測精度。
於驅動干涉部66之驅動電極COML時，藉由將鄰接之區域之觸控檢測電極TDL之輸出相加，可將干涉部之驅動電極COML及於旁邊之驅動區域之觸控檢測電極TDL之電場包含在內而進行檢測。其結果，檢測精度及感度提高。於驅動獨立區域之驅動電極COML時，由於電場對鄰接區域之觸控檢測電極TDL之影響小至可忽視之程度，故無須相加。
於驅動干涉部之驅動電極COML之情形時，若將驅動區域L之觸控檢測電極TDL之輸出與驅動區域R之觸控檢測電極TDL之輸出相加，則可獲得上述效果。於本實施形態中，未必必須將該等驅動區域L之觸控檢測電極TDL之輸出與驅動區域R之觸控檢測電極TDL之輸出相加，而亦可於將驅動區域L之干涉區域之驅動電極COML被驅動之情形時，僅檢測驅動區域L之觸控檢測電極TDL。又，亦可於將驅動區域R之干涉區域之驅動電極COML被驅動之情形時，僅檢測驅動區域R之觸控檢測電極TDL。
於藉由將觸控檢測裝置組裝至液晶顯示部中而形成所謂之內置(in cell)型附有觸控檢測功能之顯示裝置之情形時，內置型附有觸控檢測功能之顯示裝置必須於1水平期間內或1垂直期間內等特定之期間內，單獨設置顯示期間及觸控檢測期間而執行。因此，內置型附有觸控檢測功能之顯示裝置存在觸控檢測之報告速率延遲之虞。然而，於該觸控檢測裝置1之情形時，可針對各驅動區域L、R分別並行地驅動而以高速完成所有區塊之驅動，故於將觸控檢測裝置1應用於內置型附有觸控檢測功能之顯示裝置之情形時，亦可謀求觸控檢測之報告速率之提高。
<1-2.實施形態2>
對成為實施形態2之觸控檢測裝置1A進行說明。實施形態1之觸控檢測裝置1中，於各驅動區域L、R之獨立部67L、67R之區塊之驅動時、及干涉部66之區塊之驅動時中之任一者時，在驅動區域L內或驅動區域R內同時驅動之區塊僅設為一個區塊。與此相對，接下來說明之實施形態2之觸控檢測裝置1A中，控制部11於複數個驅動區域L、R中之至少1個驅動區域內，對複數個驅動電極COML中之至少2個同時施加驅動信號Vcom而同時驅動複數個區塊。所要說明之實施形態2之觸控檢測裝置1A與上述實施形態1之觸控檢測裝置1僅該方面不同，故僅對該差異進行說明，省略重複之說明。
圖12、圖13係表示於實施形態2之觸控檢測裝置1A中，同時驅動複數個區塊之情況之圖。圖12、圖13係以斜線表示驅動中之區塊。如圖12所示，觸控檢測裝置1A(具體而言為控制部11)於將驅動區域R之獨立部67R之區塊驅動時，逐一地對驅動電極COML施加驅動信號Vcom，以區塊R0→區塊R1→區塊R2...之方式逐個區塊地將驅動區域R之區塊依次驅動。又，觸控檢測裝置1A於將驅動區域L之獨立部67L之區塊驅動時，以2個為單位對驅動電極COML施加驅動信號Vcom，以區塊L0及區塊L1→區塊L2及區塊L3→區塊L4及區塊L5...之方式每2個區塊地將驅動區域L之區塊依次驅動。
以此方式，觸控檢測裝置1A可於驅動區域L內，增加所要驅動之區塊之數量，故可實現觸控檢測時之報告速率及感度之進一步之提高。於本實施形態中，控制部11於驅動區域L內每2個區塊進行驅動，但亦可於驅動區域R內每2個區塊進行驅動。又，亦可於驅動區域L內，每3個或4個等區塊進行驅動，亦可於驅動區域L及驅動區域R之各驅動區域內，分別每複數個區塊進行驅動。於該情形時，亦可實現觸控檢測時之報告速率及感度之提高。
觸控檢測裝置1A係於各驅動區域L、R內，每1個區塊或每複數個區塊進行驅動，但於在任一驅動區域L、R內進行干涉部66之區塊之驅動之時序，均停止存在於另一驅動區域之區塊之驅動。圖13係表示於驅動區域R內，每2個區塊進行驅動之例。如由圖13可知般，觸控檢測裝置1A若開始驅動區域R之干涉部66之驅動，則停止驅動區域L之區塊之驅動。同樣地，觸控檢測裝置1A若開始驅動區域L之干涉部66之驅動，則停止驅動區域R之區塊之驅動。觸控檢測裝置1A藉由如上所述般進行控制，而可減少在驅動干涉部66之區塊時超過驅動區域L、R之邊界65之電場對觸控檢測造成之影響。其結果，可獲得如下等與實施形態1相同之效果：觸控檢測裝置1A可準確地特定出正在驅動之區塊及靜電電容之值發生變化之位置而檢測出觸控之位置。
<1-3.實施形態3>
圖14係表示實施形態3之觸控檢測裝置之圖。實施形態1之觸控檢測裝置1及實施形態2之觸控檢測裝置1A需要用以開始獨立部67L、67R之各區塊之驅動的第1起始信號、用以開始控制干涉部66之各區塊之驅動之第2起始信號等的用以將驅動電極COML驅動之複數種信號。相對於此，接下來說明之實施形態3之觸控檢測裝置可藉由1種起始信號、及1種時脈而實現各驅動區域之獨立部及干涉部之各區塊之驅動。實施形態3之觸控檢測裝置適於在基板之表面設置掃描器或移位暫存器等傳輸電路時。接下來說明之實施形態3與實施形態1及實施形態2僅該方面不同，故以下僅對該差異進行說明，省略重複之說明。
如圖14所示，觸控檢測裝置1B中，作為相當於各驅動區域L、R之驅動區域而具有第1驅動區域51、及於X方向側與第1驅動區域51鄰接之第2驅動區域52。第1驅動區域51及第2驅動區域52相當於複數個驅動區域。於第1驅動區域51，為了個別地驅動各區塊，設置有一對 第1驅動部53A作為驅動部。於第2驅動區域52，為了個別地驅動各區塊，設置有一對第2驅動部53B作為驅動部。第1驅動部53A及第2驅動部53B藉由控制部11而控制。例如，第2驅動部53B包含被來自控制部11之起始信號及傳輸時脈控制之移位暫存器。
觸控檢測裝置1B中，將相當於自第1驅動區域51與第2驅動區域52之邊界70朝向第1驅動區域51側特定數量(於本實施形態中為3個)之驅動電極COML之區域設為特定區域、即干涉部71。觸控檢測裝置1B中，屬於第1驅動區域51之複數個驅動電極COML之數量多於屬於第2驅動區域52之複數個驅動電極COML之數量。屬於第1驅動區域51之干涉部71之驅動電極COML為區塊55、56、57。第1驅動區域51中，干涉部71以外之部分成為獨立部72。第2驅動區域52之全部成為獨立部73。第2驅動區域52之獨立部73具有之驅動電極COML之數量、即第2驅動區域52具有之區塊之數量成為與第1驅動區域51之獨立部72具有之驅動電極COML之數量、即區塊之數量相同之數量。
控制部11重複進行如下操作：自屬於第1驅動區域51之複數個驅動電極COML中之於X方向上最遠離邊界70之驅動電極COML向邊界70側的驅動電極COML依次施加驅動信號Vcom，且自屬於第2驅動區域52之複數個驅動電極COML中之最接近邊界70之驅動電極COML向於X方向上自邊界70離開之驅動電極COML依次施加驅動信號Vcom。觸控檢測裝置1B於存在於第1驅動區域51之獨立部72、及第2驅動區域52之獨立部73之區塊(驅動電極COML)的驅動結束，且存在於第1驅動區域51之干涉部71之區塊55~57(驅動電極COML)之驅動開始時，使第2驅動部53B所包括之移位暫存器完全傳送。因此，於第2驅動區域52，不存在成為驅動對象之區塊(驅動電極COML)。
若第2驅動部53B所包括之移位暫存器完全傳送，則成為不選擇任一驅動電極COML之狀態，從而成為驅動信號Vcom(脈衝)未施加至 任一驅動電極COML之狀態。結果，第2驅動部53所包括之移位暫存器不進行動作。
如此，於觸控檢測裝置1B中，僅第1驅動區域51具有干涉部71，第1驅動區域51及第2驅動區域52之獨立部72、73分別具有相同數量之區塊。而且，觸控檢測裝置1B同時驅動第1驅動區域51及第2驅動區域52具有之區塊，於驅動存在於第1驅動區域51之干涉部71之區塊時，使第2驅動區域52空轉驅動而等待存在於第1驅動區域51之干涉部71之區塊之驅動完成。觸控檢測裝置1B係於干涉部71之區塊之驅動完成後，再次自存在於第1驅動區域51及第2驅動區域52之獨立部72、73之最初之區塊開始驅動。
藉由此種驅動，觸控檢測裝置1B可於驅動第1驅動區域51之干涉部71時，無需用以使第2驅動區域52之區塊之驅動停止之信號。即，觸控檢測裝置1B可藉由用以使第1驅動區域51及第2驅動區域52之區塊之驅動開始之一種起始信號、及對區塊之驅動進行控制之1種時脈，而驅動存在於第1驅動區域51及第2驅動區域52之獨立部72、73及第1驅動區域51之干涉部71之各區塊。因此，觸控檢測裝置1B除可較實施形態1、2之觸控檢測裝置1、1A更減少區塊之驅動所需之信號之種類外，亦可獲得與實施形態1、2之觸控檢測裝置1、1A相同之效果。觸控檢測裝置1B於內置方式之附有觸控檢測功能之顯示裝置中，尤其可用於顯示用閘極線之延伸設置方向(Y方向)與驅動電極COML之延伸設置方向(Y方向)平行之情形時。
<1-4.實施形態4>
圖15係表示實施形態4之觸控檢測裝置之圖。觸控檢測裝置1C中，第1方向即X方向上之驅動電極COML之尺寸、即驅動電極COML延伸之方向之尺寸大於第2方向即Y方向上之複數個驅動區域(第1驅動區域78及第2驅動區域79)整體之尺寸。於觸控檢測裝置1C與液晶顯示 部組合而用作附有觸控檢測功能之顯示裝置之情形時，驅動電極COML於俯視時呈長方形之畫面之長度方向上延伸。
觸控檢測裝置1C中，作為驅動區域而具有第1驅動區域78及第2驅動區域79。觸控檢測裝置1C係將相當於自第1驅動區域78與第2驅動區域79之邊界80至第1驅動區域78側之特定數量(於本例中為2個)之驅動電極COML之區塊之範圍設為干涉部75。又，觸控檢測裝置1C係將相當於自邊界80至第2驅動區域79側之特定數量(於本例中為2個)之驅動電極COML之區塊之範圍設為干涉部75。第1驅動區域78及第2驅動區域79中，除干涉部75以外之驅動電極COML之區塊成為獨立部76、77。
觸控檢測裝置1C具有作為積體電路之驅動IC(Integrated Circuit，積體電路)60。於驅動IC60中，至少具有用以供給各區塊之驅動信號之驅動部及多工器。於觸控檢測裝置1C被用作附有觸控檢測功能之顯示裝置之情形時，驅動電極COML於俯視時呈長方形之畫面之長度方向(圖15之X方向)上延伸，觸控檢測電極TDL於與驅動電極COML之延伸設置方向正交之方向(Y方向)上延伸。藉由設為此種構造，可將驅動IC60配置於驅動電極COML之長度方向上之端部側。藉由設為此種配置，可使驅動IC60具有驅動部及多工器等之邏輯。
於使驅動電極COML延伸之方向與畫面之短邊方向平行之情形時，例如，如圖14所示之觸控檢測裝置1B般必須於驅動電極COML之兩端側即畫面之長邊側配置驅動部。觸控檢測裝置1C可使驅動IC60具有驅動部及多工器等之邏輯，因此無須於畫面之長邊側配置驅動部而可實現小型化。觸控檢測裝置1C較佳為用於顯示用信號線之延伸設置方向(X方向)與驅動電極COML之延伸方向(X方向)平行之情形時。觸控檢測裝置1C於在COG(Chip On Glass，玻璃覆晶)內置驅動IC60時，無需配線之牽引，因此發揮減少邊框及減少電阻之效果。
<1-5.實施形態5>
圖16、圖17係表示實施形態5之觸控檢測裝置之圖。上述觸控檢測裝置1、1A係於驅動區域R及驅動區域L內，分別使用相同之相互電容方式(Mutual capacitance type)之檢測方式而檢測觸控。實施形態5之觸控檢測裝置1D係於驅動區域R及驅動區域L內，分別使用不同之檢測方式而檢測觸控。
觸控檢測裝置1D係於驅動區域R內藉由相互電容方式而檢測觸控，於驅動區域L內藉由自我電容方式(Self capacitance type)而檢測觸控。於檢測觸控時，控制部11藉由相互電容方式而驅動屬於複數個驅動區域L、R中之至少1個驅動區域(於本實施形態中為驅動區域R)之驅動電極COML及觸控檢測電極TDL。而且，控制部11係藉由自我電容方式而驅動屬於連接於已藉由相互電容方式驅動之驅動區域(於本實施形態中為驅動區域R)之驅動區域(於本實施形態中為驅動區域L)之驅動電極COML及/或觸控檢測電極TDL。再者，於藉由自我電容方式而驅動觸控檢測電極TDL時，控制部11亦可經由觸控檢測處理部40而供給驅動電壓。
如圖17所示，觸控檢測裝置1D(更具體而言為控制部11)於正在以相互電容方式驅動之驅動區域R內驅動干涉部66之區塊、即對干涉部66之驅動電極COML施加驅動信號Vcom時，在干涉部66之各區塊之驅動完成之前之期間，停止正在以自我電容方式驅動之驅動區域L之區塊之驅動。以此方式，與上述觸控檢測裝置1、1A同樣地，可抑制於驅動干涉部66之區塊時超過驅動區域L、R之邊界65之電場對另一觸控檢測動作造成之影響。本實施形態係分別藉由不同之方式驅動屬於2個驅動區域L、R之驅動電極COML之區塊之例，但於觸控檢測裝置1D具有3個以上之驅動區域之情形時亦相同。
<1-6.實施形態6>
圖18係實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之方塊圖。上述觸控檢測裝置1、1A、1B、1C、1D應用於圖18所示之實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置9之觸控檢測部30。於圖18中，附有觸控檢測功能之顯示裝置9包括附有觸控檢測功能之顯示部10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測處理部40。附有觸控檢測功能之顯示裝置9與觸控檢測裝置1、1A、1B、1C、1D共用控制部11，但並不限定於此。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置9中，附有觸控檢測功能之顯示部10係內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示部10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20與靜電電容型觸控檢測部30一體化而成之所謂之內置類型之裝置。再者，附有觸控檢測功能之顯示部10亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20上裝設有靜電電容型觸控檢測部30之所謂之上置類型(on cell type)之裝置。如此，附有觸控檢測功能之顯示部10係組合作為觸控檢測裝置之觸控檢測部30、與作為顯示裝置之液晶顯示部20而成之裝置。
如下所述，液晶顯示部20係如下之器件：根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，以1水平線為單位依次掃描而進行顯示。控制部11係以如下方式進行控制之電路：基於自外部供給之影像信號Vdisp，分別對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測處理部40供給控制信號，從而使該等閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測處理部40彼此同步地動作。
閘極驅動器12具有如下之功能：基於自控制部11供給之控制信號，依次選擇成為附有觸控檢測功能之顯示部10之顯示驅動之對象之1水平線。源極驅動器13係如下之電路：基於自控制部11供給之控制 信號，向附有觸控檢測功能之顯示部10之下文將述之各像素Pix(副像素SPix)供給像素信號Vpix。源極驅動器13係自1水平線之影像信號，產生將液晶顯示部20之複數個副像素SPix之像素信號Vpix分時多工化而成之像素信號。驅動電極驅動器14係如下之電路：基於自控制部11供給之控制信號，向作為顯示用驅動電極而設置於附有觸控檢測功能之顯示部10之驅動電極COML供給驅動信號Vcom。
圖18所示之觸控檢測部30係根據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(下文將述之觸控驅動信號Vcomt)，以1檢測區塊為單位依次掃描而進行觸控檢測。觸控檢測部30係自複數個下文將述之觸控檢測電極TDL，針對每個檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet並將其供給至觸控檢測處理部40。
觸控檢測處理部40係如下之電路：基於自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示部10之觸控檢測部30供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無對觸控檢測部30之觸控(上述接觸狀態)，於有觸控之情形時，求出該觸控於觸控檢測區域內之座標等。該觸控檢測處理部40包括類比LPF(Low Pass Filter)部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標擷取部45、及檢測時序控制部46。
類比LPF部42係如下之低通類比濾波器：將自觸控檢測部30供給之觸控檢測信號Vdet設為輸入，去除包含於觸控檢測信號Vdet之較高之頻率成分(雜訊成分)，取出觸控成分並分別輸出。於類比LPF部42之各輸入端子與接地之間，連接有用以賦予直流電位(0V)之電阻R。再者，亦可設置例如開關來取代該電阻R，藉由在特定之時間將該開關設為接通狀態而賦予直流電位(0V)。
A/D轉換部43係如下之電路：於與驅動信號Vcom同步之時序，分別對自類比LPF部42輸出之類比信號進行取樣並轉換成數位信號。信號處理部44包括數位濾波器，該數位濾波器去除包含於A/D轉換部 43之輸出信號之高於對觸控驅動信號Vcomt進行取樣之頻率之頻率成分(雜訊成分)，並取出觸控成分。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對觸控檢測部30之觸控之邏輯電路。座標擷取部45係於在信號處理部44檢測到觸控時，求出其觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46係以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標擷取部45同步地進行動作之方式進行控制。
圖19及圖20係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。如圖19所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置9亦可為於安裝於模組時，在玻璃基板之TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)基板21上形成上述驅動電極驅動器14。
如圖19所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置9具有附有觸控檢測功能之顯示部10、驅動電極驅動器14、及COG(Chip On Glass)19A。圖19模式性地表示於相對於下文將述之TFT基板之表面之垂直方向上，包含驅動電極COML、及以與驅動電極COML立體交叉之方式形成之觸控檢測電極TDL之附有觸控檢測功能之顯示器件10。驅動電極COML形成於附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊方向，觸控檢測電極TDL形成於附有觸控檢測功能之顯示部10之長邊方向。觸控檢測電極TDL之輸出端設置於附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊側，經由以撓性基板等構成之端子部T而與安裝於該模組之外部之觸控檢測處理部40連接。驅動電極驅動器14形成於玻璃基板之TFT基板21。COG19A係安裝於TFT基板21之晶片，且內置有圖18所示之控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13等顯示動作中所需之各電路。又，如圖20所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置9亦可於COG(Chip On Glass)19B內置驅動電極驅動器14。
如圖20所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置9具有COG19B。圖20所示之COG19B除了內置上述顯示動作所需之各電路外，更內置有 驅動電極驅動器14。圖20所示之附有觸控檢測功能之顯示裝置9於COG19B內置有驅動電極驅動器14，因此可使邊框變窄。又，亦可為驅動電極COML形成於附有觸控檢測功能之顯示部10之長邊方向，觸控檢測電極TDL形成於附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊方向。於該情形時，在將驅動電極驅動器內置於COG19B時，自各驅動電極向COG19B之配線在引繞可較少。
其次，詳細地對附有觸控檢測功能之顯示部10之構成例進行說明。
圖21係表示附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。圖22係表示附有觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。附有觸控檢測功能之顯示部10包括：像素基板2；對向基板3，其於垂直於該像素基板2之表面之方向上對向配置；及液晶層6，其插設於像素基板2與對向基板3之間。
像素基板2包含：作為電路基板之TFT基板21；複數個像素電極22，其等在該TFT基板21上配設成矩陣狀；複數個驅動電極COML，其等形成於TFT基板21與像素電極22之間；及絕緣層24，其將像素電極22與驅動電極COML絕緣。於TFT基板21，形成有圖22所示之各副像素SPix之薄膜電晶體(TFT：Thin Film Transistor)元件Tr、對各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL、驅動各TFT元件Tr之掃描信號線GCL等配線。如此，像素信號線SGL於與TFT基板21之表面平行之平面延伸，對像素供給用以顯示圖像之像素信號。圖22所示之液晶顯示部20具有排列成矩陣狀之複數個副像素SPix。副像素SPix包括TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成者，於該例中由n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半導體)型TFT構成。TFT元件Tr之源極連接於像素信號線SGL，閘極連接於掃描信號線GCL，汲極連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC之 一端連接於TFT元件Tr之汲極，另一端連接於驅動電極COML。
副像素SPix係藉由掃描信號線GCL而與液晶顯示部20之屬於相同之列之其他副像素SPix彼此連接。掃描信號線GCL與閘極驅動器12連接，自閘極驅動器12供給掃描信號Vscan。又，副像素SPix係藉由像素信號線SGL而與液晶顯示部20之屬於相同之行之其他副像素SPix彼此連接。像素信號線SGL與源極驅動器13連接，自源極驅動器13供給像素信號Vpix。進而，副像素SPix係藉由驅動電極COML而與液晶顯示部20之屬於相同之行之其他副像素SPix彼此連接。驅動電極COML與驅動電極驅動器14連接，自驅動電極驅動器14供給驅動信號Vcom。即，該例中，屬於相同之行之複數個副像素SPix共有1根驅動電極COML。圖22所示之液晶顯示器件20中，驅動電極COML與像素信號線SGL平行，但亦可為驅動電極COML與掃描信號線GCL平行。
圖18所示之閘極驅動器12係經由圖22所示之掃描信號線GCL而對副像素SPix之TFT元件Tr之閘極施加掃描信號Vscan，藉此將於液晶顯示部20形成為矩陣狀之副像素SPix中之1列(1水平線)作為顯示驅動之對象而依次選擇。圖18所示之源極驅動器13係經由圖22所示之像素信號線SGL而分別對構成藉由閘極驅動器12依次選擇之1水平線之各副像素SPix供給像素信號Vpix。而且，該等副像素SPix係根據供給之像素信號Vpix而進行1水平線之顯示。圖18所示之驅動電極驅動器14施加驅動信號Vcom而驅動圖21及圖22所示之驅動電極COML。
如上所述，液晶顯示部20中，閘極驅動器12係以對掃描信號線GCL分時進行線依次掃描之方式驅動，藉此依次選擇1水平線。又，液晶顯示部20中，對於屬於1水平線之像素Pix，藉由源極驅動器13供給像素信號Vpix而以1水平線為單位進行顯示。於進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對包含與該1水平線對應之驅動電極COML之區塊施加驅動信號Vcom。
對向基板3包含玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面之濾色器32。於玻璃基板31之另一面，形成有觸控檢測部30之檢測電極即觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL上，配設有偏光板35A。
濾色器32包含被著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之顏色區域32R、32G、32B。濾色器32於與TFT基板21垂直之方向上與COG19對向，於與TFT基板21之表面垂直之方向觀察時重疊。濾色器32中，例如被著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之濾色器呈週期性地排列，將上述圖22所示之各副像素SPix與被著色成紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之顏色區域32R、32G、32B建立對應，並且作為1組而與像素Pix建立對應。濾色器32於與TFT基板21垂直之方向上，與液晶層6對向。再者，濾色器32只要被著色成不同之顏色，則亦可為其他顏色之組合。
於本實施形態之情形時，作為顯示用驅動電極之驅動電極COML係作為液晶顯示部20之共通電極(共通驅動電極)而發揮功能，並且亦作為觸控檢測部30、更具體而言上述觸控檢測裝置1、1A等之驅動電極而發揮功能。本實施形態中，以一個驅動電極COML與一個像素電極22(構成一列之像素電極22)對應之方式配置。絕緣層24係將像素電極22與驅動電極COML絕緣，並且將像素電極22與形成於TFT基板21之表面之像素信號線SGL絕緣。驅動電極COML於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向，且於與上述掃描信號線GCL延伸之方向平行之方向上延伸。驅動電極COML經由未圖示之具有導電性之接觸導電柱，而自驅動電極驅動器14對驅動電極COML施加交流矩形波形之驅動信號Vcom。
液晶層6係根據電場之狀態而調變通過此處之光者，例如可使用於FFS(Fringe Field Switching，邊緣場切換)或IPS(In Plane Switching，共平面切換)等橫向電場模式之液晶顯示器件。再者，亦 可於圖21所示之液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間，分別配設配向膜。再者，本實施形態中，於液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間，分別配設有配向膜，又，於像素基板2之下表面側，配置有入射側偏光板35B。
驅動電極COML與本揭示之「驅動電極」之一具體例對應。觸控檢測電極TDL與本揭示之「檢測電極」對應。
繼而，對實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置9之動作及作用進行說明。
圖23係表示實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。驅動電極COML作為液晶顯示部20之共通驅動電極而發揮功能，並且亦作為觸控檢測部30之驅動電極而發揮功能，故存在驅動信號Vcom彼此產生影響之可能性。因此，驅動電極COML係分為進行顯示動作之顯示期間B、及進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A而被施加驅動信號Vcom。驅動電極驅動器14係於進行顯示動作之顯示期間B施加驅動信號Vcom作為顯示驅動信號。而且，驅動電極驅動器14係於進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A施加驅動信號Vcom作為觸控驅動信號。以下之說明中，將作為顯示驅動信號之驅動信號Vcom記載為顯示驅動信號Vcomd，將作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom記載為觸控驅動信號Vcomt。
控制部11係以如下方式進行控制：基於自外部供給之影像信號Vdisp，分別對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測處理部40供給控制信號，從而使該等閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測處理部40彼此同步地動作。閘極驅動器12係於顯示期間B，對液晶顯示部20供給掃描信號Vscan而依次選擇成為顯示驅動之對象之1水平線。源極驅動器13係於顯示期間B，對構成藉由閘極驅動器12而選擇之1水平線之各像素Pix 供給像素信號Vpix。
驅動電極驅動器14係於顯示期間B，對1水平線之驅動電極區塊施加顯示驅動信號Vcomd，於觸控檢測期間A，對觸控檢測動作之驅動電極區塊依次施加頻率高於顯示驅動信號Vcomd之觸控驅動信號Vcomt，從而依次選擇1檢測區塊。附有觸控檢測功能之顯示部10於顯示期間B，基於藉由閘極驅動器12、源極驅動器13、及驅動電極驅動器14供給之信號而進行顯示動作。附有觸控檢測功能之顯示部10於觸控檢測期間A，基於藉由驅動電極驅動器14供給之信號而進行觸控檢測動作，自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。類比LPF部42係將觸控檢測信號Vdet放大而輸出。A/D轉換部43於與觸控驅動信號Vcomt同步之時序，將自類比LPF部42輸出之類比信號轉換成數位信號。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對觸控檢測部30之觸控。座標擷取部45係於在信號處理部44完成觸控檢測時，求出其觸控面板座標，並將輸出信號Vout輸出。控制部11對檢測時序控制部46進行控制，而變更觸控驅動信號Vcomt之取樣頻率。
其次，對附有觸控檢測功能之顯示裝置9之詳細動作進行說明。如圖23所示，液晶顯示部20係根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，依次掃描掃描信號線GCL中之鄰接之第(n-1)列、第n列、第(n+1)列之掃描信號線GCL之每1水平線而進行顯示。同樣地，驅動電極驅動器14係基於自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示部10之驅動電極COML中之鄰接之第(m-1)行、第m行、第(m+1)行供給驅動信號Vcom。
如此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置9中，於每1顯示水平期間1H，分時進行觸控檢測動作(觸控檢測期間A)及顯示動作(顯示期間B)。觸控檢測動作係於每1顯示水平期間1H，選擇不同之驅動電極COML而施加驅動信號Vcom，藉此進行觸控檢測之掃描。其次，詳 細地對該動作進行說明。首先，閘極驅動器12對第(n-1)列之掃描信號線GCL施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(n-1)自低位準變成高位準。藉此，開始1顯示水平期間1H。
其次，於觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對第(m-1)行之驅動電極COML施加驅動信號Vcom，驅動信號Vcom(m-1)自低位準變成高位準。該驅動信號Vcom(m-1)係經由靜電電容而傳輸至觸控檢測電極TDL，使觸控檢測信號Vdet發生變化。其次，若驅動信號Vcom(m-1)自高位準變成低位準，則觸控檢測信號Vdet同樣地發生變化。該觸控檢測期間A之觸控檢測信號Vdet之波形係上述觸控檢測之基本原理中之與觸控檢測信號Vdet對應者。A/D轉換部43係藉由對該觸控檢測期間A之觸控檢測信號Vdet進行A/D轉換而進行觸控檢測。藉此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置9中進行1檢測線之觸控檢測。
其次，於顯示期間B，源極驅動器13對像素信號線SGL施加像素信號Vpix而進行相對於1水平線之顯示。再者，如圖23所示，該像素信號Vpix之變化經由寄生電容而傳輸至觸控檢測電極TDL，觸控檢測信號Vdet可能發生變化，但於顯示期間B，A/D轉換部43不進行A/D轉換，藉此可抑制該像素信號Vpix之變化對觸控檢測之影響。於藉由源極驅動器13之像素信號Vpix之供給結束後，閘極驅動器12使第(n-1)列之掃描信號線GCL之掃描信號Vscan(n-1)自高位準變成低位準，1顯示水平期間1H結束。
其次，閘極驅動器12對與之前不同之第n列之掃描信號線GCL施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(n)自低位準變成高位準。藉此，開始下一1顯示水平期間1H。
於下一觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對與之前不同之第m行之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。而且，A/D轉換部43對觸控 檢測信號Vdet之變化進行A/D轉換，藉此進行該1檢測線之觸控檢測。
其次，於顯示期間B，源極驅動器13對像素信號線SGL施加像素信號Vpix而進行相對於1水平線之顯示。再者，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置9係進行點反轉驅動，故源極驅動器13施加之像素信號Vpix與之前之1顯示水平期間1H者相比，其極性反轉。於該顯示期間B結束後，該1顯示水平期間1H結束。
此後，藉由重複上述動作，附有觸控檢測功能之顯示裝置9藉由遍及顯示面整個面之掃描而進行顯示動作，並且藉由遍及觸控檢測面整個面之掃描而進行觸控檢測動作。
如上所述，附有觸控檢測功能之顯示裝置9中，於1顯示水平期間1H，觸控檢測動作於觸控檢測期間A進行，顯示動作於顯示期間B進行。如此，設為於單獨之期間進行觸控檢測動作及顯示動作，因此可於相同之1顯示水平期間1H，進行顯示動作及觸控檢測動作之兩者，並且可抑制顯示動作對觸控檢測之影響。又，該實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置9應用有上述觸控檢測裝置1、1A等，故可獲得與該等上述觸控檢測裝置1、1A發揮之效果相同之效果。再者，附有觸控檢測功能之顯示裝置9未必必須於1顯示水平期間1H進行顯示動作及觸控檢測動作。例如，附有觸控檢測功能之顯示裝置9亦可於進行1畫面之顯示之1圖框期間之期間，任意地設定觸控檢測期間A及顯示期間B而分時進行觸控檢測動作及顯示動作。
(變化例)
圖24係表示安裝有變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1E之控制系統係與圖18所示之附有觸控檢測功能之顯示裝置9相同。如圖24所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E包含液晶顯示部20、驅動電極驅動器14、及 COG19。COG19包含源極驅動器13。驅動電極驅動器14形成於玻璃基板之TFT基板21。COG19係安裝於TFT基板21之晶片，且內置有圖18所示之控制部11、源極驅動器13等顯示動作所需之各電路。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E亦可於COG19內置驅動電極驅動器14、閘極驅動器12等電路。
該附有觸控檢測功能之顯示部10E中，於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，以驅動電極COML與連接於閘極驅動器12之掃描信號線GCL與驅動電極COML立體交叉之方式形成。又，附有觸控檢測功能之顯示部10E中，於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，像素信號線SGL以於不與驅動電極COML交叉而與驅動電極COML平行之方向上延伸之方式形成。
附有觸控檢測功能之顯示部10E之驅動電極COML形成於附有觸控檢測功能之顯示部10E之長邊方向，觸控檢測電極TDL形成於附有觸控檢測功能之顯示部10E之短邊方向。觸控檢測電極TDL之輸出端設置於附有觸控檢測功能之顯示部10E之短邊側，經由以撓性基板等構成之端子部T而與安裝於該模組之外部之觸控檢測處理部40(參照圖18)連接。
如此，圖24所示之附有觸控檢測功能之顯示裝置1E係自附有觸控檢測功能之顯示部10E之短邊側輸出觸控檢測信號Vdet。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E中，經由端子部T而連接於觸控檢測處理部40時之配線之引繞變得容易。
附有觸控檢測功能之顯示裝置1E係與附有觸控檢測功能之顯示部10E之長邊方向L平行地進行顯示掃描。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E係於觸控檢測動作時，對驅動電極COML依次施加驅動信號Vcom，藉此以1檢測線為單位而進行線依次掃描。即，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E係與附有觸控檢測功能之顯示部10E之短 邊方向S平行地進行觸控檢測掃描。如此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1E之顯示掃描之方向與觸控檢測掃描之方向不同。
以上，對應用有本揭示之各種裝置之實施形態進行了說明，但本揭示並不限定於各實施形態，可於各實施形態外實現各種變更。例如，上述各實施形態係針對每1根驅動電極COML而驅動掃描驅動電極COML，但亦可取代於此，而驅動特定根數之驅動電極COML，並且將驅動電極COML逐個偏移而進行掃描。
亦可取代上述各種模式之液晶顯示部20而將TN(Twisted Nematic：扭轉向列)、VA(Vertical Alignment：垂直配向)、ECB(Electrically Controlled Birefringence：電控雙折射)等各種模式之液晶顯示部與觸控檢測部一體化而形成附有觸控檢測功能之顯示部10。又，附有觸控檢測功能之顯示部10亦可使用橫向電場模式之液晶而構成。又，於各實施形態之說明中，附有觸控檢測功能之顯示裝置9係設為將液晶顯示部20與靜電電容型觸控檢測部30一體化之所謂之內置類型，但亦可取代於此而為於例如液晶顯示部裝設有靜電電容型觸控檢測部者。
2.應用例
圖25~圖31係表示應用有本揭示之觸控檢測裝置之電子機器之一例的圖。其次，參照該等圖，對觸控檢測裝置1、1A等之應用例進行說明。觸控檢測裝置1、1A等可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話等行動終端裝置、或者攝錄影機等所有領域之電子機器。換言之，觸控檢測裝置1、1A等可應用於將自外部輸入之影像信號或者於內部產生之影像信號作為圖像或者影像而顯示之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖25所示之電子機器係應用觸控檢測裝置1、1A等之電視裝置。 該電視裝置例如具有包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部510，該影像顯示畫面部510包括觸控檢測裝置1、1A等。
(應用例2)
圖26及圖27所示之電子機器係應用觸控檢測裝置1、1A等之數位相機。該數位相機例如具有閃光用發光部521、顯示部522、選單開關523、及快門按鈕524，該顯示部522包括觸控檢測裝置1、1A等。
(應用例3)
圖28所示之電子機器係表示應用觸控檢測裝置1、1A等之攝錄影機之外觀者。該攝錄影機例如具有本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體拍攝用透鏡532、拍攝時之開始/停止開關533、及顯示部534。而且，顯示部534包括觸控檢測裝置1、1A等。
(應用例4)
圖29所示之電子機器係應用觸控檢測裝置1、1A等之筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦例如具有本體541、用於字元等之輸入操作之鍵盤542、及顯示圖像之顯示部543，顯示部543包括觸控檢測裝置1、1A等。
(應用例5)
圖30所示之電子機器係應用觸控檢測裝置1、1A等之行動電話。該行動電話例如藉由連結部(鉸鏈部)553而連結上側殼體551與下側殼體552，且具有顯示器554。該顯示器554包括觸控檢測裝置1、1A等。
(應用例6)
圖31所示之電子機器係應用觸控檢測裝置1、1A等之被稱為所謂之智慧型手機之行動電話。該行動電話例如於大致長方形之薄板狀之殼體601之表面部具有觸控面板602。該觸控面板602包括觸控檢測裝置1、1A等。
3.本揭示之構成
本揭示可採取如下之構成。
(1)一種觸控檢測裝置，其包含：第1驅動區域及第2驅動區域，其等具有複數個驅動電極、及複數個檢測電極，該等複數個驅動電極朝向第1方向延伸，且朝向與上述第1方向交叉之上述第2方向排列，施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號，該等複數個檢測電極朝向上述第2方向延伸，且朝向上述第1方向排列，輸出作為對應於與上述驅動電極之間產生之靜電電容之變化之信號的檢測信號；且該等第1驅動區域及第2驅動區域排列於第2方向且鄰接；鄰接之上述第1驅動區域與上述第2驅動區域之間之邊界；以及包含於上述第1驅動區域之第1特定區域、及包含於上述第2驅動區域之第2特定區域；且上述第1特定區域與上述第2特定區域隔著上述邊界而面對，於對存在於上述第1特定區域之驅動電極施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第2驅動區域之驅動電極施加驅動信號，於對上述第2特定區域施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第1驅動區域之驅動電極施加驅動信號。
(2)如上述(1)之觸控檢測裝置，其於對存在於上述第1特定區域之驅動電極施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第2驅動區域之所有驅動電極施加驅動信號，於對上述第2特定區域施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第1驅動區域之所有驅動電極施加驅動信號。
(3)如上述(1)或上述(2)之觸控檢測裝置，其中屬於鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域之各個上述檢測電極之上述邊界側之位置相同。
(4)如上述(1)至上述(3)中任一項之觸控檢測裝置，其中上述第1 驅動區域與上述第2驅動區域為相同之大小。
(5)如上述(1)至上述(4)中任一項之觸控檢測裝置，其中上述第1特定區域及上述第2特定區域至少為上述第2方向上之上述驅動電極之尺寸之1/2以上。
(6)如上述(1)至上述(5)中任一項之觸控檢測裝置，其於上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之至少1者中，對上述複數個驅動電極中之至少2個同時施加上述驅動信號。
(7)如上述(1)至上述(5)中任一項之觸控檢測裝置，其於對鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之任一者均未施加驅動信號之期間，在鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域內，並列進行觸控檢測。
(8)如上述(1)至上述(6)中任一項之觸控檢測裝置，其中上述第1驅動區域之上述檢測電極隔著上述邊界而與上述第2驅動區域之檢測電極分離，上述第2驅動區域之上述檢測電極隔著上述邊界而與上述第1驅動區域之檢測電極分離，且針對每個上述第1驅動區域及上述第2驅動區域具有複數個上述檢測電極。
(9)如上述(1)至上述(8)中任一項之觸控檢測裝置，其於對屬於上述第1特定區域之上述驅動電極及屬於上述第2特定區域之上述驅動電極施加上述驅動信號時，將自上述第1特定區域之上述檢測電極之輸出、與自上述第2特定區域之上述檢測電極之輸出之和作為檢測信號，於對屬於除上述第1特定區域及上述第2特定區域外之上述驅動電極施加上述驅動信號時，將自每個上述第1驅動區域及上述第2驅動區域之上述檢測電極之輸出作為檢測信號。
(10)如上述(1)至上述(8)中任一項之觸控檢測裝置，其於驅動上述第1特定區域之驅動電極或上述第2特定區域之驅動電極之情形時， 僅檢測來自上述第1驅動區域之檢測電極或上述第2驅動區域之檢測電極之檢測信號。
(11)如上述(1)至上述(10)中任一項之觸控檢測裝置，其中上述第1驅動區域與上述第2驅動區域於上述第2方向側鄰接，將相當於自上述邊界向上述第1驅動區域側特定數量之上述驅動電極之區域設為上述第1特定區域，屬於上述第1驅動區域之上述複數個驅動電極之數量多於屬於上述第2驅動區域之上述複數個驅動電極之數量，且重複進行如下操作：自屬於上述第1驅動區域之上述複數個驅動電極中之於上述第2方向上最遠離上述邊界之驅動電極向上述邊界側的驅動電極依次施加上述驅動信號，且自屬於上述第2驅動區域之上述複數個驅動電極中之最接近上述邊界之驅動電極或最遠離上述邊界之驅動電極向於上述第2方向上自上述邊界離開之驅動電極依次施加上述驅動信號。
(12)如上述(1)至上述(11)中任一項之觸控檢測裝置，其中上述第1方向上之上述驅動電極之尺寸大於上述第2方向上之上述第1及第2驅動區域之整體之尺寸。
(13)如上述(1)至上述(12)中任一項之觸控檢測裝置，其中藉由相互電容方式而驅動屬於上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之至少一個驅動區域之上述驅動電極及上述檢測電極，藉由自我電容方式而驅動屬於未藉由上述相互電容方式驅動之驅動區域之上述驅動電極及上述檢測電極。
(14)一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包括如上述(1)至上述(13)中任一項之觸控檢測裝置。
(15)一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含觸控檢測裝置及顯示裝置， 該觸控檢測裝置包含：第1驅動區域及第2驅動區域，其等具有複數個驅動電極、及複數個檢測電極，該等複數個驅動電極朝向第1方向延伸，且朝向與上述第1方向交叉之上述第2方向排列，施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號，該等複數個檢測電極朝向上述第2方向延伸，且朝向上述第1方向排列，輸出作為對應於與上述驅動電極之間產生之靜電電容之變化之信號的檢測信號，且該等第1驅動區域及第2驅動區域排列於第2方向且鄰接；鄰接之上述第1驅動區域與上述第2驅動區域之間之邊界；以及包含於上述第1驅動區域之第1特定區域、及包含於上述第2驅動區域之第2特定區域；該顯示裝置與上述觸控檢測裝置組合；並且上述第1特定區域與上述第2特定區域隔著上述邊界而面對，上述顯示裝置之顯示掃描與上述觸控檢測裝置之觸控檢測掃描之方向不同。
(16)一種電子機器，其包括如上述(1)至上述(13)中任一項之觸控檢測裝置。
以上，對本揭示進行了說明，但本揭示並不藉由上述內容而限定。又，於上述本揭示之構成要素中，包含業者可容易地設想者、實質上相同者、所謂之均等之範圍者。進而，上述構成要素可適當地組合。又，可於不脫離本揭示之主旨之範圍內，進行構成要素之各種省略、置換及變更。
1‧‧‧觸控檢測裝置
11‧‧‧控制部
40‧‧‧觸控檢測處理部
53‧‧‧驅動部
65‧‧‧邊界
66‧‧‧干涉部
67L‧‧‧獨立部
67R‧‧‧獨立部
COML‧‧‧驅動電極
L‧‧‧驅動區域
R‧‧‧驅動區域
L0~Lm‧‧‧區塊
R0~Rn‧‧‧區塊
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Vcom‧‧‧驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
Z‧‧‧方向

Claims (16)

  1. 一種觸控檢測裝置，其包含：第1驅動區域及第2驅動區域，其等包含複數個驅動電極、及複數個檢測電極，該等複數個驅動電極朝向第1方向延伸，且朝向與上述第1方向交叉之上述第2方向排列，被施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號，該等複數個檢測電極朝向上述第2方向延伸，且朝向上述第1方向排列，輸出作為對應於與上述驅動電極之間產生之靜電電容之變化的信號之檢測信號，且該等第1驅動區域及第2驅動區域排列於第2方向且鄰接；鄰接之上述第1驅動區域與上述第2驅動區域之間之邊界；以及包含於上述第1驅動區域之第1特定區域及包含於上述第2驅動區域之第2特定區域；且上述第1特定區域與上述第2特定區域隔著上述邊界而面對，於對存在於上述第1特定區域之驅動電極施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第2驅動區域之驅動電極施加驅動信號，於對上述第2特定區域施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第1驅動區域之驅動電極施加驅動信號。
  2. 如請求項1之觸控檢測裝置，其於對存在於上述第1特定區域之驅動電極施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第2驅動區域之所有驅動電極施加驅動信號，於對上述第2特定區域施加驅動信號之時序，停止對存在於上述第1驅動區域之所有驅動電極施加驅動信號。
  3. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中屬於鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域之各個上述檢測電極之上述邊界側之位置相 同。
  4. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中上述第1驅動區域與上述第2驅動區域為相同之大小。
  5. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中上述第1特定區域及上述第2特定區域至少為上述第2方向上之上述驅動電極之尺寸之1/2以上。
  6. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中於上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之至少1者中，對上述複數個驅動電極中之至少2個同時施加上述驅動信號。
  7. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中於對鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之任一者均未施加驅動信號之期間，在鄰接之上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中並列進行觸控檢測。
  8. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中上述第1驅動區域之上述檢測電極隔著上述邊界而與上述第2驅動區域之檢測電極分離，上述第2驅動區域之上述檢測電極隔著上述邊界而與上述第1驅動區域之檢測電極分離，且針對每個上述第1驅動區域及上述第2驅動區域具有複數個上述檢測電極。
  9. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中於對屬於上述第1特定區域之上述驅動電極及屬於上述第2特定區域之上述驅動電極施加上述驅動信號時，將自上述第1特定區域之上述檢測電極之輸出、與自上述第2特定區域之上述檢測電極之輸出之和作為檢測信號，於對屬於除上述第1特定區域及上述第2特定區域外之上述驅動電極施加上述驅動信號時，將自每個上述第1驅動區域及上述第2驅動區域之上述檢測電極之輸出作為檢測信號。
  10. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中於驅動上述第1特定區域之驅動電極或上述第2特定區域之驅動電極之情形時，僅檢測來自上 述第1驅動區域之檢測電極或上述第2驅動區域之檢測電極之檢測信號。
  11. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中上述第1驅動區域與上述第2驅動區域於上述第2方向側鄰接，將相當於自上述邊界向上述第1驅動區域側特定數量之上述驅動電極之區域設為上述第1特定區域，屬於上述第1驅動區域之上述複數個驅動電極之數量多於屬於上述第2驅動區域之上述複數個驅動電極之數量，且重複進行如下操作：自屬於上述第1驅動區域之上述複數個驅動電極中之於上述第2方向上最遠離上述邊界之驅動電極向上述邊界側之驅動電極依次施加上述驅動信號，且自屬於上述第2驅動區域之上述複數個驅動電極中之最接近上述邊界之驅動電極或最遠離上述邊界之驅動電極向於上述第2方向上自上述邊界離開之驅動電極依次施加上述驅動信號。
  12. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中上述第1方向上之上述驅動電極之尺寸大於上述第2方向上之上述第1及第2驅動區域之整體之尺寸。
  13. 如請求項1之觸控檢測裝置，其中藉由相互電容方式而驅動屬於上述第1驅動區域及上述第2驅動區域中之至少1者之上述驅動電極及上述檢測電極，並藉由自我電容方式而驅動屬於未藉由上述相互電容方式驅動之驅動區域之上述驅動電極及上述檢測電極。
  14. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包括如請求項1之觸控檢測裝置。
  15. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含觸控檢測裝置及顯示裝置， 該觸控檢測裝置包含：第1驅動區域及第2驅動區域，其等包含複數個驅動電極、及複數個檢測電極，該等複數個驅動電極朝向第1方向延伸，且朝向與上述第1方向交叉之上述第2方向排列，被施加作為用以檢測對象物之接近及接觸中之至少一者之信號的驅動信號，該等複數個檢測電極朝向上述第2方向延伸，且朝向上述第1方向排列，輸出作為對應於與上述驅動電極之間產生之靜電電容之變化之信號的檢測信號，且該等第1驅動區域及第2驅動區域排列於第2方向且鄰接；鄰接之上述第1驅動區域與上述第2驅動區域之間之邊界；以及包含於上述第1驅動區域之第1特定區域、及包含於上述第2驅動區域之第2特定區域；該顯示裝置與上述觸控檢測裝置組合；並且上述第1特定區域與上述第2特定區域隔著上述邊界而面對，上述顯示裝置之顯示掃描與上述觸控檢測裝置之觸控檢測掃描之方向不同。
  16. 一種電子機器，其包括如請求項1之觸控檢測裝置。
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