TW201437863A - 測試治具 - Google Patents
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Abstract
一種測試治具,其包含有一驅動件、一支撐件、一第一彈性元件、複數個連接件以及複數個測試元件。該驅動件包含有一板部與一套筒結構,該套筒結構之側壁具有一導引槽。該支撐件包含有一基部、一橋接柱以及一導銷。該基部具有複數個樞孔結構。該橋接柱設置於該基部之上表面,以可相對移動方式設置在該套筒結構內。該導銷設置於該橋接柱之側面,並滑動地穿設該導引槽。該第一彈性元件套設該橋接柱且抵接該套筒結構,用以驅動該基部相對該板部之移動。該連接件分別樞接於該相對應樞孔結構,且各測試元件設置在該相對應連接件上。
Description
本發明係提供一種觸控功能的測試治具,尤指一種應用於多點觸控功能的測試治具。
傳統的觸控功能測試治具只有單點作動功能,其係包含驅動機構、連接臂與測試元件。連接臂之兩端分別連接驅動機構和測試元件,驅動機構可控制連接臂上下移動,以帶動測試元件接觸或遠離一待測物件,例如觸控螢幕。傳統的測試治具僅能控制單一測試元件對待測物件進行單點式移動軌跡測試。然而隨著科技的進步,多點式觸控螢幕已廣泛地應用在各類型的消費性電子產品上,故如何設計出一種可應用於多點式觸控螢幕,且可快速簡便地進行觸控點橫向移動及旋轉作動的測試治具,便為相關機構設計產業的發展目標之一。
本發明係提供一種應用於多點觸控功能的測試治具,以解決上述之問題。
本發明之申請專利範圍係揭露一種應用於多點觸控功能的測試治具,其包含有一驅動件、一支撐件、一第一彈性元件、複數個連接件以及複數個測試元件。該驅動件包含有一板部以及一套筒結構。該套筒結構設置於該板部,且該套筒結構之側壁具有一導引槽。該支撐件活動地設置於該驅動件。該支撐件包含有一基部、
一橋接柱以及一導銷。該基部具有複數個樞孔結構。該橋接柱設置於該基部之上表面,且以可相對移動方式設置在該套筒結構內。該導銷設置於該橋接柱之側面並滑動地穿設該導引槽。該第一彈性元件設置於該基部與該套筒結構之間,驅動該基部相對該板部之移動。複數個連接件分別樞接於該基部之該相對應樞孔結構。該複數個測試元件分別設置在該相對應連接件上。
本發明之申請專利範圍另揭露該第一彈性元件係套設該橋接柱,且該第一彈性元件之兩端分別抵接於該套筒結構與該基部。
本發明之申請專利範圍另揭露該第一彈性元件為一壓縮彈簧或一扭簧。
本發明之申請專利範圍另揭露該基部包含有一板狀結構以及一接合結構。該複數個樞孔結構設置於該接合結構上,且該接合結構設置在該板狀結構之底面。
本發明之申請專利範圍另揭露該測試元件具有一固定孔以及一擋板。該測試元件係穿過該連接件之一穿孔,並利用一固定元件穿設該固定孔,使得該固定孔與該固定元件之一組合及該擋板可限制該測試元件相對該連接件之移動。
本發明之申請專利範圍另揭露該測試治具另包含有至少一第二彈性元件,套設於該測試元件。該第二彈性元件之兩端分別抵靠該連接件與該擋板。
本發明之申請專利範圍另揭露該第二彈性元件為一壓縮彈簧。
本發明之申請專利範圍另揭露該測試治具另包含有至少一第三彈性元件。該第三彈性元件之兩端分別設置在該基部與該連接件。
本發明之申請專利範圍另揭露該第三彈性元件為一彎折
彈片或一扭簧。
本發明之申請專利範圍另揭露該導引槽為一線性斜槽,該線性斜槽之一結構方向實質相交於該套筒結構之一軸向。
本發明之申請專利範圍另揭露該導引槽為一曲型弧槽,該曲型弧槽之兩端的切線方向分別實質平行及垂直於該套筒結構之一軸向。
本發明之申請專利範圍另揭露該導引槽為一螺旋狀環型槽。該螺旋狀環型槽係環繞該套筒結構,且該螺旋狀環型槽的兩端之間具有一高度落差。
本發明之申請專利範圍另揭露該測試治具另包含有一傳動器,設置於該驅動件。該傳動器透過該驅動件帶動該支撐件上下移動,以施壓該複數個測試元件接觸一待測物件。
本發明之測試治具具有結構簡單與操作容易的優點。本發明利用傳動器沿著單一方向移動驅動件,便可帶動複數個測試元件在待測物件上同時模擬多點縮放與旋轉的觸控操作,適於廣泛應用在具備多點觸控功能的觸控面板,並可大幅縮短測試時間以有效提昇工作效率。
10‧‧‧測試治具
12‧‧‧載具
14‧‧‧載板
16‧‧‧導引件
18‧‧‧待測物件
20‧‧‧驅動件
22‧‧‧支撐件
24‧‧‧第一彈性元件
26‧‧‧連接件
261‧‧‧穿孔
28‧‧‧測試元件
281‧‧‧固定孔
283‧‧‧擋板
30‧‧‧第二彈性元件
32‧‧‧第三彈性元件
34‧‧‧傳動器
36‧‧‧板部
38‧‧‧套筒結構
40‧‧‧導引槽
40’‧‧‧導引槽
40”‧‧‧導引槽
42‧‧‧基部
44‧‧‧橋接柱
46‧‧‧導銷
48‧‧‧板狀結構
50‧‧‧接合結構
52‧‧‧樞孔結構
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
D3‧‧‧結構方向
D4‧‧‧軸向
D5‧‧‧切線方向
D6‧‧‧切線方向
第1圖為本發明實施例之測試治具之示意圖。
第2圖為本發明實施例之測試治具之元件爆炸圖。
第3圖為本發明實施例之測試治具之組立圖。
第4圖為本發明實施例之連接件與測試元件之示意圖。
第5圖為本發明另一實施例之導引槽之示意圖。
第6圖為本發明另一實施例之導引槽之示意圖。
第7圖為本發明實施例之測試治具未接觸待測物件之示意圖。
第8圖為本發明實施例之測試治具已接觸待測物件之示意圖。
第9圖為第7圖之下視圖。
第10圖為第8圖之下視圖。
請參閱第1圖,第1圖為本發明實施例之一測試治具10之示意圖。測試治具10係可用來測試具有多點觸控功能的觸控面板。測試治具10可安裝於一載具12,並相對載具12上下垂直移動以進行多點觸控的測試。載具12可包含有一載板14與數個導引件16。載板14係用以放置待測物件18,例如待測物件18可為觸控面板。測試治具10則安裝在導引件16上,藉由沿著導引件16上下移動而調控測試治具10與載板14之間的相對距離。
請參閱第1圖至第3圖,第2圖為本發明實施例之測試治具10之元件爆炸圖,第3圖為本發明實施例之測試治具10之組立圖。測試治具10包含有一驅動件20、一支撐件22、一第一彈性元件24、複數個連接件26、複數個測試元件28、至少一第二彈性元件30、至少一第三彈性元件32以及一傳動器34。驅動件20包含有一板部36以及一套筒結構38。套筒結構38設置於板部36之中央區域,且套筒結構38之側壁具有一導引槽40。傳動器34設置在驅動件20上,用來下壓驅動件20以使測試元件28接觸待測物件18。
支撐件22活動地設置在驅動件20下端。支撐件22包含有一基部42、一橋接柱44以及一導銷46。基部42可具有一板狀結構48、一接合結構50以及複數個樞孔結構52。其中,接合結構50設置在板狀結構48之底面,樞孔結構52則設置於接合結構50上。橋接柱44設置於基部42之板狀結構48的上表面,並以可相對移動方式設置於套筒結構38內部。導銷46設置在橋接柱44之側面,且滑動地穿設導引槽40。因此,當橋接柱44沿著一第一方向D1相對套筒結構38上下移動時,橋接柱44還可因導銷46和導引槽40之
組合而沿著一第二方向D2自轉。
連接件26與測試元件28之數量依據待測物件18的多點觸控測試需求而定。複數個連接件26分別樞接於基部42之相對應樞孔結構52,且各測試元件28設置在相應的連接件26上。請參閱第4圖,第4圖為本發明實施例之連接件26與測試元件28之示意圖。連接件26具有一穿孔261。測試元件28具有一固定孔281以及一環型擋板283。測試元件28可將其桿體穿過連接件26之穿孔261,並將固定元件54穿設固定孔281,以使測試元件28相對穿孔261上下移動時可分別被擋板283和固定元件54限位,避免連接件26與測試元件28分離。
如第2圖與第3圖所示,第一彈性元件24設置於橋接柱44與套筒結構38之間。詳細來說,第一彈性元件24係套設橋接柱44,且第一彈性元件24之兩端分別抵接套筒結構38與基部42。第一彈性元件24可為一壓縮彈簧或一扭簧,用來驅動支撐件22與驅動件20相互分離。一外力會施加於驅動件20,使驅動件20帶動支撐件22與測試元件28下壓待測物件18,此時第一彈性元件24被壓縮而支撐件22和驅動件20之間距縮短。當施加在驅動件20的外力移除後,第一彈性元件24之彈性恢復力便可驅動支撐件22遠離驅動件20而回復到初始位置。
再者,如第3圖與第4圖所示,各個第二彈性元件30可套設在相對應測試元件28的桿體上,且第二彈性元件30之兩端分別抵靠連接件26與擋板283。第二彈性元件30可為一壓縮彈簧。連接件26施壓測試元件28以碰觸待測物件18時,測試元件28可因待測物件18的反作用力而相對穿孔261往上移動,此時第二彈性元件30被壓縮。施壓在連接件26的外力移除後,第二彈性元件30之彈性恢復力即可驅動測試元件28相對穿孔261向下移動,以將測
試元件28回復到初始位置。其中,測試元件28觸壓待測物件18的壓力實質對應於第二彈性元件30的彈性壓縮力,意即使用者可搭配使用合適的第二彈性元件30,以將測試元件28施壓於待測物件18的壓力控制在理想的預設範圍內。
請再參閱第2圖與第3圖,第三彈性元件32除了用來調控連接件26的擺動角度外,亦可控制測試元件28施加在待測物件18的壓力。各個第三彈性元件32之兩端分別設置於基部42和連接件26上,連接件26之表面可選擇性形成一凹槽以容置第三彈性元件32的一端,而第三彈性元件32的另一端可以螺絲或鉚釘固定在基部42的底面。一般來說,第三彈性元件32可為一彎折彈片或一扭簧。當連接件26相對樞孔結構52旋轉而靠近基部42時,第三彈性元件32被壓縮而儲存彈性恢復力;反之若施壓在連接件26的外力移除後,第三彈性元件32之彈性恢復力便可驅動連接件26相對基部42反向轉動,使連接件26回復到初始位置。
如第2圖所示,導引槽40可為一線性斜槽,線性斜槽的結構方向D3實質相交於套筒結構38之軸向D4。只要結構方向D3和軸向D4之夾角介於零度與九十度間皆可符合本發明之導引槽40的設計需求。如此一來,導銷46沿著線性斜槽滑移時,支撐件22可相對驅動件20同步產生上下移動及左右旋轉的動作。除此之外,本發明之導引槽40另可包含其他應用態樣。請參閱第5圖與第6圖,第5圖為本發明另一實施例之導引槽40’之示意圖,第6圖為本發明另一實施例之導引槽40’’之示意圖。如第5圖所示,導引槽40’可為一曲型弧槽。曲型弧槽兩端的切線方向D5與D6可分別實質平行及垂直於套筒結構38之軸向D4。因此導銷46沿著曲型弧槽移動時,支撐件22仍可相對驅動件20同步產生上下移動及左右旋轉的動作。如第6圖所示,導引槽40’’可為一螺旋狀環型槽。螺旋
狀環型槽係環繞套筒結構38,且螺旋狀環型槽的兩端可具有高度差,此高度差即為支撐件22相對驅動件20上下移動的位移量,而支撐件22相對驅動件20的旋轉量實質可達三百六十度。導引槽之結構造型可不限於前所述,端視設計需求而定。
請參閱第7圖至第10圖,第7圖為本發明實施例之測試治具10未接觸待測物件18之示意圖,第8圖為本發明實施例之測試治具10已接觸待測物件18之示意圖,第9圖為第7圖之下視圖,第10圖為第8圖之下視圖。如第7圖與第9圖所示,測試治具10之測試元件28沒有觸碰到待測物件18,此時導銷46位於導引槽40之底端。接著,如第8圖與第10圖所示,傳動器34(未示於第7圖至第10圖)可下壓驅動件20。驅動件20帶動支撐件22、連接件26及測試元件28同步向下移動,直到測試元件28碰觸待測物件18仍會持續些微地下壓,藉此壓縮第一彈性元件24、第二彈性元件30與第三彈性元件32,以調整複數個測試元件28之間距和各測試元件28的移動軌跡。
進一步來說,由於待測物件18為固定不可移動的物件,因此第二彈性元件30受擠壓會使得測試元件28相對穿孔261上移,且第三彈性元件32受擠壓另使得連接件26相對基部42之夾角變小,如此一來複數個測試元件28之間的距離便會放大,如第7圖與第8圖之差異;接著,第一彈性元件24受擠壓使得板部36與基部42之間距縮短,而導銷46便會沿著導引槽40上移到其頂端。因為導引槽40可為線型斜槽、曲型弧槽或螺旋狀環型槽,故支撐件22可同時相對驅動件20向上移動及向右旋轉,如此一來複數個測試元件28即可繪製出一條弧形的移動軌跡,如第9圖與第10圖之差異。
綜上所述,本發明之測試治具係利用傳動器沿著單一方向
垂直地上下移動驅動件和支撐件,藉此牽引複數個測試元件在待測物件上同步執行間距放大(或縮小)及觸控點右旋轉(或左旋轉)的測試操作。本發明之測試治具將連接件樞接在基部,當支撐件下移連接件而讓測試元件接觸待測物件時,連接件可被待測物件的反作用力驅動產生樞轉以縮小夾角,使得複數個測試元件之間距變大,意即複數個觸控點可相對地反向移動,以模擬在觸控面板(待測物件)上放大圖形介面的操作指令。其中,連接件可利用本身自重回復到測試元件未接觸待測物件的角度位置,故第三彈性元件可為一選擇性配件。
相同地,測試元件觸及待測物件後會沿著穿孔上移,此時第二彈性元件被壓縮,直到測試元件與待測物件分離,第二彈性元件才會因拘束力移除而驅動測試元件相對連接件下移。然而,由於本發明之測試治具係驅動測試元件相對連接件和待測物件上下移動,因此測試元件亦可利用本身自重而取代第二彈性元件之彈性恢復力,藉此帶動測試元件回復到初始位置。換句話說,第二彈性元件亦可為一選擇性配件。
相較於先前技術,本發明之測試治具具有結構簡單與操作容易的優點。本發明利用傳動器沿著單一方向移動驅動件,便可帶動複數個測試元件在待測物件上同時模擬多點縮放與旋轉的觸控操作,適於廣泛應用在具備多點觸控功能的觸控面板,並可大幅縮短測試時間以有效提昇工作效率。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
10‧‧‧測試治具
18‧‧‧待測物件
20‧‧‧驅動件
22‧‧‧支撐件
24‧‧‧第一彈性元件
26‧‧‧連接件
28‧‧‧測試元件
30‧‧‧第二彈性元件
32‧‧‧第三彈性元件
36‧‧‧板部
38‧‧‧套筒結構
40‧‧‧導引槽
42‧‧‧基部
44‧‧‧橋接柱
46‧‧‧導銷
52‧‧‧樞孔結構
Claims (13)
- 一種應用於多點觸控功能的測試治具,其包含有:一驅動件,該驅動件包含有:一板部;以及一套筒結構,設置於該板部,該套筒結構之側壁具有一導引槽;一支撐件,活動地設置於該驅動件,該支撐件包含有:一基部,該基部具有複數個樞孔結構;一橋接柱,設置於該基部之上表面,該橋接柱以可相對移動方式設置在該套筒結構內;以及一導銷,設置於該橋接柱之側面,該導銷係滑動地穿設該導引槽;一第一彈性元件,設置於該基部與該套筒結構之間,該第一彈性元件驅動該基部相對該板部之移動;複數個連接件,分別樞接於該基部之該相對應樞孔結構;以及複數個測試元件,該複數個測試元件分別設置在該相對應連接件上。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該第一彈性元件係套設該橋接柱,且該第一彈性元件之兩端分別抵接於該套筒結構與該基部。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該第一彈性元件為一壓縮彈簧或一扭簧。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該基部包含有一板狀結構以及一接合結構,該複數個樞孔結構設置於該接合結構上,且該接合結構設置在該板狀結構之底面。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該測試元件具有一固定孔以及 一擋板,該測試元件係穿過該連接件之一穿孔,並利用一固定元件穿設該固定孔,使得該固定孔與該固定元件之一組合及該擋板可限制該測試元件相對該連接件之移動。
- 如請求項5所述之測試治具,其另包含有:至少一第二彈性元件,套設於該測試元件,該第二彈性元件之兩端分別抵靠該連接件與該擋板。
- 如請求項6所述之測試治具,其中該第二彈性元件為一壓縮彈簧。
- 如請求項6所述之測試治具,其另包含有:至少一第三彈性元件,該第三彈性元件之兩端分別設置在該基部與該連接件。
- 如請求項8所述之測試治具,其中該第三彈性元件為一彎折彈片或一扭簧。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該導引槽為一線性斜槽,該線性斜槽之一結構方向實質相交於該套筒結構之一軸向。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該導引槽為一曲型弧槽,該曲型弧槽之兩端的切線方向分別實質平行及垂直於該套筒結構之一軸向。
- 如請求項1所述之測試治具,其中該導引槽為一螺旋狀環型槽,該螺旋狀環型槽係環繞該套筒結構,且該螺旋狀環型槽的兩端之間具有一高度落差。
- 如請求項1所述之測試治具,其另包含有:一傳動器,設置於該驅動件,該傳動器透過該驅動件帶動該支撐件上下移動,以施壓該複數個測試元件接觸一待測物件。
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