TW201437656A - 半導體自動測試設備之時間量測模組及方法 - Google Patents

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qing-hua Zhu
Shi-Wen Lin
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Abstract

本發明係關於一種半導體自動測試設備之時間量測模組，時間量測模組包含複數時間量測單元，時間量測模組的量測方法係該些時間量測單元接收一參考時脈與一重置訊號，而該些時間量測單元分別包含：一同步電路用以依據參考時脈與重置訊號產生一工作時脈與一致能訊號；一參考計數器電性連接於同步電路，參考計數器用以依據致能訊號開始計數，並依據工作時脈產生一參考計數訊號；以及一量測電路電性連接於同步電路與參考計數器，量測電路用以接收一外部待測訊號，並依據參考計數訊號處理外部待測訊號之時序。

Description

半導體自動測試設備之時間量測模組及方法
    本發明係有關於一種時間量測模組及方法，其尤指一種半導體自動測試設備之時間量測模組及方法。
    在現今半導體領域中，積體電路元件必須經過多種電氣測試，以確定其功能特性。其中一項電氣測試就是測量元件的時序，要進行這項測試，必須使用時間測量單元(Time Measurement Unit，TMU)。由於半導體產業中測試的複雜度日益增加，且積體電路(integrated circuit，IC)設計工程師希望保證他們所設計的積體電路在速度和響應上能滿足設計要求，因此大多數自動測試設備在出售時，均內含了時間測量單元。無論測試設備是用於測試類比積體電路、數位積體電路或混合訊號積體電路，都必須使用時間測量單元。
    時間量測單元在半導體自動測試設備(ATE)中是常見的量測單元，負責測量兩個事件(event)發生之間的間隔時間或計算事件發生的個數，通常用於量測信號的頻率/週期、傳輸延遲、建立/保持時間(setup/hold time)、上升時間(rise time)、下降時間(fall time)及工作週期(duty cycle)…等等。
    而在半導體測試設備中通常會擁有多個通道(channels)的時間量測單元，用來比較不同測試通道之間相互關係的時間差異，因為需要比較不同測試通道間的差異，各測試通道必需取得相同的計數值，資料在比對時才有意義，也因此在不同測試通道之間，時間量測單元的同步架構就是個重要的議題。
    本發明之一目的，係提供一種半導體自動測試設備之時間量測模組及方法，其藉由在每一時間量測單元中設置同步電路，以同步每一時間量測單元時序的基準。
    本發明之一目的，係提供一種半導體自動測試設備之時間量測模組及方法，其藉由在量測待測物前同步重置該些時間量測單元，以同步每一時間量測單元時序的基準。
    為了達到上述所指稱之各目的與功效，本發明係揭示了一種半導體自動測試設備之時間量測模組，時間量測模組包含複數時間量測單元，該些時間量測單元接收一參考時脈與一重置訊號，而該些時間量測單元分別包含：一同步電路，用以依據參考時脈與重置訊號產生一工作時脈與一致能訊號；一參考計數器，電性連接於同步電路，參考計數器用以依據致能訊號開始計數，並依據工作時脈產生一參考計數訊號；以及一量測電路，電性連接於同步電路與參考計數器，量測電路用以接收一外部待測訊號，並依據參考計數訊號處理外部待測訊號之時序。
    本發明更揭示了一種半導體自動測試設備之時間量測方法，其步驟包含：提供一參考時脈與一重置訊號至複數時間量測單元；依據該參考時脈與該重置訊號同步產生一工作時脈與一致能訊號；以及依據該致能訊號開始計數，並依據該工作時脈產生一參考計數訊號；以及擷取一外部待測訊號，並依據該參考計數訊號處理該外部待測訊號之時序。
10．．．半導體自動測試設備
101．．．系統控制單元
1011．．．時序控制單元
1013．．．資料處理單元
1015．．．資料傳輸介面
20．．．主機
30．．．待測物
CH1．．．測試通道
CH2．．．測試通道
CHn．．．測試通道
CAP_1．．．擷取單元
CAP_n．．．擷取單元
CCU_1．．．通道控制單元
CCU_2．．．通道控制單元
CCU_n．．．通道控制單元
CD_1．．．擷取訊號
CD_n．．．擷取訊號
CE．．．致能訊號
CE_1．．．致能訊號
CE_n．．．致能訊號
DS_1．．．外部待測訊號
DS_n．．．外部待測訊號
DT．．．延遲時間
IOP_1．．．輸入輸出介面
IOP_2．．．輸入輸出介面
IOP_n．．．輸入輸出介面
LOG_1．．．邏輯單元
LOG_n．．．邏輯單元
MC_1．．．量測電路
MC_n．．．量測電路
PLL．．．鎖相迴路
PLL_1．．．鎖相迴路
PLL_n．．．鎖相迴路
PLC．．．致能計數器
PLC_1．．．致能計數器
PLC_n．．．致能計數器
PLT_1．．．鎖相時間
PLT_n．．．鎖相時間
RC_1．．．參考計數器
RC_n．．．參考計數器
RFS_1．．．參考計數訊號
RFS_n．．．參考計數訊號
RFC．．．參考時脈
RFR．．．重置訊號
SC．．．擷取時脈
SC_1．．．擷取時脈
SC_n．．．擷取時脈
SYC．．．同步電路
SYC_1．．．同步電路
SYC_n．．．同步電路
TMU_1．．．時間量測單元
TMU_2．．．時間量測單元
TMU_n．．．時間量測單元
WC．．．工作時脈
WC_1．．．工作時脈
WC_n．．．工作時脈
第1圖：其係為本發明之半導體自動測試設備之方塊圖；
第2圖：其係為本發明之第一實施例之時間量測單元之方塊圖；
第3圖：其係為本發明之第一實施例之時間量測單元之時序圖；
第4圖：其係為本發明之第一實施例之時間量測單元擷取外部待測訊號之時序圖；
第5圖：其係為本發明之第一實施例之時間量測模組之方塊圖；
第6圖：其係為本發明之第一實施例之時間量測模組之時序圖；
第7圖：其係為本發明之第二實施例之時間量測模組之時序圖；以及
第8圖：其係為本發明之半導體自動測試設備之時間量測方法之流程圖。
    為使　貴審查委員對本發明之特徵及所達成之功效有更進一步之瞭解與認識，謹佐以較佳之實施例及配合詳細之說明，說明如後：
    請參閱第1圖，其係為本發明之半導體自動測試設備之方塊圖。如圖所示，本發明之半導體自動測試設備10包含一系統控制單元101與複數測試通道CH1、CH2-CHn。系統控制單元101包含一時序控制單元1011、一資料處理單元1013與一資料傳輸介面1015，而該些測試通道CH1、CH2~CHn分別包含一通道控制單元CCU_1、CCU_2-CCU_n、一時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n與一輸入輸出介面IOP_1、IOP_2-IOP_n。系統控制單元101透過資料傳輸介面1015而連接一主機20，系統控制單元101之時序控制單元1011用以依據主機20所下的指令而控制該些通道控制單元CCU_1、CCU_2-CCU_n，以分別使該些通道控制單元CCU_1、CCU_2-CCU_n提供用以致能該些時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n的參考時脈與重置訊號，以使該些時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n透過該些輸入輸出介面IOP_1、IOP_2-IOP_n分別量測待測物30產生之複數外部待測訊號DS_1、DS_2-DS_n的時序。資料處理單元1013則用以處理該些測試通道CH1、CH2-CHn所量測到之資料後，透過資料傳輸介面1015傳送至主機20。
    基於上述，該些時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n用以量測待測物30產生之該些外部待測訊號DS_1、DS_2-DS_n的時序，例如測量兩個事件發生之間的間隔時間或計算事件發生的個數，如待測物30的頻率/週期、傳輸延遲、建立/保持時間、上升時間、下降時間及工作週期等，並將所量測到之時序傳送至主機20，主機20則比較不同測試通道間的時序，以得知不同測試通道間的差異。因此，不同測試通道的時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n在時序的基準上必須要同步，否則所量測到不同測試通道間的差異則會不準確。
    請一併參閱第2圖，其係為本發明之第一實施例之時間量測單元之方塊圖。由於時間量測模組之該些時間量測單元TMU_1、TMU_2-TMU_n的架構、原理相同，所以在此僅以時間量測單元TMU_1做說明。如圖所示，時間量測單元TMU_1包含一同步電路SYC_1、一參考計數器RC_1以及一量測電路MC_1。同步電路SYC_1接收通道控制單元CCU_1輸出之一參考時脈RFC與一重置訊號RFR，並依據參考時脈RFC與重置訊號RFR產生一工作時脈WC_1、一致能訊號CE_1與一擷取時脈SC_1。參考計數器RC_1電性連接於同步電路SYC_1，並用以依據致能訊號CE_1而開始對工作時脈WC_1進行計數，以產生一參考計數訊號RFS_1，參考計數訊號RFS_1對應工作時脈WC_1。量測電路MC_1電性連接於同步電路SYC_1與參考計數器RC_1，量測電路MC_1依據工作時脈WC_1運作，並用以接收經由輸入輸出介面IOP_1輸出之外部待測訊號DS_1，以依據參考計數訊號RFS_1記錄外部待測訊號DS_1之時序。
    此外，同步電路SYC_1包含一鎖相迴路PLL_1與一致能計數器PLC_1。鎖相迴路PLL_1用以依據參考時脈RFC之相位產生工作時脈WC_1，且鎖相迴路PLL_1更依據參考時脈RFC而產生擷取時脈SC_1，其中擷取時脈SC_1之頻率大於工作時脈WC_1之頻率。致能計數器PLC_1用以依據重置訊號RFR開始進行計數參考時脈RFC，並計數一延遲時間後產生致能訊號CE_1。下面會針對致能計數器PLC_1為何計數一延遲時間後產生致能訊號CE_1進行說明，於此就不先說明。
    量測電路MC_1包含一擷取單元CAP_1與一邏輯單元LOG_1。擷取單元CAP_1依據工作時脈WC_1運作，並用以依據截取時脈SC_1擷取外部待測訊號DS_1，而產生一擷取訊號CD_1。邏輯單元LOG_1電性連接於擷取單元CAP_1與參考計數器RC_1，並依據工作時脈WC_1運作，且以參考計數訊號RFS_1為時序的基準記錄擷取訊號CD_1的時序，並將記錄之資料經由資料傳輸介面1015傳送至主機20。
    請一併參閱第3圖，其係為本發明之第一實施例之時間量測單元之時序圖。如圖所示，於起始時間時致能計數器PLC_1、鎖相迴路PLL_1、參考計數器RC_1、邏輯單元LOG_1與擷取單元CAP_1皆依據重置訊號RFR而進行重置。重置完後，致能計數器PLC_1開始對參考時脈RFC進行計數，並經一延遲時間DT後產生致能訊號CE_1。同時鎖相迴路PLL_1對參考時脈RFC進行鎖相，並經過一鎖相時間PLT_1後產生工作時脈WC_1。當參考計數器RC_1接收到致能訊號CE_1與工作時脈WC_1後，依據致能訊號CE_1而開始對工作時脈WC_1進行計數，以產生參考計數訊號RFS_1。
    此外，請一併參閱第4圖，其係為本發明之第一實施例之時間量測單元擷取外部待測訊號之時序圖。如圖所示，經重置訊號RFR重置後，鎖相迴路PLL_1更依據參考時脈RFC產生頻率高於工作時脈WC_1之截取時脈SC_1，當擷取單元CAP_1接收到工作時脈WC_1與截取時脈SC_1後，擷取單元CAP_1開始運作，並依據截取時脈SC_1擷取外部待測訊號DS_1，當外部待測訊號DS_1有上升或下降變化時，則擷取單元CAP_1依據截取時脈SC_1而產生對應發生變化時間之擷取訊號CD_1。而當邏輯單元LOG_1接收到工作時脈WC_1與參考計數訊號RFS_1時，邏輯單元LOG_1開始運作，並以參考計數訊號RFS_1作為時序的基準，記錄外部待測訊號DS_1發生變化的時序，並將所記錄之資料傳送至主機20。
    請一併參閱第5、6圖，第5圖為本發明之第一實施例之時間量測模組之方塊圖，第6圖為本發明之第一實施例之時間量測模組之時序圖。如圖所示，在此僅以時間量測單元TMU_1與TMU_n作代表說明各通道時間量測單元TMU_1-TMU_n的同步方式，而由於時間量測單元TMU_n之架構與時間量測單元TMU_1相同，所以在此不再贅述。
    如圖所示，該些時間量測單元TMU_1-TMU_n透過各測試通道之該些通道控制單元CCU_1-CCU_n接收相同之參考時脈RFC與重置訊號RFR，但由於每一鎖相迴路PLL_1-PLL_n之鎖相時間PLT_1-PLT_n會有差異，所以該些鎖相迴路PLL_1-PLL_n接收到參考時脈RFC後產生工作時脈WC_1-WC_n之時間亦會不同，因此本發明將每一致能計數器PLC_1-PLC_n皆設定為計數相同之延遲時間DT，並將此延遲時間DT設定等於或大於該些鎖相迴路PLL_1-PLL_n中最長的鎖相時間。
    換句話說，本發明之該些致能計數器PLC_1-PLC_n必定會在該些鎖相迴路PLL_1-PLL_n皆產生工作時脈WC_1-WC_n與擷取時脈SC_n後，才產生致能訊號CE_1-CE_n，使該些參考計數器RC_1-RC_n分別同時依據工作時脈WC_1-WC_n產生相同時序之參考計數訊號RFS_1-RFS_n，並使擷取單元CAP_1-CAP_n分別同時依據工作時脈WC_1-WC_n與擷取時脈SC_1-SC_n擷取外部待測訊號DS_1-DS_n，且輸出擷取訊號CD_1-CD_n至邏輯單元LOG_1-LOG_n，則邏輯單元LOG_1-LOG_n分別同時依據相同時序之參考計數訊號RFS_1-RFS_n作為時序的基準記錄外部待測序號DS_1-DS_n發生變化的時間，並將所記錄之資料傳送至主機20，以達到該些時間量測單元TMU_1-TMU_n皆同步之目的。
    此外，請參閱第7圖，其係為本發明之第二實施例之時間量測模組之方塊圖。本實施例與第一實施例之差異在於，將該些時間量測單元TMU_1-TMU_n中的該些同步電路SYC_1-SYC_n移除，且該些時間量測單元TMU_1-TMU_n共用同一個同步電路，而其餘電路架構、原理皆相同於第一實施例，因此不再贅述。
    如圖所示，本實施例之時間量測模組包含一同步電路SYC，同步電路SYC包含一鎖相迴路PLL與一致能計數器PLC。鎖相迴路PLL用於提供一擷取時脈SC至該些擷取單元CAP_1-CAP_n，與提供一工作時脈WC至該些參考計數器RC_1-RC_n、該些邏輯單元LOG_1-LOG_n與該些擷取單元CAP_1-CAP_n。致能計數器PLC用於提供一致能訊號CE至該些參考計數器RC_1-RC_n。
    基於上述，由於該些時間量測單元TMU_1-TMU_n共用同一個同步電路SYC，並接收同一個工作時脈WC、擷取時脈SC與致能訊號CE，因此亦可達到同步的功效，而電路的工作原理相同於第一實施例，所以不再贅述。
    請一併參閱第8圖，其係為本發明之半導體自動測試設備之時間量測方法之流程圖。如圖所示，首先，執行步驟S10，提供參考訊號RFC與重置訊號RFR至複數時間量測單元TMU_1-TMU_n。接著執行步驟S20，該些同步電路SYC_1-SYC_n依據重置訊號RFR開始對參考訊號RFC進行計數一延遲時間DT後，產生致能訊號CE_1-CE_n，並鎖定參考訊號RFC之相位以產生工作時脈WC_1-WC_n與擷取時脈SC_1-SC_n。
    接著執行步驟S30，該些參考計數器RC_1-RC_n依據致能訊號CE_1-CE_n開始對工作時脈WC_1-WC_n進行計數，以產生對應工作時脈WC_1-WC_n之參考計數訊號RFS_1-RFS_n。接著執行步驟S40，量測電路MC_1-MC_n依據工作時脈WC_1-WC_n而運作，並依據擷取時脈SC_1-SC_n擷取外部待測訊號DS_1-DS_n，而產生擷取訊號CD_1-CD_n，且以參考計數訊號RFS_1-RFS_n作為時序的基準記錄擷取訊號CD_1-CD_n之時序，並將所記錄之資料傳送至主機20，換句話說，量測電路MC_1-MC_n依據工作時脈WC_1-WC_n運作，並以依據參考計數訊號RFS_1-RFS_n記錄外部待測訊號DS_1-DS_n之時序。
    基於上述，本發明藉由在量測待測物前同步傳送重置訊號RFR至該些時間量測單元TMU_1-TMU_n，以重置該些時間量測單元TMU_1-TMU_n，並該些同步電路SYC_1-SYC_n依據重置訊號RFR同時對參考訊號RFC進行計數，以同步每一時間量測單元(TMU_1-TMU_n)之時序的基準。
    綜上所述，本發明之半導體自動測試設備之時間量測模組包含複數時間量測單元，該些時間量測單元分別包含一同步電路、一參考計數器與一量測電路，其量測方法係藉由在量測待測物前同步重置該些時間量測單元，並藉由該些同步電路以同時致能該些參考計數器，使該些時間量測單元時序的基準皆相同，以達到同步該些時間量測單元之目的。
    惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍，舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。
    本發明係實為一具有新穎性、進步性及可供產業利用者，應符合我國專利法所規定之專利申請要件無疑，爰依法提出發明專利申請，祈　鈞局早日賜准專利，至感為禱。
CAP_1．．．擷取單元
CAP_n．．．擷取單元
CD_1．．．擷取訊號
CD_n．．．擷取訊號
CE_1．．．致能訊號
CE_n．．．致能訊號
DS_1．．．外部待測訊號
DS_n．．．外部待測訊號
LOG_1．．．邏輯單元
LOG_n．．．邏輯單元
MC_1．．．量測電路
MC_n．．．量測電路
PLL_1．．．鎖相迴路
PLL_n．．．鎖相迴路
PLC_1．．．致能計數器
PLC_n．．．致能計數器
RC_1．．．參考計數器
RC_n．．．參考計數器
RFS_1．．．參考計數訊號
RFS_n．．．參考計數訊號
RFC．．．參考時脈
RFR．．．重置訊號
SC_1．．．擷取時脈
SC_n．．．擷取時脈
SYC_1．．．同步電路
SYC_n．．．同步電路
TMU_1．．．時間量測單元
TMU_n．．．時間量測單元
WC_1．．．工作時脈
WC_n．．．工作時脈

Claims (10)

  1. 一種半導體自動測試設備之時間量測模組，該時間量測模組包含複數時間量測單元，該些時間量測單元接收一參考時脈與一重置訊號，而該些時間量測單元分別包含：
    一同步電路，用以依據該參考時脈與該重置訊號產生一工作時脈與一致能訊號；
    一參考計數器，電性連接於該同步電路，該參考計數器用以依據該致能訊號開始計數，並依據該工作時脈產生一參考計數訊號；以及
    一量測電路，電性連接於該同步電路與該參考計數器，該量測電路用以接收一外部待測訊號，並依據該參考計數訊號處理該外部待測訊號之時序。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之時間量測模組，其中該同步電路包含：
    一鎖相迴路，用以依據該參考時脈之相位產生該工作時脈；以及
    一致能計數器，用以依據該重置訊號開始計數，並依據該參考時脈而計數一延遲時間後產生該致能訊號。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之時間量測模組，其中該延遲時間等於或大於該鎖相迴路之一鎖相時間。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之時間量測模組，其中該量測電路包含：
    一擷取單元，用以依據一截取時脈與該工作時脈擷取該外部待測訊號，而產生一擷取訊號；以及
    一邏輯單元，電性連接於該擷取單元，該邏輯單元用以依據該參考計數訊號處理該擷取訊號的時序。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之時間量測模組，其中該同步電路係依據該參考時脈產生該擷取時脈，且該擷取時脈之頻率大於該工作時脈之頻率。
  6. 一種半導體自動測試設備之時間量測方法，其步驟包含：
    提供一參考時脈與一重置訊號至複數時間量測單元；
    依據該參考時脈與該重置訊號同步產生一工作時脈與一致能訊號；以及
    依據該致能訊號開始計數，並依據該工作時脈產生一參考計數訊號；以及
    擷取一外部待測訊號，並依據該參考計數訊號處理該外部待測訊號之時序。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之時間量測方法，其中於依據該參考時脈與該重置訊號產生一工作時脈與一致能訊號之步驟中包含：
    鎖定該參考時脈之相位而產生該工作時脈；以及
    依據該重置訊號開始計數，並依據該參考時脈而計數一延遲時間後產生該致能訊號。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之時間量測方法，其中該延遲時間等於或大於鎖定該參考時脈之相位的一鎖相時間。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之時間量測方法，其中每一該時間量測單元擷取該外部待測訊號，而產生一擷取訊號，並依據該工作時脈運作，且依據該參考計數訊號而處理該擷取訊號的時序。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之時間量測方法，更包含：
    產生一擷取時脈並提供至每一該時間量測單元，以依據該擷取時脈擷取該外部待測訊號，而產生該擷取訊號。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105652173A (zh) * 2014-11-10 2016-06-08 致茂电子(苏州)有限公司 校正板及其时序校正方法
TWI586979B (zh) * 2015-12-23 2017-06-11 致茂電子股份有限公司 自動測試設備的群組化時間量測模組及其方法
CN112130053A (zh) * 2020-08-11 2020-12-25 上海华虹集成电路有限责任公司 一种在ate上进行芯片功能同步测试的方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI249681B (en) * 2003-07-02 2006-02-21 Via Tech Inc Circuit and method for aligning data transmitting timing of a plurality of lanes
DE102007005517B4 (de) * 2007-02-03 2010-09-30 Ise Automotive Gmbh Überrollschutzsystem für Kraftfahrzeuge mit einem aktiv aufstellbaren Überrollkörper mit integriertem Deformationselement
EP2577871B1 (en) * 2010-06-04 2015-09-09 Xilinx, Inc. Input/output bank architecture for an integrated circuit

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105652173A (zh) * 2014-11-10 2016-06-08 致茂电子(苏州)有限公司 校正板及其时序校正方法
CN105652173B (zh) * 2014-11-10 2018-08-21 致茂电子(苏州)有限公司 校正板及其时序校正方法
TWI586979B (zh) * 2015-12-23 2017-06-11 致茂電子股份有限公司 自動測試設備的群組化時間量測模組及其方法
CN112130053A (zh) * 2020-08-11 2020-12-25 上海华虹集成电路有限责任公司 一种在ate上进行芯片功能同步测试的方法
CN112130053B (zh) * 2020-08-11 2024-05-14 上海华虹集成电路有限责任公司 一种在ate上进行芯片功能同步测试的方法

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