TW201502496A - 偏光板檢測方法 - Google Patents

Abstract

本發明之目的為提供一種偏光板檢測方法，正確度高且可以簡單地判定是否為不良品。本發明關於一種偏光板檢測方法，更詳細來說，關於一種偏光板檢測方法，從位於至少有一面與離型膜接合的一偏光板之一側之光源，照射出光線，由位於該偏光板的相反側的攝影機器所取得影像中檢測缺陷，藉由在滿足公式1時判定為良品，可識別偏光板的不良以及離型膜之不良，不管是否為良品，都能減少判定為不良品之情況，由於具有正確性高的特性，所以能提高生產性。

Description

偏光板檢測方法

本發明是關於一種偏光板檢測方法。

各種的光學機能性薄膜被使用於液晶顯示器。已知有薄膜狀的偏光板作為該光學機能性薄膜。在該偏光板的一面，形成有黏著層，該黏著層用來將偏光板接合於液晶顯示器之玻璃基板等。該黏著層在接合於玻璃基板等前，被離型膜所覆蓋。

此種偏光板在其製造工序中，有發生在薄膜表面或薄膜內部附著異物，或是產生汙染、損傷等各種缺陷的情況。因此，在偏光板的製造工序中，會進行缺陷檢測。缺陷檢測是由光源對積層薄膜照射光線，然後以攝影機拍攝偏光板的穿透光或反射光，根據該攝影所得圖像來進行。

在日本特開2007-213016號公報揭露了一種缺陷檢查裝置，在偏光板及攝影機之間有偏光濾片的狀態下，拍攝偏光板的穿透光。偏光濾片係其偏光軸與偏光板的偏光軸垂直，也就是成為正交尼科耳（cross Nicol）配置。藉此，當偏光板中不存有缺陷時，偏光板的穿透光之振動方向係與偏光濾片的偏光軸垂直，所以該穿透光會被偏光濾片遮斷。因此，藉由穿透光所得之圖像(穿透像)為全面黑色圖像。對此，當偏光板存在缺陷的時候，藉由穿透該缺陷部分的穿透光的偏光狀態變化，該缺陷部分的穿透光會穿透偏光板。因此，穿透像的缺陷部分所對應的部分之亮度變高。藉此，可檢測偏光板有無缺陷。

附著在偏光板的離型膜，在液晶顯示器的製造工序中，最後會從偏光板上被剝離。因此，即使離型膜本身存在缺陷，只要其黏著層之保護機能沒有損傷，就不需要把該離型膜的缺陷也判斷成缺陷。然而，習知之檢測方法中，無法識別偏光板之缺陷與離型膜之缺陷。 【先前技術文獻】 【專利文獻】

【專利文獻1】　日本特開2007-213016號公報

【發明所欲解決之課題】

本發明之目的為提供一種偏光板檢測方法，正確度高且可以簡單地判定是否為不良品。 【用以解決課題之手段】

1.一種偏光板檢測方法，從位於至少有一面與離型膜接合的一偏光板之一側之光源，照射出光線，由位於該偏光板的相反側的攝影機器所取得影像中檢測缺陷，在滿足下列公式1時，判定為良品。 [公式1] A/B ≦ 0.2 （公式中，A值為該所取得影像中所檢測出之黑點所佔畫素數，B值為在該偏光板之一側，配置吸收軸與該偏光板垂直之一偏光濾片後，在所取得之影像中，於該黑點位置所檢測出的亮點所佔畫素數。）

2.在上述項目1之中，在灰階(gray leverl)128的基準光量下的灰階為15-128。

3.在上述項目1之中，在灰階(gray leverl)0的基準光量下的灰階為15-225。

4. 在上述項目1之中，該A值為1-10000。

5. 在上述項目1之中，該B值為1-10000。

6. 在上述項目1之中，當該A/B在0.1以下時判定為良品。 【發明之效果】

本發明之偏光板檢測方法為，不管是否為良品，都能夠減少因離型膜之不良而判定為不良品之情況，由於具有正確性高的特性，所以能提高生產性。

本發明之偏光板檢測方法，能夠簡單地識別偏光板的不良與離型膜的缺陷。

本發明是關於一種偏光板檢測方法，從位於至少有一面與離型膜接合的一偏光板之一側之光源，照射出光線，由位於該偏光板的相反側的攝影機器所取得影像中檢測缺陷，藉由在滿足公式1時判定為良品，可識別偏光板的不良以及離型膜之不良，不管是否為良品，都能減少判定為不良品之情況，由於具有正確性高的特性，所以能提高生產性。

以下更詳細地說明關於本發明內容。

作為製程中所製造的偏光板之檢測方法,，以下列舉兩種類的方法當作代表實施例。

第1個檢測方法為從位於偏光板一側之光源照射光線，從位於該偏光板另一側之攝影機器所取得的影像來檢測缺陷之方法(白色模式)。該方法以第1圖概略表示。

參考第1圖，偏光板102將從光源103照射之光線變換成單一偏光狀態使其透過，在上述白色模式下檢測偏光板102時，偏光板102的全面都被判斷為高亮度部。然而，當偏光板102中有缺陷時，光線不會透過該缺陷部分，而對應缺陷的部分以黑點表示。

第2個檢測方法為在偏光板102的一側配置吸收軸與該偏光板102垂直之偏光濾片202後，在位於偏光板102一側之光源103照射光線，從位於該偏光板102之另一側之攝影機器101所取得影像來檢測缺陷之方法(黑色模式)。該方法以第2圖概略表示。

參考第2圖，於偏光板102的一側配置吸收軸垂直的偏光濾片202的黑色模式下進行檢測時，穿透光被遮斷，在上述黑色模式下檢測偏光板102時，偏光板102的全面被判斷為黑色影像。然而，當偏光板102有缺陷時，因透過該缺陷部分的穿透光的偏光狀態改變，所以缺陷部分的穿透光穿透偏光板102，缺陷部分所對應的部分會以亮點表示。

習知技術中，僅判定該黑點缺陷或是亮點缺陷之大小，當兩個缺陷中一個以上的缺陷大小超過一定尺寸時即判定為不良品。

然而，在實際產業的大量製造工序中，離型膜是附著在偏光板上生產的，所以在檢測偏光板時，離型膜是被接合著的狀態來進行檢測。該黑色缺陷以及亮點缺陷，在與偏光板接合的離型膜有缺陷時亦被檢測出，而由於離型膜在液晶顯示器等製造工序中最後才從偏光板剝離，所以檢測時需要將離型膜之缺陷識別為偏光板的缺陷。

然而，如前述，習知技術僅判定黑點缺陷或亮點缺陷之大小，當兩個缺陷的其中一個以上缺陷的大小超過一定尺寸時，即判定為不良品的情形下，無法識別其屬離型膜的缺陷或是偏光板的缺陷。雖然偏光板本身為良品，卻會有因離型膜的缺陷而被判定為不良品的問題。

該偏光板的黑點缺陷以及亮點缺陷，雖以多樣的形狀呈現，且可具多種樣態，但本發明之發明人著眼於離型膜的缺陷可在白色模式或是黑色模式影像中被識別出之特徵，而導出本發明。當離型膜中存有缺陷的時候，該缺陷會在白色模式中以黑點缺陷呈現，而在黑色模式中以亮點呈現，而所示該亮點缺陷所佔畫素數比該黑點缺陷之畫素數還大。

第3圖表示出當偏光板本身為良品，但貼合之離型膜為不良時的缺陷，如此當偏光板的某處在同時檢測出黑點缺陷以及亮點缺陷時，在本發明當中，黑點缺陷所佔畫素數以及亮點缺陷所佔畫素數滿足下列公式1時，認定為離型膜之缺陷，判定偏光板為良品。藉此可識別離型膜缺陷以及偏光板本身缺陷。也藉此降低大量檢測出不良品的情形，來提高生產性。 [公式1] A/B ≦ 0.2 （公式中，A值為該所取得影像中所檢測出之黑點所佔畫素數，B值為在該偏光板之一側配置一偏光濾片，在所取得影像中，於該黑點位置所檢測出的亮點所佔畫素數，該偏光板具有一第一吸收軸，該偏光濾片具有一第二吸收軸，該第二吸收軸與該第一吸收軸投影於該偏光濾片之軸相垂直。）

第4圖為表示根據本發明一具體例所取得影像之黑點缺陷。在第4圖中，黑點所佔畫素數量為5，因此A值為5。再以同樣方法，依呈現亮點缺陷之影像求得B值，然後求得A/B之值。

在本發明中，黑點以及亮點各意味著在白色模式及黑色模式中檢測到的異物。因此，黑點以及亮點，可應所製造偏光板的用途或材質等來多樣地定義。

例如，黑點在白色模式以灰階(gray level)128的基準光亮下的灰階度為15-128，而亮點在黑色模式是以灰階(gray level)0的基準光亮下的灰階度為15-255。將上述範圍之黑點以及亮點代入本發明之上述公式計算，則表示高信賴度。

灰階為表示明暗之數值，據白色以及黑色的明暗程度，以1-255表示。黑色為0，而白色則對應256。黑色模式中沒有缺陷的部分，由於光不透過，所以灰階度為0。

當A/B為0.2以下時判定為良品，而較佳的例子也能設定為在0.1以下時判定為良品。A/B為該數值範圍內情況下的缺陷，可被視為產生於離型膜上的缺陷。藉此，可識別離型膜與偏光板的缺陷，即使在偏光板本身不存在缺陷的情況下，也能使因離型膜的缺陷而被判定為不良品的情形減少。

A值的範圍並未特別限定，例如可為1-10000間任何數值。

B值的範圍並未特別限定，例如可為1-100000間任何數值。

在測定B值時，偏光濾片的位置並無特別限定，例如可以位於光源與偏光板之間，也可以位於偏光板與攝影機器之間。

本發明的檢測對象，即偏光板，並無特別受限，是在本領域中一般使用之偏光元件以及在該偏光元件的至少一面包含保護膜之物，該保護膜之中的至少有一者，是以接著層作為媒介來附著有離型膜的偏光板。

偏光鏡並無特別限定，為本領域一般使用的聚乙烯醇(PVA)類薄膜所製造，根據一般的偏光元件的製造方法，經過延伸製程、溶脹製程、染色製程、硼酸水溶液處理製程、水洗以及乾燥製程等所製造。

保護膜並無特別限定，只要具有良好透明性、機械強度、熱穩定性、水份遮蔽性、等向性等性質之薄膜均適用。例如，由二丙醯纖維素、三丙醯纖維素、雙乙醯纖維素、三乙醯纖維素等之纖維素類薄膜；環烯烴（cyclo-olefin polymer，COP）、環烯烴共聚物（Cyclo-olefin copolymer，COC）、聚降冰片烯（Polynorbornene，PNB）、聚丙烯、聚乙烯、乙烯丙烯共聚物等之聚烯烴類薄膜；聚（甲基）丙烯酸甲酯、聚（甲基）丙烯酸乙酯等之丙烯酸類薄膜；聚對苯二甲酸乙二酯、聚間苯二甲酸亞乙酯、聚對苯二甲酸丁二酯等之聚酯類薄膜中之一種以上所構成，其中又以三醋酸纖維素等之纖維素類薄膜較佳。

本發明之附著於偏光板之離型膜並無特別限定，為本領域中一般使用之離型膜，例如，由聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯、聚(4-甲基-1-戊烯)、乙烯－丙烯共聚物、乙烯-1-丁烯共聚物、乙烯－醋酸乙烯酯共聚物、乙烯－丙烯酸乙酯共聚物、乙烯－乙烯醇共聚物等之聚烯烴樹脂；聚對苯二甲酸乙二酯、聚間苯二甲酸亞乙酯、聚對苯二甲酸丁二酯等聚酯類樹脂；丙烯酸類樹脂；苯乙烯類樹脂；聚醯胺類樹脂；聚氯乙烯類樹脂；聚偏二氯乙烯類樹脂；聚碳酸酯類樹脂所組成之薄膜。亦可藉由聚矽氧類、氟類、氧化矽粉末等適當離型處理。

以下為使容易理解本發明之較佳實施例，然而此實施例僅為例示本發明，並非限制所附之申請專利範圍，熟習本領域技術者能在本發明範疇以及技術思想範圍內對於實施例可進行多樣的變更及修正，而其變更及修正當然亦屬所附之申請專利範圍內。

【實施例】 製作6個偏光板樣本(VAT-46-216、東友Fine-Chem)以及6個離型膜樣本品(82N、LTC)。

分別將製造好的偏光板之一面接合離型膜，製作偏光板(樣品1-6)。其後，將光源置於製造好的偏光板下部，照射光線，並以置於偏光板上部的攝影機器取得影像，並求得A值。然後，於該偏光板之上部配置吸收軸與偏光板垂直之偏光濾片後，取得影像來求得B值。然後求得A/B值。其結果如下表1所示。

參考上表1，當樣本為1-3時，由於A/B值超過0.7，所以判定為不良品。其後，剝離下離型膜後進行確認，確認離型膜並無問題，偏光板本身為不良品。

然而，樣本4-6的狀況中，由於A/B值未滿0.2，所以判定為良品。與上述同樣，剝離下離型膜後進行確認，離型膜存有缺陷，偏光板本身則無問題。

101‧‧‧攝影機器
102‧‧‧偏光板
103‧‧‧光源
202‧‧‧偏光濾片

第1圖為概略表示本發明偏光板檢測方法(白色模式)具體例之圖。     第2圖為概略表示本發明偏光板檢測方法(黑色模式)具體例之圖。     第3圖為表示雖然偏光板本身為良品，但與不良之離型膜貼合的情況下的黑點缺陷以及亮點缺陷之圖。     第4圖為表示在本發明之一具體例所取得影像中之黑點缺陷之圖。

Claims (6)

1. 一種偏光板檢測方法，從位於至少有一面與離型膜接合的一偏光板之一側之光源，照射出光線，由位於該偏光板的相反側的攝影機器所取得影像中檢測缺陷，在滿足下列公式1時，判定為良品。      [公式1]      A/B ≦ 0.2      （公式中，A值為該所取得影像中所檢測出之黑點所佔畫素數，B值為在該偏光板之一側配置一偏光濾片，在所取得影像中，於該黑點位置所檢測出的亮點所佔畫素數，該偏光板具有一第一吸收軸，該偏光濾片具有一第二吸收軸，該第二吸收軸與該第一吸收軸投影於該偏光濾片之軸相垂直。）
2. 如申請範圍第1項所述的偏光板檢測方法，其中在灰階(gray leverl)128的基準光量下的灰階為15-128。
3. 如申請範圍第1項所述的偏光板檢測方法，其中在灰階(gray leverl)0的基準光量下的灰階為15-225。
4. 如申請範圍第1項所述的偏光板檢測方法，其中該A值為1-10000。
5. 如申請範圍第1項所述的偏光板檢測方法，其中該B值為1-100000。
6. 如申請範圍第1項所述的偏光板檢測方法，其中當A/B在0.1以下時判定為良品。