TW201436483A - 用於確認與欲同時測試的多個受測裝置（ｄｕｔ）之射頻（ｒｆ）信號連接完整性的系統及方法 - Google Patents

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Abstract

使用一RF信號之複製者來確認與欲同時測試的多個受測裝置(DUT)之射頻(RF)信號連接完整性的系統及方法。藉由感測輸出及相關的反射RF信號之位準，監視在該信號源及DUT之間的纜線信號連接。當輸出RF信號提供予參考阻抗的時後，比較這些信號位準與類似的信號位準。或者，該纜線信號連接具有信號波長之已知數目的長度，且該RF測試信號頻率被掃掠，使得在輸出及反射RF信號之間的最小及最大時間延遲之間歷經具有至少一完整循環之差值的最小及最大信號循環數目。監視該反射RF信號之量值及相位，由此辨識波峰及波谷信號位準之差值以及相位變化來判別表示DUT連接之回流損失及相位變化。

Description

用於確認與欲同時測試的多個受測裝置(DUT)之射頻(RF)信號連接完整性的系統及方法
本發明係關於用於同時測試多個射頻(RF)信號收發器的系統及方法，且特別地係關於當測試該等裝置時確認RF信號連接完整性。
許多現今的電子裝置使用無線技術作為連接及通訊這兩種目的。因為無線裝置發送以及接收電磁能量，且因為二或更多無線裝置可能因其信號頻率及功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些裝置及其無線技術必須遵循各種無線技術標準規格。
當設計該等裝置時，工程師必須額外留意以確保該等裝置符合或優於其包含之無線技術指定遵守基於標準規格之每一者。再者，當這些裝置未來大量製造時，其會接受測試以確保製造瑕疵不會導致不適當的運作，包括其是否遵循該包含之無線技術基於標準之規格。
為了在製造及裝配之後測試這些裝置，目前無線裝置測試系統採用一子系統用於分析接收自各裝置的信號。該等子系統典型地包括至少一向量信號分析器(VSA)用於分析由該裝置所產生的信號，以及一向量信 號產生器(VSG)用於產生該裝置欲接收的信號。由VSA執行的分析以及由VSG產生的信號通常係可程式控制的，如此可使用不同頻率範圍、頻寬以及信號調變特性之各信號測試各種裝置是否遵循各種無線技術標準。
測試既為無線通訊裝置之製造的一部分，生產成本之一主要組成為製造測試成本。典型地，測試成本與執行該等測試所需時間係直接相關性的。因此，可縮短測試時間又不降低測試準確性或是增加主要設備成本(舉例而言，因增加測試設備或測試器之精密度而增加的成本)的創新技術係重要的，且其可顯著的節省成本，特別地以該等裝置係大量製造及測試的角度來看。
不過，所有用於測試該等裝置的系統及方法具有一個共同點：RF信號連接完整性。雖然被測試的裝置，詳述如下文，為無線RF信號收發器，然而測試係使用纜線信號路徑實施，以確保可靠且本質上無損失的信號連接。因此，若在一DUT及用於執行測試的測試設備之間的這些導電信號連接之任一者短路、開路或感受顯著不同的信號阻抗，所得的任何測試結果至多存疑，更通常不具有任何價值。因此，需要有用於確認測試設備及接受測試之各DUT之間的RF信號連接完整性的測試系統及方法，以確保沒有任何短路、開路或不匹配之阻抗連接，其會導致產生錯誤的測試結果。該等連接確認進一步致能事件監視及排程(舉例而言，啟動一經確認為連接的DUT，從而最小化在生產測試環境下的停機時間)，以及致能事件追蹤(舉例而言，彙整DUT的連接歷史記錄，從而預側在測試環境下的修復或維護的潛在需求)。
舉例而言，參照圖1，如所示的描繪一典型的二埠RF信號 網路的流向圖。各埠包括兩個節點，一用於入射的(或進入)的波，而另一個用於欲經由該信號埠傳送之反射(或離去)的波。(為本討論之故，分別以「a」及「b」識別該入射及反射節點。)在本例中，當該入射波在埠1進入該裝置時，其一部分會經由s11路徑及b1節點返回，其餘部分繼續通過路徑s21，並經由b2節點離開該網路。若一連接至埠2的裝置或負載有信號反射，舉例而言，由於不匹配的阻抗，其會反射離開b2節點之波的一部分，而該經反射波的部份經由節點a2節點重新進入網路。接著，此波之一部分可被反射，經過s22路徑且經由節點b2離開該網路。該反射波的其餘部分繼續通過路徑s12並經由節點b1離開該網路。因此，舉例而言，經由節點a1進入網路的一入射波，會產生一經由節點b1回送的反射信號。根據眾所周知的原理，此反射信號分量b1可利用初始的入射信號a1、反射信號a2以及關聯於路徑s11和路徑s12的網路散射周長等表達如下：b1=a1*s11+a2*s12。於埠2未感受任何信號反射的情況下，舉例而言，由於其被固定於一匹配的阻抗，不會有任何反射信號進入a2節點，則這式子簡化成b1=a1*s11。因此，當阻抗匹配的時候，會出現理想的情況，從而最小化s11分量。
根據本發明，提供一系統及方法，其使用一RF測試信號之複製信號來確認與欲同時接受測試之多個受測裝置(DUT)的射頻(RF)信號連接。該RF測試信號源及DUT之間纜線信號連接係藉由感測該輸出(或入射)RF信號以及該反射RF信號的信號位準予以監視，該反射RF信號之每一者係有關該輸出RF信號之各別者。這些信號位準可與當輸出RF信號提供予預定之(或參考)負載阻抗時的類似輸出及反射RF信號位準做比較。或 者，該纜線信號連接具有信號波長之已知數目的長度，且該RF測試信號頻率可被掃掠，使得在相關的輸出及反射RF信號之間的最小及最大時間延遲歷經最小及最大信號循環數目，在其間沿該測試信號路徑該差值為至少一完整信號循環。在掃掠該等頻率期間，該反射RF信號的信號量值及相位係受到監視，由此可辨識波峰及波谷信號位準差值以及相位變化來判別表示DUT連接至該信號路徑之回送損失變化以及相位偏移。根據該等測量結果，可決定繼續進行測試、重做RF信號連接、確認電力已接通，或採取其他作為。
舉例而言，該等測量資料可使一測試系統來確認一DUT的連接以及該連接的品質。接著，該等測量資料可進一步用於監視該連接及連接品質、獲取有關於事件之排程的資訊，諸如啟動已確認為正確連接之DUT、下載任何所需的韌體以及發出適當的測試命令來啟動(或觸發)測試，等事件之排程，從而最小化在生產測試環境中的停機時間。該等測量資料也可進一步用於追蹤事件，諸如彙整DUT連接的歷史記錄之事件，從而允許測試系統預知在測試環境中修復或維護作業的潛在需求。
根據本發明之一例示性實施例，一用於確認與欲同時接受測試之多個受測裝置(DUT)的射頻(RF)信號連接完整性的系統包括：複數個信號埠，其係用於耦合至複數個DUT，以傳送複數個輸出RF信號及複數個反射RF信號的至少一部分，其中該複數個反射RF信號的每一個係有關該複數個輸出RF信號的一各別者；信號路由電路系統，其係藉由提供該複數個輸出RF信號來回應一RF測試信號，其中該複數個輸出RF信號的每一個對應該RF測試信號；以及信號感測電路系統，其係耦合在該信號路由電路 系統及該複數個信號埠之間，藉由提供複數個輸出感測信號及複數個反射感測信號，其表示該複數個輸出及反射RF信號之每一者的各別量值，各別回應該複數個輸出RF信號及該複數個反射RF信號之至少一部分。
根據本發明之另一例示性實施例，一用於確認與欲同時接受測試之多個受測裝置(DUT)的射頻(RF)信號連接完整性的方法包括：為複數個DUT提供複數個類似的輸出RF信號，該等係複製一共用的RF測試信號；感測該複數個輸出RF信號以提供複數個輸出感測信號，其表示該複數個輸出RF信號之每一者的各別量值；接收複數個反射RF信號，其中該複數個反射RF信號之每一者係有關該複數個輸出RF信號的各別者；以及感測該複數個反射RF信號以提供複數個反射感測信號，其表示該複數個反射RF信號之每一者之各別量值。
10a‧‧‧測試環境
10b‧‧‧測試環境
10c‧‧‧測試環境
20‧‧‧DUT
20a,20b,...,20n‧‧‧DUT
21a,21b,...,21n‧‧‧RF信號路徑
21i‧‧‧入射信號
21r‧‧‧反射信號分量
22a,22b,...,22n‧‧‧DUT切換
23a,23b,...,23n‧‧‧複製品源信號
24‧‧‧負載電路
24a,24b,...,24n‧‧‧負載阻抗
24p‧‧‧負載阻抗
26a,26b,...,26n‧‧‧駐波比(SWR)感測器
26p‧‧‧駐波比(SWR)感測器
27ai,27bi,...,27ni‧‧‧入射感測信號
27ar,27br,...,27nr‧‧‧反射感測信號
27pi‧‧‧入射感測信號
27pr‧‧‧反射感測信號
28a,28b,...,28n‧‧‧功率計
28ai,28bi,...,28ni‧‧‧用於入射感測信號的功率計
28ar,28br,...,28nr‧‧‧用於反射感測信號的功率計
28pi‧‧‧功率計
28pr‧‧‧功率計
29a,29b,...,29n‧‧‧測量的入射感測信號資料
29ai,29bi,...,29ni‧‧‧入射信號資料
29ar,29br,...,29nr‧‧‧反射信號資料
29pi‧‧‧測量的參考入射信號資料
29pr‧‧‧測量的參考反射信號資料
30a,30b,...,30n‧‧‧感測器切換
31a,31b,...,31n‧‧‧入射感測信號/經切換的反射感測信號
40‧‧‧信號路由電路系統
41a,41b,...,41n‧‧‧複製信號
42‧‧‧信號路由電路系統
43‧‧‧源信號
50‧‧‧測試器
52‧‧‧信號源(VSG)
53‧‧‧源信號
54‧‧‧接收信號分析器(VSA)
60‧‧‧切換控制器
61aa,61ab,...,61an‧‧‧切換控制信號
61ba,61bb,...,61bn‧‧‧切換控制信號
70‧‧‧控制器
80‧‧‧比較電路系統
81‧‧‧信號
82‧‧‧記憶體電路系統
100‧‧‧測試環境
102‧‧‧RF信號衰減器
104‧‧‧信號分配及結合電路系統
120‧‧‧DUT
121‧‧‧纜線信號路徑
121a‧‧‧連接器
121i‧‧‧入射信號
121r‧‧‧反射信號
128‧‧‧功率偵測器
129‧‧‧測量的功率信號
131‧‧‧結合信號
131b‧‧‧驟變
150‧‧‧測試器
151‧‧‧RF測試信號
151i‧‧‧入射信號分量
151r‧‧‧反射信號分量
152‧‧‧VSG
152a‧‧‧VSG
201i‧‧‧同相基頻信號
201q‧‧‧正交相位基頻信號
202i‧‧‧數位增頻變頻器(DUC)
202q‧‧‧數位增頻變頻器(DUC)
203i‧‧‧頻率增頻變頻信號
203q‧‧‧頻率增頻變頻信號
204i‧‧‧低通濾波器
204q‧‧‧低通濾波器
205i‧‧‧經濾波的信號
205q‧‧‧經濾波的信號
206i‧‧‧混頻器
206q‧‧‧混頻器
207i‧‧‧增頻變頻信號
207q‧‧‧增頻變頻信號
208‧‧‧信號加總電路系統
209‧‧‧結合信號
210‧‧‧LO信號源
211‧‧‧區域振盪器(LO)信號
211c‧‧‧控制信號
212‧‧‧移相器
213i‧‧‧同相RF信號
213q‧‧‧正交相位RF信號
214‧‧‧數位類比轉換器(DAC)
215‧‧‧類比信號
216‧‧‧LO信號源
217‧‧‧LO信號
218‧‧‧混頻器
219‧‧‧輸出信號
a1‧‧‧節點
a2‧‧‧節點
b1‧‧‧節點
b2‧‧‧節點
s11‧‧‧路徑
s12‧‧‧路徑
s21‧‧‧路徑
s22‧‧‧路徑
圖1描繪一RF信號網路及其相關的散射周長的基本信號流向圖。
圖2描繪一根據本發明之一例示性實施例的測試環境，其係用於測試多個RF信號收發器。
圖3描繪一根據本發明的另一例示性實施例的測試環境，其係一用於測試多個RF信號收發器。
圖4描繪一根據本發明的另一例示性實施例的測試環境，其係用於測試多個RF信號收發器。
圖5描繪一根據本發明的例示性實施例的電路系統，其係用於比較及儲存入射及反射信號測量的信號資料。
圖6描繪一根據本發明的另一例示性實施例的測試環境，其係用於測試一或更多RF信號收發器。
圖7描繪例示性VSG電路系統。
圖8描繪一被掃掠頻率的VSG信號。
圖9至13描繪，根據本發明之進一步例示性實施例測試一DUT時，於掃掠入射信號之頻率期間測量的反射信號功率。
下列係本發明之例示性實施例於參照附圖下的詳細說明。此等說明意欲為說明性的而非限制本發明之範疇。該等實施例係以足夠細節予以說明使得本領域具通常知識者得以實施本發明，但應理解，可在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，可以某些改變來實施其他實施例。
在本揭示各處，如無相反於本文的明確指示，可理解所描述之各別電路元件在數目上可為單一的或是複數的。例如，「電路」及「電路系統」一詞可包括單一個或複數個元件，可為主動及/或被動，且經連接或以其他方式聯結(例如，像是一或更多積體電路晶片)以提供想要的功能。另外，「信號」可能參照一或更多電流、一或更多電壓或資料信號。在圖式之中，類似的或相關的元件會有類似的或相關的字母、數字或文數字標誌符。再者，雖然已經討論使用離散電子電路系統(較佳地以一或更多積體電路晶片的形式)的情況下實施本發明，惟取決於欲處理的信號頻率或資料率，可另外地使用一或更多經適當編程的處理器實施該等電路系統之任一部分的功能。再者，於圖形圖解各種實施例之功能區塊圖的情況，該功能區塊不必然地標示硬體電路系統之間的區塊。
下述討論係在同步測試複數個DUT的情況。很容易理解如下討論之用於同時測試複數個DUT的系統、技術及原理可以根據本發明的例示性實施例依比例調整用於複數個DUT(即二個以上)。
參照圖2，一測試環境10a之例示性實施例，其用於測試複數個DUT 20，包括測試器50(其包括信號源52，舉例而言，一向量信號產生器，或VSG，以及接收信號分析器54，舉例而言，向量信號分析器，或VSA)、信號路由電路系統40、42(在下文更詳細地討論)、駐波比(SWR)感測器26、功率計28、感測器信號切換30、DUT信號切換22及負載電路24，其標稱實際阻抗相等於特性RF電路阻抗(舉例而言，50或75歐姆)。第一路由電路40可實施如同一或更多多工、切換、分配及結合電路系統或其組合，而第二信號路由電路42可實施如同信號多工或切換電路系統。或者，可使用單一路由電路實施來實現必要的信號結合及傳送功能。同樣地，也可根據眾所週知的技術，使用多工器實施那些被描繪為信號切換的元件。
測試器50，如目前描繪的，包括信號源52及信號分析器54，而外部電路系統包括信號路由電路系統40、42、SWR感測器26、功率計28、外加的切換30、22以及負載阻抗24，加上相應的信號連接(舉例而言，纜線及連接器)。此外，切換控制電路系統60以及，若有需要，可包含一外部控制器70使該系統完整。不過，很容易理解可根據眾所週知的技術設計並實施測試器50，以便如所需的包括所有這些元件及功能。
在測試DUT 20的期間，測試器50之信號源52提供一源信號53，其係可切換地提供予第一信號路由電路系統40(舉例而言，一N：1信號結合器/分配器)，其複製經切換的源信號43來提供複數個複製信號 41a、41b、…、41n。這些複製信號41當做入射信號21i傳送給複數個DUT 20。在實際測試期間，這些複製信號41經由SWR感測器26及DUT切換22傳送給DUT 20(舉例而言，在DUT接收，或RX，信號測試期間)。在該等測試期間，DUT切換22a、22b、...、22n，根據切換控制器60的切換控制信號61aa、61ab、...、61an，被組態為將SWR感測器26a、26b、...、26n傳送的複製源信號23a、23b、...、23n傳送至各別的DUT 20a、20b、...、20n。
同樣在此測試期間，若需要監視入射信號21i(舉例而言，用於源信號53的自動位準控制)的信號位準(舉例而言，功率)，感測器切換30a、30b、...、30n可根據切換控制器60之切換控制信號61ba、61bb、...、61an被切換來傳送SWR感測器26a、26b、...、26n之各別入射感測信號27ai、27bi、...、27ni至對應的功率計28a、28b、...、28n。根據眾所週知的技術，這些功率計28測量藉由切換30提供的入射感測信號31a、31b、...、31n來提供對應之測量的入射感測信號資料29a、29b、...、29n，其表示以複製信號41/23形式提供給DUT 20之入射信號21i的信號位準(例如，功率)。
在測試DUT20之前或其正在被測試期間，感測器切換30，根據其切換控制信號61ba、61bb、...、61an，將反射感測信號27ar、27br、...、27nr傳送給功率計28。功率計28測量切換的反射感測信號31a、31b、...、31n來提供對應的測量資料29a、29b、...、29n，其係指示在DUT 20之測試期間任何存在之反射信號分量的位準(舉例而言，功率)。換言之，這些測量資料29係表示提供給DUT 20a、20b、...、20n之入射複製源信號23a、23b、...、23n之任何因DUT信號路徑21a、21b、...、21n或DUT 20、20b、...、20n之一出現開路、短路或不匹配阻抗的情形而被反射的部分。
為確認RF信號路徑21a、21b、...、21n至DUT 20(以及DUT 20內部之輸入信號路徑)之連接完整性，DUT切換22a、22b、...、22n係被切換(舉例而言，在如上述在入射及反射信號測量之前、之間或是之後)，以便將負載阻抗24端接SWR感測器26，理想地做法為其並聯至電路接地的無感電阻，其電阻值等於DUT特性阻抗(舉例而言，50或75歐姆)。因此，將複製源信號23a、23b、...、23n端接特性負載阻抗24，如此做應會產生反射信號分量21r，當利用SWR感測器26之反向(或反射)信號感測能力測量時，其具有本質上較小的量值(舉例而言，理想地為零，然而可能發生一些入射信號洩漏的情形，從而無法獲得零測量值)。為確認此，以及為根據該各別的負載(或端接)阻抗24a、24b、...、24n來建立個別的參考反射信號值，感測器切換30被切換，以便將反射感測信號27ar、27br、...、27nr傳送至功率計28。一如前者，功率計28測量這些經切換的信號31a、31b、...、31n，其現為反射感測信號，來提供反射感測信號資料29a、29b、...、29n，其表示任何反射信號分量21r(舉例而言，起因於RF信號路徑21a、21b、...、21n至DUT 20及/或DUT 20內部的輸入信號路徑的非零s11分量)的信號位準。如下文所詳述者，可比較這些參考反射信號資料以及DUT 20之RX測試期間測量的反射信號資料。
參照圖3，測試環境10b之另一例示性實施例包括特別地用於入射感測信號的功率計28ai、28bi、...、28ni以及特別地用於由SWR感測器26a、26b、...、26n提供之反射感測信號的功率計28ar、28br、...、28nr，如上所討論者。一如前者，提供測量的入射感測信號資料29ai、29bi、...、29ni及測量的反射感測信號資料29ar、29br、...、29nr且其係分別表示入射 21i及反射21r信號的信號位準。
參照圖4，測試環境10c之另一例示性實施例包括分開的功率計28ai、28bi、...、28ar、28br、...，如上討論的關於圖3的測試環境10b。不過，由SWR感測器26a、26b、...傳送的複製源信號23a、23b、...係在無介入的DUT切換22及負載阻抗24(圖2及3)的情況下經由信號路徑21a、21b、...直接提供給DUT 20a、20b、...。取而代之地，入射21i及反射21r信號係由SWR感測器26監視並提供功率計資料29，其表示入射21i及反射21r信號的信號位準，如上述討論者。在此測試環境10c中，用於分別比較DUT測試信號及測量的入射29ai、29bi、...及反射29ar、29br、...信號資料之參考入射29pi及反射29pr信號位準資料係使用一單獨的SWR感測器26p及負載阻抗24p提供。一如前者，SWR感測器26p提供入射感測信號27pi及反射感測信號27pr供各別功率計28pi、28pr測量，以提供參考測量的入射信號資料29pi及參考測量的反射信號資料29pr。(或者，可共享使用一具有切換器之功率計，如圖2之測試環境10a所示。)
參照圖5，用於監視各種測量信號資料的電路系統可包括比較電路系統80及記憶體電路系統82，基本上如所示的相互連接。
當於圖2的測試環境10a下使用時，比較電路系統80可接收及比較測量的信號資料29a、29b、...、29n，其包括通過SWR感測器26a、26b、...、26n之入射21i及反射21r信號分量之信號位準的表示資料，同時複製源信號23a、23b、...、23n被傳送至其各別的負載阻抗24a、24b、...、24c及DUT 20a、20b、...、20n，如上述討論者，這些測量的信號資料可與預定或預先定義的信號臨限值作比較。當一或更多這些測量的信號資料係 表示一或更多該等信號臨限值已被超過或穿越(即，測量的信號資料值由小於變為大於或是由大於變為小於一信號值臨限值之處，該等情況可能發生於將DUT 20插入或連接至測試環境10及/或開始通電至DUT 20)，可針對各種用途或目的提供一或更多信號81，諸如記錄該事件、啟動或觸發DUT 20之測試，或是警告測試器50、控制器70(圖2至4)或是測試操作人員(未展示)使用於該測試順序之啟動或其他的控制順序(詳述於下文)。記憶體電路系統82可用於儲存該測量的信號資料及測試結果稍後可視需要的使用(舉例而言，用於監視測試環境隨時間的狀況，如下文詳細討論者)。
在圖3的測試環境10b中，以類似方式使用比較電路系統80。在此例中，接收之測量的信號資料29a、29b、...、29n包括測量的入射信號資料29ai、29bi、...、29ni及反射信號資料29ar、29br、...、29nr。
在圖4的測試環境10c中，以類似的方式使用比較電路系統80，並額外地接收測量的參考入射信號資料29pi及測量的參考的反射信號資料29pr。一如前者，可比較並使用這些測量的信號資料來判別預定或預先定義的信號臨限值是否已被穿越，從而指出一DUT信號路徑被短路或開路或者在信號路徑或DUT之內不匹配的阻抗之可能性。
根據進一步的例示性實施例，可以其他方式使用涉及反射RF信號的測量值來判別DUT至測試信號路徑之連接性。
參照圖6，在典型的測試環境100中，如上述討論者，測試器150包括VSG 152，其提供用於測試DUT 120之RF測試信號151。此測試信號151係經由信號分配及結合電路系統104以及纜線信號路徑121(藉由連接器121a機電式地耦合至測試器150及DUT)被傳送至DUT 120。(對本 領域具通常知識者而言係顯而易見的，信號分配及結合電路系統104提供類似於SWR感測器26(圖2至4)提供者的信號耦合，不過不需要該耦合信號的指向性。)同樣地，在信號路徑121及DUT 120之間常常以串聯方式使用RF信號衰減器102，其目的在於改善在DUT 120及信號路徑121及測試器150之間的阻抗匹配。
根據眾所周知的原理，在信號路徑121及DUT 120(以及衰減器102)之間的阻抗不匹配導致於回應入射信號121i時會產生反射信號121r。該反射信號121r係在信號結合及分配電路系統104中被分配，從而產生反射信號分量151r，其結合一經分配的入射信號分量151i來產生結合的RF信號131，且由功率偵測器128偵測與測量該信號。如下文詳述者，功率偵測器128測量此結合信號131產生一測量的功率信號129，其表示該測量的RF信號131的振幅及相位。依據DUT 120是否為連接，反射信號121r及其測量的分量151r之量值及相位會因此不同，且其可被感測(或測量)來偵測在測試環境100內DUT 120的連接為適當的或不適當的。
就測試目的的潛在顧慮是入射151i及反射151r信號分量起源於相同的來源，因此，該等信號係彼此相關的事實。因此，當該等信號為同相位時，功率偵測器128會看見這些信號151i、151r之總和131。當該等信號反相的時候，結合信號131的範圍自這些信號151i、151r之量值之間的部分和以至全差，此取決於該等信號彼此的相位差。
舉例而言，若使用一6dB信號衰減器102，則RF信號纜線121的回流損失為15dB，而VSG 152提供的入射信號121i具有-10dBm之信號功率，在DUT 120未連接的情況，回流損失接近12dB，而在DUT 120 連接的情況，系統回流損失主要來自RF纜線121而約為15dB。對入射151i及反射151r信號分量的相位相互對準的簡單實例而言，功率偵測器128在連接DUT 120時將測量到較低功率(-10dBm-15dB=-25dBm)，相對於未連接DUT 120時(-10dBm-12dB=-22dBm)。換言之，在DUT 120連接之前，反射信號121r並未與入射信號121i同相，但是DUT 120連接之後，反射信號121r，雖然係較小的，但是現在已與入射信號121i同相，從而產生較高功率的反射信號131，其藉由功率偵測器128測量。因此，反射信號131被偵測的功率取決於信號相位以及信號回流損失。
或者，可使用定向耦合器取代信號結合及分配電路系統104，在此情況下，不會出現入射信號分量151i，僅有反射信號分量151r係由功率偵測器128測量。此有助於測試，因為反射信號分量可被隔離的測量。不過，該測量能力仍受限於全體的系統回流損失。因此，若該系統回流損失非以DUT 120的回流損失為主(舉例而言，更佳的匹配衰減器102串聯地連接DUT 120，其提供的回流損失優於RF纜線121及測試器150之總和者)，測試器150可能無法判別DUT 120是否或何時被連接。不過，根據本發明的進一步實施例，入射121i及反射121r信號的信號相位可以該等方式控制，以允許該功率偵測器判別DUT 120是否連接及是否出現於測試環境100，無關於因RF纜線121、DUT 120及信號衰減器102的系統回流損失。如下述詳細討論者，於一段最小頻率範圍內，其有關該測試信號路徑的有效波長，藉由改變入射信號的頻率可有效地控制該入射及反射信號的相位。
參照圖7，一典型的VSG 152a包括數位及類比子系統。藉由各別的數位增頻變頻器(DUC)202i、202q、低通濾波器204i、204q及混頻 器206i、206q處理同相的201i及正交相位的201q信號。藉由低通濾波器204i、204q濾波頻率增頻變頻信號203i、203q。藉由混頻器206i、206q將經濾波的信號205i、205q進一步增頻轉換，該混頻器使用各別的同相213i及正交相位的213q RF信號，其係由移相器212提供且根據一由LO信號源210提供之區域振盪器(LO)信號211。信號加總電路系統208結合所得之增頻變頻信號207i、207q。數位類比轉換器(DAC)214轉換該結合的信號209自數位形式換為類比信號215。混頻器218根據另一個LO信號源216提供的另一個LO信號217進一步增頻所得的類比中頻(IF)信號。所得之RF信號219用作VSG輸出信號151(圖6)。
如上所述，藉由掃掠VSG輸出信號219的頻率，可有效地來控制入射121i及反射121r信號(圖6)的信號相位。雖然改變載波信號217的頻率係相對地遲緩，但可輕易地控制同相的201i及正交相位的201q基頻信號的頻率(舉例而言，藉由掃掠數位資料波形的頻率)來掃掠在VSG 152a之基頻頻寬之內的頻率範圍。可單獨掃掠該基頻信號頻率，或是，替代地或額外地，也可根據眾所周知的技術掃掠IF LO信號211頻率(舉例而言，根據控制信號211c)。
參照圖8，根據一例示性實施例，輸出信號219之頻率可如所示的隨時間改變。根據例示性實施例，此信號219為一具有固定振幅的正弦波。如此例所示，其頻率係為一時間函數，該函數之信號週期為1000微秒，於此週期之內，其頻率範擴及60MHz。
如上文討論者，測試器150及DUT 120係經由測試纜線121連接。根據本纜線121之各種物理特性(係本領域中眾所周知者)，該纜線具 有一實體長度以及一以信號波長表示之有效長度，關於該測試信號的頻率範圍，當處於較低的頻率時，該等信號會經由纜線傳播且歷經N個信號循環，對此，藉由加倍反射信號121r的有效的纜線長度可決定該等數目N。當處於較高頻率時，由於信號波長較短，該測試信號會歷經更多的信號循環，舉例而言，N+M個。若對於頻率為該信號歷經N個信號循環者，入射151i及反射151r信號分量在功率偵測器128係同相，則對於頻率為該測試信號歷經N+1個信號循環者，該等信號分量151i、151r在功率偵測器128也會同相。因此，因為於產生N個信號循環至N+1個信號循環之頻率範圍內，該頻率掃掠較佳地為連續的，入射151i及反射151r信號分量會歷經包括同相、空相位(或抵銷)以及其間的所有相位的信號狀態。
參照圖9，所造成的循環效果導致結合的信號131具有如所示的入射151i及反射151r信號分量的同相、抵銷、同相、抵銷等等。此得到一為時間函數之功率讀數，如所示。由於一經過設計的信號樣式，此實際上為具有兩種信號週期類型之信號功率與信號頻率關係。於一信號掃掠週期1000微秒之例示性實施例，所得之功率測量於3000微秒的時間內具有三個功率信號週期，其係由頻率掃掠週期所導致。在一較長的週期之內，吾人可見到循環進行，其係由被掃掠之頻率範圍以及測試纜線121的長度支配。(或者，可使頻率在最小及最大頻率之間交替地增加及減少，舉例而言，如同一三角掃掠波形而非鋸齒掃掠波形來完成該頻率掃掠。)
舉例而言，假設VSG基頻的頻寬為80MHz，其標稱中心發送頻率為6000MHz。如圖8所示，使用60MHz的基頻頻率範圍掃掠該信號，從而在5970及60300MHz之間產生一掃掠的輸出信號為一時間函數。 就此例子，假設測試纜線121的實體長度為1.5公尺，具有66%的傳播速度，從而對於5970MHz的有效波長為3.32公分以及對於6030MHz的有效波長為3.28公分。因此，反射信號分量151r之往返距離為3公尺，或300公分。因此，反射信號分量151r在6030MHz會歷經300/3.28=91.5個循環，而在5970MHz則是300/3.345=90.4個循環。由於此為至少一個完整的信號循環，入射151i及反射151r信號分量會歷經每一種相位關係，包括波峰及波谷。
對於一回流損失僅有15dB的測試系統，無論是否連接一DUT 120，電壓駐波比(VSWR)為1.43。此會產生具有信號波峰及波谷之差值為3.1dB的結合信號131，其可輕易地藉由眾所週知的功率偵測器128觀察。藉由測量這些信號131的波峰及波谷，可計算該系統的回流損失(因為系統回流損失基本上在掃掠的頻率範圍之內是固定的)。因此，因連接DUT 120導致的任何回流損失變化會反應於測量信號131功率的變化。
參照圖10，當系統回流損失係由一或更多非關DUT 120的因素所支配時，DUT 120至測試纜線121的連接可能無法得到足夠的測量的功率讀數差值。不過，DUT 120的連接仍會導致反射信號分量151r之相位變化。該等相位變化轉而改變測量信號131功率的波峰及波谷的位置。如所示，在第三功率讀數循環期間，出現一驟變131b。此轉而導致信號功率的波峰及波谷於時間上的偏移。因此所得之驟然的功率讀數變化表示DUT 120之連接導致該等系統信號的相位變化。
藉由測量於複數個循環期間結合的信號131功率，並相關至少兩個頻率掃掠循環，由信號功率之波峰及波谷的偏移可判別DUT 120連接導致的相位變化。舉例而言，當產生頻率掃掠及纜線損失超過一個信號 漣波週期的時候，此相關性係簡單地相關波峰及波谷的位置(其有關信號的頻率)。對於DUT 120連接導致反相(偏移180度)的極端情況，功率偵測器128會看見波峰及波谷切換位置，即波峰變成波谷而波谷變成波峰。
參照圖11，該等相關之圖形會如所示地出現。就此例子而言，此為圖10之測量的功率信號之第一及第三週期的相關性。
根據前述的討論，須了解在掃掠VSG 152之基頻信號的頻率時(不必更改載波的頻率)，可在時域(對於經過設計的信號而言，其相當於頻率響應)中複數個測量循環期間監視及相關化結合的信號131，其包含入射151i及反射151r信號分量，以偵測DUT 120連接導致的回流損失及信號相位的變化。該等DUT連接的偵測可用為啟動測試順序的觸發器，從而避免在連接DUT 120之前或連接一瑕疵DUT 120之後執行測試順序而浪費測試時間。
參照圖12，根據一範例測試環境100(圖6)，假設使用一完美的6dB信號衰減器102。在連接DUT 120之前，該系統回流損失為12dB。在DUT 120連接的情況，系統回流損失改善為18dB。(假設測試器150提供一0dBm的入射信號121i。)由於連接DUT 120，反射信號121r的相位並未改變。此導致測量之間無相位變化。12dB的回流損失產生一約1.67的VSWR，且所得的駐波會產生一大於4dB(20*log 1.67)的功率讀數變化。當系統回流損失因連接DUT 120改善為18dB的時候，該駐波變化約為2.2dB。
參照圖13，根據另一例子，假設使用一完美的10dB信號衰減器102。在DUT 120未連接的情況下，此產生約20dB的系統回流損失。在此情況下，測試纜線121及其他連接會支配該系統的性能，所以連接DUT 120並未充分地改善系統回流損失。不過，連接DUT 120確實導致相位偏移270度(3* π/4弧度)。20dB的回流損失轉換為約1.22的VSWR，並於功率偵測器128測量產生一約1.7dB之峰-峰值擺幅。如所示，藉由相關化連接DUT 120前後之功率偵測器測量結果可輕易地觀察到相位變化。
根據上述討論，可瞭解電路元件、測試系統架構及測試技術之各種例示性組合為一RF信號收發器測試環境之各種狀態以及於該等狀態下的變化提供迅速、可靠且多方面的偵測。舉例而言，於該等測試環境中，藉由偵測反射信號的量值及相位，可判別一DUT之RF信號埠是否為以及何時連接的或未連接的、該DUT之電源係接通的或是被切斷的，或是一DUT之一部份之操作狀態為故障或已改變。進一步地，藉由監視狀態及其隨時間之變化，可偵測測試環境自身的變化(舉例而言，測試設備之連接與未連接、測試設備電源的接通與切斷以及由於RF信號連接器或纜線的磨耗或損壞導致回流損失惡化)。
該測試環境之該等狀態以及狀態之變化之這些偵測然後可如同被執行之測試之一部分或是有助於被執行之測試來執行。舉例而言，在該RF信號連接之機械完成且一DUT開機之後，任何測量的反射信號的狀態(舉例而言，量值或相位，或兩者)可用來判別該連接及開機是否成功，即使成功，也要判別該等連接是否出現惡化的跡象或是該DUT無法地適當地開機。根據該等測量的結果，然後可決定(舉例而言，由測試操作人員即時地或根據自動化測試程式所提出的規則)繼續進行測試(舉例而言，載入韌體、施加及測量RF測試信號、測量DC操作特性等)、重做或更換RF信號連接，確認電力已適當地接通或是以測量結果的角度採取其他被認為適當 的、必要的或其他可能有幫助的行動。
本發明結構與操作方法的各種其他修改或變更，在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，對本領域具通常知識者而言係顯而易見的。儘管已藉由特定較佳實施例說明本發明，應理解本發明如所申請的不應不當地受限於該較佳實施例。吾人意欲以下列的申請專利範圍界定本發明的範疇以及該申請專利範圍內之結構與方法從而涵蓋該等結構與方法之等效者。
10a‧‧‧測試環境
20‧‧‧DUT
20a,20b,...,20n‧‧‧DUT
21a,21b,...,21n‧‧‧RF信號路徑
21i‧‧‧入射信號
21r‧‧‧反射信號分量
22a,22b,...,22n‧‧‧DUT切換
23a,23b,...,23n‧‧‧複製品源信號
24a,24b,...,24n‧‧‧負載阻抗
26a,26b,...,26n‧‧‧駐波比(SWR)感測器
27ai,27bi,...,27ni‧‧‧入射感測信號
27ar,27br,...,27nr‧‧‧反射感測信號
28a,28b,...,28n‧‧‧功率計
29a,29b,...,29n‧‧‧測量的入射感測信號資料
30a,30b,...,30n‧‧‧感測器切換
31a,31b,...,31n‧‧‧入射感測信號/經切換的反射感測信號
40‧‧‧信號路由電路系統
41a,41b,...,41n‧‧‧複製信號
42‧‧‧信號路由電路系統
43‧‧‧源信號
50‧‧‧測試器
52‧‧‧信號源(VSG)
53‧‧‧源信號
54‧‧‧接收信號分析器(VSA)
60‧‧‧切換控制器
61aa,61ab,...,61an‧‧‧切換控制信號
61ba,61bb,...,61bn‧‧‧切換控制信號
70‧‧‧控制器

Claims (22)

  1. 一種包括一測試系統之設備，該測試系統係用於確認與欲同時測試的多個受測裝置(DUT)之射頻(RF)信號連接完整性，其包括：複數個信號埠，其係用於耦合至複數個DUT，以傳送複數個輸出RF信號及複數個反射RF信號的至少一部分，其中該複數個反射RF信號的每一個係有關該複數個輸出RF信號的一各別者；信號路由電路系統，其係藉由提供該複數個輸出RF信號來回應一RF測試信號，其中該複數個輸出RF信號的每一個對應該RF測試信號；以及信號感測電路系統，其係耦合在該信號路由電路系統及該複數個信號埠之間，且藉由提供複數個輸出感測信號及複數個反射感測信號，其表示該複數個輸出及反射RF信號之每一者的各別量值，各別回應該複數個輸出RF信號及該複數個反射RF信號之該至少一部分。
  2. 如請求項1所述之設備，其進一步包括測量電路系統，其耦合至該信號感測電路系統，且藉由提供複數個有關該複數個輸出及反射感測信號之各別者的測量信號以回應該複數個輸出感測信號及該複數個反射感測信號。
  3. 如請求項1所述之設備，其進一步包括複數個負載阻抗，其中該複數個信號埠之每一者係進一步用於選擇性地耦合至該複數個DUT之一各別者以及該複數個負載阻抗之一各別者。
  4. 如請求項1所述之設備，其進一步包括：一負載阻抗；以及 一額外信號埠，其耦合至該負載阻抗來傳送該複數個輸出RF信號之一者以及另一有關該複數個輸出RF信號之該者的反射RF信號，其中該信號感測電路系統係進一步耦合至該額外的信號埠，且藉由提供另一輸出感測信號及另一反射感測信號，其表示該複數個輸出RF信號之該者以及該另一反射RF信號之各別量值，以分別回應該複數個輸出RF信號之一者以及該另一反射RF信號。
  5. 如請求項1所述之設備，其進一步包括：複數個並聯阻抗；以及複數個切換電路，其係耦合在該信號感測電路系統及該複數個信號埠及並聯阻抗之對應者之間，且藉由耦合該信號感測電路系統至該複數個信號埠與並聯阻抗之各別者，以回應一或更多控制信號。
  6. 如請求項5所述之設備，其中該複數個反射RF信號之各別者具有下述之各別者：一第一複數個各別量值，當該信號感測電路系統被耦合至該複數個並聯阻抗之該對應者的時候；以及一第二複數個各別量值，當該信號感測電路系統被耦合至該複數個信號埠之該對應者的時候。
  7. 如請求項5所述之設備，其進一步包括測量電路系統，其耦合至該信號感測電路系統且藉由提供複數個測量信號，其有關該複數個輸出及反射感測信號之各別者，以回應該複數個輸出感測信號及該複數個反射感測信號，其中該複數個測量信號的各別者具有下述之各者：一第一複數個各別值，當該信號感測電路系統被耦合至該複數個 並聯阻抗之該對應者的時候；以及一第二複數個各別值，當該信號感測電路系統被耦合至該複數個信號埠之該對應者的時候。
  8. 一種確認與欲同時測試的多個受測裝置(DUT)之射頻(RF)信號連接完整性的方法，其包含：為複數個DUT提供複數個類似的輸出RF信號，其係複製一共用RF測試信號；感測該複數個輸出RF信號以提供複數個輸出感測信號，其表示該複數個輸出RF信號之每一者的各別量值；接收複數個反射RF信號，其中該複數個反射RF信號之每一者係有關該複數個輸出RF信號的各別者；以及感測該複數個反射RF信號以提供複數個反射感測信號，其表示該複數個反射RF信號之每一者之各別量值。
  9. 如請求項8所述之方法，其進一步包含測量該複數個輸出感測信號以及該複數個反射感測信號來提供複數個測量信號，其係有關該複數個輸出及反射感測信號之各別者。
  10. 如請求項8所述之方法，其進一步包含選擇性地提供該複數個輸出RF信號的各別者予下述之一者：複數個負載阻抗之一對應者；以及該複數個DUT之一對應者。
  11. 如請求項8所述之方法，其進一步包含：提供另一複製該共用RF測試信號之輸出RF信號予一負載阻抗； 感測該另一輸出RF信號來提供另一輸出感測信號，其表示該另一輸出RF信號之量值；接收另一反射RF信號，其有關該另一輸出RF信號；以及感測該另一反射RF信號來提供另一反射感測信號，其表示該另一反射RF信號之量值。
  12. 如請求項8所述之方法，其進一步包含藉由切換該複數個輸出RF信號之各別者至下述之一者以回應一或更多控制信號：複數個負載阻抗之一對應者；以及該複數個DUT之一對應者。
  13. 如請求項12所述之方法，其中該複數個反射RF信號之各別者具有下述之各別者：一第一複數個各別量值，當該複數個輸出RF信號之該各別者被切換至該複數個並聯阻抗之該對應者的時候；以及一第二複數個各別量值，當該複數個輸出RF信號之該各別者被切換至該複數個DUT之該對應者的時候。
  14. 如請求項12所述之方法，其進一步包含測量該複數個輸出感測信號以及該複數個反射感測信號來提供複數個測量信號，其有關該複數個輸出及反射感測信號之各別者，其中該複數個測量信號之各別者具有下述之各別者：一第一複數個各別值，當該複數個輸出RF信號之該各別者被切換至該複數個並聯阻抗之該對應者的時候；以及一第二複數個各別值，當該複數個輸出RF信號之該各別者被切換 至該複數個DUT之該對應者的時候。
  15. 一種確認與一或更多受測裝置(DUT)之射頻(RF)信號連接完整性的方法，其包含：提供一或更多纜線信號路徑用於傳送包括一或更多輸出RF信號及一或更多反射RF信號之各別一或更多RF信號，其中該一或更多反射RF信號之每一者係有關該一或更多輸出RF信號之一各別者；經由該一或更多各別纜線信號路徑對一或更多DUT提供該一或更多輸出RF信號，其具有在包括最小及最大標稱輸出RF信號頻率之一頻率範圍內變化之一標稱輸出RF信號頻率；以及經由該一或更多各別纜線信號路徑接收一或更多反射RF信號，且對其回應而提供一或更多測量的反射信號，其表示下述之一或更多，該一或更多反射RF信號之每一者之各別信號量值與時間關係；以及該一或更多反射RF信號之每一者的各別信號相位與時間關係。
  16. 如請求項15所述之方法，其中該提供用於傳送各別一或更多RF信號之一或更多纜線信號路徑包含提供該一或更多纜線信號路徑之每一者一各別有效纜線長度，其在該最小的標稱輸出RF信號頻率具有N個信號循環且在該最大標稱輸出RF信號頻率具有至少N+0.5個信號循環。
  17. 如請求項15所述之方法，其中該提供該一或更多輸出RF信號包含：產生一或更多基頻信號；以及將該一或更多基頻信號轉換為該一或更多輸出RF信號。
  18. 如請求項17所述之方法，其中該產生一或更多基頻信號包含產生該一 或更多基頻信號，其具有：一最小標稱基頻信號頻率，其有關該最小及最大標稱輸出RF信號頻率之一者；以及一最大標稱基頻信號頻率，其有關該最小及最大標稱輸出RF信號頻率之另一者。
  19. 如請求項17所述之方法，其中該轉換該一或更多基頻信號為該一或更多輸出RF信號包含：轉換該一或更多基頻信號為一或更多中頻(IF)信號；以及轉換該一或更多IF信號為該一或更多輸出RF信號。
  20. 如請求項19所述之方法，其中該轉換該一或更多基頻信號為一或更多中頻(IF)信號包含提供該一或更多IF信號，其具有：一最小標稱IF信號頻率，其有關該最小及最大標稱輸出RF信號頻率之一者；以及一最大標稱IF信號頻率，其有關該最小及最大標稱輸出RF信號頻率之另一者。
  21. 如請求項15所述之方法，其進一步包含：在連接該一或更多DUT之一者至該一或更多各別纜線信號路徑之該者之前，經由該一或更多各別纜線信號路徑之一者接收該一或更多反射RF信號之一者；在連接該一或更多DUT的該者至該一或更多各別纜線信號路徑的該者之後，經由該一或更多各別纜線信號路徑的該者接收該一或更多反射RF信號的該者；以及 比較來自該連接該一或更多DUT之該者至該一或更多各別纜線信號路徑之該者之前與之後之該測量的反射感測信號之對應者。
  22. 如請求項21所述之方法，其中該比較來自該連接該一或更多DUT之該者至該一或更多各別纜線信號路徑之該者之前與之後之該測量的反射感測信號之對應者包含比較該下述之一或更多：來自該連接之前與之後之各別信號量值與時間關係；以及來自該連接之前與之後之各別信號相位與時間關係。
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Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10976359B2 (en) 2012-09-01 2021-04-13 Promptlink Communications, Inc. Functional verification process and universal platform for high-volume reverse logistics of CPE devices
US11284063B2 (en) 2012-12-28 2022-03-22 Promptlink Communications, Inc. Video quality analysis and detection of blockiness, artifacts and color variation for high-volume testing of devices using automated video testing system
US10299149B2 (en) 2013-03-15 2019-05-21 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for electronic spectrum management
US9622041B2 (en) 2013-03-15 2017-04-11 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for electronic spectrum management
US10219163B2 (en) 2013-03-15 2019-02-26 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for electronic spectrum management
US11646918B2 (en) 2013-03-15 2023-05-09 Digital Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for electronic spectrum management for identifying open space
US10257727B2 (en) 2013-03-15 2019-04-09 DGS Global Systems, Inc. Systems methods, and devices having databases and automated reports for electronic spectrum management
US10271233B2 (en) 2013-03-15 2019-04-23 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for automatic signal detection with temporal feature extraction within a spectrum
US10231206B2 (en) 2013-03-15 2019-03-12 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for electronic spectrum management for identifying signal-emitting devices
US10237770B2 (en) 2013-03-15 2019-03-19 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices having databases and automated reports for electronic spectrum management
US11543448B2 (en) * 2013-12-23 2023-01-03 Keysight Technologies, Inc. Dynamically determining measurement uncertainty (MU) of measurement devices
CN104753553B (zh) * 2013-12-26 2019-02-12 中兴通讯股份有限公司 一种提高射频链路收发性能的装置、移动终端及方法
WO2015165527A1 (en) * 2014-04-30 2015-11-05 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Method and unit for handling deteriorating hardware
US10419957B2 (en) 2014-05-15 2019-09-17 Promptlink Communications, Inc. High-volume wireless device testing
US9575103B2 (en) * 2014-05-30 2017-02-21 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit and associated methods for measurement of an external impedance
JP6034849B2 (ja) * 2014-12-05 2016-11-30 アンリツ株式会社 移動端末試験装置とそのパラメータ入替方法
US10931557B2 (en) * 2014-12-31 2021-02-23 Promptlink Communications, Inc. High-volume wireless device testing
KR102329802B1 (ko) * 2015-07-23 2021-11-22 삼성전자주식회사 테스트 인터페이스 보드, 테스트 장비, 테스트 시스템 및 테스트 방법
US9755766B2 (en) * 2015-12-07 2017-09-05 Teradyne, Inc. Front end module for automatic test equipment
US20180128872A1 (en) * 2016-11-08 2018-05-10 Xcerra Corporation Multi-node testing system and method
US10529241B2 (en) 2017-01-23 2020-01-07 Digital Global Systems, Inc. Unmanned vehicle recognition and threat management
US10459020B2 (en) 2017-01-23 2019-10-29 DGS Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for automatic signal detection based on power distribution by frequency over time within a spectrum
US10700794B2 (en) 2017-01-23 2020-06-30 Digital Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for automatic signal detection based on power distribution by frequency over time within an electromagnetic spectrum
US10498951B2 (en) 2017-01-23 2019-12-03 Digital Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for unmanned vehicle detection
DE102017103418B4 (de) * 2017-02-20 2019-01-24 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Bestimmen von Informationen über eine Integrität von Signalverarbeitungskomponenten innerhalb eines Signalpfades, Signalverarbeitungsschaltung und elektronische Steuerungseinheit
CN110389262B (zh) * 2018-04-17 2022-11-18 京元电子股份有限公司 测量结构
US10943461B2 (en) * 2018-08-24 2021-03-09 Digital Global Systems, Inc. Systems, methods, and devices for automatic signal detection based on power distribution by frequency over time
CN111342890B (zh) * 2018-12-18 2021-06-25 北京金坤科创技术有限公司 一种判断信号发生反射的方法
CN111030881A (zh) * 2019-07-31 2020-04-17 星络智能科技有限公司 射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质
US10979154B1 (en) 2019-12-30 2021-04-13 T-Mobile Usa, Inc. Performing different radio frequency (RF) tests by using common ports of an RF testing chamber
CN112415265B (zh) * 2020-09-04 2024-06-18 西安益翔航电科技有限公司 一种多余度的射频传导敏感度测试系统及方法
CN114826435B (zh) * 2021-01-28 2023-07-25 北京京东方技术开发有限公司 射频测试装置及其测试方法
CN113376505B (zh) * 2021-05-12 2022-06-21 中电科思仪科技股份有限公司 适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法
CN115348201B (zh) * 2022-08-10 2024-05-10 Oppo广东移动通信有限公司 校准调度方法及相关装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08115957A (ja) * 1994-10-17 1996-05-07 Mitsubishi Electric Corp Ｒｆ通電装置
US6150992A (en) * 1998-09-08 2000-11-21 Hewlett-Packard Company Traceable self-contained programmable frequency source for performing alternate test site and open area test site comparisons
EP1296148A1 (en) * 2001-09-25 2003-03-26 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) An apparatus for collecting signal measurement data at signal ports of an RF and microwave device-under-test
JP2005017138A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Nec Corp Ｖｓｗｒモニタ回路及びｖｓｗｒモニタ方法
JP3984282B2 (ja) * 2003-11-26 2007-10-03 株式会社アドバンテスト 試験装置
WO2007014280A2 (en) * 2005-07-25 2007-02-01 University Of Florida Research Foundation, Inc. System, device, and methods for embedded s-parameter measurement
US7800538B2 (en) * 2006-10-27 2010-09-21 Raytheon Company Power combining and energy radiating system and method
US7948254B2 (en) * 2008-11-20 2011-05-24 Litepoint Corporation Digital communications test system for multiple input, multiple output (MIMO) systems
US8170490B2 (en) * 2009-04-08 2012-05-01 Litepoint Corporation Method and apparatus for testing multiple data signal transceivers substantially simultaneously with common transceiver tester
US8116208B2 (en) * 2009-10-19 2012-02-14 Litepoint Corporation System and method for testing multiple digital signal transceivers in parallel
CA2780991C (en) * 2009-11-18 2018-03-27 Emblation Limited A microwave apparatus and method
JP2011169606A (ja) * 2010-02-16 2011-09-01 Hitachi Kokusai Electric Inc 試験システム
JP2011196813A (ja) * 2010-03-19 2011-10-06 Toshiba Corp 半導体集積回路のテスト方法、および、テストシステム
US20130015870A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 Nickel Joshua G Test system with contact test probes

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